JPH04106709U - 真空装置用膜厚計 - Google Patents
真空装置用膜厚計Info
- Publication number
- JPH04106709U JPH04106709U JP1714791U JP1714791U JPH04106709U JP H04106709 U JPH04106709 U JP H04106709U JP 1714791 U JP1714791 U JP 1714791U JP 1714791 U JP1714791 U JP 1714791U JP H04106709 U JPH04106709 U JP H04106709U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical fiber
- film thickness
- flexible tube
- fiber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 32
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims abstract description 24
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 51
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 244000309464 bull Species 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 真空装置内で取り扱いやすく、膜厚の測定精
度がたかい膜厚計を得ることを目的とする。 【構成】 真空装置のフランジポートに取り付けるフラ
ンジ12と、先端側が真空装置内に延出され基端が前記
フランジ12に穿設した透孔14の周縁部に気密に取り
付けられたフレキシブル管10と、前記透孔14から前
記フレキシブル管10内に挿入されフレキシブル管10
の先端側から投受光する光ファイバー16と、該光ファ
イバー16の先側に設けられ光ファイバー16からの出
射光を平行光線として被検体に照射する光学系26と、
前記光ファイバー16中の投光ファイバー18を介して
光を入射する光源部22と、前記光ファイバー16中の
受光ファイバー20によって受光された被検体の表裏面
からの反射光を解析して被検体の膜厚を検知する演算部
とを有する。
度がたかい膜厚計を得ることを目的とする。 【構成】 真空装置のフランジポートに取り付けるフラ
ンジ12と、先端側が真空装置内に延出され基端が前記
フランジ12に穿設した透孔14の周縁部に気密に取り
付けられたフレキシブル管10と、前記透孔14から前
記フレキシブル管10内に挿入されフレキシブル管10
の先端側から投受光する光ファイバー16と、該光ファ
イバー16の先側に設けられ光ファイバー16からの出
射光を平行光線として被検体に照射する光学系26と、
前記光ファイバー16中の投光ファイバー18を介して
光を入射する光源部22と、前記光ファイバー16中の
受光ファイバー20によって受光された被検体の表裏面
からの反射光を解析して被検体の膜厚を検知する演算部
とを有する。
Description
【0001】
本考案は真空装置用膜厚計に関する。
【0002】
成膜などの作業では膜厚を所定厚さにコントロールするため、膜厚計によって
膜厚を監視しながら作業する。これらの作業で一般に用いられる膜厚計はセンサ
に水晶振動子を用いたもので、成膜物質がセンサ上に付着すると発振周波数が変
動することから膜厚を検知するものである。
したがって、この水晶振動子を用いた膜厚計では被検体とともに真空装置内で
成膜物質が飛散してくる位置にセンサをセットする必要がある。また、膜厚を検
知するためには、あらかじめセンサの発振周波数と被検体上に形成される膜厚と
の関係を較正しておく必要がある。
なお、上記センサのかわりに光学的に膜厚を測定する方法もあり、この場合は
真空チャンバに観察窓を取り付けて監視するとともに、センサで検知することが
なされる。
【0003】
ところで、最近のように高精度で成膜する場合は10-10 Torrといった高真空下
で成膜するから、水晶振動子のようなセンサあるいはこの付属物を真空装置内に
持ち込むことは高真空を保つうえで不都合である。また、何回か成膜作業を行っ
て所定膜厚とする場合、水晶振動子を用いた膜厚計では個々の膜厚を累積して最
終膜厚とせざるを得ず、最終膜厚を直接的に検知することができないという問題
点がある。
また、観察窓を設けて膜厚を監視する場合は、真空チャンバ内での機器の配置
によっては必ずしも最適位置に窓を設置することができなかったり、成膜中に成
膜物質が窓に飛散して窓の透光性が変動し的確な監視ができなかったりするとい
う問題点がある。
【0004】
そこで、本考案は上記問題点を解決すべくなされたものであり、その目的とす
るところは、成膜等の作業において真空装置内における膜厚を精度よく測定する
ことのできる真空装置用膜厚計を提供しようとするものである。
【0005】
本考案は上記目的を達成するため次の構成を備える。
