JPH038499B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH038499B2 JPH038499B2 JP597281A JP597281A JPH038499B2 JP H038499 B2 JPH038499 B2 JP H038499B2 JP 597281 A JP597281 A JP 597281A JP 597281 A JP597281 A JP 597281A JP H038499 B2 JPH038499 B2 JP H038499B2
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- JP
- Japan
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- polarization
- fiber
- backscattered light
- optical fiber
- mode optical
- Prior art date
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- Expired
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- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 33
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 14
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 8
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、単一モード光フアイバの後方散乱光
の偏波依存性を除去した単一モード光フアイバ後
方散乱光測定装置に関するものである。
の偏波依存性を除去した単一モード光フアイバ後
方散乱光測定装置に関するものである。
単一モード光フアイバの後方散乱光の測定に
は、第１図に示すような回路が用いられていた。
半導体レーザLD１よりのパルス光は、レンズ２、
偏波分離形方向性結合器３、レンズ２′を通つて、
被測定フアイバ４に入射する。偏波分離形方向性
結合器３は、２つの偏波を空間的に分離するもの
である。LDの偏波はほぼ一方向であるので、LD
１と方向性結合器３の配置を適当に選べば、LD
１よりの光は方向性結合器３で分離することなく
被測定フアイバ４に達し、フアイバ中を伝搬す
る。この径路は１１１で示されている。パルス光
が被測定フアイバ４に入射するとパルスの伝搬に
従つて後方散乱光が発生し、それはパルスの伝搬
方向１１１とは逆に１１２方向に伝搬する。そし
てその出力は方向性結合器３により、２つの偏波
成分に分離される。一つは１１３方向に伝搬し、
LD１にもどる。他の一つは１１４方向に伝搬し、
受光素子５に入る。被測定フアイバ４に単一モー
ドフアイバを用いると、この後方散乱光は無偏波
にはならず、ある程度の偏波を有する。しかも、
この偏波面の主軸が回転しているため、径路１１
３と径路１１４に分離される割合が、測定距離と
ともに変化する。受光器５の出力はＳ／Ｎを改善
するために平均化処理を行なうが、この平均化処
理の間、ある点からの後方散乱光の分離比は、フ
アイバにじよう乱がなければ変化しないが、距離
が変化すると分離比が変化するので、平均化処理
の出力は第２図のごときゆらぎを生ずる。このゆ
らぎのため、フアイバの損失測定ならびに接続損
失の測定が困難になるという欠点があつた。
は、第１図に示すような回路が用いられていた。
半導体レーザLD１よりのパルス光は、レンズ２、
偏波分離形方向性結合器３、レンズ２′を通つて、
被測定フアイバ４に入射する。偏波分離形方向性
結合器３は、２つの偏波を空間的に分離するもの
である。LDの偏波はほぼ一方向であるので、LD
１と方向性結合器３の配置を適当に選べば、LD
１よりの光は方向性結合器３で分離することなく
被測定フアイバ４に達し、フアイバ中を伝搬す
る。この径路は１１１で示されている。パルス光
が被測定フアイバ４に入射するとパルスの伝搬に
従つて後方散乱光が発生し、それはパルスの伝搬
方向１１１とは逆に１１２方向に伝搬する。そし
てその出力は方向性結合器３により、２つの偏波
成分に分離される。一つは１１３方向に伝搬し、
LD１にもどる。他の一つは１１４方向に伝搬し、
受光素子５に入る。被測定フアイバ４に単一モー
ドフアイバを用いると、この後方散乱光は無偏波
にはならず、ある程度の偏波を有する。しかも、
この偏波面の主軸が回転しているため、径路１１
３と径路１１４に分離される割合が、測定距離と
ともに変化する。受光器５の出力はＳ／Ｎを改善
するために平均化処理を行なうが、この平均化処
理の間、ある点からの後方散乱光の分離比は、フ
アイバにじよう乱がなければ変化しないが、距離
が変化すると分離比が変化するので、平均化処理
の出力は第２図のごときゆらぎを生ずる。このゆ
らぎのため、フアイバの損失測定ならびに接続損
失の測定が困難になるという欠点があつた。
本発明は従来の技術の上記欠点を改善するもの
で、その目的は、後方散乱光の偏波方向をランダ
ム化して後方散乱光測波形のゆらぎを除去するこ
とにより、単一モード光フアイバの正確な損失測
定ならびに接続損失の測定装置を提供することに
あり、その特徴は、偏波分離形方向性結合器を介
して発光器からの光を被測定単一モード光フアイ
バに入射し、該フアイバの後方散乱光を前記偏波
分離形方向性結合器を介して受光しその強さを測
