JPH039328A - 液晶表示装置 - Google Patents
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- JPH039328A JPH039328A JP1142944A JP14294489A JPH039328A JP H039328 A JPH039328 A JP H039328A JP 1142944 A JP1142944 A JP 1142944A JP 14294489 A JP14294489 A JP 14294489A JP H039328 A JPH039328 A JP H039328A
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- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は液晶表示装W5特に薄[1−ランジスタ等を
使用したアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置に
関する6 [従来の技術] アクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置は、マトリ
クス状に配列された複数の画素電極の各々に対応して非
線形素子(スイッチング素子)を設けたものである。各
画素における液晶は理論的には常時肝動(デコーティ比
1.0)されているので、時分割駆動方式を採用してい
る、いわゆる単純マトリクス方式ど比べてアクティブ方
式はコントラストが良く特にカラーでは欠かせない技術
となりつつある。スイッチング素子として代表的なもの
どしては薄膜トランジスタ(TPT)がある。 従来のアクティブ・7トリクス方式の液晶表示装置にお
いては、透明画素電極を一方の電極どし、隣りの不透明
金属膜からなる走査信号線を他方の電極とし、薄膜トラ
ンジスタのゲート絶a膜として使用される絶縁膜と同−
暦の膜を誘電体膜どする保持容量素子を形成している。 この液晶表示装置においては、保持容量素子が設すられ
ているから、液晶に加わる直流成分の値を小さくするこ
とができので、液晶の寿命を向−J二し、液晶表示画面
の切り替え時に前の画像が残るいわゆる焼き付きを低減
することができ、また保持容量素子は放電時間を長くす
る作用もあるので。 薄膜トランジスタがオフした後の映像情報イτ長く蓄積
することができる、 なお、薄膜トランジスタを使用したアクティブ・マトリ
クス方式の液晶表示装置は、たとえば「冗長構成を採用
した12.5型アクテイブ・マトリクス方式カラー液晶
デイスプレィ」、日経エレクI−LIニクス、頁193
〜210.1986年12月15日、日経マグロウヒル
社発行、で知られている。
使用したアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置に
関する6 [従来の技術] アクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置は、マトリ
クス状に配列された複数の画素電極の各々に対応して非
線形素子(スイッチング素子)を設けたものである。各
画素における液晶は理論的には常時肝動(デコーティ比
1.0)されているので、時分割駆動方式を採用してい
る、いわゆる単純マトリクス方式ど比べてアクティブ方
式はコントラストが良く特にカラーでは欠かせない技術
となりつつある。スイッチング素子として代表的なもの
どしては薄膜トランジスタ(TPT)がある。 従来のアクティブ・7トリクス方式の液晶表示装置にお
いては、透明画素電極を一方の電極どし、隣りの不透明
金属膜からなる走査信号線を他方の電極とし、薄膜トラ
ンジスタのゲート絶a膜として使用される絶縁膜と同−
暦の膜を誘電体膜どする保持容量素子を形成している。 この液晶表示装置においては、保持容量素子が設すられ
ているから、液晶に加わる直流成分の値を小さくするこ
とができので、液晶の寿命を向−J二し、液晶表示画面
の切り替え時に前の画像が残るいわゆる焼き付きを低減
することができ、また保持容量素子は放電時間を長くす
る作用もあるので。 薄膜トランジスタがオフした後の映像情報イτ長く蓄積
することができる、 なお、薄膜トランジスタを使用したアクティブ・マトリ
クス方式の液晶表示装置は、たとえば「冗長構成を採用
した12.5型アクテイブ・マトリクス方式カラー液晶
デイスプレィ」、日経エレクI−LIニクス、頁193
〜210.1986年12月15日、日経マグロウヒル
社発行、で知られている。
しかし、このような液晶表示装rにおいては、透明画素
電極の−・部に不透明金属膜からなる走査信号線な重ね
合わせているから、保持容量素子の保持容量を大きくす
るために、走査信号線の重ね合わせ面積を大きくすると
、開口率が小さくなるので1画面が暗くなり、また透明
画素電極を一方の電極とし、隣りの走査信号線を他方の
電極としているから、ゲ・−ト(垂直走査線)即動装置
に大きな負荷がか力眞ノ、ゲート駆動装置の能力を大き
くする必要がある。 この発明は上述の課題を解決するためになされたもので
、保持容量素子の保持容量を大きくしたとしても、開口
率が小さくなることがなく、またゲート駆動装置に制約
がかからない液晶表示装置を提供することを目的とする
。
電極の−・部に不透明金属膜からなる走査信号線な重ね
合わせているから、保持容量素子の保持容量を大きくす
るために、走査信号線の重ね合わせ面積を大きくすると
、開口率が小さくなるので1画面が暗くなり、また透明
画素電極を一方の電極とし、隣りの走査信号線を他方の
電極としているから、ゲ・−ト(垂直走査線)即動装置
に大きな負荷がか力眞ノ、ゲート駆動装置の能力を大き
くする必要がある。 この発明は上述の課題を解決するためになされたもので
、保持容量素子の保持容量を大きくしたとしても、開口
率が小さくなることがなく、またゲート駆動装置に制約
がかからない液晶表示装置を提供することを目的とする
。
この目的を達成するため、この発明においては、薄膜ト
ランジスタと画素電極とを画素の一構成要素とし、上記
画素電極を一方の電極とする保持容量素子が設けられた
アクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置において、
上記保持容量素子の他方の電極を上記薄膜トランジスタ
のゲート#!s膜どして使用される1IPlB膜」−に
設けられかつ共通画素電極と接続された透明導電膜で構
成する。 この場合、」−記保持容量素子の他方の電極を格子状に
設けてもよい。 また、薄膜F・ランジスタと画素電極と祭画素の一構成
要素とし、上記画素電極を一方の電極どする保持容量素
子が設けられたアクティブ・7トリクス方式の液晶表示
装置において、上記保持容量素子の他方の電極をソース
電極、ドレイン電極を構成する透明導電膜と同−膜で構
成する4、さらに、薄膜トランジスタと画素電極とを画
素の一構成要素とし、上記画素電極を一方の電極とする
保持容量素子が設けられたアクティブ・マトリクス方式
の液晶表示装置において、ト記保持容量素子の誘電体膜
を保護膜と同−膜で構成する。 また、薄膜トランジスタと画素電極とを画素の一構成要
素とするアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置に
おいて、上記画素電極を保護股上に設ける。 この場合、上記画素電極とソース電極とを上記保護膜に
設けられたスルーホールを介して接続してもよい。
ランジスタと画素電極とを画素の一構成要素とし、上記
画素電極を一方の電極とする保持容量素子が設けられた
アクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置において、
上記保持容量素子の他方の電極を上記薄膜トランジスタ
のゲート#!s膜どして使用される1IPlB膜」−に
設けられかつ共通画素電極と接続された透明導電膜で構
成する。 この場合、」−記保持容量素子の他方の電極を格子状に
設けてもよい。 また、薄膜F・ランジスタと画素電極と祭画素の一構成
要素とし、上記画素電極を一方の電極どする保持容量素
子が設けられたアクティブ・7トリクス方式の液晶表示
装置において、上記保持容量素子の他方の電極をソース
電極、ドレイン電極を構成する透明導電膜と同−膜で構
成する4、さらに、薄膜トランジスタと画素電極とを画
素の一構成要素とし、上記画素電極を一方の電極とする
保持容量素子が設けられたアクティブ・マトリクス方式
の液晶表示装置において、ト記保持容量素子の誘電体膜
を保護膜と同−膜で構成する。 また、薄膜トランジスタと画素電極とを画素の一構成要
素とするアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置に
おいて、上記画素電極を保護股上に設ける。 この場合、上記画素電極とソース電極とを上記保護膜に
設けられたスルーホールを介して接続してもよい。
この液晶表示装置においては、保持容量素子の他方の電
極を薄膜トランジスタのゲート絶縁膜として使用される
絶縁膜上に設けられかつ共通画素電極と接続された透明
導電膜で構成するから、保持容量素子の保持容量を大き
くしたとしても、開口率が小さくなることはなく、また
ゲート記動装置に大きな負荷が作用することがない。 この場合、保持容量素子の他方の電極を格子状に設けれ
ば、保持容量素子の他方の電極の抵抗が小さくなる。 また、保持容量素子の他方の電極をソース電極、ドレイ
ン電極を構成する透明導電膜と同−膜で構成するから、
製造工程が簡単である。 さらに、保持容量素子の誘電体膜を保護膜と同−膜で構
成するから、製造工程が簡単である。 また、画素電極を保護膜上に設け、この場合に画素電極
とソース電極とを保護膜に設けられたスルーホールを介
して接続するすれば、液晶に作用する電圧を大きくする
ことができる。
極を薄膜トランジスタのゲート絶縁膜として使用される
絶縁膜上に設けられかつ共通画素電極と接続された透明
導電膜で構成するから、保持容量素子の保持容量を大き
くしたとしても、開口率が小さくなることはなく、また
ゲート記動装置に大きな負荷が作用することがない。 この場合、保持容量素子の他方の電極を格子状に設けれ
ば、保持容量素子の他方の電極の抵抗が小さくなる。 また、保持容量素子の他方の電極をソース電極、ドレイ
ン電極を構成する透明導電膜と同−膜で構成するから、
製造工程が簡単である。 さらに、保持容量素子の誘電体膜を保護膜と同−膜で構
成するから、製造工程が簡単である。 また、画素電極を保護膜上に設け、この場合に画素電極
とソース電極とを保護膜に設けられたスルーホールを介
して接続するすれば、液晶に作用する電圧を大きくする
ことができる。
以下、この発明の構成について、アクティブ・マトリク
ス方式のカラー液晶表示装置にこの発明を適用した実施
例とともに説明する。 なお、実施例を説明するための企図において、同一機能
を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は
省略する。 第1図はこの発明が適用されるアクティブ・マトリクス
方式カラー液晶表示装置の一画素とその周辺を示す平面
図、第2A図は第1図の一部拡大図、第2B図は第1図
、第2A図のIIB−IIB切断線における断面と表示
パネルのシール部付近の断面を示す図、第2C図は第1
図のnc−nc切断線における断面図、第3A図は第1
図に示す画素を複数配置したときの平面図、第3B図は
第1図の第1導電膜dlのみを掃いた平面図である。 (画素配置) 第1図に示すように、各画素は隣接する2本の走査信号
線(ゲート信号線または水平信号線)GLと、隣接する
2本の映像信号線(ドレイン信号線または垂直信号#)
DLとの交差領域内(4本の信号線で囲まれた領域内)
に配置されている。 各画素は薄膜トランジスタTPT、透明画素電極ITO
1bおよび保持容量素子Caddを含む、走査信号線O
Lは列方向に延在し、行方向に複数本配置されている。 映像信号線DLは行方向に延在し、列方向に複数本配置
されている。 (表示部断面全体構造) 第2B図に示すように、液晶LCを基準に下部透明ガラ
ス基板5UBI側には薄膜トランジスタTPTおよび透
明画素電極ITO1bが形成され、上部透明ガラス基板
5UBZ側にはカラーフィルタFIL、遮光用ブラック
マトリクスパターンを形成する遮光膜BMが形成されて
いる。下部透明ガラス基板5UBIはたとえば1 、1
[mml程度の厚さで構成されている。 第2B図の中央部は一画素部分の断面を示しているが、
左側は透明ガラス基板5UBI、5UB2の左側縁部分
で外部引出配線の存在する部分の断面を示しており、右
側は透明ガラス基板5UB1.5tJB2の右側縁部分
で外部引出配線の存在しない部分の断面を示している。 第2B図の左側、右側のそれぞれに示すシール材SLは
液晶LCを封止するように構成されており、液晶封入口
(図示していない)を除く透明ガラス基板5UB1.5
UB2の総周囲全体に沿って形成されている。シール材
SLはたとえばエポキシ樹脂で形成されている。 上部透明ガラス基板5UB2側の共通透明画素電極IT
O2は、少なくとも一個所において、銀ペースト材SI
Lによって下部透明ガラス基板5UBI側に形成された
外部引出配線に接続されている。この外部引出配線はゲ
ート電極GT、ソース電極SD1、ドレイン電極SD2
のそれぞれと同一製造工程で形成される。 配向膜○RII、0RI2、透明画素電極IT01b、
共通透明画素電極ITO2、保護膜ps■]、P S
V 2、紛林膜GlのそA1.(“J+、の層は、シー
ル材S Lの内側に形成さ1+、る。偏光板1) 01
、〕、p o r、、 2はそれぞれ下部透明ガラス基
板S UBl、上部透明ガラス基’fhc S ■−I
B 2の外側の表面に形成されている。 液晶L Cは液晶分子の向きを設定する下部配向膜0R
IIと上部配向膜ORI 2との間に封入され、シール
部S Lよってシールされている。 下部配向膜0RIIは下部透明ガラ2、基板s UBl
側の保護膜1) S V 1のJ−、部に形成される。 上部透明ガラス基板S U B 2の内側(液晶り、C
側)の表面には、遮光膜BM、カラー・フィルタト′I
L、保護膜PSV2、共通透明画素電極I ’r (
’)2 (COM)および−L部配向膜0RI2が順次
禎層して設けられている。 この液晶表示装置は下部透明ガラス基板S U Bl側
、上部透明ガラスU板E’、 U B 2側のそ才1.