すなわち、真空装置のフランジポートに取り付けるフランジと、先端側が真空
装置内に延出され基端が前記フランジに穿設した透孔の周縁部に気密に取り付け
られたフレキシブル管と、前記透孔から前記フレキシブル管内に挿入されフレキ
シブル管の先端側から投受光する光ファイバーと、該光ファイバーの先側に設け
られ光ファイバーからの出射光を平行光線として被検体に照射する光学系と、前
記光ファイバー中の投光ファイバーを介して光を入射する光源部と、前記光ファ
イバー中の受光ファイバーによって受光された被検体の表裏面からの反射光を解
析して被検体の膜厚を検知する演算部とを有することを特徴とする。
【0006】
真空装置にフレキシブル管をセットする場合は、被検体に対してフレキシブル
管の先端側に設けた光学系を対面させ、真空装置のフランジポートにフランジを
固定してセットする。投光ファイバーから出射した光は光学系によって平行光束
として被検体に照射し、被検体からの反射光は光学系を介して受光ファイバーに
よって受光される。解析部では受光ファイバーによって受光された被検体からの
反射光を解析して被検体の膜厚を求める。
【0007】
以下、本考案の好適な実施例を添付図面に基づいて詳細に説明する。
図1は本考案に係る真空装置用膜厚計の一実施例の構成を示す説明図である。
この膜厚計は多光束干渉の原理によって被検体の膜厚を検知するもので、被検体
にできるだけ接近した位置で光を照射することによって測定することを特徴とす
る。
そのため、真空チャンバに持ち込む部分をフレキシブル管10で構成し、真空
チャンバのフランジポートに取り付けるフランジ12にフレキシブル管10を取
り付ける。
フレキシブル管10内には光ファイバーを挿入してセットするから、フレキシ
ブル管10はこれが収納できる径サイズのものを用いる。フランジ12にはフレ
キシブル管10を取り付けるための透孔14を穿設し、透孔14の周縁部にフレ
キシブル管10の基端を気密に溶着する。
【0008】
フレキシブル管10内に挿入してセットする光ファイバー16は投光ファイバ
ーと受光ファイバーとをバンドル内で混在させて一体型としたもので、先端面で
投光ファイバーと受光ファイバーをランダムに配置したものである。光ファイバ
ー16の先端側は図1のようにフランジ12からフレキシブル管10内に挿入す
るが、光ファイバー16の基端側は投光ファイバー18と受光ファイバー20に
分別し、それぞれバンドル状に形成する。
投光ファイバー18は光源部に導き、端面を光源22に対面させてセットする
。実施例では光源22としてハロゲンランプを用いた。24は光源22の背面に
設置したフォトダイオードである。このフォトダイオード24は光源22の光量
をモニターするもので、光源22の光量は定電圧回路およびフォトダイオード2
4によってモニターした光量に基づいてフィードバック制御することによって常
に一定に制御する。
【0009】
前記フレキシブル管10に挿入した光ファイバー16の先端面の前位置には投
光ファイバーから出射する光を平行光束として被検体に照射する光学系としてロ
ッドレンズ26を設置する。ロッドレンズ26は円柱状に形成したレンズで、フ
レキシブル管10の先端の支持フランジ28と円筒体30によって支持し、Oリ
ング32によって真空シールする。
40は膜厚測定する被検体である。被検体40は成膜操作によって基板上に所
定厚で膜形成される。実施例のセッティングはロッドレンズ26と対面する基板
面上に膜形成するもので、ロッドレンズ26側から成膜している状態である。基
板が透明板であるような場合は基板を透過して監視するようにセッティングする
ことも可能である。
なお、ロッドレンズ26は被検体40の膜面にたいして図のように正対させて
セットする。
【0010】
光ファイバー16の基端側から引き出した受光ファイバー20は、その端面を
拡散板50に対面させてセットし、集光レンズ52、スリット54および受光し
た光を分光する凹面回折格子56、イメージセンサ58を図のようにセットする
。実施例の凹面回折格子56は波長が400nm 〜800nm の範囲を分光するものとし
てセットした。イメージセンサ58は凹面回折格子56によって分光された光を
受光して画像処理を行う演算部60に信号を出力するもので、CCD あるいはPCD
といったセンサを使用する。
スリット54、凹面回折格子56、イメージセンサ58は分光器内に収納して
いる。
【0011】
つづいて、本実施例の真空装置用膜厚計の動作について説明する。
図2は上記実施例の各部の作用を説明的に示している。光源22から放射され
た光は投光ファイバー18から光ファイバー16を介してロッドレンズ26に入
射し、平行光束となって被検体40に照射される。ロッドレンズ26は開口角を
補正して平行光として被検体40に入射させることによって被検体40からの反
射光量のロスを最小限にし、精度の高い膜厚測定を可能にする。
被検体40で反射された光はロッドレンズ26に入射し、光ファイバー16を
透過し受光ファイバー20によって外部に導かれる。受光ファイバー16から放
射された反射光は集光レンズ52によって集光され、凹面回折格子56によって
分光されイメージセンサ58によって受光される。イメージセンサ58の出力信
