JP3107027B2 - 光部品特性測定システム - Google Patents
光部品特性測定システムInfo
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/50—Transmitters
- H04B10/516—Details of coding or modulation
- H04B10/532—Polarisation modulation
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- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光部品特性測定シ
ステムに係わり、詳細には測定経路の光部品の偏光依存
性損失に影響されない高精度な測定ができる光部品特性
測定システムに関する。
ステムに係わり、詳細には測定経路の光部品の偏光依存
性損失に影響されない高精度な測定ができる光部品特性
測定システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】光はその優れた直進性や伝播手段が容易
なことから、光通信に代表される情報伝達や情報処理技
術において注目されている。さらに、今後は大容量通信
を目的とした波長分割多重（Wavelength Division Mu
ltiplex：ＷＤＭ）伝送技術が主要になるとされてい
る。
なことから、光通信に代表される情報伝達や情報処理技
術において注目されている。さらに、今後は大容量通信
を目的とした波長分割多重（Wavelength Division Mu
ltiplex：ＷＤＭ）伝送技術が主要になるとされてい
る。
【０００３】一般的に、光における分割多重伝送技術
は、例えば複数の異なる周波数を有する搬送波を用意
し、これに各伝送信号を乗せて重ね合わせ、１本のケー
ブルで多くの情報を伝送する技術である。さらに、この
ように重ね合わせた変調波をまとめて１つの信号と考
え、より高い周波数をもつ搬送波に乗せて重ね合わせる
こともできる。なお、周波数ｆは、光速をｃ、波長をλ
とすると、次の（１）式のように、 ｃ ＝ ｆ・λ ・・・（１） と表わせるから、複数の波長についても同様に重ね合わ
せて伝送できることを意味している。
は、例えば複数の異なる周波数を有する搬送波を用意
し、これに各伝送信号を乗せて重ね合わせ、１本のケー
ブルで多くの情報を伝送する技術である。さらに、この
ように重ね合わせた変調波をまとめて１つの信号と考
え、より高い周波数をもつ搬送波に乗せて重ね合わせる
こともできる。なお、周波数ｆは、光速をｃ、波長をλ
とすると、次の（１）式のように、 ｃ ＝ ｆ・λ ・・・（１） と表わせるから、複数の波長についても同様に重ね合わ
せて伝送できることを意味している。
【０００４】図７は、このような波長による分割多重の
概念を説明するために模式的な波長分割信号を表わした
ものである。この模式的に表わした波長分割信号は、縦
軸に光パワー値を、横軸に波長をとると、各搬送波２、
３、４が有する中心波長λ1、λ2、λ3を有する信号が
伝送される表わしている。ここで、搬送波２、３、４に
注目すると、中心波長λ1、λ2、λ3の周りに信号の周
波数スペクトルに相当する帯域５、６、７を占有してい
ることがわかる。
概念を説明するために模式的な波長分割信号を表わした
ものである。この模式的に表わした波長分割信号は、縦
軸に光パワー値を、横軸に波長をとると、各搬送波２、
３、４が有する中心波長λ1、λ2、λ3を有する信号が
伝送される表わしている。ここで、搬送波２、３、４に
注目すると、中心波長λ1、λ2、λ3の周りに信号の周
波数スペクトルに相当する帯域５、６、７を占有してい
ることがわかる。
【０００５】光通信で用いられる光ファイバは電気ケー
ブルと比べて非常に広い帯域をもつことができるため、
その帯域が許せる限りの多重化が可能となる。しかし、
このような搬送波で伝送される信号を元通りに復調する
ためには、これらの帯域５、６、７が重ならないことが
前提となるが、実際にはこれら信号の送受信部にある変
復調器などの構成部品のもつ帯域に影響されてしまい、
光ファイバのもつ帯域だけでは通信能力を生かすことが
できない。したがって、このような光通信を行う光通信
システムを構成する光部品の特性は、その通信システム
性能に大きな影響を及ぼすものであり、これら光部品の
特性を高精度に測定することは重要である。
ブルと比べて非常に広い帯域をもつことができるため、
その帯域が許せる限りの多重化が可能となる。しかし、
このような搬送波で伝送される信号を元通りに復調する
ためには、これらの帯域５、６、７が重ならないことが
前提となるが、実際にはこれら信号の送受信部にある変
復調器などの構成部品のもつ帯域に影響されてしまい、
光ファイバのもつ帯域だけでは通信能力を生かすことが
できない。したがって、このような光通信を行う光通信
システムを構成する光部品の特性は、その通信システム
性能に大きな影響を及ぼすものであり、これら光部品の
特性を高精度に測定することは重要である。
【０００６】図８はこのような従来提案された光部品の
特性を測定する光部品特性測定システムの構成の概要を
表わしたものである。この光部品特性測定システムは、
互いに異なる複数の波長を有する信号光を出力する分布
帰還型レーザダイオード（Distributed FeedBack Las
er Diode：以下、ＤＦＢ−ＬＤと略す）１０1〜１０ 8
と、これらＤＦＢ−ＬＤ１０1〜１０8のそれぞれに対応