ぞわの層を別々に形成し、その後上下透明ガラス基板S
UB 、1.SUB 2を重ね合わせ、両者間に液晶丁
、(じを封入することによって組み立てられる、(薄膜
1〜ランジスタT F r > 薄膜トランジスタTFTは、ゲート電極GTに正のバイ
アスを印加すると2ソ・−スート1ツイン間のJヤネル
抵抗がホざくなり、バイアスを零にするど、チャネル抵
抗は大きくなるように動作すど)。 各画素の薄膜l−・ランジスタ゛rFTは、画素内にお
いて3つ(複数)に分割され、1薄膜トランジスタ(分
割薄膜トランジスタ)TFTI、TFT2およびTFT
3で構成されている、薄膜トランジスタTPTI〜T
P T 3のそれぞれは実質的に同一サイズ(チャンネ
ル長と幅が同じ)で構成されでいる。この分割さtlま
た薄膜[・ランジスタT FT1〜71’ F T’
3のそれぞオtは、主にグー1−電極G T 。 ゲート絶縁膜GI、j型(真性、1ntrinsic、
導電型決定不純物がドープさ第1.ていない)非晶質シ
リコン(Si)からなるi型半導体層A S、一対のソ
ース電極SDIおよびドレイン電極S D 2.で構成
されている、なお、ソース・トレイン1廿本来その間の
バイアス極性によって法まり、この液晶表示装置の回路
ではその極性は動作中反転するので、ソース・1コ1メ
インは動作中入汎神わると理解されたい。しかし、以下
の説明でも、便宜上一方をソース、他方をドレインと固
定して表現する。 (ゲーI−電極GT3> ゲート電極GTは第4図(第1図の第1導電膜g1.第
2導電膜に2およびj型半導体層ASのみを描いた平面
図)に詳細に示すように、走査信号線GLから垂直方向
(第J−図および第4図において上方向)に突出する形
状で構成されている(丁字形状に分岐されている)。ゲ
・=1−電極GTは薄膜トランジスタTPTI〜TFT
3のそれぞれの形成領域まで突出するように構成されて
いる。 薄膜トランジスタTFTI〜T F T 3のそtN、
それのゲート電極GTは、−・体に(共通ゲート電極と
して)構成されており、走査信号線G1、に連続し・て
形成さi]、ている、ゲート電極GTは、薄膜l・ラン
ジスタTPTの形成領域において大きい段差を作らない
ように、単層の第1.導電膜g1で構成する。第1導電
膜g1はたとえばスパッタで形成されたクロム(Cr)
膜を用い、 1000[人コ程度の膜厚で形成する、 このゲー・上電極GTは第1図、第2B図および第4図
に示されているように、i型半導体NJAsを完全に覆
うよう()方からみて)それより太き目に形成される。 し5たがって、下部透明ガラス基板5UBI−の下方に
蛍光灯等のバックライト)3 Lを取り何けた場合、こ
の不透明なりロムからなるゲー・上電極GTが影となっ
て、j型半導体MAsにはバックライト・光が当たらず
、光照射による導電現象すなわち薄膜トランジスタTP
Tのオフ特性劣化は起きにくくなる。なお、ゲート電極
G Tの本来のノくきさは、ソース電極SDIとドレイ
ン電極SD2との間をまたがるに最低限必要な(ゲート
電極GTどソース電極SDI、ドレイン電極SD2との
位置合わせ余裕分も名めて)幅を持ち、チャンネル幅W
を決めるその奥行き長さはソース電極SDIとドレイン
電極SD2との間の顕熱(チャンネル長)Lとの比、す
なわち相互コンダクタンスgmを決定するファクタW/
Lをいくつにするかによって決めら才】2る。 この液晶表示装置におけるゲート電極GTの大きさはも
ちろん、上述した本来の大きさよりも大きくされる。 なお、ゲート電極GTのゲートおよび遮光の機能面から
だけで考えれば、ゲート電極GTおよび走査信号gGL
は単一の層で一体に形成してもよく、この場合不透明導
電材料としてシリコンを含有させたアルミニウム(AI
)、純アルミニウム、パラジウム(Pd)を含有させた
アルミニウム等を選ぶことができる。 (走査信号線GL> 走査信号線GLは第1導電膜g1およびその上部に設け
られた第2導電膜g2からなる複合膜で構成されている
。この走査信号線GLの第1導電膜g1はゲート電極G
Tの第1導電膜g1と同一製造工程で形成され、かつ一
体に構成されている。 第2導電膜g2はたとえばスパッタで形成されたアルミ
ニウム膜を用い、 1ooo〜5500[人]程度の膜
厚で形成する。第2導電膜g2は走査信号線GLの抵抗
値を低減し、信号伝達速度の高速化(画素の情報の書込
特性向上)を図ることができるように構成されている。 また、走査信号線GLは第1導電膜g1の幅寸法に比べ
て第2導電膜g2の幅寸法を小さく構成している。すな
わち、走査信号線GLはその側壁の段差形状がゆるやか
になっている。 (絶縁膜GI> 絶縁膜GIは薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそ
れぞれのゲート絶縁膜として使用される。 絶縁膜G1はゲート電極GTおよび走査信号tAGLの
上層に形成されている。絶縁膜GIはたとえばプラズマ
CVDで形成された窒化シリコン膜を用い、3000[
人]程度の膜厚で形成する。 (i型半導体層A S ) i型半導体層ASは、第4図に示すように、複数に分割
された薄膜トランジスタTPT1〜TFT3のそれぞれ
のチャネル形成領域として使用される。i型半導体JW
ASは非晶質シリコン膜または多結晶シリコン膜で形成
し、約1800[人コ程度の膜厚で形成する。 このi型半導体層ASは、供給ガスの成分を変えてSi
、N、からなるゲート絶縁膜として使用される絶縁膜G
Iの形成に連続して、同じプラズマCVD装置で、しか
もそのプラズマCVD装置から外部に露出することなく
形成される7゜また、オーミックコンタクト用のPをド
ープしたN+型半導体1do(第2B図)も同様に連続
して約400[人]の厚さに形成される。しかる後、下
部透明ガラス基板5UBIはCVD装置から外に取り出
され、写真処理技術によりN+型半導体層dOおよびi
型半導体層ASは第1図、第2B図および第4図に示す
ように独立した島状にパターニングされる。 i型半導体層ASは、第1図および第4図に詳細に示す
ように、走査信号線GLと映像信号線DLとの交差部(
クロスオーバ部)の両者間にも設けられている。この交
差部のi型半導体層ASは交差部における走査信号線O
Lと映像信号線DLとの短絡製低減するように構成され
ている。 (保護膜PSVI> 薄膜トランジスタTFT上には保護膜P S V 1が
設けられている。保護膜PSVIは主に薄膜トランジス
タTPTを湿気等から保護するために形成されており、
透明性が高くしかも耐湿性の良いものを使用する。保護
膜PSVIはたとえばプラズマCVD装置で形成した酸
化シリコン膜や窒化シリコン膜で形成されており、80
00[人]程度の膜厚で形成する。 (ソース電極SD1、ドレイン電極SD2>複数に分割
された薄膜トランジスタTPT1〜TFT3のそれぞれ
のソース電極SD1とドレイン電極SD2とは、第1図
、第2A図、第2B図および第5図(第1図の第2導電
膜d2〜第4導電膜d4のみを描いた平面図)で詳細に
示すように、i型半導体層AS上にそれぞれ離隔して設
けられている。 ソース電極SDIは、N+型半導体層doに接触した第
1導電膜d1と、保護膜PSVIに設けられたスルーホ
ールC0NTを介して第1導電膜d1と接続された第4
導電膜d4とで構成されており、ドレイン電極SD2は
、第1導電膜d1と、保護膜P S V 1に設けらオ
]、たスルーホールC0NTを介して第1導電膜d1と
接続された第4導電膜d4と、第4導電膜d4上に重ね
合わされた第2導電膜d2、第3導電膜d3とで構成さ
れている。 第1導電膜d1.第4導電膜d4はスパッタリングで形
成された透明Si膜(Induim−Tin−Oxid
eI T○ニオ2ザ膵)からなり、1000〜2000
[人コの膜厚(この液晶表示装置では、 1200[人
]程度の膜厚)で形成される。この第1導電膜d1はソ
ース電極SDI、ドレイン電極SD2を構成するととも
に、第3B図にも示すような格子状の透明補助電極IT
O1aを構成しており、第4導電膜d4はソース電極S
DI、ドレイン電極S D 2および映像信号!DLを
構成するとともに、透明画素電極NTO1bを構成して
いる。また、第2導電膜d2はスパッタで形成したクロ
ム膜を用い、 SOO〜1000[人]の膜厚(この
液晶表示装置では、600[人]程度の膜厚)で形成す
る。クロム膜は膜厚を厚く形成するどス1−17スが大
きくなるので、7000[人]8度の膜厚′@:越えな
い範囲で形成する。なお、第2導電膜d2とL2ては、
クロム膜の他に高融点金属(Mo、Ti、Ta、W)膜
、高融点金属シリサイド(MoSi、、TiSi2.、
TaSi、、WSi、)膜で形成してもよい。さらに、
第3導電膜d3はスパッタリングで形成されたアルミS
ニウムからなり、3000〜5500[入コの膜N(こ
の液晶表示装置では、3500[人〕程度の膜厚)に形
成される。アルミニウム膜はタロノ、膜に比へてストレ
スが小さく、厚い膜厚に形成することが可能で、トド・
イン電極S D 2および映像信号線D Lの抵抗値を
低減するように構成さ第1.ている。第3導電欣
ス方式のカラー液晶表示装置にこの発明を適用した実施
例とともに説明する。 なお、実施例を説明するための企図において、同一機能
を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は
省略する。 第1図はこの発明が適用されるアクティブ・マトリクス
方式カラー液晶表示装置の一画素とその周辺を示す平面
図、第2A図は第1図の一部拡大図、第2B図は第1図
、第2A図のIIB−IIB切断線における断面と表示
パネルのシール部付近の断面を示す図、第2C図は第1
図のnc−nc切断線における断面図、第3A図は第1
図に示す画素を複数配置したときの平面図、第3B図は
第1図の第1導電膜dlのみを掃いた平面図である。 (画素配置) 第1図に示すように、各画素は隣接する2本の走査信号
線(ゲート信号線または水平信号線)GLと、隣接する
2本の映像信号線(ドレイン信号線または垂直信号#)
DLとの交差領域内(4本の信号線で囲まれた領域内)
に配置されている。 各画素は薄膜トランジスタTPT、透明画素電極ITO
1bおよび保持容量素子Caddを含む、走査信号線O
Lは列方向に延在し、行方向に複数本配置されている。 映像信号線DLは行方向に延在し、列方向に複数本配置
されている。 (表示部断面全体構造) 第2B図に示すように、液晶LCを基準に下部透明ガラ
ス基板5UBI側には薄膜トランジスタTPTおよび透
明画素電極ITO1bが形成され、上部透明ガラス基板
5UBZ側にはカラーフィルタFIL、遮光用ブラック
マトリクスパターンを形成する遮光膜BMが形成されて
いる。下部透明ガラス基板5UBIはたとえば1 、1
[mml程度の厚さで構成されている。 第2B図の中央部は一画素部分の断面を示しているが、
左側は透明ガラス基板5UBI、5UB2の左側縁部分
で外部引出配線の存在する部分の断面を示しており、右
側は透明ガラス基板5UB1.5tJB2の右側縁部分
で外部引出配線の存在しない部分の断面を示している。 第2B図の左側、右側のそれぞれに示すシール材SLは
液晶LCを封止するように構成されており、液晶封入口
(図示していない)を除く透明ガラス基板5UB1.5
UB2の総周囲全体に沿って形成されている。シール材
SLはたとえばエポキシ樹脂で形成されている。 上部透明ガラス基板5UB2側の共通透明画素電極IT
O2は、少なくとも一個所において、銀ペースト材SI
Lによって下部透明ガラス基板5UBI側に形成された
外部引出配線に接続されている。この外部引出配線はゲ
ート電極GT、ソース電極SD1、ドレイン電極SD2
のそれぞれと同一製造工程で形成される。 配向膜○RII、0RI2、透明画素電極IT01b、
共通透明画素電極ITO2、保護膜ps■]、P S
V 2、紛林膜GlのそA1.(“J+、の層は、シー
ル材S Lの内側に形成さ1+、る。偏光板1) 01
、〕、p o r、、 2はそれぞれ下部透明ガラス基
板S UBl、上部透明ガラス基’fhc S ■−I
B 2の外側の表面に形成されている。 液晶L Cは液晶分子の向きを設定する下部配向膜0R
IIと上部配向膜ORI 2との間に封入され、シール
部S Lよってシールされている。 下部配向膜0RIIは下部透明ガラ2、基板s UBl
側の保護膜1) S V 1のJ−、部に形成される。 上部透明ガラス基板S U B 2の内側(液晶り、C
側)の表面には、遮光膜BM、カラー・フィルタト′I
L、保護膜PSV2、共通透明画素電極I ’r (
’)2 (COM)および−L部配向膜0RI2が順次
禎層して設けられている。 この液晶表示装置は下部透明ガラス基板S U Bl側
、上部透明ガラスU板E’、 U B 2側のそ才1.