号は演算部60に入力される。
【0012】
演算部60ではコンピュータによるスペクトル解析を行って多光束干渉の原理
によって膜厚を求める。図3はこの演算部60での処理を説明する。図3で(a)
図は光源22の分光分布を示し、(b) 図は被検体からの反射光の分光分布を示す
。被検体からの反射光の分光スペクトルには(b) 図のように複数のピークがあら
われるから、このピーク点位置、すなわちピーク波長を求めることにより次式か
ら膜厚(d) を求めることができる。
nd=λ1 ×λ2 /2(λ1 −λ2 )
なお、ndは光学的な膜厚である。スペクトル計算に際しては最大エントロピ
ー法を使用して行うことができる。こうして、実施例の真空装置用膜厚計では、
0.1 μm 程度の膜厚まで測定することが可能である。
【0013】
本実施例の真空装置用膜厚計は上記のように被検体40に光照射することによ
って成膜途中で常時観測でき、成膜された膜厚を正確に知ることができる。
また、光ファイバー16をフレキシブル管10内にセットしたことによって真
空チャンバ内におけるセッティングの自由度を得ることができ、被検体40に接
近した位置で観測することができることで正確な測定を行うことができる。なお
、フレキシブル管10内には上記の膜厚測定のための光ファイバーに加えて被検
体を目視によって観察するための監視用光ファイバーを並列にセットしてもよい
。監視用光ファイバーを設けた場合は被検体の成膜状態も監視できて有効である
。実施例では投光ファイバーと受光ファイバーとをランダム配置した光ファイバ
ー16を用いたから光ファイバーの取り扱いが容易であるという利点もある。
また、実施例では被検体40に平行光束として光照射するためロッドレンズ2
6を利用しているが、ロッドレンズ26を用いたことによって被検体40に対面
するヘッド部分が小形化でき取り扱いが容易になるという利点がある。もちろん
、ロッドレンズ以外の通常の光学レンズを用いてもかまわない。
【0014】
さらに、本実施例の真空装置用膜厚計は光ファイバー16は実際は真空チャン
バの外部にある部分であり、実質的に真空チャンバ内に持ち込まれているのはロ
ッドレンズ26およびこれを支持する支持部材のみである。したがって、真空チ
ャンバ内には最小限必要とするもののみが持ち込まれているだけであり、真空チ
ャンバを高真空に保持するうえでの問題が少ないという利点がある。
以上、本考案について、好適な実施例を上げて種々説明したが、本考案は上記
実施例に限定されるものではなく、考案の精神を逸脱しない範囲内において多く
の改変を施し得るのはいうまでもない。
【0015】
本考案に係る真空装置用膜厚計は、上述したように、高真空の真空装置におい
ても問題なく使用することができ、真空装置内での成膜等の作業における被検体
の膜厚を高精度で測定することができるという著効を奏する。
【図1】真空装置用膜厚計の構成を示す説明図である。
【図2】真空装置用膜厚計の動作を示す説明図である。
【図3】演算処理でのスペクトル図である。
10 フレキシブル管
12 フランジ
14 透孔
16 光ファイバー
18 透孔ファイバー
20 受光ファイバー
22 光源
24 フォトダイオード
26 ロッドレンズ
40 被検体
50 拡散板
56 凹面回折格子
56 イメージセンサ
60 演算部
Claims (1)
- 【請求項1】 真空装置のフランジポートに取り付ける
フランジと、先端側が真空装置内に延出され基端が前記
フランジに穿設した透孔の周縁部に気密に取り付けられ
たフレキシブル管と、前記透孔から前記フレキシブル管
内に挿入されフレキシブル管の先端側から投受光する光
ファイバーと、該光ファイバーの先側に設けられ光ファ
イバーからの出射光を平行光線として被検体に照射する
光学系と、前記光ファイバー中の投光ファイバーを介し
て光を入射する光源部と、前記光ファイバー中の受光フ
ァイバーによって受光された被検体の表裏面からの反射
光を解析して被検体の膜厚を検知する演算部とを有する
ことを特徴とする真空装置用膜厚計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1714791U JPH04106709U (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | 真空装置用膜厚計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1714791U JPH04106709U (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | 真空装置用膜厚計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04106709U true JPH04106709U (ja) | 1992-09-14 |
Family
ID=31903960
