JPH04116888A - 回路基板の製造方法 - Google Patents
回路基板の製造方法Info
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Landscapes
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、絶縁物からなる基板(絶縁基板)上に導電性
物質により構成された電気回路を有する回路基板を製造
する回路基板の製造方法に関する。
物質により構成された電気回路を有する回路基板を製造
する回路基板の製造方法に関する。
(従来の技術)
従来、上記表面に電気回路を有する回路基板は、例えば
第3図に示すような工程を経て一般に製造されていた。
第3図に示すような工程を経て一般に製造されていた。
即ち、先ず絶縁物からなる基板(絶縁基板)1の上面に
、蒸着或いは接着等により、このほぼ全面に亙って導電
性の金属膜2を形成する(同図(a))。次に、前記金
属膜2上に得ようとする所定の回路パターンを油性塗料
3等で描画する(同図(b))。そして、前記回路パタ
ーン以外の不要な金属膜2を腐食性の溶解液4に浸漬さ
せることによって溶融除去しく同図(C)) 、更に、
溶剤5で油性塗料3を除去して前記金属膜2により所定
の電気回路6を形成するようにしたものであった。
、蒸着或いは接着等により、このほぼ全面に亙って導電
性の金属膜2を形成する(同図(a))。次に、前記金
属膜2上に得ようとする所定の回路パターンを油性塗料
3等で描画する(同図(b))。そして、前記回路パタ
ーン以外の不要な金属膜2を腐食性の溶解液4に浸漬さ
せることによって溶融除去しく同図(C)) 、更に、
溶剤5で油性塗料3を除去して前記金属膜2により所定
の電気回路6を形成するようにしたものであった。
(発明が解決しようとする課題)
しかしなから、上記従来例においては、工程が複雑であ
るばかりでなく、各々の工程において種々の問題が生じ
ているのか現状であった。例えば、■ 基板1上に金属
膜2を形成する工程において、基板1と金属膜2との界
面で剥離が生じ易く、回路基板(製品)としての不良の
原因となることがある。
るばかりでなく、各々の工程において種々の問題が生じ
ているのか現状であった。例えば、■ 基板1上に金属
膜2を形成する工程において、基板1と金属膜2との界
面で剥離が生じ易く、回路基板(製品)としての不良の
原因となることがある。
■ 油性塗料3による回路パターンの描画工程において
、基板1上にほこり等の異物が存在すると、完成後の電
気回路6に欠陥が生じてしまうおそれかある。
、基板1上にほこり等の異物が存在すると、完成後の電
気回路6に欠陥が生じてしまうおそれかある。
■ 不要な金属膜2を除去する工程において、使用した
使用済みの腐食性溶解液4及び溶剤5は、公害を引き起
こす原因となることから、廃棄するために使用済みの溶
液の処理装置が別途必要となる。
使用済みの腐食性溶解液4及び溶剤5は、公害を引き起
こす原因となることから、廃棄するために使用済みの溶
液の処理装置が別途必要となる。
■ 従来の完成品では、基板1の上に金属による電気回
路6が直接形成されており、これらの熱膨張係数が異な
るため、使用環境か著しく変動した場合、電気回路6と
基板1の界面に剪断力が働いて電気回路6か剥離するお
それがある。
路6が直接形成されており、これらの熱膨張係数が異な
るため、使用環境か著しく変動した場合、電気回路6と
基板1の界面に剪断力が働いて電気回路6か剥離するお
それがある。
本発明は上記に鑑み、公害の発生源となる廃液量を極力
削減し、しかも高信頼性を有する回路基板を比較的簡単
な工程で確実に製造できるようにしたものを提供するこ
とを目的とする。
削減し、しかも高信頼性を有する回路基板を比較的簡単
な工程で確実に製造できるようにしたものを提供するこ
とを目的とする。
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するため本発明は、絶縁物からなる基板
上に導電性物質により構成された電気回路を有する回路
基板を製造する回路基板の製造方法において、高真空雰
囲気中で局部的に加熱しつつセラミック製絶縁基板上に
回路パターンを描画することにより該絶縁基板上に導電
