JPH04113264A - プロセスガスクロマトグラフ - Google Patents
プロセスガスクロマトグラフInfo
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- JPH04113264A JPH04113264A JP23061690A JP23061690A JPH04113264A JP H04113264 A JPH04113264 A JP H04113264A JP 23061690 A JP23061690 A JP 23061690A JP 23061690 A JP23061690 A JP 23061690A JP H04113264 A JPH04113264 A JP H04113264A
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- gas
- sample valve
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- Pending
Links
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はカラム内に充填された充填剤とガスとの吸着性
の差を利用してガス分析を行なうガスクロマトグラフに
関し、特にプロセスガスクロマトグラフにおけるカラム
の劣化防止技術に関するものである。
の差を利用してガス分析を行なうガスクロマトグラフに
関し、特にプロセスガスクロマトグラフにおけるカラム
の劣化防止技術に関するものである。
プロセスガスクロマトグラフは、石油化学プロセスや鉄
鋼プロセスなどにおいてプラントの運転状態を常時制御
または監視するために連続的に分析を行なうようになさ
れているが、そのサンプル中の重質共存成分が長期間使
用中にカラムに蓄積して測定成分の分離が悪くなるため
、測定が不能になるトラブルが多々生じている。この場
合、従来はカラムを取り外し、別装置で再生するか、ま
たは新品と交換しているのが普通である。
鋼プロセスなどにおいてプラントの運転状態を常時制御
または監視するために連続的に分析を行なうようになさ
れているが、そのサンプル中の重質共存成分が長期間使
用中にカラムに蓄積して測定成分の分離が悪くなるため
、測定が不能になるトラブルが多々生じている。この場
合、従来はカラムを取り外し、別装置で再生するか、ま
たは新品と交換しているのが普通である。
しかし、長期間連続的に使用するプロセスガスクロマト
グラフでは、サンプルの測定成分、溶出時間の安定して
いることが重要な条件になっており、上述した従来の方
法はその流路を一旦切ることになり、上記条件を損なっ
たり、あるいはカラムの交換が面倒である等の問題があ
った。
グラフでは、サンプルの測定成分、溶出時間の安定して
いることが重要な条件になっており、上述した従来の方
法はその流路を一旦切ることになり、上記条件を損なっ
たり、あるいはカラムの交換が面倒である等の問題があ
った。
本発明は以上の点に鑑み、かかる問題点を解消するため
になされたもので、従来のようにカラムを取り外したり
または交換することなく、カラムを設置した状態でカラ
ムの劣化を防いでその寿命を延ばすことができるプロセ
スガスクコマドグラフを提供することを目的とする。
になされたもので、従来のようにカラムを取り外したり
または交換することなく、カラムを設置した状態でカラ
ムの劣化を防いでその寿命を延ばすことができるプロセ
スガスクコマドグラフを提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段］
この目的を達成するために本発明は、恒温槽を形成し所
定温度に保持されるアナライザ本体内にサンプルバルブ
２カラム、検出器などを設け、このサンプルバルブの流
路切替によりキャリアガスによって移送されるサンプル
ガスをカラムに導いて各ガス成分に分離し、これを検出
器によって検出するプロセスガスクロマトグラフにおい
て、−定期間毎に恒温槽の温度を上げ、かつサンプルバ
ルブをバックフラッシュ状態に保持して、カラムに蓄積
された高沸点成分を排出するシーケンス制御手段を備え
たものである。
定温度に保持されるアナライザ本体内にサンプルバルブ
２カラム、検出器などを設け、このサンプルバルブの流
路切替によりキャリアガスによって移送されるサンプル
ガスをカラムに導いて各ガス成分に分離し、これを検出
器によって検出するプロセスガスクロマトグラフにおい
て、−定期間毎に恒温槽の温度を上げ、かつサンプルバ
ルブをバックフラッシュ状態に保持して、カラムに蓄積
された高沸点成分を排出するシーケンス制御手段を備え
たものである。
Ｃ作用〕
本発明においては、従来のようにカラムを取り外したり
または交換することなく、一定期間毎に恒温槽の温度を
上げ、サンプルバルブのハックフラッシュ機能を保持し
て、それに吸着している重質成分を自動的に排出できる
ので、カラムの性能を維持することができる。
または交換することなく、一定期間毎に恒温槽の温度を
上げ、サンプルバルブのハックフラッシュ機能を保持し
て、それに吸着している重質成分を自動的に排出できる
ので、カラムの性能を維持することができる。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
する。
第１図は本発明の一実施例によるプロセスガスクロマト
グラフの基本的な構成図である。第１図において、１は
恒温槽を形成し所定温度（６０”Ｃ〜１５０℃程度）に
保持されるアナライザ本体であり、このアナライザ本体
１内にはサンプルバルブ２．カラム３およびハックフラ
ッシュカラム４゜検出器５．計量管６が配設されている
。７はヘリウム等の不活性ガスからなるキャリアガスＣ
