JPH04105515A - 半導体スイッチの保護回路 - Google Patents

半導体スイッチの保護回路

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JPH04105515A
JPH04105515A JP22115590A JP22115590A JPH04105515A JP H04105515 A JPH04105515 A JP H04105515A JP 22115590 A JP22115590 A JP 22115590A JP 22115590 A JP22115590 A JP 22115590A JP H04105515 A JPH04105515 A JP H04105515A
Authority
JP
Japan
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voltage
circuit
semiconductor element
turned
current
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Pending
Application number
JP22115590A
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English (en)
Inventor
Yasushi Ogasawara
康司 小笠原
Yuuma Yamamoto
融真 山本
Takao Kawabata
隆夫 川畑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、半導体スイッチの保護回路、特に可制御半
導体素子のスイッチオフ時に発生するサジ電圧から可制
御半導体素子を保護する保護回路に間するものである。
[従来の技術] 第4図は、例えば半導体電力変換回路p、261図11
.3.1(a) (社団法人 電気学会1987年3月
31日発行)に示された従来の半導体スイッチの保護回
路を本発明の回路図の書き方にならい、書き改めた回路
図である。可制御半導体素子としては、例えばサイリス
タ、GTO、トランジスタ、rGBTなどがあるが、こ
こではトランジスタを使用する場合を例にして以下説明
する。図において、(la)、(lb) 。
(1c)及び(1d)は交流電流を流せるようにブリッ
ジ接続されたダイオード、(2)はダイオード(1m)
 。
(1c)のカソードの接続点とダイオード(lb) 、
 (ld)のアノードの接続点に接続された第1の可制
御半導体素子であるトランジスタ、(3)はダイオード
(1a)〜(1d)とトランジスタ(2)と並列に接続
された保護回路であり、(4)は保護回路(3)を構成
し、サージ電圧を吸収する容量C8をもったコンデンサ
、(5)は保護回路(3)を構成し、コンデンサ(4)
に直列につながれた振動抑制と放電のための抵抗器であ
る。また、(6a) 、 (6b)は入力端子、(7a
) 、 (7b)は出力端子、(8)は交流電源、(9
)は交流電源回路に存在するインダクタ、(10)は出
力端子(7a)(7b)間に接続された負荷、り11)
はトランジスタ(2)をオン オフするための駆動回路
である。
次に動作について説明する。回路に電流が流れている時
にトランジスタ(2)をオフすると交流電源回路に存在
するインダクタ(9)に蓄わえられたエネルギーが放出
されることによりトランジスタ(2)の両端に交流電源
(8)の電圧より高い電圧が発生する。コンデンサ(4
)は、インダクタ〈9)に蓄わえられていたエネルギー
を吸収し、トランジスタ(2)の両端電圧が高くならな
いように作用する。
[発明が解決しようとする課題] 従来の半導体スイッチの保護回路は以上のように構成さ
れているので、回路にリアクトルがつながったり、誘導
性負荷がつながったりするなど回路のインダクタンスが
増大すると、 L、二回路のインダクタンス C5・回路のコンデンサの容量 ■、:回路電流 △V;電圧上昇分 電圧上昇分へ■は増大し、トランジスタ(2)に耐圧を
越える電圧が印加されてしまう。上記電圧上昇分△■は
(1)式より計算される。そこで、使用するトランジス
タ(2)の耐圧を上げる必要があるが、トランジスタ(
2)の耐圧にも限界があり、そのため、回路のインダク
タンスが増大しても、トランジスタ(2)に耐圧を越え
る電圧が印加されないように、コンデンサ(4)の容量
を大きくする必要がある。サージ電圧を低く抑えるため
にコンデンサ(4)の容量を大きくすると、電圧上昇分
ΔVは小さくなるが、コンデンサ(4)に蓄えられたエ