性を有する電気回路を形成するようにしたものである。
上に導電性物質により構成された電気回路を有する回路
基板を製造する回路基板の製造方法において、高真空雰
囲気中で局部的に加熱しつつセラミック製絶縁基板上に
回路パターンを描画することにより該絶縁基板上に導電
性を有する電気回路を形成するようにしたものである。
(作 用)
上記のように構成した本発明によれば、セラミックを高
真空雰囲気中で1000℃以上の高温に加熱すると元素
間の結合か不安定となり、例えば酸化物系セラミックで
は、酸素か真空中に放出されセラミック中の酸素量が減
ることによって、不導体であったものか導電性を有する
ことになる。
真空雰囲気中で1000℃以上の高温に加熱すると元素
間の結合か不安定となり、例えば酸化物系セラミックで
は、酸素か真空中に放出されセラミック中の酸素量が減
ることによって、不導体であったものか導電性を有する
ことになる。
このため、高真空雰囲気中でセラミック製絶縁基板の表
面を、例えばレーザビーム等で局部的に加熱すると、こ
の加熱された部分のみが導電性を有することになり、従
って高真空雰囲気中で局部的に加熱しつつセラミック製
絶縁基板上に回路パターンを描画することによって、こ
の回路パターンに沿った電気回路を形成することができ
る。
面を、例えばレーザビーム等で局部的に加熱すると、こ
の加熱された部分のみが導電性を有することになり、従
って高真空雰囲気中で局部的に加熱しつつセラミック製
絶縁基板上に回路パターンを描画することによって、こ
の回路パターンに沿った電気回路を形成することができ
る。
(実施例)
以下、本発明の実施例を第1図及び第2図を参照して説
明する。
明する。
先ず、第1図(a)に示すように、真空チャンバ内等の
高真空雰囲気10中にセラミック製絶縁基板11を配置
し、この状態でレーザビーム12等を介してセラミック
絶縁基板11の表面を局部的に加熱する。すると、この
セラミック絶縁基板11の表面の前記加熱部には、導電
性を有する導電部11aが形成されるので、このレーザ
ビーム12で得ようとする所定の回路パターンを描画す
ることによって、セラミック絶縁基板11上に導電性を
有する導電部11aからなる電気回路13を形成する。
高真空雰囲気10中にセラミック製絶縁基板11を配置
し、この状態でレーザビーム12等を介してセラミック
絶縁基板11の表面を局部的に加熱する。すると、この
セラミック絶縁基板11の表面の前記加熱部には、導電
性を有する導電部11aが形成されるので、このレーザ
ビーム12で得ようとする所定の回路パターンを描画す
ることによって、セラミック絶縁基板11上に導電性を
有する導電部11aからなる電気回路13を形成する。
更に、前記電気回路13を下絵として、この上面に金属
M14を形成し、これを電気回路13′とすることによ
り、第2図に示すように従来例とほぼ同様の回路基板1
5を構成することかできる。
M14を形成し、これを電気回路13′とすることによ
り、第2図に示すように従来例とほぼ同様の回路基板1
5を構成することかできる。
即ち、第1図(b)に示すように、同図(a)のよって
電気回路13を形成したセラミック絶縁基板11を電解
液16に浸漬させつつ、電解メツキによって導電性の金
属膜14を電気回路13上に形成するか、又は図示しな
いイオン蒸着によって導電性の金属膜14を電気回路1
3上に形成することによって、従来とほぼ同様の回路基
板15を得るのである。
電気回路13を形成したセラミック絶縁基板11を電解
液16に浸漬させつつ、電解メツキによって導電性の金
属膜14を電気回路13上に形成するか、又は図示しな
いイオン蒸着によって導電性の金属膜14を電気回路1
3上に形成することによって、従来とほぼ同様の回路基
板15を得るのである。
この方法によれば、電解メツキにより金属膜14を形成
する時にのみ電解液16を使用することになるが、この
電解液16は劣化するまで使用することができ、従って
腐食工程を経ることがないから、製造時に生じる廃液の
量を従来例に比して遥かに減少させることができる。ま
た、金属膜14の形成をイオン蒸着により行うことによ
って、電気回路形成に基づく廃液を皆無にすることがで
きる。
する時にのみ電解液16を使用することになるが、この
