JPH04118534A - 光周波数カウンタ - Google Patents

光周波数カウンタ

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JPH04118534A
JPH04118534A JP23958490A JP23958490A JPH04118534A JP H04118534 A JPH04118534 A JP H04118534A JP 23958490 A JP23958490 A JP 23958490A JP 23958490 A JP23958490 A JP 23958490A JP H04118534 A JPH04118534 A JP H04118534A
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optical frequency
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横浜 至
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、光通信及び光計測における光源の光周波数を
測定するために、原子または分子気体の共鳴線及び吸収
線を基準にし、被測定光とのビート信号を測定すること
によって、被測定光の光周波数を測定するように構成さ
れた光周波数カウンタに関するものである。
「従来の技術」 第6図は、マイケルソン干渉計を用いた従来の光周波数
カウンタの説明図である。被測定光1をビームスプリッ
タ2で2分し、ミラー3.4で反射させ光受光器5の受
光面上で干渉させる。このとき、ミラー3を平行移動さ
せながら、干渉信号の変化を読み取り、その干渉信号に
フーリエ変換処理を施すことにより被測定光の光周波数
を測定するものである。
「発明が解決しようとする課題」 しかしながら、かかる従来の光周波数カウンタでは、測
定中に干渉計が温度変動等の外乱により変動してしまう
。そのため、精度は10MHz程度に制限される。また
、He−Neレーザ等を用いて、光路長の変動を補正し
なければならなかった。さらに、ミラーを機械的に移動
させるため測定に時間がかかるという問題点がある。
本発明はこのような問題点を解決するためになされたも
ので、高精度にしかも安定で高速に光周波数を測定でき
る実用的な光周波数カウンタを提供することを目的とす
る。
1課題を解決するための手段」 前記課題を解決するため、本発明では、所定の波長の光
を吸収する媒体を周波数基準として用いている発振周波
数安定化光源と、該発振周波数安定化光源からの出力光
を、周波数シフトを受けない0次光と、所定の周波数シ
フトを受けた1次光に分割する光周波数シフタと、該光
周波数シフタより出射した0次光及び1次光と被測定光
とをそれぞれ結合するための光カップラと、該光カップ
ラより出射された光を充電変換する光検出器と、この光
検出器より出力されたビート信号によって光周波数を同
定する光周波数判定手段とを備えたことを特徴とするも
のである。
「作用」 本発明における構成系では、所定の波長の光を吸収する
媒体を周波数基市として用いている発振周波数安定化光
源の出力光およびその光周波数シフト光と、被測定光と
のビート信号を求めることにより、高精度に被測定光の
絶対周波数を同定することができる。
「実施例」 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
第1図は本発明の光周波数カウンタの実施例を示す構成
ブロック図である。この実施例では、第1図に示すよう
に、光吸収媒体の吸収波長で発振している発振周波数安
定化光源11と、光周波数シフタ12と、光カップラ1
3,14.15と、光受光器16.17と、光周波数判
定回路18と、光周波数表示部19とから構成されてい
る。
ここで、前記光力・ゾブラ13は、被測定光110の入
力端を有し、この入力端より入射した被測定光110を
二分するものであり、二分された被測定光110は、光
カップラ13の2つの出力端より光カップラ14.15
に入射されるようになっている。一方、光カップラ14
.15の入力端には、発振周波数安定化光源11からの
出力光を、周波数シフトを受けない0次光と、所定の周
波数シフトを受けた1次光に分割する光周波数シフタ1
2の出力端が接続され、光周波数シフタ12がら出射さ
れた0次光及び1次光と被測定光110とを合波させる
ようになっている。
なお、光カップラ14.15の出力端は、それぞれ光受
光器16.17に接続されており、これら光受光器16
.17において、合波された光が光電変換されるように
なっている。光受光器16゜17の出力は、光周波数判
定回路18へ供給され、さらに光周波数判定回路18は
被測定光の周波数を同定した後、光周波数表示部19に
被測定光の周波数を表示させるようになっている。
