JPH0410495A - 多層配線板 - Google Patents

多層配線板

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Publication number
JPH0410495A
JPH0410495A JP10891790A JP10891790A JPH0410495A JP H0410495 A JPH0410495 A JP H0410495A JP 10891790 A JP10891790 A JP 10891790A JP 10891790 A JP10891790 A JP 10891790A JP H0410495 A JPH0410495 A JP H0410495A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
holes
hole
wiring board
plating
via holes
Prior art date
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Pending
Application number
JP10891790A
Other languages
English (en)
Inventor
Kanji Murakami
敢次 村上
Koji Kamiyama
上山 宏治
Takashi Ouchi
孝志 大内
Toshiyuki Kobayashi
利行 小林
Yuichi Nakazato
裕一 中里
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication of JPH0410495A publication Critical patent/JPH0410495A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は多層配線板に関し、特に、接続信頼性に優れた
小径バイア・ホールを有する高密度多層配線板に関する
〔従来の技術〕
半導体、部品を搭載する配線板はますます高密度化する
傾向にあり、これを達成するために例えば特公昭63−
38878号公報に記載されているように表面回路と内
層回路を接続するブラインド・バイア・ホールと呼ばれ
る小径バイア・ホールを有する高密度多層配線板や、内
層回路同士を接続するベリード・バイア・ホールと呼ば
れる小径バイア・ホールを有する高密度多層配線板が提
案されている。しかしながら、これらの多層配線板はブ
ラインド・バイア・ホール又はベリード・バイア・ホー
ルの大内空間にも樹脂が詰まっているため、通常のスル
ーホールに比べて、ホール内における接続信頼性が低い
場合があり、問題となることがあった。この問題は特に
、熱膨張率の比較的大きな材料で配線板の絶縁層を構成
したときに顕著であった。例えば、高温側125℃、低
温側−65℃の熱衝撃試験において、100サイクル程
度でブラインド・バイア・ホール又はベリード・バイア
・ホール内の導体層が破断する場合が認められた。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明は高密度配線に通したブラインド・バイア・ホー
ル又ルよベリード・バイア・ホールを有する多層配線板
のホール内の接続信頼性を向上させることを目的とする
ものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明者らは、バイア・ホールの接続信頼性を向上させ
るために鋭意研究を行った結果、バイア・ホール内の導
体層のみをめっきにより選択的に厚く形成することによ
り、前記課題が達成されることを見出し、この知見に基
づいて本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明は複数の導体回路を有し、その導体回
路を選択的に接続する小径バイア・ホールを有する多層
配線板において、その小径バイア・ホール内の導体層の
みがめっきによって選択的に厚く形成されていることを
特徴とする多層配線板を提供するものである。
従来行われていた方法で導体層を厚くしようとすると、
通常はバイア・ホール内の導体層の形成時にバイア・ホ
ール内だけでなく両側のバイア・ホール周辺の導体回路
部も厚くなってしまい、エツチングなどによって表面層
の導体回路を形成しようとすると、オーバーエツチング
などによって回路精度が低下してしまう。本発明ではバ
イア・ホール内の導体層のみをめっきによって選択的に
厚くするものであり、バイア・ホール周辺導体回路部は
ホール内と比べて厚くならないため、このような問題は
生じない。
ホール内の導体層の形成には無電解めっき、あるいは電
気めっきが適用できる。均一めっきが行える点からは無
電解めっきが優れている。バイア・ホール内を選択的に
厚くする方法としては、ドリルによって穴をあけた後、
全面にうずく無電解めっきを施し、更にめっきレジスト
によってバイア・ホール以外をマスクし、無電解めっき
あるいは電気めっきによってバイア・ホール内に選択的
に厚くめっきをつける方法がある。また、バイア・ホー
ル周辺の突起をなくす方法としては、感光〜性ドライフ
ィルムによってめっきレジストを形成するとともにバイ
ア・ホールの径よりも小さな径の穴をめっきレジストに
形成してめっきする方法がある。無電解銅めっきだけで
導体層を形成する場合は、穴あけ後、ただちにめっきレ
ジストを形成して穴内のみをめっきすることも可能であ
る。
バイア・ホール内の導体層(めっき膜)の厚さは通常3
0μm前後とすることが多いが、本発明の方法において
は、バイア・ホール内のみに選択的に好ましくは60〜
1100aの厚さの導体層を形成することにより、良好
な接続信頼性を得ることができる。
本発明において用いられるブラインド・バイア・ホール
又はベリード・バイア・ホール付の多層配線板は、通常
の製造方法で作ることができる。
例えば、予め、前述したような導体層を形成したブライ
ンド・バイア・ホール用又はベリード・バイア・ホール
用の配線板を作製し、それらを多層化積層接着すること
によって得ることができる。
ブラインド・バイア・ホール及びベリード・バイア・ホ
ールを形成するための多層配線板は通常の材料のものが
用いられる。例えばガラスエポキシ、ガラスポリイミド
の積層板及び銅張積層板を用いた多層配線板がある。ま
た、ワイヤーを用いるマルチワイヤー層を有する多層配
線板などを用いる場合はワイヤーを固定するための接着
剤層を有するものを用いることもできる。
〔作用〕
本発明は、バイア・ホールの接続信頼性を確保するため
にバイア・ホール内の導体層のみを選択的に厚くするこ
とよって、熱衝撃試験時の熱衝撃によっても十分な強度
を保ちクラック等の破断が防止できるようにした。更に
、バイア・ホール内の導体層が選択的にめっきにより形
成されているため、バイア・ホール配線板表面の回路を
形成するときも表面導体の厚さを十分薄く保つことがで