ぞわの層を別々に形成し、その後上下透明ガラス基板S
UB 、1.SUB 2を重ね合わせ、両者間に液晶丁
、(じを封入することによって組み立てられる、(薄膜
1〜ランジスタT F r > 薄膜トランジスタTFTは、ゲート電極GTに正のバイ
アスを印加すると2ソ・−スート1ツイン間のJヤネル
抵抗がホざくなり、バイアスを零にするど、チャネル抵
抗は大きくなるように動作すど)。 各画素の薄膜l−・ランジスタ゛rFTは、画素内にお
いて3つ(複数)に分割され、1薄膜トランジスタ(分
割薄膜トランジスタ)TFTI、TFT2およびTFT
3で構成されている、薄膜トランジスタTPTI〜T
P T 3のそれぞれは実質的に同一サイズ(チャンネ
ル長と幅が同じ)で構成されでいる。この分割さtlま
た薄膜[・ランジスタT FT1〜71’ F T’
3のそれぞオtは、主にグー1−電極G T 。 ゲート絶縁膜GI、j型(真性、1ntrinsic、
導電型決定不純物がドープさ第1.ていない)非晶質シ
リコン(Si)からなるi型半導体層A S、一対のソ
ース電極SDIおよびドレイン電極S D 2.で構成
されている、なお、ソース・トレイン1廿本来その間の
バイアス極性によって法まり、この液晶表示装置の回路
ではその極性は動作中反転するので、ソース・1コ1メ
インは動作中入汎神わると理解されたい。しかし、以下
の説明でも、便宜上一方をソース、他方をドレインと固
定して表現する。 (ゲーI−電極GT3> ゲート電極GTは第4図(第1図の第1導電膜g1.第
2導電膜に2およびj型半導体層ASのみを描いた平面
図)に詳細に示すように、走査信号線GLから垂直方向
(第J−図および第4図において上方向)に突出する形
状で構成されている(丁字形状に分岐されている)。ゲ
・=1−電極GTは薄膜トランジスタTPTI〜TFT
3のそれぞれの形成領域まで突出するように構成されて
いる。 薄膜トランジスタTFTI〜T F T 3のそtN、
それのゲート電極GTは、−・体に(共通ゲート電極と
して)構成されており、走査信号線G1、に連続し・て
形成さi]、ている、ゲート電極GTは、薄膜l・ラン
ジスタTPTの形成領域において大きい段差を作らない
ように、単層の第1.導電膜g1で構成する。第1導電
膜g1はたとえばスパッタで形成されたクロム(Cr)
膜を用い、 1000[人コ程度の膜厚で形成する、 このゲー・上電極GTは第1図、第2B図および第4図
に示されているように、i型半導体NJAsを完全に覆
うよう()方からみて)それより太き目に形成される。 し5たがって、下部透明ガラス基板5UBI−の下方に
蛍光灯等のバックライト)3 Lを取り何けた場合、こ
の不透明なりロムからなるゲー・上電極GTが影となっ
て、j型半導体MAsにはバックライト・光が当たらず
、光照射による導電現象すなわち薄膜トランジスタTP
Tのオフ特性劣化は起きにくくなる。なお、ゲート電極
G Tの本来のノくきさは、ソース電極SDIとドレイ
ン電極SD2との間をまたがるに最低限必要な(ゲート
電極GTどソース電極SDI、ドレイン電極SD2との
位置合わせ余裕分も名めて)幅を持ち、チャンネル幅W
を決めるその奥行き長さはソース電極SDIとドレイン
電極SD2との間の顕熱(チャンネル長)Lとの比、す
なわち相互コンダクタンスgmを決定するファクタW/
Lをいくつにするかによって決めら才】2る。 この液晶表示装置におけるゲート電極GTの大きさはも
ちろん、上述した本来の大きさよりも大きくされる。 なお、ゲート電極GTのゲートおよび遮光の機能面から
だけで考えれば、ゲート電極GTおよび走査信号gGL
は単一の層で一体に形成してもよく、この場合不透明導
電材料としてシリコンを含有させたアルミニウム(AI
)、純アルミニウム、パラジウム(Pd)を含有させた
アルミニウム等を選ぶことができる。 (走査信号線GL> 走査信号線GLは第1導電膜g1およびその上部に設け
られた第2導電膜g2からなる複合膜で構成されている
。この走査信号線GLの第1導電膜g1はゲート電極G
Tの第1導電膜g1と同一製造工程で形成され、かつ一
体に構成されている。 第2導電膜g2はたとえばスパッタで形成されたアルミ
ニウム膜を用い、 1ooo〜5500[人]程度の膜
厚で形成する。第2導電膜g2は走査信号線GLの抵抗
値を低減し、信号伝達速度の高速化(画素の情報の書込
特性向上)を図ることができるように構成されている。 また、走査信号線GLは第1導電膜g1の幅寸法に比べ
て第2導電膜g2の幅寸法を小さく構成している。すな
わち、走査信号線GLはその側壁の段差形状がゆるやか
になっている。 (絶縁膜GI> 絶縁膜GIは薄膜トランジスタTPTI〜TFT3のそ
れぞれのゲート絶縁膜として使用される。 絶縁膜G1はゲート電極GTおよび走査信号tAGLの
上層に形成されている。絶縁膜GIはたとえばプラズマ
CVDで形成された窒化シリコン膜を用い、3000[
人]程度の膜厚で形成する。 (i型半導体層A S ) i型半導体層ASは、第4図に示すように、複数に分割
された薄膜トランジスタTPT1〜TFT3のそれぞれ
のチャネル形成領域として使用される。i型半導体JW
ASは非晶質シリコン膜または多結晶シリコン膜で形成
し、約1800[人コ程度の膜厚で形成する。 このi型半導体層ASは、供給ガスの成分を変えてSi
、N、からなるゲート絶縁膜として使用される絶縁膜G
Iの形成に連続して、同じプラズマCVD装置で、しか
もそのプラズマCVD装置から外部に露出することなく
形成される7゜また、オーミックコンタクト用のPをド
ープしたN+型半導体1do(第2B図)も同様に連続
して約400[人]の厚さに形成される。しかる後、下
部透明ガラス基板5UBIはCVD装置から外に取り出
され、写真処理技術によりN+型半導体層dOおよびi
型半導体層ASは第1図、第2B図および第4図に示す
ように独立した島状にパターニングされる。 i型半導体層ASは、第1図および第4図に詳細に示す
ように、走査信号線GLと映像信号線DLとの交差部(
クロスオーバ部)の両者間にも設けられている。この交
差部のi型半導体層ASは交差部における走査信号線O
Lと映像信号線DLとの短絡製低減するように構成され
ている。 (保護膜PSVI> 薄膜トランジスタTFT上には保護膜P S V 1が
設けられている。保護膜PSVIは主に薄膜トランジス
タTPTを湿気等から保護するために形成されており、
透明性が高くしかも耐湿性の良いものを使用する。保護
膜PSVIはたとえばプラズマCVD装置で形成した酸
化シリコン膜や窒化シリコン膜で形成されており、80
00[人]程度の膜厚で形成する。 (ソース電極SD1、ドレイン電極SD2>複数に分割
された薄膜トランジスタTPT1〜TFT3のそれぞれ
のソース電極SD1とドレイン電極SD2とは、第1図
、第2A図、第2B図および第5図(第1図の第2導電
膜d2〜第4導電膜d4のみを描いた平面図)で詳細に
示すように、i型半導体層AS上にそれぞれ離隔して設
けられている。 ソース電極SDIは、N+型半導体層doに接触した第
1導電膜d1と、保護膜PSVIに設けられたスルーホ
ールC0NTを介して第1導電膜d1と接続された第4
導電膜d4とで構成されており、ドレイン電極SD2は
、第1導電膜d1と、保護膜P S V 1に設けらオ
]、たスルーホールC0NTを介して第1導電膜d1と
接続された第4導電膜d4と、第4導電膜d4上に重ね
合わされた第2導電膜d2、第3導電膜d3とで構成さ
れている。 第1導電膜d1.第4導電膜d4はスパッタリングで形
成された透明Si膜(Induim−Tin−Oxid
eI T○ニオ2ザ膵)からなり、1000〜2000
[人コの膜厚(この液晶表示装置では、 1200[人
]程度の膜厚)で形成される。この第1導電膜d1はソ
ース電極SDI、ドレイン電極SD2を構成するととも
に、第3B図にも示すような格子状の透明補助電極IT
O1aを構成しており、第4導電膜d4はソース電極S
DI、ドレイン電極S D 2および映像信号!DLを
構成するとともに、透明画素電極NTO1bを構成して
いる。また、第2導電膜d2はスパッタで形成したクロ
ム膜を用い、 SOO〜1000[人]の膜厚(この
液晶表示装置では、600[人]程度の膜厚)で形成す
る。クロム膜は膜厚を厚く形成するどス1−17スが大
きくなるので、7000[人]8度の膜厚′@:越えな
い範囲で形成する。なお、第2導電膜d2とL2ては、
クロム膜の他に高融点金属(Mo、Ti、Ta、W)膜
、高融点金属シリサイド(MoSi、、TiSi2.、
TaSi、、WSi、)膜で形成してもよい。さらに、
第3導電膜d3はスパッタリングで形成されたアルミS
ニウムからなり、3000〜5500[入コの膜N(こ
の液晶表示装置では、3500[人〕程度の膜厚)に形
成される。アルミニウム膜はタロノ、膜に比へてストレ
スが小さく、厚い膜厚に形成することが可能で、トド・
イン電極S D 2および映像信号線D Lの抵抗値を
低減するように構成さ第1.ている。第3導電欣
【13
としてはアルミニウム膜の他にシリコンや銅(Cu)を
添加物どして含有さぜたアルミニウノ、膜で形成しても
よい。 第1導を膜d1を写真処理でバターニングした後、同じ
写真処理用マスクを用いて、あるいは第1導電膜dlを
マスクどして、N8型半導体層dOが除去される。つま
り、j、型半導体層AS上に残っていたN+型半導体眉
doは第1.導電膜d]以外の部分がセルファラインで
除去される。このとき、N+型半導体層dOはその厚さ
分は全て除去されるようエッチされるので、j型半導体
RASも若干その表面部分でエッチされるが、その程度
はエッチ時間で制御すればよい。 ソース電極S D 1は透明画素電極J ’]”Olb
に接続されている。ソース電極SDiは、i型半導体M
ASの段差形状(第1導電膜g1の膜厚。 N+型半導体層dOの膜厚およびj型半導体HASの膜
厚を加算した膜厚に相当する段差)に沿って構成されて
いる。 (透明画素電極ITO1b> 透明画素電極I T O1bは各画素毎に設けらtll
でおり、液晶表示部の画素電極の一方を構成する9透明
画素電極’ITO1bは画素の複数に分割された薄膜ト
ランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれに対応して3
つの分割透明画素電極E1.E2、E3に分割されてい
る。分割透明画素電極E1〜E3は各々薄膜1−ランジ
スタTFTのソース電極SDIに接続されている。 分割透明画素電極El−E3のそれぞれは実質的に同一
面積となるようにパターニングされている。 このように、1画素の薄膜トランジスタT P Tを複
数の薄膜トランジスタTFTI−T F T 3 &:
全分割、この複数に分割された薄膜トランジスタTPT
]〜TFT3のそれぞれに分割透明画素電極E1=−E
3のそれぞれを接続することにより、分割された一部分
(l−とえば、薄膜トランジスタTFTI)が点欠陥に
なって4=〕、画素全体でみれば点欠陥でなくなる(薄
膜トランジスタTPT2および薄膜1−ランジスタTF
T3が欠陥でb゛い)ので、点欠陥の確率を低減するこ
とができ、また欠陥を見にくくすることができる、 また5分割透明画素電極El−E3のそれぞわを実質的
に同一面積で構成することにより、分割透明画素電極E
1〜E3のそれぞれと共通透明画素電極ITO2とで構
成されるそれぞれの液晶容量cpixを均一 にするこ
とができる。 (遮光膜BM)> 上部透明ガラス基板5UBZ側には、外部光(第2B図
では上方からの光)がチャネル形成領域として使用され
るj型半導体RASに入射されないように、遮蔽膜BM
が設けられ、遮蔽膜BMは第6図のハツチングに示すよ
うなパターンとされている。なお、第6図は第1図にお
