JPH04113442U - プローブ構造 - Google Patents

プローブ構造

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JPH04113442U
JPH04113442U JP1739591U JP1739591U JPH04113442U JP H04113442 U JPH04113442 U JP H04113442U JP 1739591 U JP1739591 U JP 1739591U JP 1739591 U JP1739591 U JP 1739591U JP H04113442 U JPH04113442 U JP H04113442U
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terminal
support shaft
probe
terminal support
input
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JP1739591U
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Inventor
田川秀樹
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太陽誘電株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 混成集積回路の入出力端子を終端するに際し
て、前記混成集積回路の内部構造や外観に何等の悪影響
を及ぼすことなく、容易且つ迅速に入出力端子を終端す
ることができるようにする。 【構成】 筒状のプローブ本体31と、前記プローブ本
体31内に設けられた端子支持軸受35に挿通された端
子支持軸32と、前記端子支持軸32先端に付設される
とともに被測定部50に当接するように構成された測定
端子部33と、前記端子支持軸32をプローブ本体31
長手方向に付勢する弾性部材36と、を有するプローブ
の本体部38に終端負荷40を付設、または前記プロー
ブの所要箇所に所要抵抗を有した終端部材41を採用す
ることにより構成されたプローブ構造30。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、回路試験等において、被測定部を終端させるためのプローブ構造に 関し、さらに詳細には、筒状のプローブ本体と、前記プローブ本体内に設けられ た端子支持軸受に挿通された端子支持軸と、前記端子支持軸先端に付設されると ともに被測定部に当接するように構成された測定端子部と、前記端子支持軸をプ ローブ本体長手方向に付勢する弾性部材と、を有するプローブの本体部に抵抗器 等を付設、または前記プローブに所要抵抗を有した部材を採用することにより、 迅速且つ容易な終端ができ、更に入出力端子の終端に際して、該入出力端子等の 汚損並びに電子回路破壊が生じないようにしたプローブ構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、回路試験等を行うに際し、混成集積回路等の入出力端子を終端するには 、終端器に接続されたコネクタの同軸ケーブルを前記混成集積回路の入出力端子 に直接半田付けするか、接地された抵抗器の同軸ケーブルを前記の如く混成集積 回路の入出力端子に直接半田付けするか、或いは前記混成集積回路の入出力端子 に筒状端子を装着し、該筒状端子から延在する同軸ケーブルをコネクタを介して 終端器に接続、または抵抗器を介して接地させること等により行っていた。
【0003】 上記従来の混成集積回路等の入出力端子の終端方法を図5乃至図7に基づいて 詳細に説明する。
【0004】 従来において、高周波回路用混成集積回路等の入出力端子を終端するには、図 5に示すように混成集積回路1の入出力端子3に、終端器5に接続されたコネク タ7より延在する同軸ケーブル9先端を半田により融着する方法が採用されてい た。
【0005】 また、従来において、高周波回路用混成集積回路等の入出力端子を終端するに は、図6に示すように混成集積回路1の入出力端子3に、同軸ケーブル9を半田 により融着するとともに抵抗器6を介して接地する方法が採用されていた。
【0006】 更に、従来において、高周波回路用混成集積回路等の入出力端子を終端するに は、図7に示すように混成集積回路1の入出力端子3に、同軸ケーブル9が接続 された筒状端子8を装着し、更に前記同軸ケーブル9一端をコネクタ7を介して 終端器5に接続するか、或いは前記同軸ケーブル9が接続された筒状端子8を前 記入出力端子3に装着するとともに前記の如く該同軸ケーブル9を抵抗器6を介 して接地される等の方法が採用されていた。
【0007】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のような終端器、或いは抵抗器に電気的に接続された 同軸ケーブル一端を混成集積回路の入出力端子に直接半田付けしたり、終端器、 或いは抵抗器に電気的に接続された筒状端子を混成集積回路の入出力端子に装着 することにより終端するという方法においては、以下に記すような様々な問題点 を有していた。
【0008】 則ち、混成集積回路の入出力端子に、同軸ケーブルを直接半田付けするものに おいては、該半田付け作業時における半田溶解の高熱により、該混成集積回路内 部の電子部品に熱的破壊が生じる危険性があるという問題点を有していた。
【0009】 また、半田ゴテ先端から電流がリークしていた場合においては前記混成集積回 路内部の電子部品に静電破壊が生じる危険性があるという問題点を有していた。