次に、発振周波数安定化光源11は、第2図に示すよう
に、半導体レーザ21.光カップラ22、光周波数変調
器23、光周波数基準用吸収セル24、受光器25、帰
還回路26から構成されている。光カップラ22は、半
導体レーザ21と光周波数変調器23間に挿入され、入
力端が半導体レーザ21の出力端に、出力端が光周波数
変調器23の入力端にそれぞれ接続されている。
光周波数変調器23は、半導体レーザ21の出力光に対
して所定の周波数変調をかける。光周波数基準用吸収セ
ル24を透過した変調光は、受光器25で光電変換され
帰還回路26で吸収線の中心周波数からの誤差信号を発
生し、半導体レーザ21の発振周波数を周波数基準に追
従させるように制御した注入電流を半導体レーザ21に
供給し、半導体レーザ21の発振周波数を安定化するも
のである。なお、ここでは、外部光周波数変調器を用い
た例を示したが、半導体レーザの直接変調の手段を用い
ても同様の効果が得られる。
次に、本実施例の光周波数カウンタの動作を第1図に従
って説明する。
発振周波数安定化光源11がらの出射光27は、光周波
数シフタ12を通り、周波数シフトを受けない0次光と
、ある所定の周波数シフトを受けた1次光に分割され、
それぞれ光カップラ14,15に入射する。
また、被測定光110は光カップラ13によって2分さ
れ、光カップラ14.15にそれぞれ入射される。光カ
ップラ14.15においては、それぞれ0次光と被測定
光110.1次光と被測定光110が合波され、光受光
器16.17で光電変換される。それぞれのビート信号
は光周波数判定回路18において、被測定光110と発
振周波数安定化光との周波数差、および周波数の大小関
係が判定され、被測定光110の光周波数が同定され、
光周波数表示部19に表示される。
例えば、第1図の装置構成において、半導体レーザ21
として波長1.536μmで発振するInGaAsP系
の分布帰還型半導体レーザ(DFB型LD)を使用し、
また光吸収媒体として、同位体置換アセチレンガス(1
3c2H2)を用いた。
第2図はアセチレンガスと同位体置換アセチレンガスの
吸収特性を示した図である。セル長は10Cm、圧力は
760 Torrである。そのうち、14536μm付
近の2つの吸収線を利用して前記半導体レーザの発振周
波数を安定化した。例えば、吸収線の中心波長1535
.977nm(光周波数195315GHz)のものを
用いた。
この吸収線を使い半導体レーザの中心発振波長の変動を
l X 10−0−5n光周波数にして] M Hz 
)以下に抑えた。
この発振周波数安定化光源11の出力光27を光周波数
シフタ12に入力する。光周波数シフタ12として光フ
アイバ入出力型の音響光学変調器を用いた周波数シフト
量は一120MHzで、その0次光(周波数シフトなし
の光)と1次光(−120MHz周波数シフトした光)
とを光ファイバで取り出し、被測定光110と光カップ
ラ14,15で合波し、周波数帯域10GHzのI n
 G a A s P系MQW構造の高速アバランシェ
・フォトダイオード(APD)で充電変換し、そのビー
ト信号を求めた。
そのビート信号の出現周波数によって、被測定光の光周
波数を決定する。
例えば、発振周波数安定化光源の光周波数をfO1光周
波数シフト量fmとすると、第4図(a)のように第1
の光受光器16で測定された0次光とのビート信号の周
波数がfilで、第2の光受光器17で測定された1次
光とのビート信号の周波数がf21であり、 fll〈f21かつf21>frn であったとすると、被測定光110の光周波数f1は、 fl=fo+fll・・・・・・ (1)になる。また
第4図(b)のように f+2<f22かつf 22< f mであったとする
と、被測定光110の光周波数f1は になる。
の場合、 fl=fo−f12・・・・・・ (2)同様に第4図
(C)のように f13>f23 被測定光の光周波数f3は f3=fo−f23・・・・・・(3)になる。
この構成系で、光周波数195296GHzから195
325GHz(波長1.5359μmから1.5361
□m)までの被測定光の光周波数をIMHzの精度で測
定することができた。
本実施例では、光周波数シフトが負の場合を示したが正
の周波数にシフトする場合も同様に用いることができる
また、第5図のように、複数の入力端を備えた光スィッ
チ510に複数の発振周波数安定化光源51.52,5
3.  ・・・、59を接続し、これら発振周波数安定
化光源51,52,53.   ・・59を切り換えて
用いれば、さらに広い範囲の波長の被測定光の光周波数
を測定することができる。
特に、第3図に示したアセチレンガス及び同位体置換ア
セチレンガスを用いれば1.50μmから1゜56μm
の広範囲にわたって局在する吸収線を使うことによって
、1.50μmから1.56μmの広範囲にわたってI
MHzの高精度で光周波数を測定することが可能である