けるITO膜からなる第4導電膜d4、カラーフィルタ
FILおよび遮光膜BMのみを描いた平面図である。 遮光膜BMは光に対する遮蔽性が高いたとえばアルミニ
ウム膜やクロム膜等で形成されており、この液晶表示装
置ではクロム膜がスパッタリングで1300[人]程度
の膜厚に形成される。 したがって、薄膜トランジスタTFTI〜TFT3のi
型半導体層ASは上下にある遮光膜BMおよび太き目の
ゲート電極GTによってサンドインチにされ、その部分
は外部の自然光やバックライト光が当たらなくなる。遮
光膜BMは第6図のハツチング部分で示すように9画素
の周囲に形成され、つまり遮光膜BMは格子状に形成さ
れ(ブラックマトリクス)、この格子で1画素の有効表
示領域が仕切られている。したがって、各画素の輪郭が
遮光膜BMによってはっきりとし、コントラストが向上
する。つまり、遮光膜BMはi型半導体層ASに対する
遮光とブラックマトリクスとの2つの機能をもつ。 なお、バックライトを上部透明ガラス基板5UB2側に
取り付け、下部透明ガラス基板5UBIを観察側(外部
露出側)とすることもできる。 (共通透明画素電極ITO2> 共通透明画素電極ITO2は、下部透明ガラス基板5U
BI側に画素毎に設けられた透明画素電極ITO1bに
対向し、液晶LCの光学的な状態は各画素電極IT○1
bと共通透明画素電極LTO2との間の電位差(電界)
に応答して変化する。 この共通透明画素電極ITO2にはコモン電圧Vco園
が印加されるように構成されている。コモン電圧Vco
mは映像信号gDLに印加されるロウレベルの駆動電圧
V d 1IIinとハイレベルの駆動電圧V d w
axとの中間電位である。 (カラーフィルタF I L) カラーフィルタFILはアクリル樹脂等の樹脂材料で形
成される染色基材に染料を着色して構成されている。カ
ラーフィルタFILは画素に対向する位置に各画素毎に
ドツト状に形成され(第7図)、染め分けられている、
(第7図は第3A図の第4導電膜層d4とカラーフィル
タFILのみを描いたもので、R,G、Bの各カラーフ
ィルターFILはそれぞれ、45’ 135°、ク
ロスのハツチを施しである)、カラーフィルタFILは
第6図に示すように透明画素電極ITO1b (El〜
E3)の全てを覆うように太き目に形成され、遮光膜B
MはカラーフィルタFILおよび透明画素電極ITO1
bのエツジ部分と重なるよう透明画素電極ITO1bの
周縁部より内側に形成されている。 カラーフィルタFILは次のように形成することができ
る。まず、上部透明ガラス基板5UB2の表面に染色基
材を形成し、フォトリソグラフィ技術で赤色フィルタ形
成領域以外の染色基材を除去する。この後、染色基材を
赤色染料で染め、固着処理を施し、赤色フィルタRを形
成する。つぎに、同様な工程を施すことによって、緑色
フィルタG、青色フィルタBを順次形成する。 (保護DIP S V 2> 保護膜PSV2はカラーフィルタFILを異なる色に染
め分けた染料が液晶LCに漏れることを防止するために
設けられている。保護膜PSV2はたとえばアクリル樹
脂、エポキシ樹脂等の透明樹脂材料で形成されている。 (画素配列) 液晶表示部の各画素は、第3A図および第7図に示すよ
うに、走査信号線GLが延在する方向と同一列方向に複
数配置され、画素列Xi、X2゜X3.X4.・・・の
それぞれを構成している。各画素列Xi、X2.X3.
X4.・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジスタT
FTI〜TFT3および分割透明画素電極E1〜E3の
配置位置を同一に構成している。つまり、奇数画素列X
i、X3゜・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジス
タTPT1〜T P T署3の配Pη位旨kt−1側、
分割透明画素電極E1=E3の配置位置を右側に構成し
ている。 奇数画素列X1.、X、3.・・・のぞれrれの行方向
の藺りの偶数画素列X2.、X4.、・・・の(・れぞ
tbの画素は、奇数画素列XI、X3.・・・のそれぞ
れ(7)画素を映像信号線D Lの延在方向壱−基準に
して線、)1゛称でひっくり返した両察で構成ざ71、
°Cいる。すなJ、ち、画素列X2.X−1,・・・の
それぞれの画素は、薄膜]・ランジスタ゛r F T
3〜TFT3の配置位置を::<J側、透明画素電相T
J l−−−E 3の配置位置を左側に構成1.ている
、そI、τ”、画素列X2.X4゜・・・のそれぞれの
画素は、画素列Xi、X3、・・・のそれぞれの画素1
.:1月し、列方向に牢画素間隔移動さ且′τ(ずら1
,7て)酩酊’M J”!−ている。つまり、画素列X
の名画素間隔を1゜O(X、aピッ、・チ)とすると、
次段の画素列X1大、各@列間隔を1.0と191、前
段の画素列ンロJ対して列方向に0.5画素間隔(0,
5ピツチ)ずれている。各画素同名行方向に延在”する
映像信号線1)1.は、名画素列X間において、半画素
間M勺(0,5ピツチ分)列方向に延在11ろように構
成% 、tl、、ている。 その結果、第7図に示すように、前段の画素列Xの所定
色フYルタが形成された画素(たと六(、r、画素列X
3の赤色フィルタXくが形成された1jii崇)ど次段
の画素列Xの同一色フィルタが形成ざオした画素(たど
えば、画素列X4の赤色フィルタRが形成さ九た画素)
とが1.5画素間隔(1,5ピツチ)#隔声れ、またR
G BのカラーフィルりFILは二F角形配置2・な
る。カラーノ、イルタFI丁、のRGI3の二そ角形配
置構造は、各色のp、色を良くする−どができるので、
カラー画像のM像度を向+4”bごとができる9 Sゴー1、映像信号線1) I、は5各画素列XQI冒
−j?いで、半画素間隔分しフ)゛・列方1#i、lに
延在しない0)T、”。 隣接する映像信号線I”)1.2−交差L 乃”、 く
なる。【5、たがって、映像48号線D〕、の引き回1
.3なくシ、その占有面積を但、減する、二とができ、
また映像信号創;D Lの迂回をなく17、多層配線構
造を廃+1・する1・゛とができる。 (表示装置全体等価回路) この液晶表示装置の等価回路を第13回に示イ″、4X
iG、Xi→】(′弓 ・・・は、緑色フィルタGが形
成される画素に接続されシー映像信号線D■1でおる9
X′i、 13 * X 1(−I B +・・・1プ
1、青色フィル々13が形成される両iυユ接続された
映像信(づ・綜D T−、である。 X j、 −1−、I R、X i + 2 R、・・
・は、赤色5ノイルりRが形成、される画素に接続さ九
た映像借汗縁1)
としてはアルミニウム膜の他にシリコンや銅(Cu)を
添加物どして含有さぜたアルミニウノ、膜で形成しても
よい。 第1導を膜d1を写真処理でバターニングした後、同じ
写真処理用マスクを用いて、あるいは第1導電膜dlを
マスクどして、N8型半導体層dOが除去される。つま
り、j、型半導体層AS上に残っていたN+型半導体眉
doは第1.導電膜d]以外の部分がセルファラインで
除去される。このとき、N+型半導体層dOはその厚さ
分は全て除去されるようエッチされるので、j型半導体
RASも若干その表面部分でエッチされるが、その程度
はエッチ時間で制御すればよい。 ソース電極S D 1は透明画素電極J ’]”Olb
に接続されている。ソース電極SDiは、i型半導体M
ASの段差形状(第1導電膜g1の膜厚。 N+型半導体層dOの膜厚およびj型半導体HASの膜
厚を加算した膜厚に相当する段差)に沿って構成されて
いる。 (透明画素電極ITO1b> 透明画素電極I T O1bは各画素毎に設けらtll
でおり、液晶表示部の画素電極の一方を構成する9透明
画素電極’ITO1bは画素の複数に分割された薄膜ト
ランジスタTPTI〜TFT3のそれぞれに対応して3
つの分割透明画素電極E1.E2、E3に分割されてい
る。分割透明画素電極E1〜E3は各々薄膜1−ランジ
スタTFTのソース電極SDIに接続されている。 分割透明画素電極El−E3のそれぞれは実質的に同一
面積となるようにパターニングされている。 このように、1画素の薄膜トランジスタT P Tを複
数の薄膜トランジスタTFTI−T F T 3 &:
全分割、この複数に分割された薄膜トランジスタTPT
]〜TFT3のそれぞれに分割透明画素電極E1=−E
3のそれぞれを接続することにより、分割された一部分
(l−とえば、薄膜トランジスタTFTI)が点欠陥に
なって4=〕、画素全体でみれば点欠陥でなくなる(薄
膜トランジスタTPT2および薄膜1−ランジスタTF
T3が欠陥でb゛い)ので、点欠陥の確率を低減するこ
とができ、また欠陥を見にくくすることができる、 また5分割透明画素電極El−E3のそれぞわを実質的
に同一面積で構成することにより、分割透明画素電極E
1〜E3のそれぞれと共通透明画素電極ITO2とで構
成されるそれぞれの液晶容量cpixを均一 にするこ
とができる。 (遮光膜BM)> 上部透明ガラス基板5UBZ側には、外部光(第2B図
では上方からの光)がチャネル形成領域として使用され
るj型半導体RASに入射されないように、遮蔽膜BM
が設けられ、遮蔽膜BMは第6図のハツチングに示すよ
うなパターンとされている。なお、第6図は第1図にお
けるITO膜からなる第4導電膜d4、カラーフィルタ
FILおよび遮光膜BMのみを描いた平面図である。 遮光膜BMは光に対する遮蔽性が高いたとえばアルミニ
ウム膜やクロム膜等で形成されており、この液晶表示装
置ではクロム膜がスパッタリングで1300[人]程度
の膜厚に形成される。 したがって、薄膜トランジスタTFTI〜TFT3のi
型半導体層ASは上下にある遮光膜BMおよび太き目の
ゲート電極GTによってサンドインチにされ、その部分
は外部の自然光やバックライト光が当たらなくなる。遮
光膜BMは第6図のハツチング部分で示すように9画素
の周囲に形成され、つまり遮光膜BMは格子状に形成さ
れ(ブラックマトリクス)、この格子で1画素の有効表
示領域が仕切られている。したがって、各画素の輪郭が
遮光膜BMによってはっきりとし、コントラストが向上
する。つまり、遮光膜BMはi型半導体層ASに対する
遮光とブラックマトリクスとの2つの機能をもつ。 なお、バックライトを上部透明ガラス基板5UB2側に
取り付け、下部透明ガラス基板5UBIを観察側(外部
露出側)とすることもできる。 (共通透明画素電極ITO2> 共通透明画素電極ITO2は、下部透明ガラス基板5U
BI側に画素毎に設けられた透明画素電極ITO1bに
対向し、液晶LCの光学的な状態は各画素電極IT○1
bと共通透明画素電極LTO2との間の電位差(電界)
に応答して変化する。 この共通透明画素電極ITO2にはコモン電圧Vco園
が印加されるように構成されている。コモン電圧Vco
mは映像信号gDLに印加されるロウレベルの駆動電圧
V d 1IIinとハイレベルの駆動電圧V d w
axとの中間電位である。 (カラーフィルタF I L) カラーフィルタFILはアクリル樹脂等の樹脂材料で形
成される染色基材に染料を着色して構成されている。カ
ラーフィルタFILは画素に対向する位置に各画素毎に
ドツト状に形成され(第7図)、染め分けられている、
(第7図は第3A図の第4導電膜層d4とカラーフィル
タFILのみを描いたもので、R,G、Bの各カラーフ
ィルターFILはそれぞれ、45’ 135°、ク
ロスのハツチを施しである)、カラーフィルタFILは
第6図に示すように透明画素電極ITO1b (El〜
E3)の全てを覆うように太き目に形成され、遮光膜B
MはカラーフィルタFILおよび透明画素電極ITO1
bのエツジ部分と重なるよう透明画素電極ITO1bの
周縁部より内側に形成されている。 カラーフィルタFILは次のように形成することができ