ネルギーを放電するため低インピーダンスで許容電力の
大きな抵抗器が必要となり、場合によっては強制冷却を
しなければならなくなったり、半導体スイッチを切った
時に上記低インピーダンスの抵抗器とコンデンサ(4)
と交流電源(8)と負荷(10)と、インダクタ(9)
の直列回路になり、負荷(10)に電流が流れ続けたり
するなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、コンデンサの容量を小さくできるとともに、
サージ電圧を最小限に抑制することができる半導体スイ
ッチの保護回路を得ることを目的とする。
「課題を解決するための手段] この発明に係る半導体スイッチの保護回路は、第1の可
I制御半導体素子で構成された半導体スイッチにおいて
、上記第1の可制御半導体素子と並列に設けられた非線
形の電圧・電流特性を有する非線形抵抗素子と、この非
線形抵抗素子と直列でかつ上記第1の可制御半導体素子
と並列の関係に設けられた第2の可制御半導体素子とを
備え、上記半導体スイッチがオンのときは、上記第2の
可制御半導体素子をオンにし、上記半導体スイッチがオ
フになったあとある時間遅れで上記第2の可制御半導体
素子をオフにするようにしたものである。
[作 用] この発明においては、非線形の電圧 電流特性を有する
非線形抵抗素子は通常印加されている電圧ではほとんど
電流を流さず、第1の可制御半導体素子をオフした時に
発生するサージ電圧が印加されると、非線形抵抗素子の
電圧・電流特性に対応するサージ電流を流し電圧上昇を
抑制する。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一実施例を示す構成図である。Ha)〜
(Id) 、 (2) 、 (6a) 、 (6b) 
、 (7a)、 (7b) 、 (8)〜(11)は従
来装置に同様のものである。(12)はトランジスタ(
2)のコレクタ・エミッタ間に取付けられたこの発明に
よる保護回路である。(13)は保護回路(12)を構
成し、一端をトランジスタ(2)のコレクタに接続され
た例えば酸化亜鉛等の非線形抵抗素子で作られたサージ
アブゾ〜バ、(14)は保護回路(12)を構成し、ア
ノードをサージアブゾバ(13)の一端に接続され、カ
ソードをトランジスタ(2〉のエミッタに接続され、保
護回路〈12)を半導体スイッチに大切するための第2
の可制御半導体素子であるサイリスタ、(15)は、サ
ージアブシバ(13)に並列に接続され、サイリスタ(
14)をオフするためのコンデンサ、〈16)はコンデ
ンサ(15)の放電用抵抗器である。
次に動作について第2図の駆動シーケンスを参照し乍ら
説明する。まずオンシーケンスを説明する。駆動回路〈
11)からの駆動指令が時間T。においてオンになると
、トランジスタ(2)のベース・エミッタ間に順電圧+
V II l: Iが印加され、ベース順電流子11が
流れる。トランジスタ(2)のベースに順電流が流れる
ことにより、トランジスタ(2)はオンし、コレクタ電
流I。が徐々に流れ始める。
それとは逆にコレクタ・エミッタ閏電圧■。1は徐々に
下がり、はぼ○■になる。また、駆動指令がオンになっ
てから1+秒後(例えば20Jisec)の時間T、の
時にサイリスタ(14)のゲート・カソード間に順電圧
+V OK +が印加され、サイリスタ(14)がオン
する。これで保護回路(12)がトランジスタ(2)の
両端につながることになる。
次にオフシーケンスを説明する。駆動回路(11)から
の駆動指令が時間T2においてオフになると、トランジ
スタ(2)のベース−エミッタ間に逆電圧■、2が印加
され、ヘ−ス逆電流−T Illはコレクタ電流ICが
零になるまで、13秒間(例えば18μ5ec)流れ続
ける。コレクタ電流1゜が零になろうとする時、回路に
存在するインダクタ(9)のインダクタンス分等により
サージ電圧が発生する。
このサージ電圧は保護回路(12)のサージアブシバ(
13)の電圧・電流特性により+V c t 2にクラ
ンプされる。また、駆動指令がオフになってからt2秒
後(但し12> 1.で25μ5ec)の時間T6の時
にサイリスタ(14)のゲート・カソード間に逆電圧−
VcX2を印加する。サージ電圧がおさまると、コンデ
ンサ(15)に保持された電圧によりサイリスタフ14
)に逆電圧が印加され時間T、の時にサイリスタはオフ
することになる。サージアブゾーバ(13)は、トラン
ジスタ(2)がオンしている時には、電流を流さず、ト
ランジスタ(2)がオフしてからサイリスタ(14)が
オフするまでの期間(第2図T3からT5の間)、電圧