して出力光を適時オン・オフする光スイッチ１１1〜１
１8と、光結合器である光カプラ１２とからなる多波長
光源を備えている。この多波長光源からは互いに異なる
複数の波長を有する信号光が出力され、この信号光はＤ
ＦＢ−ＬＤ１０1〜１０8それぞれからの互いに異なる波
長を有する出力光が光スイッチ１１1〜１１8によって切
り換えられて光カプラ１２によって合波されることによ
って生成される。
特性を測定する光部品特性測定システムの構成の概要を
表わしたものである。この光部品特性測定システムは、
互いに異なる複数の波長を有する信号光を出力する分布
帰還型レーザダイオード（Distributed FeedBack Las
er Diode：以下、ＤＦＢ−ＬＤと略す）１０1〜１０ 8
と、これらＤＦＢ−ＬＤ１０1〜１０8のそれぞれに対応
して出力光を適時オン・オフする光スイッチ１１1〜１
１8と、光結合器である光カプラ１２とからなる多波長
光源を備えている。この多波長光源からは互いに異なる
複数の波長を有する信号光が出力され、この信号光はＤ
ＦＢ−ＬＤ１０1〜１０8それぞれからの互いに異なる波
長を有する出力光が光スイッチ１１1〜１１8によって切
り換えられて光カプラ１２によって合波されることによ
って生成される。
【０００７】この光カプラ１２によって合波された信号
光は、例えば光直接増幅器としてのエルビウム添加光フ
ァイバアンプ（ＥＤＦＡ）１３によって増幅された後、
光アッテネータ１４に入力される。光アッテネータ１４
では、入力信号光の強度を調整して出力信号光として出
力させることができる。この光強度の調整には、光分岐
器としての光カプラ１５により分岐された信号光の一方
を第１の光パワーメータ１６1に入力することによっ
て、この第１の光パワーメータ１６1の測定値を参照し
ながら光アッテネータ１４の強度調整を行うことができ
る。第１の光パワーメータ１６1は、入力される信号光
のパワー値を測定することができるが、図７に示す波長
分割多重化された光信号のパワー値を測定するときに
は、それぞれの波長成分を積分した測定値が得られる。
光は、例えば光直接増幅器としてのエルビウム添加光フ
ァイバアンプ（ＥＤＦＡ）１３によって増幅された後、
光アッテネータ１４に入力される。光アッテネータ１４
では、入力信号光の強度を調整して出力信号光として出
力させることができる。この光強度の調整には、光分岐
器としての光カプラ１５により分岐された信号光の一方
を第１の光パワーメータ１６1に入力することによっ
て、この第１の光パワーメータ１６1の測定値を参照し
ながら光アッテネータ１４の強度調整を行うことができ
る。第１の光パワーメータ１６1は、入力される信号光
のパワー値を測定することができるが、図７に示す波長
分割多重化された光信号のパワー値を測定するときに
は、それぞれの波長成分を積分した測定値が得られる。
【０００８】光分岐器としての光カプラ１５によって分
岐された光アッテネータ１４からの出力調整光の他方の
信号光は、光アイソレータ１７に入力される。光アイソ
レータ１７は、この光アイソレータ１７の出力側に接続
される光部品の入力側から漏れる光雑音が光源まで達し
ないように抑制するために挿入されている。この光アイ
ソレータ１７からの出力光は光スイッチ１８に入力され
ている。
岐された光アッテネータ１４からの出力調整光の他方の
信号光は、光アイソレータ１７に入力される。光アイソ
レータ１７は、この光アイソレータ１７の出力側に接続
される光部品の入力側から漏れる光雑音が光源まで達し
ないように抑制するために挿入されている。この光アイ
ソレータ１７からの出力光は光スイッチ１８に入力され
ている。
【０００９】この光スイッチ１８では、入力された光信
号の経路を切り換えることができ、ここではＤＵＴ（De
vice Under Test）１９を介して光スイッチ２０へ到
達する経路か、あるいは直接光スイッチ２０へ到達する
経路のどちらかを切り換えることができるようになって
いる。このようにして、どちらかの経路により光スイッ
チ２０に入力された信号光は再び光アイソレータ２１に
入力される。この光アイソレータ２１は、その出力側に
接続される光カプラ２２の入力側から漏れる光雑音が光
源側に達しないように抑制するための挿入されている。
号の経路を切り換えることができ、ここではＤＵＴ（De
vice Under Test）１９を介して光スイッチ２０へ到
達する経路か、あるいは直接光スイッチ２０へ到達する
経路のどちらかを切り換えることができるようになって
いる。このようにして、どちらかの経路により光スイッ
チ２０に入力された信号光は再び光アイソレータ２１に
入力される。この光アイソレータ２１は、その出力側に
接続される光カプラ２２の入力側から漏れる光雑音が光
源側に達しないように抑制するための挿入されている。
【００１０】光分岐器としての光カプラ２２に入力され
た信号光は、光スペクトラムアナライザ２３または第２
の光パワーメータ１６2に入力されて、それぞれの測定
装置で測定される。第２の光パワーメータ１６2は、入
力される信号光のパワー値を測定することができるが、
図７に示す波長分割多重化された光信号のパワー値を測
定するときには、それぞれの波長成分を積分した測定値
が得られる。光スペクトラムアナライザ２３は、入力さ
れる信号光を周波数成分ごとに分解し、それぞれの周波
数成分の光パワー値を測定することができる。したがっ
て、波長分割多重伝送技術で用いられる光部品は、それ
ぞれの周波数または波長において優れた特性を有するこ
とが通信システムの構成部品として望ましいことから、
このような光スペクトラムアナライザ２３を用いて周波
数成分ごとに光部品の特性を把握できることには大きな
意味がある。
た信号光は、光スペクトラムアナライザ２３または第２
の光パワーメータ１６2に入力されて、それぞれの測定
装置で測定される。第２の光パワーメータ１６2は、入
力される信号光のパワー値を測定することができるが、
図７に示す波長分割多重化された光信号のパワー値を測
定するときには、それぞれの波長成分を積分した測定値
が得られる。光スペクトラムアナライザ２３は、入力さ
れる信号光を周波数成分ごとに分解し、それぞれの周波
数成分の光パワー値を測定することができる。したがっ
て、波長分割多重伝送技術で用いられる光部品は、それ
ぞれの周波数または波長において優れた特性を有するこ
とが通信システムの構成部品として望ましいことから、
このような光スペクトラムアナライザ２３を用いて周波
数成分ごとに光部品の特性を把握できることには大きな
意味がある。
【００１１】このような構成の光部品特性測定システム
において、例えばＤＵＴ１９が光アンプとすると、その
特性試験の際には、ＤＵＴ１９を経由したときの光パワ
ー測定値とＤＵＴ１９を経由しないときの光パワー測定
値との差分に基づいてＤＵＴ１９の光特性の測定結果と
していた。
において、例えばＤＵＴ１９が光アンプとすると、その
特性試験の際には、ＤＵＴ１９を経由したときの光パワ
ー測定値とＤＵＴ１９を経由しないときの光パワー測定
値との差分に基づいてＤＵＴ１９の光特性の測定結果と
していた。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】このような光部品特性
測定システムを構成する光部品には、本来それぞれ光の
偏光方向に依存した光損失としての偏光依存性損失を有
していることが知られている。
測定システムを構成する光部品には、本来それぞれ光の
偏光方向に依存した光損失としての偏光依存性損失を有
していることが知られている。
【００１３】図９はこのような測定系の偏光依存性損失
を説明するために光パワーの変動を表わしたものであ
る。本来の光パワー値２５に対して測定される光パワー
値２６が、偏光状態に応じて変動範囲２７の間を不規則
に変動している。なお、この偏光状態は時間に置き換え
ることもできるので、時間に応じて測定される光パワー
値２６が、変動範囲２７の間を不規則に変動していると
考えることもできる。この結果、このような測定系の光
部品が有する偏光依存性損失が原因による光パワーの不
規則な変動により、測定する変動のポイントに応じた測
定誤差を含む測定結果が得られていた。そのため、周波
数成分ごとに光パワー値を測定することができる光スペ
クトラムアナライザによる測定値は、実際にはこのよう
な不規則で予測不可能な測定誤差を含んでいたことにな
る。
を説明するために光パワーの変動を表わしたものであ
る。本来の光パワー値２５に対して測定される光パワー
値２６が、偏光状態に応じて変動範囲２７の間を不規則
に変動している。なお、この偏光状態は時間に置き換え
ることもできるので、時間に応じて測定される光パワー
値２６が、変動範囲２７の間を不規則に変動していると
考えることもできる。この結果、このような測定系の光
部品が有する偏光依存性損失が原因による光パワーの不
規則な変動により、測定する変動のポイントに応じた測
定誤差を含む測定結果が得られていた。そのため、周波
数成分ごとに光パワー値を測定することができる光スペ
クトラムアナライザによる測定値は、実際にはこのよう
な不規則で予測不可能な測定誤差を含んでいたことにな
る。
【００１４】この偏光依存性損失により、光部品特性を
高精度に測定しようとしてもこれらの損失により行うこ
とができなかった。すなわち、この光部品の偏光依存性
損失を考慮しない測定結果は、安定した高精度な測定結
果ではなかった。
高精度に測定しようとしてもこれらの損失により行うこ
とができなかった。すなわち、この光部品の偏光依存性
損失を考慮しない測定結果は、安定した高精度な測定結
果ではなかった。
【００１５】このような偏光依存性損失について、光通
信システムで用いられる光送信システムでは、送信光に
偏波スクランブルを行って、このような偏光依存性損失
による依存性を低減する技術がいくつか提案されてい
る。この技術に関しては、例えば特開平９−１８６６５
５号公報に開示されている。
信システムで用いられる光送信システムでは、送信光に
偏波スクランブルを行って、このような偏光依存性損失
による依存性を低減する技術がいくつか提案されてい
る。この技術に関しては、例えば特開平９−１８６６５
５号公報に開示されている。
【００１６】しかし、これら送信時に偏光依存性損失の
影響を低減する技術だけでは、今後主要な光通信システ
ムになると注目される大容量通信を目的とした波長分割
多重伝送システムを構築するには不十分である。これま
で説明したように波長分割多重伝送システムに用いる光
部品について、その特性を波長単位に高精度で安定して
測定するためには、そのシステムを構成する光部品の特
性試験は光スペクトラムアナライザで行う必要がある。
したがって、これら光部品の特性測定について周波数成
分ごとに、あるいは波長成分ごとに測定できる光スペク
トラムアナライザのような測定手段を用いても偏光依存
性損失に影響されない高精度で安定した測定結果が得ら
れるような光部品特性測定システムが必要である。
影響を低減する技術だけでは、今後主要な光通信システ
ムになると注目される大容量通信を目的とした波長分割
多重伝送システムを構築するには不十分である。これま
で説明したように波長分割多重伝送システムに用いる光
部品について、その特性を波長単位に高精度で安定して
測定するためには、そのシステムを構成する光部品の特
性試験は光スペクトラムアナライザで行う必要がある。
したがって、これら光部品の特性測定について周波数成
分ごとに、あるいは波長成分ごとに測定できる光スペク
トラムアナライザのような測定手段を用いても偏光依存
性損失に影響されない高精度で安定した測定結果が得ら
れるような光部品特性測定システムが必要である。
【００１７】そこで本発明の第１の目的は、光部品特性
測定システムにおいて、そのシステムを構成している光
部品の偏光依存性損失に影響されずに安定した高精度な
光部品特性の測定を行うことができる光部品特性測定シ
ステムを提供することにある。
測定システムにおいて、そのシステムを構成している光
部品の偏光依存性損失に影響されずに安定した高精度な
光部品特性の測定を行うことができる光部品特性測定シ
ステムを提供することにある。
【００１８】さらに、本発明の第２の目的は、光スペク
トラムアナライザを用いても高精度な測定を行うことが
できる光部品特性測定システムを提供することにある。
トラムアナライザを用いても高精度な測定を行うことが
できる光部品特性測定システムを提供することにある。
【００１９】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、（イ）互いに異なる複数の波長を有する直線偏波の
信号光を出力する多波長光源と、（ロ）この多波長光源
から出力された信号光の偏波状態をスクランブルする偏
波スクランブラと、（ハ）この偏波スクランブラによっ
てスクランブルされた信号光を試験信号光として入力さ
れる被測定光部品と、（ニ）波長ごとにこの被測定光部
品からの出力光のパワーを測定する出力光パワー測定手
段と、（ホ）この出力光パワー測定手段によって測定さ
れた光パワーを所定の時間を単位として平均化する測定
結果平均化手段と、（ヘ）被測定光部品への入力経路損
失を測定する入力経路損失測定手段と、（ト）被測定光
部品から出力光パワー測定手段までの出力経路損失を測
定する出力経路損失測定手段と、（チ）測定結果平均化
手段によって測定された被測定光部品への入力光のパワ
ーから入力経路損失測定手段によって測定された入力経
路損失を差し引いた校正入力パワーと、測定結果平均化
手段によって測定された被測定光部品からの出力光のパ
ワーから出力経路損失測定手段によって測定された出力
経路損失を差し引いた校正出力パワーとから、被測定光
部品の特性測定値を求める被測定光部品測定手段とを光
部品特性測定システムに具備させる。
は、（イ）互いに異なる複数の波長を有する直線偏波の
信号光を出力する多波長光源と、（ロ）この多波長光源
から出力された信号光の偏波状態をスクランブルする偏
波スクランブラと、（ハ）この偏波スクランブラによっ
てスクランブルされた信号光を試験信号光として入力さ
れる被測定光部品と、（ニ）波長ごとにこの被測定光部
品からの出力光のパワーを測定する出力光パワー測定手
段と、（ホ）この出力光パワー測定手段によって測定さ
れた光パワーを所定の時間を単位として平均化する測定
結果平均化手段と、（ヘ）被測定光部品への入力経路損
失を測定する入力経路損失測定手段と、（ト）被測定光
部品から出力光パワー測定手段までの出力経路損失を測
定する出力経路損失測定手段と、（チ）測定結果平均化
手段によって測定された被測定光部品への入力光のパワ
ーから入力経路損失測定手段によって測定された入力経
路損失を差し引いた校正入力パワーと、測定結果平均化
手段によって測定された被測定光部品からの出力光のパ
ワーから出力経路損失測定手段によって測定された出力
経路損失を差し引いた校正出力パワーとから、被測定光
部品の特性測定値を求める被測定光部品測定手段とを光
部品特性測定システムに具備させる。
【００２０】
【００２１】
【００２２】すなわち請求項１記載の発明では、多波長
光源からの互いに異なる複数の波長を有する直線偏波の
信号光に対して、偏波スクランブラにより偏波状態をス
クランブルさせてから被測定光部品に入力させるように
する。そして、被測定光部品からの出力パワーを出力光
パワーで測定し、その測定結果について所定の時間を単
位として平均化する測定結果平均化手段によって平均化
することによって偏波状態に依存しない測定結果を得る
ようにしている。さらに、入力経路損失および出力経路
損失を差し引くようにして光部品の特性を高精度に測定
するようにしている。
光源からの互いに異なる複数の波長を有する直線偏波の
信号光に対して、偏波スクランブラにより偏波状態をス
クランブルさせてから被測定光部品に入力させるように
する。そして、被測定光部品からの出力パワーを出力光
パワーで測定し、その測定結果について所定の時間を単
位として平均化する測定結果平均化手段によって平均化
することによって偏波状態に依存しない測定結果を得る
ようにしている。さらに、入力経路損失および出力経路
損失を差し引くようにして光部品の特性を高精度に測定
するようにしている。
【００２３】
【００２４】
【００２５】請求項２記載の発明では、請求項１記載の
光部品特性測定システムで、出力光パワー測定手段が光
スペクトラムアナライザであることを特徴としている。
光部品特性測定システムで、出力光パワー測定手段が光
スペクトラムアナライザであることを特徴としている。
【００２６】すなわち請求項２記載の発明では、測定結
果を平均化することによって、これまで偏波依存性損失
による測定誤差を免れることができなかった光スペクト
ラムアナライザを用いて、波長単位に容易に高精度な光
部品特性を測定することができるようになる。
果を平均化することによって、これまで偏波依存性損失
による測定誤差を免れることができなかった光スペクト
ラムアナライザを用いて、波長単位に容易に高精度な光
部品特性を測定することができるようになる。
【００２７】請求項３記載の発明では、請求項１記載の
光部品特性測定システムで、多波長光源は、波長可変光
源と光スイッチで構成され、光スイッチの切り換えによ
って所定の複数の互いに異なる直線偏波の波長を有する
信号光が出力されることを特徴としている。
光部品特性測定システムで、多波長光源は、波長可変光
源と光スイッチで構成され、光スイッチの切り換えによ
って所定の複数の互いに異なる直線偏波の波長を有する
信号光が出力されることを特徴としている。
【００２８】すなわち請求項３記載の発明では、複数の
光源を用いずに直線偏波の波長可変光源を用いて、必要
な波長を有する信号光を出力するようにしている。
光源を用いずに直線偏波の波長可変光源を用いて、必要
な波長を有する信号光を出力するようにしている。
【００２９】請求項４記載の発明では、請求項１〜請求
項３記載の光部品特性測定システムで、多波長光源から
出力される信号光が直線偏波の単波長の信号光であるこ
とを特徴としている。
項３記載の光部品特性測定システムで、多波長光源から
出力される信号光が直線偏波の単波長の信号光であるこ
とを特徴としている。
【００３０】すなわち請求項４記載の発明では、従来の
単波長の試験信号光であっても直線偏波の単波長の試験
信号光により偏光依存性損失に影響されない高精度な測
定を可能にしている。
単波長の試験信号光であっても直線偏波の単波長の試験
信号光により偏光依存性損失に影響されない高精度な測
定を可能にしている。
【００３１】
【００３２】
【実施例】以下実施例につき本発明を詳細に説明する。
【００３３】図１は本発明の一実施例における光部品特
性測定システムの構成の概要を表わしたものである。図
８に示す従来例と同一要素部分には同一符号を付してい
る。この光部品特性測定システムは、ＤＦＢ−ＬＤ１０
1〜１０8と、これらＤＦＢ−ＬＤ１０1〜１０8のそれぞ
れに対応して出力光を適時オン・オフする光スイッチ１
１1〜１１8と、光結合器である光カプラ１２とからなる
直線偏波の多波長光源を備えている。この多波長光源か
らは互いに異なる複数の波長を有する直線偏波の信号光
が出力され、ＤＦＢ−ＬＤ１０1〜１０8それぞれからの
互いに異なる波長を有する出力光が光スイッチ１１1〜
１１8によって切り換えられて光カプラ１２によって合
波されることによって生成される。
性測定システムの構成の概要を表わしたものである。図
８に示す従来例と同一要素部分には同一符号を付してい
る。この光部品特性測定システムは、ＤＦＢ−ＬＤ１０
1〜１０8と、これらＤＦＢ−ＬＤ１０1〜１０8のそれぞ
れに対応して出力光を適時オン・オフする光スイッチ１
１1〜１１8と、光結合器である光カプラ１２とからなる
直線偏波の多波長光源を備えている。この多波長光源か
らは互いに異なる複数の波長を有する直線偏波の信号光
が出力され、ＤＦＢ−ＬＤ１０1〜１０8それぞれからの
互いに異なる波長を有する出力光が光スイッチ１１1〜
１１8によって切り換えられて光カプラ１２によって合
波されることによって生成される。
【００３４】この光カプラ１２によって合波された信号
光は、例えばＥＤＦＡのような光アンプ１３を介して偏
波スクランブラ３０に入力される。偏波スクランブラ３
０は、入力された信号光の偏波状態をスクランブルする
ことによって、入力された信号光の偏波状態をランダム
に変えることができるようになっている。偏波スクラン
ブラ３０から出力された信号光は光アッテネータ１４に
入力される。
光は、例えばＥＤＦＡのような光アンプ１３を介して偏
波スクランブラ３０に入力される。偏波スクランブラ３
０は、入力された信号光の偏波状態をスクランブルする
ことによって、入力された信号光の偏波状態をランダム
に変えることができるようになっている。偏波スクラン
ブラ３０から出力された信号光は光アッテネータ１４に
入力される。
【００３５】光アッテネータ１４では、入力信号光に対
してその強度を調整して出力信号光として出力させるこ
とができる。その光強度の調整には、光分岐器としての
光カプラ１５により分岐された信号光の一方を第１の光
パワーメータ１６1に入力することによって、この第１
の光パワーメータ１６1の測定値を参照しながら光アッ
テネータ１４の強度調整を行うことができる。より細か
い強度の調整には、光アンプ１３と光アッテネータ１４
とを組み合わせることにより可能となる。第１の光パワ
ーメータ１６1は、入力される信号光のパワー値を測定
することができるが、図７のような波長分割多重化され
た光信号のパワー値を測定するときには、それぞれの波
長成分を積分した測定値が得られる。
してその強度を調整して出力信号光として出力させるこ
とができる。その光強度の調整には、光分岐器としての
光カプラ１５により分岐された信号光の一方を第１の光
パワーメータ１６1に入力することによって、この第１
の光パワーメータ１６1の測定値を参照しながら光アッ
テネータ１４の強度調整を行うことができる。より細か
い強度の調整には、光アンプ１３と光アッテネータ１４
とを組み合わせることにより可能となる。第１の光パワ
ーメータ１６1は、入力される信号光のパワー値を測定
することができるが、図７のような波長分割多重化され
た光信号のパワー値を測定するときには、それぞれの波
長成分を積分した測定値が得られる。
【００３６】光分岐器としての光カプラ１５によって分
岐された光アッテネータ１４からの出力調整光の他方の
信号光は、光アイソレータ１７に入力される。光アイソ
レータ１７は、その出力側に接続される光部品の入力側
から反射などによって漏れてくる光雑音が光源まで到達
しないように抑制することができるようになっている。
光アイソレータ１７からの出力光は、光スイッチ１８に
入力される。
岐された光アッテネータ１４からの出力調整光の他方の
信号光は、光アイソレータ１７に入力される。光アイソ
レータ１７は、その出力側に接続される光部品の入力側
から反射などによって漏れてくる光雑音が光源まで到達
しないように抑制することができるようになっている。
光アイソレータ１７からの出力光は、光スイッチ１８に
入力される。
【００３７】光スイッチ１８は、内部のスイッチ切り換
えにより入力された光信号の経路を切り換えることがで
き、ここではＤＵＴ１９を介して光スイッチ２０へ到達
する経路か、あるいはそのまま光スイッチ１８から直接
光スイッチ２０へ到達する経路のいずれかが選択できる
ようになっている。このようにして、いずれかの経路を
経由して光スイッチ２０から出力された信号光は、光ア
イソレータ２１に入力される。この光アイソレータ２１
は、その出力側に接続される光カプラの入力側からの反
射などによって漏れてくる光雑音が光源まで到達しない
ように抑制することができる。
えにより入力された光信号の経路を切り換えることがで
き、ここではＤＵＴ１９を介して光スイッチ２０へ到達
する経路か、あるいはそのまま光スイッチ１８から直接
光スイッチ２０へ到達する経路のいずれかが選択できる
ようになっている。このようにして、いずれかの経路を
経由して光スイッチ２０から出力された信号光は、光ア
イソレータ２１に入力される。この光アイソレータ２１
は、その出力側に接続される光カプラの入力側からの反
射などによって漏れてくる光雑音が光源まで到達しない
ように抑制することができる。
【００３８】光分岐器としての光カプラ２２に入力され
た信号光は、ここで分岐され、一方は第２の光パワーメ
ータ１６2、他方は光スペクトラムアナライザ２３に入
力されて測定できるようになっている。第２の光パワー
メータ１６2は、入力される信号光のパワー値を測定す
ることができるが、図７のような波長分割多重化された
光信号のパワー値を測定するときには、それぞれの波長
成分を積分した測定値が得られる。光スペクトラムアナ
ライザ２３は、入力される信号光を周波数成分ごとに分
解し、それぞれの周波数成分の光パワー値を測定するこ
とができる。
た信号光は、ここで分岐され、一方は第２の光パワーメ
ータ１６2、他方は光スペクトラムアナライザ２３に入
力されて測定できるようになっている。第２の光パワー
メータ１６2は、入力される信号光のパワー値を測定す
ることができるが、図７のような波長分割多重化された
光信号のパワー値を測定するときには、それぞれの波長
成分を積分した測定値が得られる。光スペクトラムアナ
ライザ２３は、入力される信号光を周波数成分ごとに分
解し、それぞれの周波数成分の光パワー値を測定するこ
とができる。
【００３９】次に、これまで説明したような要部構成の
光部品特性測定システムによる動作概要について説明す
る前に、前述した偏波スクランブラ３０を挿入すること
による光信号の変化について説明する。
光部品特性測定システムによる動作概要について説明す
る前に、前述した偏波スクランブラ３０を挿入すること
による光信号の変化について説明する。
【００４０】図２は、この偏波スクランブラ３０によっ
て偏光状態をランダムに変化させた信号光を、偏光依存
性損失を有する光部品に入力してその出力光を観測した
ようすの概要を模式的に表わしたものである。このよう
に偏光状態により、観測される光パワー値４０が変化
し、ある偏光状態のポイントで測定すると測定された光
パワー値の変動分がそのまま測定誤差として含まれてし
まう。なお、この偏光状態は時間に置き換えることもで
きるので、時間に応じて観測される光パワー値４０が変
化し、ある偏光状態のポイントで測定すると測定された
光パワー値の変動分がそのまま測定誤差として含まれて
しまうことになる。
て偏光状態をランダムに変化させた信号光を、偏光依存
性損失を有する光部品に入力してその出力光を観測した
ようすの概要を模式的に表わしたものである。このよう
に偏光状態により、観測される光パワー値４０が変化
し、ある偏光状態のポイントで測定すると測定された光
パワー値の変動分がそのまま測定誤差として含まれてし
まう。なお、この偏光状態は時間に置き換えることもで
きるので、時間に応じて観測される光パワー値４０が変
化し、ある偏光状態のポイントで測定すると測定された
光パワー値の変動分がそのまま測定誤差として含まれて
しまうことになる。
【００４１】しかし、測定誤差を含む観測される光パワ
ー値の変動は、光部品に依存するがほぼ周期的に現れる
ため、偏光状態すなわち時間に応じて観測される光パワ
ー値が変動する周期の１周期分以上を平均化することに
よって、平均処理結果４１が安定して得ることができ
る。したがって、どの偏光状態のポイントで測定して
も、安定した高精度な測定を行うことができるようにな
る。本実施例では、図示しない平均化処理部において、
光スペクトラムアナライザ２３による測定結果を平均化
することができる。
ー値の変動は、光部品に依存するがほぼ周期的に現れる
ため、偏光状態すなわち時間に応じて観測される光パワ
ー値が変動する周期の１周期分以上を平均化することに
よって、平均処理結果４１が安定して得ることができ
る。したがって、どの偏光状態のポイントで測定して
も、安定した高精度な測定を行うことができるようにな
る。本実施例では、図示しない平均化処理部において、
光スペクトラムアナライザ２３による測定結果を平均化
することができる。
【００４２】図３は、これまで説明した光部品特性測定
システムにおいて、例えば光アンプの特性試験としての
利得測定について、安定した高精度な測定を行うための
手順の概要を表わしたものである。この光部品特性測定
システムにより光部品の特性を測定するために、まずＤ
ＵＴ１９に入力される試験信号光の入力パワーの値“Pi
n_target”の設定を行う（ステップＳ１０１）。その設
定の際には、光スイッチ１８をＤＵＴ１９側に切り換え
てＤＵＴ１９が取り除かれた状態で、ＤＵＴ１９の位置
に光パワーメータを挿入し、ＤＵＴ１９へ入力する所望
の光パワーとなるように光アッテネータ１４を調整す
る。このときのＤＵＴ１９の位置に挿入した光パワーメ
ータの測定による光パワーの値を“Pin_target”とす
る。なお、このときの第１の光パワーメータ１６1の測
定値を“Pin_monitor”とする。
システムにおいて、例えば光アンプの特性試験としての
利得測定について、安定した高精度な測定を行うための
手順の概要を表わしたものである。この光部品特性測定
システムにより光部品の特性を測定するために、まずＤ
ＵＴ１９に入力される試験信号光の入力パワーの値“Pi
n_target”の設定を行う（ステップＳ１０１）。その設
定の際には、光スイッチ１８をＤＵＴ１９側に切り換え
てＤＵＴ１９が取り除かれた状態で、ＤＵＴ１９の位置
に光パワーメータを挿入し、ＤＵＴ１９へ入力する所望
の光パワーとなるように光アッテネータ１４を調整す
る。このときのＤＵＴ１９の位置に挿入した光パワーメ
ータの測定による光パワーの値を“Pin_target”とす
る。なお、このときの第１の光パワーメータ１６1の測
定値を“Pin_monitor”とする。
【００４３】次に、入力経路損失を求めるために、多波
長光源からＤＵＴ１９を介さず光スイッチ２０経由で光
スペクトラムアナライザ２３までの信号光パワーの値
“Pin_measure”を測定する（ステップＳ１０２）。こ
れは、光スイッチ１８においてＤＵＴ１９を介せずに直
接光スイッチ２０へ到達する経路に切り換えて、光アッ
テネータ１４からの出力が、ＤＵＴ１９の位置での試験
信号光の入力パワーの値が“Pin_target”になるように
設定したときの信号光パワーの値を光スペクトラムアナ
ライザ２３で測定する。この光スペクトラムアナライザ
２３による測定値を“Pin_measure”とする。
長光源からＤＵＴ１９を介さず光スイッチ２０経由で光
スペクトラムアナライザ２３までの信号光パワーの値
“Pin_measure”を測定する（ステップＳ１０２）。こ
れは、光スイッチ１８においてＤＵＴ１９を介せずに直
接光スイッチ２０へ到達する経路に切り換えて、光アッ
テネータ１４からの出力が、ＤＵＴ１９の位置での試験
信号光の入力パワーの値が“Pin_target”になるように
設定したときの信号光パワーの値を光スペクトラムアナ
ライザ２３で測定する。この光スペクトラムアナライザ
２３による測定値を“Pin_measure”とする。
【００４４】これらＤＵＴ１９の位置での光パワーメー
タによる信号光パワーの値“Pin_target”とＤＵＴ１９
を介さずに光スペクトラムアナライザ２３によって測定
した信号光パワーの値“Pin_measure”の測定後に、入
力経路損失“Pin_cal”を算出する（ステップＳ１０
３）。入力経路損失“Pin_cal”は、光スペクトラムア
ナライザ２３による測定値“Pin_measure”からＤＵＴ
１９の位置での試験信号光の入力パワーの値“Pin_targ
et”を差し引くこと（“Pin_measure”-“Pin_targe
t”）により算出することができる。この入力経路損失
“Pin_cal”を算出するまでが入力経路損失測定ステッ
プ４５としての第１ステップとなる。
タによる信号光パワーの値“Pin_target”とＤＵＴ１９
を介さずに光スペクトラムアナライザ２３によって測定
した信号光パワーの値“Pin_measure”の測定後に、入
力経路損失“Pin_cal”を算出する（ステップＳ１０
３）。入力経路損失“Pin_cal”は、光スペクトラムア
ナライザ２３による測定値“Pin_measure”からＤＵＴ
１９の位置での試験信号光の入力パワーの値“Pin_targ
et”を差し引くこと（“Pin_measure”-“Pin_targe
t”）により算出することができる。この入力経路損失
“Pin_cal”を算出するまでが入力経路損失測定ステッ
プ４５としての第１ステップとなる。
【００４５】次に、ＤＵＴ１９が挿入された経路におい
て、このＤＵＴ１９で観測される信号光パワーの値が
“Pin_target”になるように信号光の強度の調整を行う
（ステップＳ１０４）。この調整時には第１の光パワー
メータ１６1を用いるが、ＤＵＴ１９部において光パワ
ーの値が“Pin_target”になるように調整するために
は、光アイソレータ１２と光スイッチ１３との挿入損失
分を補償する必要がある。そのために、第１の光パワー