定する単一モード光フアイバ後方散乱光測定装置
において、所定の角速度で連続的なねじれが少な
くとも１部に与えられた単一モード光フアイバか
ら構成され、後方散乱光の偏波方向をランダム化
する偏波スクランブラーを被測定単一モードフア
イバの入射側に挿入した単一モード光フアイバ後
方散乱光測定装置にある。以下図面により実施例
を説明する。
で、その目的は、後方散乱光の偏波方向をランダ
ム化して後方散乱光測波形のゆらぎを除去するこ
とにより、単一モード光フアイバの正確な損失測
定ならびに接続損失の測定装置を提供することに
あり、その特徴は、偏波分離形方向性結合器を介
して発光器からの光を被測定単一モード光フアイ
バに入射し、該フアイバの後方散乱光を前記偏波
分離形方向性結合器を介して受光しその強さを測
定する単一モード光フアイバ後方散乱光測定装置
において、所定の角速度で連続的なねじれが少な
くとも１部に与えられた単一モード光フアイバか
ら構成され、後方散乱光の偏波方向をランダム化
する偏波スクランブラーを被測定単一モードフア
イバの入射側に挿入した単一モード光フアイバ後
方散乱光測定装置にある。以下図面により実施例
を説明する。
第３図ａ〜ｄは本発明の実施例である。被測定
フアイバ４の一部を曲げて１１５方向又は１１６
方向のねじりを加えると、フアイバの複屈析軸が
そのねじれに伴つて回転する。これをフアイバの
入射側（第１図のＡの部分）に入れると入射パル
ス光の偏波面が回転し、その結果として後方散乱
光の偏波面も回転する。第３図ａにおいて、点８
を固定し、点９を回転中心として、１１５又は１
１６の方向にひねる。180゜だけひねると第３図ｂ
のごとくなり、又360゜だけひねると第３図ｃのご
とくなる。単一モードフアイバの偏波が大きく変
化するのはフアイバを曲げると同時にひねるとき
で、曲げは必らずしも真円である必要はなく、第
３図ｄのごとく偏平な円でもさしつかえない。な
おねじれは、測定中は、所定の角速度で連続的に
与えられるものとする。なお好ましくは、曲げの
半径は数cm〜数ｍとし、又ねじれの速さは毎秒
30゜又はそれ以上とする。後方散乱の偏波面の回
転に従つて、第１図に示す１１３方向と１１４方
向の分離比が変化する。したがつてある点からの
後方散乱光の偏波面は、上述の偏波スクランブラ
ーを用いることによりランダム化される。受光器
５の後には、通常平均化処理装置が用いられてお
り、この平均化処理の間、上記偏波スクランブラ
ーを使用すれば、１１２方向を伝搬する後方散乱
光の偏波面はあらゆる方向をとると考えられる。
この場合、上述したごとく１１２方向の散乱光の
偏波状態により、受光器５の出力は変化するわけ
であるが、あらゆる偏波状態に対応する出力が電
気的な平均化処理を受けるため、その平均化出力
は常に一定となる。これは、１１２方向に無偏波
の後方散乱光が伝搬してきたと仮定した場合と等
価であると考えられる。このため、後方散乱光観
測波形には第２図のごときゆらぎは発生せず、精
度のよい単一モードフアイバの損失測定ならびに
接続損失の測定が可能となる。
フアイバ４の一部を曲げて１１５方向又は１１６
方向のねじりを加えると、フアイバの複屈析軸が
そのねじれに伴つて回転する。これをフアイバの
入射側（第１図のＡの部分）に入れると入射パル
ス光の偏波面が回転し、その結果として後方散乱
光の偏波面も回転する。第３図ａにおいて、点８
を固定し、点９を回転中心として、１１５又は１
１６の方向にひねる。180゜だけひねると第３図ｂ
のごとくなり、又360゜だけひねると第３図ｃのご
とくなる。単一モードフアイバの偏波が大きく変
化するのはフアイバを曲げると同時にひねるとき
で、曲げは必らずしも真円である必要はなく、第
３図ｄのごとく偏平な円でもさしつかえない。な
おねじれは、測定中は、所定の角速度で連続的に
与えられるものとする。なお好ましくは、曲げの
半径は数cm〜数ｍとし、又ねじれの速さは毎秒
30゜又はそれ以上とする。後方散乱の偏波面の回
転に従つて、第１図に示す１１３方向と１１４方
向の分離比が変化する。したがつてある点からの
後方散乱光の偏波面は、上述の偏波スクランブラ
ーを用いることによりランダム化される。受光器
５の後には、通常平均化処理装置が用いられてお
り、この平均化処理の間、上記偏波スクランブラ
ーを使用すれば、１１２方向を伝搬する後方散乱
光の偏波面はあらゆる方向をとると考えられる。
この場合、上述したごとく１１２方向の散乱光の
偏波状態により、受光器５の出力は変化するわけ
であるが、あらゆる偏波状態に対応する出力が電
気的な平均化処理を受けるため、その平均化出力
は常に一定となる。これは、１１２方向に無偏波
の後方散乱光が伝搬してきたと仮定した場合と等
価であると考えられる。このため、後方散乱光観
測波形には第２図のごときゆらぎは発生せず、精
度のよい単一モードフアイバの損失測定ならびに
接続損失の測定が可能となる。
実際、１〜６Kmの単一モードフアイバを用い、
第１図の測定系と平均化処理装置を用いて後方散
乱波形を観測したところ、第２図のごとき波形が
観測された。このうねりは上述のごとくフアイバ
内の各点からの後方散乱光の偏波面が異なるた
め、第１図の１１３方向と１１４方向の分離比が
変化しているためである。本発明の偏波スクラン
ブラーをフアイバの入射端近くで使用したとこ
ろ、各点の出力は平均化され、第２図のごときう
ねりは生ぜず、第４図のごとき出力が得られた。
第２図でははつきり観測されていない2.6Kmの接
続点６および4.7Kmの接続点７が明瞭に観測され
ている。同時に、この図よりフアイバの損失およ
び接続損失を計算したところ、通常の２点測定値
と近い値が得られ、後方散乱光による損失測定に