Ｇを所定圧に減圧する減圧弁、８はメインコントローラ
としてのＣＰＵ、９はアナライザ本体１の恒温槽の温度
を制御する恒温槽温度コントローラであり、これは恒温
槽の温度を検出するセンサ１１の信号を受けてＣＰＵ８
からの指令によりヒータエ２を駆動して恒温槽を所定の
温度に加熱するものとなっている。また、１０は同じ＜
ｃｐｕｓの指令によりサンプルバルブ２の流路を切替え
制御するためのバルブコントローラであり、ＣＰＵ８に
設定された操作手順指令に基づき、一定期間毎に恒温槽
温度コントローラ９により恒温槽の温度を通常の測定時
より上げ、かつサンプルバルブ２をバックフラッシュ状
態に保持して、カラム４，３に堆積している重質成分を
排出するシーケンス制御を行なうものとなっている。な
お、図中２１゜２２はキャリアガスＣＧの導入口、２３
はバンクフラッシュの排出口、２４はサンプルガスＳＧ
の導入口、２５はサンプルガスＳＧの排出口である。
グラフの基本的な構成図である。第１図において、１は
恒温槽を形成し所定温度（６０”Ｃ〜１５０℃程度）に
保持されるアナライザ本体であり、このアナライザ本体
１内にはサンプルバルブ２．カラム３およびハックフラ
ッシュカラム４゜検出器５．計量管６が配設されている
。７はヘリウム等の不活性ガスからなるキャリアガスＣ
Ｇを所定圧に減圧する減圧弁、８はメインコントローラ
としてのＣＰＵ、９はアナライザ本体１の恒温槽の温度
を制御する恒温槽温度コントローラであり、これは恒温
槽の温度を検出するセンサ１１の信号を受けてＣＰＵ８
からの指令によりヒータエ２を駆動して恒温槽を所定の
温度に加熱するものとなっている。また、１０は同じ＜
ｃｐｕｓの指令によりサンプルバルブ２の流路を切替え
制御するためのバルブコントローラであり、ＣＰＵ８に
設定された操作手順指令に基づき、一定期間毎に恒温槽
温度コントローラ９により恒温槽の温度を通常の測定時
より上げ、かつサンプルバルブ２をバックフラッシュ状
態に保持して、カラム４，３に堆積している重質成分を
排出するシーケンス制御を行なうものとなっている。な
お、図中２１゜２２はキャリアガスＣＧの導入口、２３
はバンクフラッシュの排出口、２４はサンプルガスＳＧ
の導入口、２５はサンプルガスＳＧの排出口である。
ここで、バックフラッシュカラム４は、測定時にアナラ
イザ本体１の恒温槽を所定温度に加熱した後、サンプル
バルブ２の流路を第１図実線の状態から点線の状態に切
替えることにより、カラム３と直列に接続され、その範
囲内でＣ（炭素）の少ない低沸点成分（軽いガス成分）
を高速で効率よく分離する。この時、計量管６によって
分取した測定すべきサンプルガスＳＧを、減圧弁７を経
てキャリアガス入口２１より供給されるキャリアガスＣ
Ｇによってカラム４．３内に送り込み、これらのカラム
４，３内で各ガス成分を固定相に対する各成分の吸着性
（親和性）や分配係数の差異に基づく移動速度の差を利
用して各ガス成分を相互に分離する。しかる後、これを
熱伝導度検出器。
イザ本体１の恒温槽を所定温度に加熱した後、サンプル
バルブ２の流路を第１図実線の状態から点線の状態に切
替えることにより、カラム３と直列に接続され、その範
囲内でＣ（炭素）の少ない低沸点成分（軽いガス成分）
を高速で効率よく分離する。この時、計量管６によって
分取した測定すべきサンプルガスＳＧを、減圧弁７を経
てキャリアガス入口２１より供給されるキャリアガスＣ
Ｇによってカラム４．３内に送り込み、これらのカラム
４，３内で各ガス成分を固定相に対する各成分の吸着性
（親和性）や分配係数の差異に基づく移動速度の差を利
用して各ガス成分を相互に分離する。しかる後、これを
熱伝導度検出器。
水素炎イオン化検出器等の検出器５で検出し、そのガス
成分の濃度に比例した信号をＣＰＵ８によって波形処理
して記録紙に記録する。
成分の濃度に比例した信号をＣＰＵ８によって波形処理
して記録紙に記録する。
一方、サンプルガスＳＧ中の重くてＣの多い高沸点成分
は、バックフラッシュカラム４を低沸点成分より遅く通
過するため、分析を必要としない場合には第１図実線で
示すようにバックフラッシュカラム４を通過した後、そ
の排出口２３より廃棄される。
は、バックフラッシュカラム４を低沸点成分より遅く通
過するため、分析を必要としない場合には第１図実線で
示すようにバックフラッシュカラム４を通過した後、そ
の排出口２３より廃棄される。
しかるに本実施例では、このバックフラッシュ機能を利
用して、第２図に示すようにカラムの劣化を考慮して予
め決められた一定期間Ｔごとにアナライザ本体１の恒温
槽の温度を上げ、第１図実線の如くサンプルバルブ２を
ハックフラッシュ状態に保持して、カラム４，３に堆積
している重質成分をキャリアガスＣＧによって排出する
ことにより、カラムの劣化を防いでいる。例えば、通常
の温度を８０℃で分析している場合、１５０℃に上げて
ハソクフラ・ノシュによりカラム４，３に吸着している
重質成分を短時間に排出することができ、カラムの性能
を長期間にわたって維持することが可能になる。
用して、第２図に示すようにカラムの劣化を考慮して予
め決められた一定期間Ｔごとにアナライザ本体１の恒温
槽の温度を上げ、第１図実線の如くサンプルバルブ２を
ハックフラッシュ状態に保持して、カラム４，３に堆積
している重質成分をキャリアガスＣＧによって排出する
ことにより、カラムの劣化を防いでいる。例えば、通常
の温度を８０℃で分析している場合、１５０℃に上げて
ハソクフラ・ノシュによりカラム４，３に吸着している
重質成分を短時間に排出することができ、カラムの性能
を長期間にわたって維持することが可能になる。
以上のように本発明によれば、プロセスガスクロマトグ
ラフにおいて一定期間毎にアナライザ本体の恒温槽の温