る。まず、上部透明ガラス基板5UB2の表面に染色基
材を形成し、フォトリソグラフィ技術で赤色フィルタ形
成領域以外の染色基材を除去する。この後、染色基材を
赤色染料で染め、固着処理を施し、赤色フィルタRを形
成する。つぎに、同様な工程を施すことによって、緑色
フィルタG、青色フィルタBを順次形成する。 (保護DIP S V 2> 保護膜PSV2はカラーフィルタFILを異なる色に染
め分けた染料が液晶LCに漏れることを防止するために
設けられている。保護膜PSV2はたとえばアクリル樹
脂、エポキシ樹脂等の透明樹脂材料で形成されている。 (画素配列) 液晶表示部の各画素は、第3A図および第7図に示すよ
うに、走査信号線GLが延在する方向と同一列方向に複
数配置され、画素列Xi、X2゜X3.X4.・・・の
それぞれを構成している。各画素列Xi、X2.X3.
X4.・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジスタT
FTI〜TFT3および分割透明画素電極E1〜E3の
配置位置を同一に構成している。つまり、奇数画素列X
i、X3゜・・・のそれぞれの画素は、薄膜トランジス
タTPT1〜T P T署3の配Pη位旨kt−1側、
分割透明画素電極E1=E3の配置位置を右側に構成し
ている。 奇数画素列X1.、X、3.・・・のぞれrれの行方向
の藺りの偶数画素列X2.、X4.、・・・の(・れぞ
tbの画素は、奇数画素列XI、X3.・・・のそれぞ
れ(7)画素を映像信号線D Lの延在方向壱−基準に
して線、)1゛称でひっくり返した両察で構成ざ71、
°Cいる。すなJ、ち、画素列X2.X−1,・・・の
それぞれの画素は、薄膜]・ランジスタ゛r F T
3〜TFT3の配置位置を::<J側、透明画素電相T
J l−−−E 3の配置位置を左側に構成1.ている
、そI、τ”、画素列X2.X4゜・・・のそれぞれの
画素は、画素列Xi、X3、・・・のそれぞれの画素1
.:1月し、列方向に牢画素間隔移動さ且′τ(ずら1
,7て)酩酊’M J”!−ている。つまり、画素列X
の名画素間隔を1゜O(X、aピッ、・チ)とすると、
次段の画素列X1大、各@列間隔を1.0と191、前
段の画素列ンロJ対して列方向に0.5画素間隔(0,
5ピツチ)ずれている。各画素同名行方向に延在”する
映像信号線1)1.は、名画素列X間において、半画素
間M勺(0,5ピツチ分)列方向に延在11ろように構
成% 、tl、、ている。 その結果、第7図に示すように、前段の画素列Xの所定
色フYルタが形成された画素(たと六(、r、画素列X
3の赤色フィルタXくが形成された1jii崇)ど次段
の画素列Xの同一色フィルタが形成ざオした画素(たど
えば、画素列X4の赤色フィルタRが形成さ九た画素)
とが1.5画素間隔(1,5ピツチ)#隔声れ、またR
G BのカラーフィルりFILは二F角形配置2・な
る。カラーノ、イルタFI丁、のRGI3の二そ角形配
置構造は、各色のp、色を良くする−どができるので、
カラー画像のM像度を向+4”bごとができる9 Sゴー1、映像信号線1) I、は5各画素列XQI冒
−j?いで、半画素間隔分しフ)゛・列方1#i、lに
延在しない0)T、”。 隣接する映像信号線I”)1.2−交差L 乃”、 く
なる。【5、たがって、映像48号線D〕、の引き回1
.3なくシ、その占有面積を但、減する、二とができ、
また映像信号創;D Lの迂回をなく17、多層配線構
造を廃+1・する1・゛とができる。 (表示装置全体等価回路) この液晶表示装置の等価回路を第13回に示イ″、4X
iG、Xi→】(′弓 ・・・は、緑色フィルタGが形
成される画素に接続されシー映像信号線D■1でおる9
X′i、 13 * X 1(−I B +・・・1プ
1、青色フィル々13が形成される両iυユ接続された
映像信(づ・綜D T−、である。 X j、 −1−、I R、X i + 2 R、・・
・は、赤色5ノイルりRが形成、される画素に接続さ九
た映像借汗縁1)
【、eある。これらの映像11号線D
Lは、映像ff1号即押ノ回路で選択さオ]5る。Y
iは第3A図および第7図に示す画素列XIを選択する
走査イ【呼線G’Lである、同様に、Y z + 1
r ’i’ xi、 + 2 +・・のぞ′JA、ぞi
+。 は1画素列X2.X3.・・・のそれぞJt、を選択す
る走査信号線G Lである。こわ、らの走査信号線GL
14垂直走査回路に接続されている。 (保持容量素“f−Caddの構造) 分割透明画ヌミ電極E 1−・E3のキ扛ぞれは、簿膜
ト・ランジスタTFTと接続さJしる端部ど反対側の端
部においで、船林膜CE I上に形成された透明補助電
極TTO1aど重なるよう7■−2字状に屈拓1、、、
’1″′形成さ剛1、τいる。この重ね合わせは、第
2c図か1′、も明らかなように 分割透明「・η7M
電極El〜E3の7−れ、それを一方の電極P丁、2と
1.1、透明補助電極I T O]、 aを他方の電極
P L 1とする保持容量素子(静電容量素子)C+1
dclを構成しでいる。透明補助電極I ’T’ 01
sは銀ぺ・−・スト材S Lを介して共通透明画素電
極I −1” 02 (”Vcoq ) bこ接1す]
、ており、保持容量素子Caddの誘電体膜は、保護膜
P S V 3と同一・層で構成さJ〕、ている。 このように、保持容量素子Caddの電極P 1.、、
i、PL2が透明補助電極TT○1a、分割透明画素
i、極El〜fり3から構成され、て二いるから、保持
容量素子Caddの保持容置を人きくシ六−どしても9
開口率が小さくなることはな))ので、両面が明るくな
り、しかも透明補助電極I TO1aは共通透明画素1
i極ITO2いr can ) !−,接続され、でお
り、走査信号線a r、 i、二は接続さ21でいない
から、ゲ・−I−耶動装rに犬ぎう・負荷が作用するこ
とがないθ)で、ゲーt−即a電圧を大きくする必要が
な1)、また、透明補助電極NTO1aが格子状でaる
から、透明補助電極N T 01. aの抵抗が小さく
なるので、保持容量素子Caddの作用が確実となる。 さらに、透明補助電極ITO1aとソース電極SDI、
ドレイン電極SD2を構成する導電膜とを同一の第1導
電膜d1で構成するから、製造工程が簡単であるので、
製造コストが安価であるとともに、保護膜PSVIにス
ルーホールC0NTを設けるときに、保護膜PSVIと
ともにN+型半導体層dOが除去されるのを防止するこ
とができる。すなわち、N+型半導体層do上に第1導
電膜d1を設けないときには、保護膜PSVIとN+型
半導体層dOとの選択エツチングを行なうことができな
いので(保護膜PSVIの窒化シリコンのエツチング液
は非晶質シリコンも溶かしてしまう。選択比が良くない
、)、保護膜PSV1にスルーホー/L/C0NTを設
けるときに、保護IPJPsV1とともにN+型半導体
層doが除去されてしまうが、N+型半導体層do上に
第1導電膜d1を設けたときには、N4″型半導体層c
loが除去されるのを防止することができる。また、保
持容量素子Caddの誘電体膜を保護膜PSVIと同−
膜で構成するから、製造工程が簡単であるので、製造コ
ストが安価である。さらに、分割透明画素電極E1〜E
3とソース電極SD1とを保護膜PSV]に設けられた
スルーホールC0NTを介して接続して1分割透明画素
電極E1〜E3を保護膜PSvl上に設けているから1
分割透明画素電極E1〜E3と共通透明画素電極ITO
2との間に保護膜PSVIは存在しないから、液晶LC
に作用する電界を大きくすることができるので、言い換
えればゲート駐動電圧を下げることができる。 また、上述のスルーホールC0NTの形成は、表示マト
リクス周辺の外部接続端子部を露出する工程と同時にで
きるので、そのために工程数やフォトマスクの枚数を増
やさなくともよい。 (保持容量素子Caddの等価回路とその動作)第1図
に示される画素の等価回路を第9図に示す、第9図にお
いて、Cgsは薄膜トランジスタTPTのゲート電極G
Tとソース電極SD1との間に形成される寄生容量であ
る。寄生容量Cgsの誘電体膜は絶縁膜GIである。
Cpixは透明画素電極ITO1b (PIX)と共通
透明画素電極IT○2 (COM)との間に形成される
液晶容量である。液晶容量Cpixの誘電体膜は液晶L
Cおよび配向膜0RI1.○RI2である。Vlcは中
点電位である。 保持容量素子Caddは、薄膜トランジスタTPTがス
イッチングするとき、中点電位(画素電極電位)Vlc
に対するゲート電位変化ΔVgの影響を低減するように
働く、この様子を式で表すと、次式のようになる。 ΔVle= (Cgs/(Cgs+Cadd+Cpix
))XΔvgここで、ΔVlcはΔVgによる中点電位
の変化分を表わす、この変化分ΔVlcは液晶LCに加
わる直流成分の原因となるが、保持容量Caddを大き
くすればする程、その値を小さくすることができる。ま
た、保持容量素子Caddは放電時間を長くする作用も
あり、薄膜トランジスタTPTがオフした後の映像情報
を長く蓄積する。液晶LCに印加される直流成分の低減
は、液晶LCの寿命を向上し、液晶表示画面の切り替え
時に前の画像が残るいわゆる焼き付きを低減することが
できる。 前述したように、ゲート電極GTはi型半導体層ASを
完全に覆うよう大きくされている分、ソース電極SD1
、ドレイン電極SD2とのオーバラップ面積が増え、し
たがって寄生容量Cgsが大きくなり、中点電位Vlc
はゲート(走査)信号Vgの影響を受は易くなるという
逆効果が生じる。 しかし、保持容量素子Caddを設けることによりこの
デメリットも解消することができる。 保持容量素子Caddの保持容量は、画素の書込特性か
ら、液晶容fcpixに対して4〜8倍(4・Cpix
< Cadd< 8 ・Cpix) 、重ね合わせ容量
Cgsに対して8〜32倍(8・Cgs< Cadd<
32・Cgs)程度の値に設定する。 つぎに、第10図により第1図〜第9図に示した液晶表
示装置の製造方法について説明する。まず、第10図(
a)に示すように、7059ガラス(商品名)からなる
下部透明ガラス基板5UBI上に膜厚が1100[人コ
のクロムからなる第1導電膜g1をスパッタリングによ
り設ける。つぎに、第]フォ1へ(フォト・レジスト塗
布、露光等の′グ真処理)を行なったのち、エツチング
液として硝酸第2セリウムアンモニウム溶液を使用し、
で、第1導電膜g1を選択的にエツチングすることによ
っT、走査信号線G Lの第11M、ゲート電極GTを
パターニングする。つぎに、レジス1−を剥離液550
2(商品名)で除去したのち、0.アッシャ−を1分間
行なう。つぎに、膜厚が1000[人]のアルミニウム
ーパラジウム、アルミニウムーシリコン、アルミニウム
ーシリコンーヂタン、アルミニウムーシリコン−絹等か
らなる@22導電股2をスパッタリングにより設ける。 つぎに、第2フオトを行なったのち、エツチング液どし
てリン酸と硝酸と酢酸との混酸を使用して、第2導電股
g2を選択的にエツチングすることに、J:す、走査信
号線GLの第2Mをパターニングする。つぎに、ドライ
エツチング装置にSF、Bガスを導入して、シリコン等
の残渣を除去したのち、L/レジスト除去する。つぎに
、第10図(1))に示すように、プラズマCVD装置
にアンモニアガス、シランガス、窒素ガスを導入しで、
膜厚が3500[人コの窒化シ11コンII!A G
Iを設け、プラズマCVD装置にシランガス、水素ガス
を導入して、膜厚が2100[入]の]型Il1品質シ
リコン膜ASt!:設けたのち、プラズマCVD装置に
水素ガス、ホスフィンガスを導入して、膜厚が300[
人]のN+型シリコン膜doを連続的に成長させる。つ
ぎに、第10図(C〕)に示すように、@3フォトを行