本発明の偏波スクランブラーが有効であるとの確
認がなされた。
第１図の測定系と平均化処理装置を用いて後方散
乱波形を観測したところ、第２図のごとき波形が
観測された。このうねりは上述のごとくフアイバ
内の各点からの後方散乱光の偏波面が異なるた
め、第１図の１１３方向と１１４方向の分離比が
変化しているためである。本発明の偏波スクラン
ブラーをフアイバの入射端近くで使用したとこ
ろ、各点の出力は平均化され、第２図のごときう
ねりは生ぜず、第４図のごとき出力が得られた。
第２図でははつきり観測されていない2.6Kmの接
続点６および4.7Kmの接続点７が明瞭に観測され
ている。同時に、この図よりフアイバの損失およ
び接続損失を計算したところ、通常の２点測定値
と近い値が得られ、後方散乱光による損失測定に
本発明の偏波スクランブラーが有効であるとの確
認がなされた。
以上説明したように、本発明は単一モードフア
イバの後方散乱光の偏波方向をランダム化して、
それを平均化処理することにより、後方散乱光が
無偏波であるときと同じ出力波形を得ることがで
きる。このため、精度のよいフアイバの損失測定
ならびに接続損失の測定が可能となる利点があ
る。なお、この平均化処理を用いれば、偏波依存
性を有する受動部品例えば、干渉膜フイルタや回
析格子型の分波器の損失測定にも応用可能であ
る。
イバの後方散乱光の偏波方向をランダム化して、
それを平均化処理することにより、後方散乱光が
無偏波であるときと同じ出力波形を得ることがで
きる。このため、精度のよいフアイバの損失測定
ならびに接続損失の測定が可能となる利点があ
る。なお、この平均化処理を用いれば、偏波依存
性を有する受動部品例えば、干渉膜フイルタや回
析格子型の分波器の損失測定にも応用可能であ
る。
第１図は従来の後方散乱光測定系、第２図は本
発明の偏波スクランブラーを使用しないときの後
方散乱観測波形、第３図ａ〜ｄは本発明の偏波ス
クランブラーの構造例、第４図は本発明の偏波ス
クランブラーを使用したときの後方散乱観測波形
である。 １……半導体レーザ（LD）、２，２′，２″……
レンズ、３……偏波分離形方向性結合器、４……
光フアイバ、５……受光器。
発明の偏波スクランブラーを使用しないときの後
方散乱観測波形、第３図ａ〜ｄは本発明の偏波ス
クランブラーの構造例、第４図は本発明の偏波ス
クランブラーを使用したときの後方散乱観測波形
である。 １……半導体レーザ（LD）、２，２′，２″……
レンズ、３……偏波分離形方向性結合器、４……
光フアイバ、５……受光器。
Claims (1)
- １ 偏波分離形方向性結合器を介して発光器から
の光を被測定単一モード光フアイバに入射し、該
フアイバの後方散乱光を前記偏波分離形方向性結
合器を介して受光してその強さを測定する単一モ
ード光フアイバ後方散乱光測定装置において、所
定の角速度で連続的なねじれが少なくとも１部に
与えられた単一モード光フアイバから構成され、
後方散乱光の偏波方向をランダム化する偏波スク
ランブラーを被測定単一モードフアイバの入射側
に挿入したことを特徴とする単一モード光フアイ
バ後方散乱光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP597281A JPS57120835A (en) | 1981-01-20 | 1981-01-20 | Polarization scrambler |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP597281A JPS57120835A (en) | 1981-01-20 | 1981-01-20 | Polarization scrambler |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57120835A JPS57120835A (en) | 1982-07-28 |
| JPH038499B2 true JPH038499B2 (ja) | 1991-02-06 |
Family
ID=11625763
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP597281A Granted JPS57120835A (en) | 1981-01-20 | 1981-01-20 | Polarization scrambler |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57120835A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1993016364A1 (en) * | 1992-02-17 | 1993-08-19 | Sumitomo Cement Co. Ltd. | Method of measuring the amount of light reflected by an optical fiber and device therefor |
| JP3107027B2 (ja) * | 1997-12-25 | 2000-11-06 | 日本電気株式会社 | 光部品特性測定システム |
-
1981
- 1981-01-20 JP JP597281A patent/JPS57120835A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57120835A (en) | 1982-07-28 |
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