【0010】 更に、前記の如く混成集積回路の入出力端子に半田付けを行うと、該半田付け 作業、及び試験終了後の同軸ケーブル取外しに多大な時間を要し、作業効率の低 下を招くとともに、試験終了後において半田付着を完全に取り除くことが困難で あり、延いては半田が入出力端子上に残存し、商品価値の著しい低下を招くとい う問題点を有していた。
【0011】 また、混成集積回路の入出力端子に筒状端子を装着させるものにおいては、入 出力端子への同軸ケーブル半田付けのような混成集積回路内部の電子部品へ熱的 、静電気的な損傷を与える危険性がない反面、該筒状端子装着時に誤って入出力 端子を折曲させてしまう危険性があり、延いては該混成集積回路を基盤上に実装 する際に、折曲した入出力端子により電気的及び機械的接続不良が生じ、導通不 良を招くことになるという問題点を有していた。
【0012】 本考案は、上記事情に鑑みてなされたものであり、プローブ本体部に混成集積 回路の入出力端子部の特性インピーダンスと同等の抵抗値を有する抵抗器を付設 、或いはプローブ所要箇所を混成集積回路の入出力端子部の特性インピーダンス と同等の抵抗値を有する部材により構成することにより、終端するに際し混成集 積回路内部の電子部品に悪影響を与えず、更には外観上の破損、汚損等をも生ず ることなく終端することができるようなプローブ構造を提供するものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、この考案は、筒状のプローブ本体と、前記プロー ブ本体内に設けられた端子支持軸受に挿通された端子支持軸と、前記端子支持軸 先端に付設されるとともに被測定部に当接するように構成された測定端子部と、 前記端子支持軸をプローブ本体長手方向に付勢する弾性部材と、を有する測定プ ローブにおいて、前記プローブ本体部に終端負荷を付設することにより上記目的 を達成するものである。
【0014】 また、この考案は、前記端子支持軸または測定端子部の少なくとも一方を終端 負荷部材とすることにより上記目的を達成するものである。
【0015】
【作用】
本考案においては、筒状のプローブ本体と、前記プローブ本体内に設けられた 端子支持軸受に挿通された端子支持軸と、前記端子支持軸先端に付設されるとと もに被測定部に当接するように構成された測定端子部と、前記端子支持軸をプロ ーブ本体長手方向に付勢する弾性部材と、を有するプローブの該本体部に各種抵 抗器等を付設、または、前記端子支持軸または測定端子部の少なくとも一方を、 測定しようとする混成集積回路が使用されるべく仕様の特性インピーダンスと同 等の抵抗値を有する部材とすることにより構成しているため、該プローブ先端の 測定端子部を入出力端子に当接することにより容易な終端を行るように働く。
【0016】 また、本考案の終端方法においては、前記の如く終端器や抵抗器から延在され る同軸ケーブルの入出力端子への半田付けを要することはないから、混成集積回 路内部の電子部品を熱的破壊、静電破壊等させる危険性はない。
【0017】 また、前記の如く半田付けを要することがないとともに、筒状端子の装着をも 要することはなく、延いては試験終了時に半田の残存、入出力端子の折曲等が生 じないため、外観不良等の商品価値低下を招くことはない。
【0018】
【実施例】
以下本考案に係わるプローブ構造の実施例を図面に基いて詳細に説明する。
【0019】 図1は本考案に係わるプローブ構造の実施例を示す断面図、図2は端子支持軸 を終端部材とした実施例を示す断面図、図3は測定端子部を終端部材とした実施 例の要部を示す拡大図、図4は本考案のプローブ構造の使用状態を示す説明図で ある。
【0020】 本考案のプローブ構造30は、図1に示すように筒状のプローブ本体31と、 前記プローブ本体31内に摺動自在に嵌入された端子支持軸受35に挿通された 端子支持軸32と、前記端子支持軸32先端に付設されるとともに被測定部50 に当接するように構成された測定端子部33と、前記端子支持軸32をプローブ 本体31長手方向に付勢する弾性部材36、及びプローブ本体部38、則ち前記 端子支持軸32上部方向に付設された終端負荷40とにより構成される。
【0021】 前記端子支持軸32は、端子支持軸受35に固着され、更に該端子支持軸受3 5上部に配する前記弾性部材36により付勢されることにより、該端子支持軸受 35がプローブ本体31内を摺動するように構成されており、延いては前記端子 支持軸32がプローブ本体31内を上下動するように構成されている。
【0022】 前記弾性部材36は、圧縮スプリングにより構成されており、該弾性力により 上記の如く端子支持軸32を付勢することにより該端子支持軸32先端に付設さ れている測定端子部33を混成集積回路1入出力端子3等の被測定部50に当接 させた場合に適度の押圧力が得られるように構成されている。
【0023】 また、前記終端負荷40は、測定しようとする混成集積回路1が使用されるべ く仕様の特性インピーダンスと、同等の抵抗値を有する抵抗器により構成されて いるため、該プローブ構造30の接地を行うとともに、前記測定端子部33を入 出力端子3に当接させることにより終端することが可能である。
【0024】 なお、前記終端負荷40は、各種抵抗器を採用することが可能であるとともに 固定抵抗器、或いは50Ω、75Ω、300Ω等に切り替え可能な可変抵抗器の 何れを採用することも可能である。
【0025】 一方、本考案においては、請求項2に記すように端子支持軸32または測定端 子部33の少なくとも一方を終端部材41とすることも可能である。