なったのち、ドライエツチングガスとしてSFs、CC
l24を使用して、N+型シリコン膜、j型非晶質シリ
コン膜を選択的にJ、ツチングすることにより、j型半
導体JF7ASをバタ・−ニングする。゛つぎに、レジ
ス[・を除去し、第4)第1・・を行なったのち、ドラ
イエツチングガスとしてSF、を使用して、71−リク
ス周辺の列部接続端子部(ゲ・−1・端子部)等の窒化
シIIコン膜を選択的にエツチングすることによって、
紛糾Bc Iをパターニングする、つぎに、第10If
fl(d)に示すように、1ノジストを除去したのぢ、
膜厚が1200[人]のITO股からなる第1導電膜d
〕をスパッタリングにより設けるゆ′つぎに、第5フオ
トを行なったのぢ、エツチング液として塩酸と硝酸との
混酸を使用t、2て、第1導電膜d1を選択的にエツチ
ングすることにより、ソース電極SD1、ドレイン電極
SD2の第1−層および透明補助電極IT○】aをパタ
ーニングする。つぎに、レジストを除去する前に、ドラ
イエツチング装置にCeO2,SF、を導入して、N+
型シリコン膜を選択的にエツチングすることにより、N
+型半導体層doをパターニングするいつぎに、第10
図(c)に示すように、レジストを除去したのち、プラ
ズマCVD装置にアンモニアガス、シランガス、窒素ガ
スを導入して、膜厚が1[/Jll:lの窒化シリコン
膜PSVIを設ける。つぎに、第6フオトを行なったの
ち、ドライエツチングガスどしてS F G k使用し
て、窒化シリコン膜を選択的にエツチングすることによ
って、保護[PSVlをパターニングするとともに、保
護膜PSVIにスルーホールC0NTを設ける。このと
き、N+型非晶質シリコン層は透明導電WA、dlで保
護されているため、エツチングされることはない。つぎ
に、第10図(f)に示すように、レジストを除去した
のち、膜厚が1200[人]のITO膜からなる第4導
電膜d4をスパッタリングにより設ける。つぎに、第7
フオト・を行なったのち、エツチング液と1.て塩酸と
硝酸との混酸を使用し5て、第4感電膜d4を選択的&
こエツチングすることにより、映像信号IDLの第1層
、ソース電極SDI、ドレイン電極SD2の第2層およ
び透明画素電極I TOi +)をパターニングする。 つぎに、第10図(匹)に示すように、レジストを除去
したのち、膜厚が600[人]のクロムからなる第2導
電膜d2をスパッタリングにより形成する。つぎに、第
8フオトを行なったのち、エツチング液として硝酸第2
セリウムアンモニウム溶液を使用し″(、第2導電膜d
2を選択的にエツチングすることにより、映像信号線D
Lの第2M、ドレイン電極SD2の第3層をパターニン
グする。つぎに、レジストを除去したのち、02アッシ
ャ−を1分間行なう。つぎに、第10図(11)に示す
ように、膜厚が3500[人]のアルミニウムーパラジ
ウム、アルミニウムーシリコン、アルミニウムーシリコ
ン−チタン、アルミニウムーシリコン−銅等からなる第
3導電膜d3をスパッタリングにより形成する。つぎに
、第9フオトを行なったのち、エツチング液としてリン
酸と硝酸と酢酸との混酸を使用して、第3導電1d3を
選択的にエツチングすることにより、映像信号線DLの
第3層、ソース電極SDIの第4層をパターニングする
。つぎに、レジストを除去したのち、02アッシャ−を
1分間行なう。 第11A図はこの発明が適用される他のアクティブ・マ
トリクス方式カラー液晶表示装置の一画素とその周辺を
示す平面図、第11B図は第11A図の一部拡大図であ
る。この液晶表示装置においては、走査信号線GLが第
1導電膜g1のみから構成されている。また、ソース電
極SDI、ドレイン電極SD2は、保護膜PSVI、第
1導電膜d1に設けられたスルーホールC0NTを介し
てN4″型半導体層doと接続された第2導電膜d2と
、第2導電膜d2上に重ね合わされた第3導電膜d3、
第4導電膜d4とで構成されている。 つぎに、第12図により第11A図、第11B図に示し
た液晶表示装置の製造方法について説明する。まず、第
12図(a)に示すように、下部透明ガラス基板5UB
I上に第1導電膜g1をスパッタリングにより設ける。 つぎに、第1フオトを行なったのち、第1導電膜g1を
選択的にエツチングすることによって、走査信号線OL
、グー1〜電極GTをパターニングする。つぎに、第1
2図(b)に示すように、プラズマCVD装置により窒
化シリコン膜、i型非晶質シリコン膜、N+型シリコン
膜を連続して設ける。つぎに、第12図(c)に示すよ
うに、第2フオトを行なったのち、N”型シリコン膜、
i型非晶質シリコン膜を選択的にエツチングすることに
より、i型半導体層ASをパターニングする。つぎに、
第3フオトを行なったのち、窒化シリコン膜を選択的に
エツチングすることによって、絶縁膜Glをパターニン
グする。つぎに、第12図(d)に示すように、第1導
電膜diをスパッタリングにより設ける。つぎに、第4
フオトを行なったのち、第1導電膜d1を選択的にエツ
チングすることにより、透明補助電極IT01aをパタ
ーニングするとともに、第1導電膜d1をソース電極S
D1.ドレイン電極SDZ部に残すようにパターニング
する。つぎに、レジストを除去する前に、N+型シリコ
ン膜を選択的にエツチングすることにより、N+型半導
体層dOをパターニングする。つぎに、第12図(e)
に示すように、プラズマCVD装置により窒化シリコン
膜を設ける。つぎに、第5フオトを行なったのち、窒化
シリコン膜を選択的にエツチングすることによって、保
護膜PSVIをパターニングするとともに、保護膜PS
VIにスルーホールC0NTを設け、さらに保護膜PS
v1のパターンをマスクにして第1導電膜d1を選択的
にエツチングすることによって、スルーホール部C0N
Tの第1導電膜d1を除去する。つぎに、第12図(f
)に示すように、第2導電膜d2をスパッタリングによ
り形成する。つぎに、第6フオトを行なったのち、第2
導電膜d2を選択的にエツチングすることにより、映像
信号線DL、ソース電極SDI、ドレイン電極SD2の
第1層をパターニングする。つぎに、第12図(g)に
示すように、第3導電膜d3をスパッタリングにより設
ける。つぎに、第7フオトを行なったのち、第3導電膜
d3を選択的にエツチングすることにより。 映像信号線DL、ソース電極SDI、ドレイン電極SD
2の第2層をパターニングする。つぎに、第12図(h
)に示すように、第4導電膜d4をスパッタリングによ
り設ける。つぎに、第8フオトを行なったのち、第4導
電膜d4を選択的にエツチングすることにより、映像信
号線DL、ソース電極SDI、ドレイン電極SD2の第
3層および透明画素電極ITO1bをパターニングする
。 以上、本発明者によってなされた発明を、前記実施例に
基づき具体的に説明したが、この発明は、前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々変更可能であることは勿論である。
Lは、映像ff1号即押ノ回路で選択さオ]5る。Y
iは第3A図および第7図に示す画素列XIを選択する
走査イ【呼線G’Lである、同様に、Y z + 1
r ’i’ xi、 + 2 +・・のぞ′JA、ぞi
+。 は1画素列X2.X3.・・・のそれぞJt、を選択す
る走査信号線G Lである。こわ、らの走査信号線GL
14垂直走査回路に接続されている。 (保持容量素“f−Caddの構造) 分割透明画ヌミ電極E 1−・E3のキ扛ぞれは、簿膜
ト・ランジスタTFTと接続さJしる端部ど反対側の端
部においで、船林膜CE I上に形成された透明補助電
極TTO1aど重なるよう7■−2字状に屈拓1、、、
’1″′形成さ剛1、τいる。この重ね合わせは、第
2c図か1′、も明らかなように 分割透明「・η7M
電極El〜E3の7−れ、それを一方の電極P丁、2と
1.1、透明補助電極I T O]、 aを他方の電極
P L 1とする保持容量素子(静電容量素子)C+1
dclを構成しでいる。透明補助電極I ’T’ 01
sは銀ぺ・−・スト材S Lを介して共通透明画素電
極I −1” 02 (”Vcoq ) bこ接1す]
、ており、保持容量素子Caddの誘電体膜は、保護膜
P S V 3と同一・層で構成さJ〕、ている。 このように、保持容量素子Caddの電極P 1.、、
i、PL2が透明補助電極TT○1a、分割透明画素
i、極El〜fり3から構成され、て二いるから、保持
容量素子Caddの保持容置を人きくシ六−どしても9
開口率が小さくなることはな))ので、両面が明るくな
り、しかも透明補助電極I TO1aは共通透明画素1
i極ITO2いr can ) !−,接続され、でお
り、走査信号線a r、 i、二は接続さ21でいない
から、ゲ・−I−耶動装rに犬ぎう・負荷が作用するこ
とがないθ)で、ゲーt−即a電圧を大きくする必要が
な1)、また、透明補助電極NTO1aが格子状でaる
から、透明補助電極N T 01. aの抵抗が小さく
なるので、保持容量素子Caddの作用が確実となる。 さらに、透明補助電極ITO1aとソース電極SDI、
ドレイン電極SD2を構成する導電膜とを同一の第1導
電膜d1で構成するから、製造工程が簡単であるので、
製造コストが安価であるとともに、保護膜PSVIにス
ルーホールC0NTを設けるときに、保護膜PSVIと
ともにN+型半導体層dOが除去されるのを防止するこ
とができる。すなわち、N+型半導体層do上に第1導
電膜d1を設けないときには、保護膜PSVIとN+型
半導体層dOとの選択エツチングを行なうことができな
いので(保護膜PSVIの窒化シリコンのエツチング液
は非晶質シリコンも溶かしてしまう。選択比が良くない
、)、保護膜PSV1にスルーホー/L/C0NTを設
けるときに、保護IPJPsV1とともにN+型半導体
層doが除去されてしまうが、N+型半導体層do上に
第1導電膜d1を設けたときには、N4″型半導体層c
loが除去されるのを防止することができる。また、保
持容量素子Caddの誘電体膜を保護膜PSVIと同−
膜で構成するから、製造工程が簡単であるので、製造コ
ストが安価である。さらに、分割透明画素電極E1〜E
3とソース電極SD1とを保護膜PSV]に設けられた
スルーホールC0NTを介して接続して1分割透明画素
電極E1〜E3を保護膜PSvl上に設けているから1
分割透明画素電極E1〜E3と共通透明画素電極ITO
2との間に保護膜PSVIは存在しないから、液晶LC
に作用する電界を大きくすることができるので、言い換
えればゲート駐動電圧を下げることができる。 また、上述のスルーホールC0NTの形成は、表示マト
リクス周辺の外部接続端子部を露出する工程と同時にで
きるので、そのために工程数やフォトマスクの枚数を増
やさなくともよい。 (保持容量素子Caddの等価回路とその動作)第1図
に示される画素の等価回路を第9図に示す、第9図にお
いて、Cgsは薄膜トランジスタTPTのゲート電極G
Tとソース電極SD1との間に形成される寄生容量であ
る。寄生容量Cgsの誘電体膜は絶縁膜GIである。
Cpixは透明画素電極ITO1b (PIX)と共通
透明画素電極IT○2 (COM)との間に形成される
液晶容量である。液晶容量Cpixの誘電体膜は液晶L
Cおよび配向膜0RI1.○RI2である。Vlcは中
点電位である。 保持容量素子Caddは、薄膜トランジスタTPTがス
イッチングするとき、中点電位(画素電極電位)Vlc
に対するゲート電位変化ΔVgの影響を低減するように
働く、この様子を式で表すと、次式のようになる。 ΔVle= (Cgs/(Cgs+Cadd+Cpix
))XΔvgここで、ΔVlcはΔVgによる中点電位
の変化分を表わす、この変化分ΔVlcは液晶LCに加
わる直流成分の原因となるが、保持容量Caddを大き