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1714791U Pending JPH04106709U (ja) | 1991-02-27 | 1991-02-27 | 真空装置用膜厚計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04106709U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003097919A (ja) * | 2001-09-26 | 2003-04-03 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 膜厚測定装置およびそれを用いた基板処理装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61165608A (ja) * | 1985-01-18 | 1986-07-26 | Hitachi Ltd | 膜厚測定装置 |
-
1991
- 1991-02-27 JP JP1714791U patent/JPH04106709U/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61165608A (ja) * | 1985-01-18 | 1986-07-26 | Hitachi Ltd | 膜厚測定装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003097919A (ja) * | 2001-09-26 | 2003-04-03 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 膜厚測定装置およびそれを用いた基板処理装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5040889A (en) | Spectrometer with combined visible and ultraviolet sample illumination | |
US6351306B1 (en) | Optical measurement probe calibration configurations | |
US4443106A (en) | Measuring device for measuring the amount of change in thickness of the paint layer | |
WO1997016117A1 (fr) | Gabarit de reglage d'etat de mesure, procede de relgage d'etat de mesure et instrument de mesure de donnees biologiques | |
JPS62190728A (ja) | エツチング終点モニタ法および装置 | |
EP0296259A1 (en) | Spectrometer with combined visible and ultraviolet sample illumination | |
JP3889851B2 (ja) | 膜厚測定方法 | |
JP5752454B2 (ja) | プラズマ処理装置及び温度測定方法 | |
JPH04106709U (ja) | 真空装置用膜厚計 | |
JP4470939B2 (ja) | 生体スペクトル測定装置 | |
JP2007519932A (ja) | 光ファイバー式測定装置 | |
JPH0599659A (ja) | 光ビーム入射角の測定方法、測定装置及び距離測定装置の使用 | |
US6940064B2 (en) | Method and apparatus for validating the operation of an optical scanning device | |
KR20220126944A (ko) | 진공용 박막 두께 측정 장치 | |
WO2005004713A1 (en) | Method and apparatus for distinguishing materials | |
US20020175690A1 (en) | Reflectometer arrangement and method for determining the reflectance of selected measurement locations of measurement objects reflecting in a spectrally dependent manner | |
JPH01145504A (ja) | 光学測定装置 | |
JP3385670B2 (ja) | 赤外分光光度計 | |
JPH068773B2 (ja) | 単一モ−ド光フアイバの構造測定方法 | |
JP3674025B2 (ja) | 分光分析計 | |
JP2010538268A (ja) | 4セクターのセンサー付き自動x線光学アライメント | |
JPS62161491A (ja) | 光デバイスのレ−ザトリミング装置 | |
JPH053987U (ja) | 顕微スペクトル測定装置 | |
JPH09166520A (ja) | 測定領域確認機能付き光学特性測定装置 | |
JPS6211127A (ja) | 微粒子検出装置 |