【0026】 則ち、前記プローブ構造30において、終端負荷40を本体部38に付設する のではなく、図2に示すように前記端子支持軸32を、測定しようとする混成集 積回路1が使用されるべく仕様の特性インピーダンスと、同等の抵抗値を有する 終端部材41により構成するものである。
【0027】 また、図3に示すように測定端子部33を終端部材41により構成するととも に、入出力端子3等の被測定部50に当接する箇所においては、接触抵抗を低下 させるために銅や金等の良導体47を鍍着することにより構成するものである。
【0028】 更には、前記端子支持軸32及び測定端子部33共に終端部材41より構成す ることも可能である。
【0029】 なお、前記終端部材41は、例えば銅−マンガン合金、ニッケル−クロム合金 、鉄−クロム合金等の金属抵抗材料としてもよいし、炭素等の非金属抵抗材料と する等、各種抵抗体を採用することができる。
【0030】 次に、本考案のプローブ構造30の使用方法について説明すれば、前記プロー ブ構造30は、該プローブ構造30より延在されるリード線39を接地させると ともに、端子支持軸32先端に付設される測定端子部33を被測定部50、則ち 基盤51上に配される混成集積回路1の入出力端子3に当接させる。
【0031】 上記の如くして測定端子部33を入出力端子3に当接させるだけで、入出力端 子3を終端することが可能である。
【0032】
【考案の効果】
本考案に係わるプローブ構造は、上記のように構成されているため、以下に記 載するような効果を有する。
【0033】 (1)本考案のプローブ構造は、筒状のプローブ本体と、前記プローブ本体内 に設けられた端子支持軸受に挿通された端子支持軸と、前記端子支持軸先端に付 設されるとともに被測定部に当接するように構成された測定端子部と、前記端子 支持軸をプローブ本体長手方向に付勢する弾性部材と、を有するプローブの該プ ローブ本体部に、測定しようとする混成集積回路が使用されるべく仕様の特性イ ンピーダンスと同等の抵抗値を有する終端負荷を付設、または、前記端子支持軸 または測定端子部の少なくとも一方を終端負荷部材とすることにより構成されて いるため、前記測定端子部を被測定部に当接するだけ容易に終端することができ るという優れた効果を有する。
【0034】 (2)また、上記の如く測定端子部を被測定部に当接するだけで終端でき、延 いては被測定部への同軸ケーブル半田融着作業を要しないため、作業効率向上を 達成できるとともに、混成集積回路内部の電子部品が半田溶解熱や一連の作業に よる熱的破壊、或いは静電破壊を伴うという危険性を解消することができるとい う優れた効果を有する。
【0035】 (3)また、上記の如く被測定部に半田融着を行わないとともに、入出力端子 等の前記被測定部に筒状端子を装着することなく終端することができるため、試 験終了後に前記入出力端子に半田の残存が生じたり、該入出力端子の折曲等が生 じることがなく、延いては商品価値の低下を招くことがないという優れた効果を 有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本考案に係わるプローブ構造の実施例を示す
断面図。
【図2】 端子支持軸を終端部材とした実施例を示す断
面図。
【図3】 測定端子部を終端部材とした実施例の要部を
示す拡大図。
【図4】 本考案のプローブ構造の使用状態を示す説明
図。
【図5】 従来の入出力端子の終端状況を示す斜視図。
【図6】 従来の入出力端子の終端状況を示す斜視図。
【図7】 従来の入出力端子の終端状況を示す斜視図。
【符号の説明】
1 混成集積回路 3 入出力端子 5 終端器 6 抵抗器 7 コネクタ 8 筒状端子 9 同軸ケーブル 30 プローブ構造 31 プローブ本体 32 端子支持軸 33 測定端子部 35 端子支持軸受 36 弾性部材 38 本体部 39 リード線 40 終端負荷 41 終端部材 47 良導体 50 被測定部 51 基盤

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 筒状のプローブ本体と、前記プローブ本
    体内に設けられた端子支持軸受に挿通された端子支持軸
    と、前記端子支持軸先端に付設されるとともに被測定部
    に当接するように構成された測定端子部と、前記端子支
    持軸をプローブ本体長手方向に付勢する弾性部材と、を
    有するプローブにおいて、前記プローブ本体部に終端負
    荷を付設したことを特徴とするプローブ構造。
  2. 【請求項2】 前記端子支持軸または測定端子部の少な
    くとも一方を終端負荷部材としたことを特徴とする請求
    項1記載のプローブ構造。
JP1739591U 1991-03-22 1991-03-22 プローブ構造 Pending JPH04113442U (ja)

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5398062A (en) * 1977-02-08 1978-08-26 Akazawa Isao Way of testing electrical parts and electrical circuit elements
JPS6221064A (ja) * 1985-07-19 1987-01-29 Koichi Yoshida スプリング・コンタクト式プロ−ブ
JPH02309260A (ja) * 1989-05-24 1990-12-25 Hitachi Ltd プローブピン

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Effective date: 19951017