くすればする程、その値を小さくすることができる。ま
た、保持容量素子Caddは放電時間を長くする作用も
あり、薄膜トランジスタTPTがオフした後の映像情報
を長く蓄積する。液晶LCに印加される直流成分の低減
は、液晶LCの寿命を向上し、液晶表示画面の切り替え
時に前の画像が残るいわゆる焼き付きを低減することが
できる。 前述したように、ゲート電極GTはi型半導体層ASを
完全に覆うよう大きくされている分、ソース電極SD1
、ドレイン電極SD2とのオーバラップ面積が増え、し
たがって寄生容量Cgsが大きくなり、中点電位Vlc
はゲート(走査)信号Vgの影響を受は易くなるという
逆効果が生じる。 しかし、保持容量素子Caddを設けることによりこの
デメリットも解消することができる。 保持容量素子Caddの保持容量は、画素の書込特性か
ら、液晶容fcpixに対して4〜8倍(4・Cpix
< Cadd< 8 ・Cpix) 、重ね合わせ容量
Cgsに対して8〜32倍(8・Cgs< Cadd<
32・Cgs)程度の値に設定する。 つぎに、第10図により第1図〜第9図に示した液晶表
示装置の製造方法について説明する。まず、第10図(
a)に示すように、7059ガラス(商品名)からなる
下部透明ガラス基板5UBI上に膜厚が1100[人コ
のクロムからなる第1導電膜g1をスパッタリングによ
り設ける。つぎに、第]フォ1へ(フォト・レジスト塗
布、露光等の′グ真処理)を行なったのち、エツチング
液として硝酸第2セリウムアンモニウム溶液を使用し、
で、第1導電膜g1を選択的にエツチングすることによ
っT、走査信号線G Lの第11M、ゲート電極GTを
パターニングする。つぎに、レジス1−を剥離液550
2(商品名)で除去したのち、0.アッシャ−を1分間
行なう。つぎに、膜厚が1000[人]のアルミニウム
ーパラジウム、アルミニウムーシリコン、アルミニウム
ーシリコンーヂタン、アルミニウムーシリコン−絹等か
らなる@22導電股2をスパッタリングにより設ける。 つぎに、第2フオトを行なったのち、エツチング液どし
てリン酸と硝酸と酢酸との混酸を使用して、第2導電股
g2を選択的にエツチングすることに、J:す、走査信
号線GLの第2Mをパターニングする。つぎに、ドライ
エツチング装置にSF、Bガスを導入して、シリコン等
の残渣を除去したのち、L/レジスト除去する。つぎに
、第10図(1))に示すように、プラズマCVD装置
にアンモニアガス、シランガス、窒素ガスを導入しで、
膜厚が3500[人コの窒化シ11コンII!A G
Iを設け、プラズマCVD装置にシランガス、水素ガス
を導入して、膜厚が2100[入]の]型Il1品質シ
リコン膜ASt!:設けたのち、プラズマCVD装置に
水素ガス、ホスフィンガスを導入して、膜厚が300[
人]のN+型シリコン膜doを連続的に成長させる。つ
ぎに、第10図(C〕)に示すように、@3フォトを行
なったのち、ドライエツチングガスとしてSFs、CC
l24を使用して、N+型シリコン膜、j型非晶質シリ
コン膜を選択的にJ、ツチングすることにより、j型半
導体JF7ASをバタ・−ニングする。゛つぎに、レジ
ス[・を除去し、第4)第1・・を行なったのち、ドラ
イエツチングガスとしてSF、を使用して、71−リク
ス周辺の列部接続端子部(ゲ・−1・端子部)等の窒化
シIIコン膜を選択的にエツチングすることによって、
紛糾Bc Iをパターニングする、つぎに、第10If
fl(d)に示すように、1ノジストを除去したのぢ、
膜厚が1200[人]のITO股からなる第1導電膜d
〕をスパッタリングにより設けるゆ′つぎに、第5フオ
トを行なったのぢ、エツチング液として塩酸と硝酸との
混酸を使用t、2て、第1導電膜d1を選択的にエツチ
ングすることにより、ソース電極SD1、ドレイン電極
SD2の第1−層および透明補助電極IT○】aをパタ
ーニングする。つぎに、レジストを除去する前に、ドラ
イエツチング装置にCeO2,SF、を導入して、N+
型シリコン膜を選択的にエツチングすることにより、N
+型半導体層doをパターニングするいつぎに、第10
図(c)に示すように、レジストを除去したのち、プラ
ズマCVD装置にアンモニアガス、シランガス、窒素ガ
スを導入して、膜厚が1[/Jll:lの窒化シリコン
膜PSVIを設ける。つぎに、第6フオトを行なったの
ち、ドライエツチングガスどしてS F G k使用し
て、窒化シリコン膜を選択的にエツチングすることによ
って、保護[PSVlをパターニングするとともに、保
護膜PSVIにスルーホールC0NTを設ける。このと
き、N+型非晶質シリコン層は透明導電WA、dlで保
護されているため、エツチングされることはない。つぎ
に、第10図(f)に示すように、レジストを除去した
のち、膜厚が1200[人]のITO膜からなる第4導
電膜d4をスパッタリングにより設ける。つぎに、第7
フオト・を行なったのち、エツチング液と1.て塩酸と
硝酸との混酸を使用し5て、第4感電膜d4を選択的&
こエツチングすることにより、映像信号IDLの第1層
、ソース電極SDI、ドレイン電極SD2の第2層およ
び透明画素電極I TOi +)をパターニングする。 つぎに、第10図(匹)に示すように、レジストを除去
したのち、膜厚が600[人]のクロムからなる第2導
電膜d2をスパッタリングにより形成する。つぎに、第
8フオトを行なったのち、エツチング液として硝酸第2
セリウムアンモニウム溶液を使用し″(、第2導電膜d
2を選択的にエツチングすることにより、映像信号線D
Lの第2M、ドレイン電極SD2の第3層をパターニン
グする。つぎに、レジストを除去したのち、02アッシ
ャ−を1分間行なう。つぎに、第10図(11)に示す
ように、膜厚が3500[人]のアルミニウムーパラジ
ウム、アルミニウムーシリコン、アルミニウムーシリコ
ン−チタン、アルミニウムーシリコン−銅等からなる第
3導電膜d3をスパッタリングにより形成する。つぎに
、第9フオトを行なったのち、エツチング液としてリン
酸と硝酸と酢酸との混酸を使用して、第3導電1d3を
選択的にエツチングすることにより、映像信号線DLの
第3層、ソース電極SDIの第4層をパターニングする
。つぎに、レジストを除去したのち、02アッシャ−を
1分間行なう。 第11A図はこの発明が適用される他のアクティブ・マ
トリクス方式カラー液晶表示装置の一画素とその周辺を
示す平面図、第11B図は第11A図の一部拡大図であ
る。この液晶表示装置においては、走査信号線GLが第
1導電膜g1のみから構成されている。また、ソース電
極SDI、ドレイン電極SD2は、保護膜PSVI、第
1導電膜d1に設けられたスルーホールC0NTを介し
てN4″型半導体層doと接続された第2導電膜d2と
、第2導電膜d2上に重ね合わされた第3導電膜d3、
第4導電膜d4とで構成されている。 つぎに、第12図により第11A図、第11B図に示し
た液晶表示装置の製造方法について説明する。まず、第
12図(a)に示すように、下部透明ガラス基板5UB
I上に第1導電膜g1をスパッタリングにより設ける。 つぎに、第1フオトを行なったのち、第1導電膜g1を
選択的にエツチングすることによって、走査信号線OL
、グー1〜電極GTをパターニングする。つぎに、第1
2図(b)に示すように、プラズマCVD装置により窒
化シリコン膜、i型非晶質シリコン膜、N+型シリコン
膜を連続して設ける。つぎに、第12図(c)に示すよ
うに、第2フオトを行なったのち、N”型シリコン膜、
i型非晶質シリコン膜を選択的にエツチングすることに
より、i型半導体層ASをパターニングする。つぎに、
第3フオトを行なったのち、窒化シリコン膜を選択的に
エツチングすることによって、絶縁膜Glをパターニン
グする。つぎに、第12図(d)に示すように、第1導
電膜diをスパッタリングにより設ける。つぎに、第4
フオトを行なったのち、第1導電膜d1を選択的にエツ
チングすることにより、透明補助電極IT01aをパタ
ーニングするとともに、第1導電膜d1をソース電極S
D1.ドレイン電極SDZ部に残すようにパターニング
する。つぎに、レジストを除去する前に、N+型シリコ
ン膜を選択的にエツチングすることにより、N+型半導
体層dOをパターニングする。つぎに、第12図(e)
に示すように、プラズマCVD装置により窒化シリコン
膜を設ける。つぎに、第5フオトを行なったのち、窒化
シリコン膜を選択的にエツチングすることによって、保
護膜PSVIをパターニングするとともに、保護膜PS
VIにスルーホールC0NTを設け、さらに保護膜PS
v1のパターンをマスクにして第1導電膜d1を選択的
にエツチングすることによって、スルーホール部C0N
Tの第1導電膜d1を除去する。つぎに、第12図(f
)に示すように、第2導電膜d2をスパッタリングによ
り形成する。つぎに、第6フオトを行なったのち、第2
導電膜d2を選択的にエツチングすることにより、映像
信号線DL、ソース電極SDI、ドレイン電極SD2の
第1層をパターニングする。つぎに、第12図(g)に
示すように、第3導電膜d3をスパッタリングにより設
ける。つぎに、第7フオトを行なったのち、第3導電膜
d3を選択的にエツチングすることにより。 映像信号線DL、ソース電極SDI、ドレイン電極SD
2の第2層をパターニングする。つぎに、第12図(h
)に示すように、第4導電膜d4をスパッタリングによ
り設ける。つぎに、第8フオトを行なったのち、第4導
電膜d4を選択的にエツチングすることにより、映像信
号線DL、ソース電極SDI、ドレイン電極SD2の第
3層および透明画素電極ITO1bをパターニングする
。 以上、本発明者によってなされた発明を、前記実施例に
基づき具体的に説明したが、この発明は、前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々変更可能であることは勿論である。
以上説明したように、この発明に係る液晶表示装置にお
いC゛は、保持台り素子の他方の電極を薄膜1へ”ンシ
′ジスタのゲート維m膜としで使用す4シる糺1絋膜±
1こ設けられか゛コ共道画素電極と接続された透明導電
膜で構成するから、保持容量素子の保持8斌を大きくし
たどしで1+ 、開[−1率が小さく心・ることはない
ので5画面が明S<なり、またゲ・−+−1!ili動
装置に大きな負荷が作用することがないので、ゲ・−1
・叶動電圧存大きくぐる必要がない。 この場合、保持容量素子の他方の電極を格子状に設置i
れば、保持容量素子の仙、方の電極の抵抗が小さくなる
ので、保持容量素子の作用が確実とな・ふ。 また、保持容量素子の他方の電極をソース電極、ドレイ
ン電極も:構成する透明導電収と同−膜′C構成するか
ら、製造、T−程が簡単てピあるので、製造コストが安
価である、 さらに、保持容量素子の誘電体膜を保護膜と同−膜で構
成するから、製造工程が簡単であるので。 製造コス!・が安価である。 また、画素電極を保護膜1に設け1.′の揚合轟、−匝
素電(マjしご一ノー スミ極どを保訴膜I’−17,
けJ二)第1.た′、ルーポ・−ルを介して接続慢イl
t 、tl、(f:、液晶にイT用ずパz7Bを大き
くすることができるので、ゲー・1・赴動電圧を人きく
する必要がない。 このように、この発明の効果ii顕茗1゛ある、
いC゛は、保持台り素子の他方の電極を薄膜1へ”ンシ
′ジスタのゲート維m膜としで使用す4シる糺1絋膜±
1こ設けられか゛コ共道画素電極と接続された透明導電
膜で構成するから、保持容量素子の保持8斌を大きくし
たどしで1+ 、開[−1率が小さく心・ることはない
ので5画面が明S<なり、またゲ・−+−1!ili動
装置に大きな負荷が作用することがないので、ゲ・−1
・叶動電圧存大きくぐる必要がない。 この場合、保持容量素子の他方の電極を格子状に設置i