電解液16は劣化するまで使用することができ、従って
腐食工程を経ることがないから、製造時に生じる廃液の
量を従来例に比して遥かに減少させることができる。ま
た、金属膜14の形成をイオン蒸着により行うことによ
って、電気回路形成に基づく廃液を皆無にすることがで
きる。
しかも、製造工程が少ないことから、製品の洗浄に基づ
く溶剤の廃液量を従来に比べ削減することもできる。
く溶剤の廃液量を従来に比べ削減することもできる。
更に、上記実施例によって構成された回路基板15にお
ける金属膜14は、導電性となったセラミック、即ち導
電部11a上に形成され、熱膨張率は金属H14〉セラ
ミック導電部11a〉セラミック絶縁基板11の順にな
り、これによって温度変化により界面に生じる剪断応力
を従来例のそれに比べて軽減させることができ、これに
よって、従来の製品(回路基板)に比べ製造工程や使用
環境下における温度変化に起因する金属膜14の剥離を
生し難くすることができる。
ける金属膜14は、導電性となったセラミック、即ち導
電部11a上に形成され、熱膨張率は金属H14〉セラ
ミック導電部11a〉セラミック絶縁基板11の順にな
り、これによって温度変化により界面に生じる剪断応力
を従来例のそれに比べて軽減させることができ、これに
よって、従来の製品(回路基板)に比べ製造工程や使用
環境下における温度変化に起因する金属膜14の剥離を
生し難くすることができる。
上記実施例に基づく具体的な実施例を以下に説明する。
実施例I:
10’To r r以下の高真空雰囲気10に保持した
高真空チャンバ内に、アルミナセラミック板のセラミッ
ク絶縁基板11を配置し、この上にエキシマレーサビー
ム12により第2図に示す回路パターンを描画する。
高真空チャンバ内に、アルミナセラミック板のセラミッ
ク絶縁基板11を配置し、この上にエキシマレーサビー
ム12により第2図に示す回路パターンを描画する。
次に、この回路パターンの端部に電極を当てて陰極とな
し、銅メツキ浴の電解液16中において純銅の対極を陽
極として、回路パターン上に銅の金属膜14を形成する
。
し、銅メツキ浴の電解液16中において純銅の対極を陽
極として、回路パターン上に銅の金属膜14を形成する
。
実施例■:
1.0−5To r r以下の高真空雰囲気10に保持
した高真空チャンバ内に、ジルコニア(Z r 02
)セラミック板のセラミック絶縁基板11を配置し、こ
の上にエキシマレーサビーム12により第2図に示す回
路パターンを描画する。
した高真空チャンバ内に、ジルコニア(Z r 02
)セラミック板のセラミック絶縁基板11を配置し、こ
の上にエキシマレーサビーム12により第2図に示す回
路パターンを描画する。
次に、この回路パターンの端部に電極を当てて陰極とな
し、ニッケルメッキ浴の電解液16中において純ニッケ
ルの対極を陽極として、回路パターン上にニッケルの金
属膜14を形成する。
し、ニッケルメッキ浴の電解液16中において純ニッケ
ルの対極を陽極として、回路パターン上にニッケルの金
属膜14を形成する。
実施例■:
10’To r r以下の高真空雰囲気10に保持した
高真空チャンバ内に、アルミナセラミック板のセラミッ
ク絶縁基板11を配置し、この上にエキシマレーサビー
ム]2により第2図に示す回路パターンを描画する。
高真空チャンバ内に、アルミナセラミック板のセラミッ
ク絶縁基板11を配置し、この上にエキシマレーサビー
ム]2により第2図に示す回路パターンを描画する。
次に、この高真空チャンバ内において、回路パターンの
端部に電極を当てて陰極となし、電子ビーム加熱により
蒸気イオン化された銅蒸気中において、回路パターン上
に銅の金属H14を形成する。
端部に電極を当てて陰極となし、電子ビーム加熱により
蒸気イオン化された銅蒸気中において、回路パターン上
に銅の金属H14を形成する。
上記従来例及び実施例I乃至■の製造方法により製造さ
れた回路基板を夫々10個づつ作成し、比較検討した結
果を以下に示す。
れた回路基板を夫々10個づつ作成し、比較検討した結
果を以下に示す。
下記の第1表は、各々の製造工程中に生じた廃液の量を
示すもので、この表から本実絶倒I乃至■における製造
工程において生じた廃液の量は、従来例に比し1/3以
下になっていることが判る。