・電流特性に応じた電流を流し、サイリスタ(14)が
オフすると、サイリスタ(14)の両端に電圧がかかり
サージアブシバ(13)には、電圧がかからないので電
流は流れなくなる。
従って、時間T3〜T、の期間以外ではサージアブゾー
バ(13)に電圧が印加されることがないので、もれ電
流を考慮する必要がなく、通常トランジスタ(2)のオ
フ期間に印加される電圧に対しサージアブゾーバ(13
)の制限電圧が少しだけ高いように特性を選定すればよ
く、回路の電圧上昇分を最小限に抑制することができる
なお、上記実施例では、保護回路(12)を回路に入れ
るのにサイリスタ(14)を用いたが、機械式スイッチ
やCTOなとの他の可制御半導体素子でも良い。
また、上記実施例では、半導体スイッチにトランジスタ
(2)を用いたが、CTO等の他の可制御半導体素子で
も良い。
また、上記実施例ではダイオードのブリッジ接続とトラ
ンジスタによって構成された半導体スイッチに適用した
場合について説明したが、他の半導体スイッチ、例えば
第5図に示すように、GTO(17) 、 (18)の
双方向スイッチの両端に保護回路(12^)を取付けて
も良い。この時には、上記実施例のサイリスタ(14)
をサイリスタの双方向スイッチ(14^)とすれば上記
実施例と同様の効果を奏する。またこの発明の回路を2
組または3組用いることにより、3組回路にも適用でき
ることは云うまでもない。
また、上記実施例は交流回路のスイッチにこの発明を適
用する場合について述べたが、同じ考え方は、直流回路
のスイッチにも適用でき、同様の効果があることは云う
までもない。
[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、は、第1の可制御半
導体素子で構成された半導体スイッチにおいて、上記第
1の可制御半導体素子と並列に設けられた非線形の電圧
・電流特性を有する非線形抵抗素子と、この非線形抵抗
素子と直列でかつ上記第1の可制御半導体素子と並列の
関係に設けられた第2の可制御半導体素子とを備え、上
記半導体スイッチがオンのときは、上記第2の可制御半
導体素子をオンにし、上記半導体スイッチかオフになっ
たあとある時間遅れで上記第2の可制御半導体素子をオ
フにするようにしたので、回路に大きなインダクタンス
分が含まれていても大きなコンデンサを入れる必要がな
く、回路を小さく、安価にできると同時に電圧上昇分を
最小限に抑制できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す回路図、第2図は第
1図の動作説明に供するための図、第3図はこの発明の
他の実施例を示す回路図、第4図は従来の半導体スイッ
チの保護回路を示す回路図である。 図において、(la)、(lb)、(lc)、(ld)
  ・・はダイオード、(2)はトランジスタ、(12
) 、 (12^)は保護回路、(13)はサージアブ
ゾーバ、(14) 、 (14^)はサイリスタである
。 なお、図中、同一符号は同一、又↓ま相当部分を示す。 代 理 人 曾 我 道 第 図 第 図 j2A:f謹回路 14A:Yイリスフ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 第1の可制御半導体素子で構成された半導体スイッチに
    おいて、 上記第1の可制御半導体素子と並列に設けられた非線形
    の電圧・電流特性を有する非線形抵抗素子と、 この非線形抵抗素子と直列でかつ上記第1の可制御半導
    体素子と並列の関係に設けられた第2の可制御半導体素
    子と を備え、上記半導体スイッチがオンのときは、上記第2
    の可制御半導体素子をオンにし、上記半導体スイッチが
    オフになったあとある時間遅れで上記第2の可制御半導
    体素子をオフにするようにしたことを特徴とする半導体
    スイッチの保護回路。
JP22115590A 1990-08-24 1990-08-24 半導体スイッチの保護回路 Pending JPH04105515A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8063597B2 (en) 2006-09-21 2011-11-22 Secop Gmbh Electric circuit providing protection from transients

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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