度を上げ、サンプルバルブをバンクフラッシュ状態に保
持して、カラムに蓄積された高沸点成分を排出するよう
にしたので、カラムの劣化を防止できる。このため、従
来はとんどが使い捨てであったカラムが再生され、長期
間安定して使用できる。その結果、カラム交換に要する
時間と経費を削減でき、しかもシーケンスによる自動化
により人手をかけなくても良い等の優れた効果がある。
ラフにおいて一定期間毎にアナライザ本体の恒温槽の温
度を上げ、サンプルバルブをバンクフラッシュ状態に保
持して、カラムに蓄積された高沸点成分を排出するよう
にしたので、カラムの劣化を防止できる。このため、従
来はとんどが使い捨てであったカラムが再生され、長期
間安定して使用できる。その結果、カラム交換に要する
時間と経費を削減でき、しかもシーケンスによる自動化
により人手をかけなくても良い等の優れた効果がある。
第１図は本発明の一実施例によるプロセスガスクロマト
グラフの基本構成図、第２図は上記実施例の動作を説明
するための説明図である。 １・・・アナライザ本体（恒温槽）、２・・・サンプル
バルブ、３・・・カラム、４・・・ハ。 タフラッシュカラム、５・・・検出器、６・・・計量管
、７・・・減圧弁、８・・・ＣＰＵ、９・・・恒温槽温
度コントローラ、１ｏ・・・バルブコントローラ、１１
”・・・温度センサ、１２・・・ヒータ。
グラフの基本構成図、第２図は上記実施例の動作を説明
するための説明図である。 １・・・アナライザ本体（恒温槽）、２・・・サンプル
バルブ、３・・・カラム、４・・・ハ。 タフラッシュカラム、５・・・検出器、６・・・計量管
、７・・・減圧弁、８・・・ＣＰＵ、９・・・恒温槽温
度コントローラ、１ｏ・・・バルブコントローラ、１１
”・・・温度センサ、１２・・・ヒータ。
Claims (1)
- 恒温槽を形成し所定温度に保持されるアナライザ本体内
にサンプルバルブ、カラム、検出器などを設け、このサ
ンプルバルブの流路切替によりキャリアガスによって移
送されるサンプルガスをカラムに導いて各ガス成分に分
離し、これを検出器によって検出するプロセスガスクロ
マトグラフにおいて、一定期間毎に前記恒温槽の温度を
上げ、かつ前記サンプルバルブをバックフラッシュ状態
に保持して、前記カラムに蓄積された高沸点成分を排出
するシーケンス制御手段を備えたことを特徴とするプロ
セスガスクロマトグラフ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23061690A JPH04113264A (ja) | 1990-09-03 | 1990-09-03 | プロセスガスクロマトグラフ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23061690A JPH04113264A (ja) | 1990-09-03 | 1990-09-03 | プロセスガスクロマトグラフ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04113264A true JPH04113264A (ja) | 1992-04-14 |
Family
ID=16910559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23061690A Pending JPH04113264A (ja) | 1990-09-03 | 1990-09-03 | プロセスガスクロマトグラフ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04113264A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6138320A (en) * | 1995-03-27 | 2000-10-31 | Asmo Co., Ltd. | Wiper pivot shaft and wiper apparatus |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56145347A (en) * | 1980-04-14 | 1981-11-12 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Process gas chromatograph |
| JPS59120956A (ja) * | 1982-12-28 | 1984-07-12 | Shimadzu Corp | ガスクロマトグラフ |
-
1990
- 1990-09-03 JP JP23061690A patent/JPH04113264A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56145347A (en) * | 1980-04-14 | 1981-11-12 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Process gas chromatograph |
| JPS59120956A (ja) * | 1982-12-28 | 1984-07-12 | Shimadzu Corp | ガスクロマトグラフ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6138320A (en) * | 1995-03-27 | 2000-10-31 | Asmo Co., Ltd. | Wiper pivot shaft and wiper apparatus |
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