示すもので、この表から本実絶倒I乃至■における製造
工程において生じた廃液の量は、従来例に比し1/3以
下になっていることが判る。
第1表
一50℃に保持したアルコール溶液と、100℃に保持
した温水浴中に交互に浸漬させることによって回路基板
に熱サイクルを与え、繰り返し数10回毎に超音波探傷
法によって金属膜の剥離の有無を調べた結果を下記の第
2表に示す。
した温水浴中に交互に浸漬させることによって回路基板
に熱サイクルを与え、繰り返し数10回毎に超音波探傷
法によって金属膜の剥離の有無を調べた結果を下記の第
2表に示す。
第2表
更に、上記各方法で製造した各回路基板を、二の結果か
ら明らかなように、本実施例によれば、従来例によって
製造された製品に比べ、優れた耐温度変化特性を有して
いることが判る。
ら明らかなように、本実施例によれば、従来例によって
製造された製品に比べ、優れた耐温度変化特性を有して
いることが判る。
本発明は上記のような構成であるので、回路基板製造の
際の廃液量及び廃液処理に伴う処理設備の削減を図るこ
とができるとともに、優れた耐温度変化特性を有する回
路基板を製造することができることから、公害発生の防
止及び電気機器の信頼性の向上を図ることができるとい
った効果がある。
際の廃液量及び廃液処理に伴う処理設備の削減を図るこ
とができるとともに、優れた耐温度変化特性を有する回
路基板を製造することができることから、公害発生の防
止及び電気機器の信頼性の向上を図ることができるとい
った効果がある。
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示し、第1図は
工程図、第2図は回路基板の平面図、第3図は従来例を
示す工程図である。 10・・・高真空雰囲気、11・・・セラミック絶縁基
板、lla・・・同導電部、12・・・レーザビーム、
13.13’・・・電気回路、14・・・金属膜、15
・・・回路基板、16・・・電解液。
工程図、第2図は回路基板の平面図、第3図は従来例を
示す工程図である。 10・・・高真空雰囲気、11・・・セラミック絶縁基
板、lla・・・同導電部、12・・・レーザビーム、
13.13’・・・電気回路、14・・・金属膜、15
・・・回路基板、16・・・電解液。
Claims (1)
- 絶縁物からなる基板上に導電性物質により構成された電
気回路を有する回路基板を製造する回路基板の製造方法
において、高真空雰囲気中で局部的に加熱しつつセラミ
ック製絶縁基板上に回路パターンを描画することにより
該絶縁基板上に導電性を有する電気回路を形成すること
を特徴とする回路基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23608590A JPH04116888A (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 回路基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23608590A JPH04116888A (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 回路基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04116888A true JPH04116888A (ja) | 1992-04-17 |
Family
ID=16995499
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23608590A Pending JPH04116888A (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 回路基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04116888A (ja) |
-
1990
- 1990-09-06 JP JP23608590A patent/JPH04116888A/ja active Pending
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