JPH0410138A

JPH0410138A - テストプログラム機能付き制御装置

Info

Publication number: JPH0410138A
Application number: JP2114021A
Authority: JP
Inventors: Yoshitaka Tomioka; 富岡　精孝; Hideaki Tanaka; 秀明田中; Kaoru Ando; 薫安藤
Original assignee: Omron Corp; Omron Tateisi Electronics Co
Current assignee: Omron Corp
Priority date: 1990-04-27
Filing date: 1990-04-27
Publication date: 1992-01-14

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）この発明は、製品出荷時や製品検査時に製品の確認・検
査する際に使用される装置に係り、特に、その製品の機
能や製造工程における不良およびハンダ不良等を短時間
に確認・検査するためのテストプログラムを内蔵した制
御装置に関する。

（従来技術）従来より、テストプログラム起動方法としては、テスト
プログラム起動用入力およびＣＰＵリセット人力を専用
に用い、ＣＰＵリセットを実行することにより、メイン
プロクラムを初期化し、同時にテストプログラム起動用
人力信号の入力状態を読み込み、これがアクティブなら
テストプログラムを起動していた。

（発明が解決しようとする課題）しかしながら、このような従来の方法にあっては、以下
のような問題点がある。

まずテストプログラムは、メーカーが製品出荷時や製品
検査時に、その製品の機能や製造工程における不良およ
びハンダ不良等を短時間に確認・検査するためのもので
あり、通常使用されている状態とは異なるため、この制
御機器を使用するユーザーには開放されていない。

したがって、テストプログラム起動用入力およびＣＰＵ
リセット入力は、この制御機器の本体装置表面、すなわ
ち、ユーザーが容易に触れることのできる部分には出す
ことができず、実際には基板上の印刷パターンでこれを
実行していた。

要するに、印刷パターンを短絡もしくは、開放すること
により、テストプログラムを起動していた。

このため、テストプログラムは、本体装置のケースを外
し基板状態にして、初めて操作可能であった。

これは言い替えれば、メーカー側にとっても、このテス
トプログラムを起動することは容易ではないということ
を示している。

また、もし容易さを採ろうとすれば、この入力端子をな
んらかの形（キースイッチや端子人力等）で、本体装置
表面に出すことになり、ユーザーの実際の使用時（操作
時）には、使用されない入力端子をわざわざ設けること
になる。

そうすると、ユーザーにとっては、操作性・使用上の煩
わしさの増大（誤ってテストプログラムを起動してしま
う等）や、回路追加による余計なコストアップが必要に
なる等の問題があった。

この発明は、上述した従来の問題点に着目してなされた
もので、その目的とするところは、テストプログラム起
動用人力をなくし、本体装置表面の通常操作用のキース
イッチをテストプログラム起動用の人力として兼用し、
このキースイッチと制御装置本体への電源供給操作のタ
イミング操作により、テストプログラムを起動するよう
にして、テストプログラムの起動を容易にし、かつ、ユ
ザーにとっては操作性・使用上の煩わしさの増大や、回
路追加による余計なコストアップなどを防止できるテス
トプログラム機能付き制御装置を提供するものである。

（課題を解決するための手段）上記目的を達成するため、この発明に係る制御装置は、
各種モード等を変換・操作するため制御装置本体の表面
上に設けられた複数の操作用キスイッチと、それらのキースイッチを組合せテストプログラム起動用
の入力として兼用可能にするキースイ・ソチ回路と、上記複数の操作用キースイッチのうち、少なくとも２つ
以上の操作用キースイッチの多重押しと上記装置本体へ
の電源供給を同一タイミングで実行するタイミング手段
と、このタイミング手段から出力される起動用信号により起
動されるテストプログラムが記憶された記憶手段と、から構成されていることを特徴とする。

（作用）上記構成のこの発明装置によれば、装置本体表面にある
通常操作用のキースイッチをテストプログラム起動用の
人力として兼用し、少なくとも２つ以上のキーの多重押
しと制御装置本体への電源供給操作をタイミング手段に
よりタイミングをとるようにして、テストプロゲラｔ、
を起動することができるように構成されているため、テ
ストプログラムの起動が制御装置本体表面から実行可能
となり、制御装置の本体ケースを外さなければ実行でき
ないという煩わしさから開放され、しかもテストプログ
ラム起動用入力およびＣＰＵリセット人力をこれ専用に
制御装置本体表面に出す必要がなくなったため、ユーザ
ーにとっての操作性・使用トの煩わしさの問題がなくな
る上に、回路追加の必要もないため余計なコストアップ
が防止できることになる。

さらに、通常操作用のキースイッチをテストプログラム
起動用の人力として兼用しているが、少なくとも２つ以
上のキースイッチの多重押しと制御装置本体への電源供
給操作を同一タイミングで実行することで、テストプロ
グラムを起動するため誤動作の心配がなく、ユーザーが
誤ってテストプログラムを起動してしまうということが
なくなる。

（実施例の説明）次に、この発明装置の一実施例を図面に基づいて説明す
る。

第１図は、この発明に係る制御装置をタイマに適用した
場合のタイマの回路構成を示すブロック図である。

このタイマ１０は、制御用の各種人力が接続される入力
回路１２．設定値やモードを設定するためのキースイッ
チ回路１４．ＬＣＤ駆動用クロック発生回路１８．シス
テムクロック発生回路２０゜ＬＣＤ基準電圧発生回路２
２．ＬＣＤ表示器２４゜タイマおよびバッチ用の出力回
路２６．電源回路２８、無通電時の動作補償用の電池３
０．電断検出回路３２．処理回路１６とから構成される
。

上記処理回路１６は、ＲＯＭ３４．ＲＡＭ３６゜ＬＣＤ
ドライバ３８．ＣＰＵ４０を有し、システムクロック発
生回路２０で発生したクロックを分周して得られた基本
クロックを計数した値と、キシ−ケンスで設定されたプ
リセット値とが一致したときに出力回路２６からＯＵＴ
出力信号を出力する。

第２図は、タイマ１０のパネルを示す外観図である。

図に示すように、パネルには、ＬＣＤ表示器２４、アッ
プキー２００．デイスプレーキー２０２゜パッチキー２
０４．モードキー２２０．リセットキー２０６が配置さ
れている。

上記プリセット値および各種動作モードを設定する場合
は、リセットキー２０６以外の上記各キが用いられる。

また、ＬＣＤ表示器２４には、モード表示部２０８、通
電表示部２１２．制御出力表示部２１４゜タイマ値表示
部２１６．プリセット値表示部２１８等が配置されてい
る。

なお、プリセット値表示部２１８は、動作モードが設定
されている場合にその内容を表示する。

第３図および第４図は、このタイマ１０のテストプログ
ラム起動処理を示すフローチャートである。

このタイマ１０のテストプログラムを起動するには、ア
ップキー２００の（１）と（２）およびリセットキー２
０６の３つのキーのみを同時にＯＮし、その３つのキー
のＯＮ中に電断を発生させるように構成されている。

すなわち、電断検出回路３２の出力が、このＣＰＵの外
部割込み入力端子に接続されており、電断が発生すると
、外部割込みが起動される。

この外部割込み処理は、第３図に示されるように、まず
電断時に必要な処理を実行後（ステップ３００Ｌアツプ
キー２００の（１）と（２）およびリセットキー２０６
の３つのキーのみかＯＮ中かどうかをチエツクする（ス
テップ３０２）。

ここで、上記３つのキーのみのＯＮ中が検出されれば、
テストプログラム起動フラグをセットしくステップ３０
４）　、メインプログラムの先頭番地ヘジャンプする（
ステップ３０６）。

上記ステップ３０２において、上記３つのキのみかＯＮ
以外の状態が検出されれば、テストプログラム起動フラ
グをリセットしくステップ３０８）、この外部割込みを
終了する。

次に、第４図に示されるメインプログラムの処理を説明
する。

まず、メインプログラムが先頭番地により実行されると
、そこでメインプログラム実行時に必要な処理である初
期化が実行される（ステップ４００）。

ＣＰＵリセットをかけたときにも、メインプログラムは
先頭番地より実行されることになる。

次に、テストプログラム起動フラグがセットされている
かどうかをチエツクしくステップ４０２）、セットされ
ていなければステップ４０４に進む。

そうでなければ、通常のメインプログラムを実行するた
め、ステップ４０８に進む。

ステップ４０４において、再度上記３つのキーのみがＯ
Ｎ中かどうかをチエツクし、ＯＮ中ならば、テストプロ
グラムを起動する（ステップ４０６）。

そうでなければ、テストプログラム起動フラグをリセッ
トしくステップ４１０）、通常のメインプログラムを実
行するため、ステップ４０８に進む。

上記ステップ４０６において、所定の手順に従ってテス
トプログラムを実行した後、通常のメインプログラムを
実行するため、ステップ４０８に進むことになる。

このように、以上がテストプログラム起動方法の説明で
ある。

なお、ここでは、テストプログラム起動用入力として、
アップキー２００の（１）と（２）およびリセットキー
２０６の３つのキーを用いたが、これはそのほかのキー
でもよい。

また、キーの数も実施例の３つのキーに限定されること
なく、例えば２つのキーでも４つのキーでもよいし、３
つのキーのみの多重押しという部分も、３つのキーを含
む３つ以上のキーの多重押しとしてもよいことは勿論で
ある。

また、テストプログラム起動用入力として、キースイッ
チ入力を用いたが、これは端子人力であってもよい。

さらに、３つのキーがＯＮ中かどうかのチエツクを行な
うのも、電断発生時に限定することなく、電源投入時で
あってもよい。

次に、この実施例ではタイマについて述べたが、このほ
かのキースイッチを有するテストプログラム機能付き制
御装置についても適用されることはいうまでもない。

（発明の効果）以トの構成より明らかなように、この発明装置によれば
、本体装置表面にある通常操作用のキスイッチをテスト
プログラム起動用の入力として兼用し、少なくとも２つ
以上のキーの多重押しと制御装置本体への電源供給操作
を同一タイミングで実行するようにし、テストプログラ
ムを起動することかできるように構成されているため、
テストプロゲラ１、の起動が制御装置本体表面から実行
可能となり、制御装置本体ケースを外さなければ実行で
きないという煩わしさから開放され、しかもテストプロ
グラム起動用人力およびＣＰＵリセット人力を、これ専
用に制御装置の本体表面に出す必要がなくなったため、
ユーザーにとっての操作性・使用上の煩わしさの問題が
なくなる上に、回路追加の必要もないため余計なコスト
アップが防止できることになる。

また、通常操作用のキースイッチをテストプログラム起
動用の入力として兼用しているが、少なくとも２つ以上
のキーの多重押しと制御装置本体への電源供給操作を同
一タイミングで実行することで、テストプログラムを起
動するため、誤動作の心配がなく、ユーザーが誤ってテ
ストプログラムを起動してしまうことがなくなる等の効
果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係るテストプログラム機能付き制御
装置に適用されるタイマの回路構成を示すブロック図、
第２図はパネルを示す外観図、第３図、第４図はこの発
明装置の動作を示すフロチャートである。１０・・・タイマ１２・・・入力回路１４・・・キースイッチ回路１６・・・処理回路１８・・・ＬＣＤ駆動用クロック発生回路２０・・・シ
ステムクロック発生回路２２・・・ＬＣＤ基準電圧発生回路２４・・・ＬＣＤ表示器２６・・・化ツノ回路２８・・・電源回路３０・・・電池３２・・・電断検出回路３４・・・ＲＯＭ３６・・・ＲＡＭ３８・・・ＬＣＤドライバ４０・・・ＣＰＵ

Claims

【特許請求の範囲】１、各種モード等を変換・操作するため制御装置本体の
表面上に設けられた複数の操作用キースイッチと、それらのキースイッチを組合せテストプログラム起動用
の入力として兼用可能にするキースイッチ回路と、上記複数の操作用キースイッチのうち、少なくとも２つ
以上の操作用キースイッチの多重押しと上記装置本体へ
の電源供給を同一タイミングで実行するタイミング手段
と、このタイミング手段から出力される起動用信号により起
動されるテストプログラムが記憶された記憶手段と、から構成されていることを特徴とするテストプログラム
機能付き制御装置。