また、光吸収性ガスとしてアンモニアガス、メタンガス
、二酸化炭素等を用いても前記機能と同様の動作原理に
よって発振波長安定化を行うことができる。
以上、本発明を実施例にもとづき具体的に説明したが、
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。
「発明の効果J 以上、説明したように、本発明は所定の波長の光を吸収
する媒体を周波数基準として用いている発振周波数安定
化光源と、該発振周波数安定化光源からの出力光を、周
波数シフトを受けない0次光と、所定の周波数シフトを
受けた1次光に分割する光周波数シフタと、該光周波数
シフタより出射した0次光及び1次光と被測定光とをそ
れぞれ結合するための光カップラと、該光カップラより
出射された光を光電変換する光検出器と、この光検出器
より出力されたビート信号によって光周波数を同定する
光周波数判定手段とを備えたことを特徴とするものであ
るから、所定の波長の光を吸収する媒体を周波数基準と
して用いている発振周波数安定化光源とその光周波数シ
フト光とのビート信号を求めることにより、高精度に測
定光の絶対周波数を同定することができ、レーザ光の発
振周波数を極めて高精度に測定することができることか
ら、コヒーレント光通信における波長標準光源や光計測
における光源の光周波数を測定するのに利用できる利点
がある。
また、本発明では複数台の発振周波数安定化光源は勿論
のこと1台の発振周波数安定化光源によっても、高精度
に測定光の絶対周波数を同定することができるといった
利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図は本発明の第1の実施例を示すもの
で、第1図は本発明の光周波数カウンタを示す構成ブロ
ック図、第2図は発振周波数安定化光源を示す構成ブロ
ック図、第3図はアセチレンガス及び同位体置換アセチ
レンガスの光吸収特性を示す図、第4図(a)、(b)
、(c)はそれぞれ光周波数決定のための説明図、第5
図は本発明の光周波数カウンタの第2の実施例を示す構
成ブロック図、第6図は従来の光干渉計を用いた従来の
光周波数カウンタを示す構成ブロック図である。 1.110・・・被測定光、2・・・ビームスプリッタ
、3.4・・・ミラー 5,16,17.25・・・受
光器、11・・・発振周波数安定化光源、12・・・光
周波数シフタ、13,14,15.22・・・光カップ
ラ、18・・・光周波数判定回路、19・・・光周波数
表示部、510・・・光スィッチ、21・・・半導体レ
ーザ、23・・・光周波数変調器、24・・・吸収セル
、26・・・帰還回路、27・・・出力光、51,52
.53〜59・・・発振周波数、安定化光源。 第4rIIJ fol 光受光器16のビ ト信号 光受光器17のビート信号 (b) 光受光器16のビート信号 光受光器17のビート信号 光受光器16のビート信号 光受光器17のビート信号 1:測定光 2:ビームスプリッタ 3.4:ミラー 5:光受光器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 所定の波長の光を吸収する媒体を周波数基準として用い
    ている発振周波数安定化光源と、該発振周波数安定化光
    源からの出力光を、周波数シフトを受けない0次光と、
    所定の周波数シフトを受けた1次光に分割する光周波数
    シフタと、該光周波数シフタより出射した0次光及び1
    次光と被測定光とをそれぞれ結合するための光カップラ
    と、該光カップラより出射された光を光電変換する光検
    出器と、この光検出器より出力されたビート信号によっ
    て光周波数を同定する光周波数判定手段とを備えたこと
    を特徴とする光周波数カウンタ。
JP23958490A 1990-09-10 1990-09-10 光周波数カウンタ Expired - Fee Related JPH087101B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002174552A (ja) * 2000-12-05 2002-06-21 Japan Science & Technology Corp 光周波数測定システム
JP2011007802A (ja) * 2010-08-16 2011-01-13 Japan Science & Technology Agency 光周波数測定システム

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JP2002174552A (ja) * 2000-12-05 2002-06-21 Japan Science & Technology Corp 光周波数測定システム
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