れば、保持容量素子の仙、方の電極の抵抗が小さくなる
ので、保持容量素子の作用が確実とな・ふ。 また、保持容量素子の他方の電極をソース電極、ドレイ
ン電極も:構成する透明導電収と同−膜′C構成するか
ら、製造、T−程が簡単てピあるので、製造コストが安
価である、 さらに、保持容量素子の誘電体膜を保護膜と同−膜で構
成するから、製造工程が簡単であるので。 製造コス!・が安価である。 また、画素電極を保護膜1に設け1.′の揚合轟、−匝
素電(マjしご一ノー スミ極どを保訴膜I’−17,
けJ二)第1.た′、ルーポ・−ルを介して接続慢イl
t 、tl、(f:、液晶にイT用ずパz7Bを大き
くすることができるので、ゲー・1・赴動電圧を人きく
する必要がない。 このように、この発明の効果ii顕茗1゛ある、
第1図はこの発明が適用さ才l、るアタラ“イ′ブ・−
・1−リック入方式のカラー液晶表ボ装百の液晶表η、
部の一画素を示す要部平FmJ図、第2Aし1:は第L
1図の・−・部拡人図、第2 B図は箱1r−#、第シ
ュA1シ]のIIT3・−IN B切断線で切った部分
とジ・−ルミ族辺部;′、)断面図、第2C図は第」2
図のn C−11C(ダ[Q線りにあ用る断面図、第3
A図は第1″Lき」にjj、’1画素売複数配衡しノー
、液晶表示部の要m(平1)7j図、!4′″¥;31
3回は第を回の紹1導電膜d1のみを拍′1い7”x平
inj図、第4図−第6図は第1図に示す画素の所定0
)暦の、旬を楢いt平面図、第7図は第3八図じ小゛り
画素電。 権Rぺ・□とカラーフィルタ層のみをJijいた一部・
部平[ri’、l iE?l、第8図はアクティブ・マ
ド・リック入方式のカラー液晶表示装置の液晶表示部を
示”’I”’ $ (jljj 191 ! fsl
、第9図は第j−図に記載:される画素の等価回路図、
第10図はり第1図・−第9図に示した液晶表示装置の
製造方法の説明図、第11A回はこの発明が適用される
他のアクティブ・マトリックス方式のカラー液晶表示装
置の液晶表示部の一画素を示す要部平面図、第11B図
は第3− I A図の一部拡大図、第12図は第〕」−
A図、第1.18図に示した液晶表示装置の製造方法の
説明図(第11A図、第11B図の12T−12T断面
、第11A図の12C−12C断面)である。 S U B・・・透明ガラス基板 OL・・・走査信号線 DL・・・映像信号線 GI・・・絶縁膜 GT ・・・ゲー ト・電極 AS・・・i型半導体層 S ])・・・ソ・−スミ極またはドレイン電極psv
・・・保護膜 BM・・・遮光膜 LC・・・液晶 ■”FT・・・薄膜]・ランジスタ x r o・・・透明画素電極 g、d・・・導電膜 Cadd・・・保持容量素子 Cgs・・・寄生容量 Cpix・・・液晶容量
・1−リック入方式のカラー液晶表ボ装百の液晶表η、
部の一画素を示す要部平FmJ図、第2Aし1:は第L
1図の・−・部拡人図、第2 B図は箱1r−#、第シ
ュA1シ]のIIT3・−IN B切断線で切った部分
とジ・−ルミ族辺部;′、)断面図、第2C図は第」2
図のn C−11C(ダ[Q線りにあ用る断面図、第3
A図は第1″Lき」にjj、’1画素売複数配衡しノー
、液晶表示部の要m(平1)7j図、!4′″¥;31
3回は第を回の紹1導電膜d1のみを拍′1い7”x平
inj図、第4図−第6図は第1図に示す画素の所定0
)暦の、旬を楢いt平面図、第7図は第3八図じ小゛り
画素電。 権Rぺ・□とカラーフィルタ層のみをJijいた一部・
部平[ri’、l iE?l、第8図はアクティブ・マ
ド・リック入方式のカラー液晶表示装置の液晶表示部を
示”’I”’ $ (jljj 191 ! fsl
、第9図は第j−図に記載:される画素の等価回路図、
第10図はり第1図・−第9図に示した液晶表示装置の
製造方法の説明図、第11A回はこの発明が適用される
他のアクティブ・マトリックス方式のカラー液晶表示装
置の液晶表示部の一画素を示す要部平面図、第11B図
は第3− I A図の一部拡大図、第12図は第〕」−
A図、第1.18図に示した液晶表示装置の製造方法の
説明図(第11A図、第11B図の12T−12T断面
、第11A図の12C−12C断面)である。 S U B・・・透明ガラス基板 OL・・・走査信号線 DL・・・映像信号線 GI・・・絶縁膜 GT ・・・ゲー ト・電極 AS・・・i型半導体層 S ])・・・ソ・−スミ極またはドレイン電極psv
・・・保護膜 BM・・・遮光膜 LC・・・液晶 ■”FT・・・薄膜]・ランジスタ x r o・・・透明画素電極 g、d・・・導電膜 Cadd・・・保持容量素子 Cgs・・・寄生容量 Cpix・・・液晶容量
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ソース、ドレインおよびゲートを有する薄膜トラン
ジスタと画素電極とを画素の一構成要素とし、上記画素
電極と対向電極間に液晶層が挿入され、上記画素電極を
一方の電極とする保持容量素子が設けられたアクティブ
・マトリクス方式の液晶表示装置において、上記保持容
量素子の他方の電極が上記薄膜トランジスタのゲート絶
縁膜として使用される絶縁層よりも上記液晶層側に設け
られた透明導電膜からなり、上記絶縁層は上記ゲートよ
りも上記液晶層側に設けられていることを特徴とする液
晶表示装置。 2、上記保持容量素子の上記他方の電極を格子状に設け
たことを特徴とする請求項第1項記載の液晶表示装置。 3、薄膜トランジスタと画素電極とを画素の一構成要素
とし、上記画素電極を一方の電極とする保持容量素子が
設けられたアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置
において、上記保持容量素子の他方の電極がソース電極
、ドレイン電極を構成する透明導電膜と同一層の膜から
なることを特徴とする液晶表示装置。 4、薄膜トランジスタと画素電極とを画素の一構成要素
とし、上記画素電極を一方の電極とする保持容量素子が
設けられたアクティブ・マトリクス方式の液晶表示装置
において、上記保持容量素子の誘電体膜が上記薄膜トラ
ンジスタの保護膜と同一層の膜からなることを特徴とす
る液晶表示装置。 5、薄膜トランジスタと画素電極とを画素の一構成要素
とし、上記画素電極と対向電極間に液晶層を挿入したア
クティブ・マトリクス方式の液晶表示装置において、上
記画素電極が上記薄膜トランジスタの保護膜よりも上記
液晶層側に設けられたことを特徴とする液晶表示装置。 6、上記画素電極と上記薄膜トランジスタのソース電極
とが上記保護膜に設けられたスルーホールを介して電気
的に接続されたことを特徴とする請求項第5項記載の液
晶表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14294489A JP2851305B2 (ja) | 1989-06-07 | 1989-06-07 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14294489A JP2851305B2 (ja) | 1989-06-07 | 1989-06-07 | 液晶表示装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9333098A Division JP2968252B2 (ja) | 1998-04-06 | 1998-04-06 | 液晶表示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH039328A true JPH039328A (ja) | 1991-01-17 |
JP2851305B2 JP2851305B2 (ja) | 1999-01-27 |
Family
ID=15327280
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14294489A Expired - Fee Related JP2851305B2 (ja) | 1989-06-07 | 1989-06-07 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2851305B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6313481B1 (en) | 1998-08-06 | 2001-11-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and a method of manufacturing the same |
US6690031B1 (en) | 1998-04-28 | 2004-02-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5922029A (ja) * | 1982-07-28 | 1984-02-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マトリクス表示パネルの製造方法 |
JPS6476036A (en) * | 1987-09-17 | 1989-03-22 | Casio Computer Co Ltd | Thin film transistor panel |
JPH01113731A (ja) * | 1987-10-27 | 1989-05-02 | Hitachi Ltd | 薄膜半導体装置の製造方法 |
-
1989
- 1989-06-07 JP JP14294489A patent/JP2851305B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5922029A (ja) * | 1982-07-28 | 1984-02-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マトリクス表示パネルの製造方法 |
JPS6476036A (en) * | 1987-09-17 | 1989-03-22 | Casio Computer Co Ltd | Thin film transistor panel |
JPH01113731A (ja) * | 1987-10-27 | 1989-05-02 | Hitachi Ltd | 薄膜半導体装置の製造方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6690031B1 (en) | 1998-04-28 | 2004-02-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
US6313481B1 (en) | 1998-08-06 | 2001-11-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and a method of manufacturing the same |
US6576504B2 (en) | 1998-08-06 | 2003-06-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of fabricating a liquid crystal display device having an improved storage capacitance |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2851305B2 (ja) | 1999-01-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |