JPH0399227A - システムテスト方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、被テストシステムが仕様通り動作しているか
を自動的に検証するシステムテスト方式に関する。

（従来の技術） 従来、披テスト装置のテストを行なう場合、予めテスト
する項目に従ってデータを作成し、その通りに被テスト
装置が動作することを確認する方法で行なっていた。即
ち、設計仕様に基づいて試験項目毎に被テスト装置に与
えるデータと、被テスト装置が与えられたデータに応じ
て出力するデータの期待値を時間軸に沿って作成してい
た。

第５図に示す従来のテスト装置を参照して説明する。第
５図（Ａ）はテスト装置の構成を示す図で、テスト装置
１は、被テスト装置２に設定データを与える信号出力部
３、被テスト装置２から出力される検出データを保持す
る信号人力部４、およびこの信号入力部４に入力された
検出データと被テスト装置２に与えられた設定データに
対応して出力する検出データの期待値とを比較する比較
部５からなる。ここで、被テスト装置２、例えば冷蔵庫
に第５図（Ｂ）に示すような設計仕様があると、この設
計仕様に従って、「被テスト装置上でスイッチが押され
る」ということはＳＷ６の端子の信号が５ＶからＯｖに
変化することであり、「モータを回転させる」というこ
とはモータ７の端子の信号を５ｖからＯｖに変化させる
ことであり、ｒＬＥＤを点灯する」ということはＬＥＤ
８の端子の信号がＯｖから５ｖに変化することであり、
また、「センサー電圧」はセンサー９の端子の電圧であ
りかつリニアに変化するということを前提にして、テス
トデータ作成者は、第５図（Ｂ）に示す設計仕様から実
際に被テスト装置２に人出力される信号を考慮し、第５
図（Ｃ）に示すＳＷ６およびセンサー９に対応する設定
データ１０とモータ７およびＬＥＤ８に対応する期待値
１ｌとを作成する。設定データ１０は信号出力部３に、
また期待値１１は比較部５にそれぞれ保持される。

次に、上記従来のテスト装置ｌにおいては以下のように
被テスト装置２の動作を確認していた。

即ち、被テスト装置２に接続されているＳＷＢを切離し
て、信号出力部３から被テスト装置２にＳＷ６に対応す
る設定データを入力する。まず、第１ステップでＳＷ＆
の端子を５ｖに初期化し、続いて、第２ステップでＳＷ
６の端子をＯｖに変化させ、ＳＷ６が押された状態を作
る。ここで、被テスト装置２から信号入力装置４にモー
タ７の端子の信号として、第１ステップで５Ｖ，第２ス
テップでＯＶが入力されると、比較部５において信号入
力部４に入力された検出データと比較部５に保持されて
いる期待値１１とが比較され、第２ステップで「スイッ
チが押されたらモータを回転させる」という設計仕様の
検証データが完成する。

このように、第５図（Ｃ）のＳＷ８あるいはセンサー９
に対応する設定データ１０を順次被テスト装置２に与え
ながら、被テスト装置２が出力するモータ７あるいはＬ
ＥＤ８の信号データをモニタして、期待値１１と比較を
行なうことで、設計仕様通りに動作していることを検証
していた。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら、上記した検証方式でシステムの検証を行
なう場合、システムの動作の期待値と検出値を時間軸に
沿って照合するが、検出装置が有する誤差やシステムの
センサーが有する誤差などによって、時間に対して厳密
に確定できない情報が存在する。

例えば、被テストシステムが温度を取扱うシステムで、
「温度が−２１．５℃になる」という状態を認識する場
合、温度はセンサーにより検出されるが、センサーには
誤差があり、その性能から±０．５℃の誤差が許される
とすると、−　２１．０℃から−　２２．０℃の間のい
ずれかの時点で上記状態になったと考えられるが、どの
時点でなったのか確定できないという問題がある。

また、この種のシステムの検証を自動化する場合、この
ような誤差を含んだ情報を取扱うことが必要であるが、
従来、これに対する技法は確立されていなかった。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、上記した
ような誤差を含む情報を取扱うシステムの動作を自動的
に検証するシステムテスト方式を提供することを目的と
する。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段と作用） 本発明は、上記目的を達成するために、システムが要求
されている仕様通りに動作しているか否かを検証するシ
ステムテスト方式において、被テストシステムに要求さ
れている仕様における期待情報を時間情報を含めて記憶
する記憶手段と、前記被テストシステムの動作情報を定
期的に検出する検出手段と、この検出手段で検出された
検出情報と前記記憶手段に記憶されている期待情報を時
間情報を含んだ有限状態機械モデルに基づいて照合する
ことにより検証する検証手段とを具備した構成としたの
で、被テストシステムの検出情報を、有限状態機械モデ
ルにおけるイベントとアクションに対応付け、イベント
とアクションを初期状態から最終状態に至るまでの時区
間情報として捉えることにより、センサの誤差、動作の
検出の誤差等の測定誤差や曖昧性を含んだシステムの検
証を自動化することができる。

（実施例） 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。

はじめに、有限状態機械モデルについて説明する。有限
状態機械モデルとは、有限個の状態とイベント（入力信
号）の発生により起こる状態遷移の集合により表現され
、イベントの発生に対する状態遷移時になんらかのアク
ション（入力信号に対する動作）が引起こされるものを
いい、このとき、測定誤差等の範囲を考慮して、イベン
トまたはアクションの生起時間を時点ではなく、時区間
として表現する。即ち、その事象の生起した可能性を生
じた時点、およびその事象が完結した時点により事象の
生起時間を表現する。例えば、「冷凍室温度＞−２１．
５℃」というイベントは、冷凍室の温度が−２１．５℃
より高くなったときに生起するが、これは冷凍室の温度
を測定しているセンサーにより識別される。ところで、
センサーは測定誤差を有するのが通常であり、この測定
誤差を±０．５℃とすると、「冷凍室温度＞−２１．５
℃」というイベントは、−２１℃〜−２２℃の間のどこ
かで生起するはずであるが、これを正確に検出すること
ができない。従って、センサーの有する±０．５℃？測
定誤差を考慮すると、第２図（Ａ）、（Ｂ）に示す誤差
範囲のように、イベント開始時間ＴＢＳからイベント終
了時間Ｔ■までの区間を生起時間として取り扱う。アク
ションについても、イベントと同様に時区間で捉える。

上記のように、イベントとアクションを時区間で捉え、
イベントとアクションの対応付けを示したのが第３図で
ある。同図に示すように、第３図（Ａ）および第３図（
Ｂ）におけるイベントとアクションの生起時間の論理積
により決定されるＴｓからＴＥの間でイベントとアクシ
ョンの対応が取れているが、この区間は、イベントの発
生に対するアクションが引起こされた状態に遷移したこ
とを示すものである。このように、イベントとアクショ
ンの対応により、ある状態に遷移した時の時間（状態時
間）も時区間で表現できる。第３図（Ａ）、第３図（Ｂ
）においては、ＴｓからＴＥの区間が状態時間である。

一方、第３図（Ｃ）においては、イベントとアクション
の対応が取れず、状態時間が存在しない。この場合は、
システムにエラーが発生していることを示す。

このように、イベント、アクション、および状態時間を
時区間で捉えることにより、誤差を含んだシステムにつ
いても検証することができる。

次に、第１図は本発明の一実施例に係るテストシステム
の構成を示す図である。

本システムは、同図に示すように、テスト装置２ｌと彼
テスト装置２２からなるものであり、本実施例において
は、被テスト装置２２として冷蔵庫について説明する。

被テスト装置２２としての冷蔵庫は、冷凍室の温度を測
定するセンサー２３の測定温度に基づいて、冷蔵庫制御
部２４が図示しないコンブレッサを駆動するモータ２５
の回転制御を行なう。被テスト装置２２からテスト装置
２ｉへは、電源Ｓ　Ｗ２Ｂの信号、センサー２３で測定
された温度データ、モータ２５の回転データ、および冷
蔵庫制御部２４内の図示しないタイマの信号が冷蔵庫の
動作を示す検出信号として出力される。

検出信号はテスト装置２ｌにおける信号入力部２７に入
力され、この信号入力部２７に入力された検出信号から
有限状態機械モデルに基づいてイベントがイベント抽出
部２８により、また、アクションがアクション抽出部２
９により、それぞれ抽出される。

一方、被テスト装置２２に要求されている仕様は、期待
情報として仕様データファイル３ｏに有限状態機械モデ
ルに基づいた記述で収納されている。イベント抽出部２
８とアクション抽出部２９において抽出されたデータは
、仕様データファイル３ｏに収納されている仕様に基づ
いて被テスト装置２２の状態を管理するオートマトン３
１に従って、検証部３２において仕様と照合することに
より検証される。検証部３２における検証結果は、オー
トマトン３ｌを介して表示部３３とレポート部３４にそ
れぞれ入力され、ＣＲＴディスプレイ３５に表示される
とともにレポートファイル３６に保存される。なお、仕
様データファイル３０には、テーブル形式で、例えば各
種事象名、発生モード、許容誤差等からなるイベントデ
ータ、アクションデータ、および状態遷移データが収納
されている。

次に、上記構成のテストシステムを冷蔵庫に適用した検
証について説明する。

以下に説明する冷蔵庫は、次の仕様を有しているものと
する。

１．電源投入時は、必ずコンブレッサを運転する。

２．冷凍室温度が−２０℃より上がると、コンプレッサ
を運転して室内温度を下げる。

３．冷凍室温度が−３０℃より下がると、コンプレッサ
を停止してこれ以上室内温度を下げない。

４，いったんコンブレッサが停止すると、５分間は運転
を再開しない。

上記仕様を状態遷移図で示したものが第４図であり、第
４図に従って冷蔵庫の動作を説明する。

まず、状態０　（ＳＴＯ）から、「イベント：電源ＯＮ
Ｊと「アクション：コンプレッサ運転」の対応をイベン
ト抽出部２８およびアクション抽出部２９で抽出された
イベントデータおよびアクションデータと仕様データフ
ァイル３０に収納されている期待情報とを検証部３２に
おいて照合することにより検証する。ＳＴＯにおける対
応が取れたことがオートマトン３１によって確認される
と、状態はＳＴ１に遷移する。この遷移では、検出誤差
が加味されている。なお、検証部３２による検証は以下
の各状態においても行われる。

ＳＴ１では、「イベント：冷凍室温度−３０℃以下」と
「アクション：コンブレッサ停止、コンプレッサ保護タ
イマ初期化」の対応を取る。この時点では、温度センサ
の誤差と検出誤差を考慮して、生起時間の考え方を用い
てイベントとアクションの対応を取る。対応が取れれば
、状態はＳＴＩからＳＴ３に遷移する。

ＳＴ３では、イベントとアクションの対応により、ＳＴ
３の状態時間が求められ、この状態時間から「保護タイ
マ５分」が検出さ３０３０、ＳＴ２に遷移する。内部タ
イマは、内部事象として扱っている。

ＳＴ２では、「イベント：冷凍室温度−２０℃以上」と
「アクション：コンプレッサ運転」の対応を、温度セン
サの誤差、検出誤差を考慮して上記ＳＴＩと同様に取り
、ＳＴＩに遷移する。以下、この動作を繰返す。

ナオ・本発明は上記実施例に限定されることなく種々変
形可能なことは勿論である。

［発明の効果］ 以上詳述したように、本発明のシステムテスト方式によ
れば、有限状態機械モデルに基づいてイベント、アクシ
ョンを時区間として捉えたことにより、センサの誤差、
動作の検出の誤差等の誤差を含んだシステムの検証を自
動的に行なうことができる。

また、時区間で捉えると、ある状態で含んだ誤差が次の
状態にも伝搬することによって誤差が順次大きくなって
行くと考えられるが、状態時間を採り入れたことにより
、その状態における誤差を限定しているため、誤差の伝
搬も解決している。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のテストシステムの構成を示
す図、第２図はセンサの誤差の範囲を示す図、第３図は
イベントとアクションの対応付けを示す図、第４図は本
発明の一実施例における状態の遷移を示す状態遷移図、
第５図は従来のテストシステムの構成を示す図である。 ２ｌ・・・テスト装置、 ２２・・・被テスト装置（冷蔵庫）、 ２７・・・信号入力部、 ２８・・・イベント抽出部、 ２９・・・アクション抽出部、 ３０・・・仕様データファイル、

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. システムが要求されている仕様通りに動作しているか否
   かを検証するシステムテスト方式において、被テストシ
   ステムに要求されている仕様における期待情報を時間情
   報を含めて記憶する記憶手段と、前記被テストシステム
   の動作情報を定期的に検出する検出手段と、この検出手
   段で検出された検出情報と前記記憶手段に記憶されてい
   る期待情報を時間情報を含んだ有限状態機械モデルに基
   づいて照合することにより検証する検証手段とを具備し
   たことを特徴とするシステムテスト方式。