きるので、良好な回路精度を得ることができる。
〔実施例〕
以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明するが、本
発明はこれに限定されるものではない。
実施例1 工程1: 片面銅張ガラスエポキシ積層板の、銅のない面にワイヤ
を固定させるためのNBRを含む300μTnの厚さの
接着剤層を設け、必要個所にワイヤをはわせて布線した
。次いで、オーバーレイとしてガラスエポキシプリプレ
グを設け、更にその上に18μmの銅箔を置き、加熱プ
レスした。これにより、内部にワイヤを含んだ両面に銅
箔を有するブラインド・バイア・ホールを形成するため
の配線板を作製した。
工程2 工程1で作製した配線板の必要個所にブラインド・バイ
ア・ホール用の穴をあけた。引き続き無電解銅めっきの
ための活性化を行い、穴内を含む配線板全面に10μm
の無電解厚付けめっきを行った。次いで、感光性ドライ
フィルムを配線板の両面にラミネートし、穴の径よりも
0.06 am小さな穴が形成されるように上記穴と重
なる部分にパターンを形成した。このように形成した、
穴よりわずかに小さな穴径のドライフィルム部分を通し
て、穴内に電気めっきを行い、80μmの厚さの銅層を
穴内のみに形成した。引き続きドライフィルムを剥離し
、新たにエツチング用の感光性ドライフィルムを形成し
、予め銅張積層板として銅箔の貼ってあった面に回路を
形成した。
工程3 一方、電源、グランド層用の基板として、両面銅張ガラ
スエポキシ積層板を通常のエツチング法によりエチング
加工し、回路を形成した。
工程4 工程3で形成した基板の両側にガラスエポキシプリプレ
グを挟んで工程2で作製した配線板を両面に配し、加熱
プレスによって積層接着を行い、多層板を得た。ここで
は、回路形成面を内側とした。次いで、表面研磨を行い
、スルーホールを形成するための穴をドリルによって形
成した。次に、無電解めっきのための活性化を行った後
、10μmの厚さの無電解銅めっきを穴内を含む多層板
全面に形成し、更に多層板表面にパターン電気めっきの
ためのめっきレジストを形成した。引き続き回路部分に
パターン電気銅めっきを厚さが50μmになるよう行っ
た後、半田めっきを電気銅めっき上厚さが5μmになる
ように行った。次に、めっきレジストを剥離した後、表
面に露出している無電解銅めっき層と下地の18μm銅
箔層をエツチングにより除去し、外層の表面回路を形成
して、ブラインド・バイア・ホール付マルチワイヤ配線
板を作製した。
第1図は上記の方法によって製造したブラインド・バイ
ア・ホール付マルチワイヤ配線板の断面図である。
1及び2はブラインド・バイア・ホール、3はスルーホ
ール、4.5及び6は表面回路、7及び8はワイヤで、
9.9′はバイア・ホール内の導体層で、めっきにより
選択的に厚く形成されている。
このようにして作製したマルチワイヤ配線板はMIL−
202D−107Cの熱衝撃試験において、300サイ
クルまではブラインド・バイア・ホールに全くクラック
などは入らなかった。また、回路形成も良好であった。
比較例1 実施例1の工程2においてバイア・ホール用の穴内だけ
でなく、配線板全面に80μmの厚さになるように電気
めっきを厚く行い、他は同様にしてマルチワイヤ配線板
を作製した。このものは信顛性は良好であったものの外
層の回路形成が不十分であった。
比較例2 実施例1の工程2においてバイア・ホール用の穴内に3
0μmの無電解めっきだけしか行わなわず、他は同様に
いてマルチワイヤ配線板を作製した。このものは100
サイクル以下でバイア・ホールにクランクが発生した。
第2図は上記方法によって製造したブラインド・バイア
・ホール付マルチワイヤ配線板の断面図である。
〔発明の効果〕
本発明はブラインド・バイア・ホール若しくはベリード
・バイア・ホールを有する多層配線板に広く適用でき、
回路精度と信頼性を両立することを可能としたものであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例1によって製造したブラインド・バイア
・ホール付マルチワイヤ配線板の断面の一例である。 第2図は比較例2によって製造したブラインド・バイア
・ホール付マルチワイヤ配線板の断面図である。 符号の説明 ブラインド・バイア・ホール ブラインド・バイア・ホール スルーホール   4 表面回路 表面回路     6 銅めっき ワイヤ      8 ワイヤ 導体N      9′導体層

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.複数の導体回路を有し、その導体回路を選択的に接
    続する小径バイア・ホールを有する多層配線板において
    、その小径バイア・ホール内の導体層のみがめっきによ
    って選択的に厚く形成されていることを特徴とする多層
    配線板。
JP10891790A 1990-04-26 1990-04-26 多層配線板 Pending JPH0410495A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10891790A JPH0410495A (ja) 1990-04-26 1990-04-26 多層配線板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10891790A JPH0410495A (ja) 1990-04-26 1990-04-26 多層配線板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0410495A true JPH0410495A (ja) 1992-01-14

Family

ID=14496927

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10891790A Pending JPH0410495A (ja) 1990-04-26 1990-04-26 多層配線板

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JP (1) JPH0410495A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8132642B2 (en) 2007-10-02 2012-03-13 M. I. Laboratories Corporation Speaker system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US8132642B2 (en) 2007-10-02 2012-03-13 M. I. Laboratories Corporation Speaker system

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