メータ１６1の測定校正量“Pin_set”をステップＳ１０
１で求めた第１の光パワーメータ１６1の測定値“Pin_m
onitor”からＤＵＴ１９の位置での試験信号光の入力パ
ワーの値“Pin_target”を差し引くことで求めることが
できる。
て、このＤＵＴ１９で観測される信号光パワーの値が
“Pin_target”になるように信号光の強度の調整を行う
（ステップＳ１０４）。この調整時には第１の光パワー
メータ１６1を用いるが、ＤＵＴ１９部において光パワ
ーの値が“Pin_target”になるように調整するために
は、光アイソレータ１２と光スイッチ１３との挿入損失
分を補償する必要がある。そのために、第１の光パワー
メータ１６1の測定校正量“Pin_set”をステップＳ１０
１で求めた第１の光パワーメータ１６1の測定値“Pin_m
onitor”からＤＵＴ１９の位置での試験信号光の入力パ
ワーの値“Pin_target”を差し引くことで求めることが
できる。
【００４６】図４は、図１に示したＤＵＴ１９の挿入部
２５についてステップＳ１０４における強度調整を行う
ときの測定システム構成について表わしたものである。
ステップＳ１０４では、光スイッチ１８においてＤＵＴ
１９を介して光スイッチ２０に到達する経路を選択する
ように切り換える。そして、この第１の光パワーメータ
１６1の測定校正量“Pin_set”によって測定値を校正し
ながら測定点５０に挿入した光パワーメータの測定値が
“Pin_target”になるように、光アッテネータ１４から
出力する信号光の強度の調整を行う。
２５についてステップＳ１０４における強度調整を行う
ときの測定システム構成について表わしたものである。
ステップＳ１０４では、光スイッチ１８においてＤＵＴ
１９を介して光スイッチ２０に到達する経路を選択する
ように切り換える。そして、この第１の光パワーメータ
１６1の測定校正量“Pin_set”によって測定値を校正し
ながら測定点５０に挿入した光パワーメータの測定値が
“Pin_target”になるように、光アッテネータ１４から
出力する信号光の強度の調整を行う。
【００４７】次に、出力経路損失を求めるために、多波
長光源から光スイッチ１８においてＤＵＴ１９を介して
光スイッチ２０に到達する経路を選択する。そして、Ｄ
ＵＴ１９からの出力光の影響を排除するためにＤＵＴ１
９を取り除いた状態で、光スペクトラムアナライザ２３
に至る経路でステップＳ１０４において設定した信号パ
ワーの値“Pout_measure”を測定する（ステップＳ１０
５）。
長光源から光スイッチ１８においてＤＵＴ１９を介して
光スイッチ２０に到達する経路を選択する。そして、Ｄ
ＵＴ１９からの出力光の影響を排除するためにＤＵＴ１
９を取り除いた状態で、光スペクトラムアナライザ２３
に至る経路でステップＳ１０４において設定した信号パ
ワーの値“Pout_measure”を測定する（ステップＳ１０
５）。
【００４８】図５は、図１に示したＤＵＴ１９の挿入部
２５についてステップＳ１０５における信号パワーの値
“Pout_measure”を測定するときの測定システム構成に
ついて表わしたものである。ステップＳ１０５では、ス
イッチ１８において測定点５０を通る経路を選択するよ
うに切り換える。そして、上述したようにＤＵＴ１９を
取り除いた状態で測定点５０を通る経路における信号光
パワーの値を測定する。
２５についてステップＳ１０５における信号パワーの値
“Pout_measure”を測定するときの測定システム構成に
ついて表わしたものである。ステップＳ１０５では、ス
イッチ１８において測定点５０を通る経路を選択するよ
うに切り換える。そして、上述したようにＤＵＴ１９を
取り除いた状態で測定点５０を通る経路における信号光
パワーの値を測定する。
【００４９】これまで説明したＤＵＴ１９の位置での試
験信号光の入力パワーの値“Pin_target”とステップＳ
１０５での測定値“Pout_measure”より、出力経路損失
“Pout_cal”を算出する（ステップＳ１０６）。出力経
路損失“Pout_cal”は、ＤＵＴ１９を除いた出力経路の
信号パワー値“Pout_measure”からＤＵＴ１９の位置で
の試験信号光の入力パワーの値“Pin_target”を差し引
くこと（“Pout_measure”-“Pin_target”）により算
出することができる。この入力経路損失“Pin_cal”算
出後、出力経路損失“Pout_cal”を算出するまでが出力
経路損失測定ステップ４６としての第２ステップとな
る。
験信号光の入力パワーの値“Pin_target”とステップＳ
１０５での測定値“Pout_measure”より、出力経路損失
“Pout_cal”を算出する（ステップＳ１０６）。出力経
路損失“Pout_cal”は、ＤＵＴ１９を除いた出力経路の
信号パワー値“Pout_measure”からＤＵＴ１９の位置で
の試験信号光の入力パワーの値“Pin_target”を差し引
くこと（“Pout_measure”-“Pin_target”）により算
出することができる。この入力経路損失“Pin_cal”算
出後、出力経路損失“Pout_cal”を算出するまでが出力
経路損失測定ステップ４６としての第２ステップとな
る。
【００５０】このように測定システムに依存した入力経
路損失と出力経路損失を算出すると、次に光アンプとし
てのＤＵＴ１９への入力パワーの値の測定を行う（ステ
ップＳ１０７）。このＤＵＴ１９への入力パワーの値の
測定は、光スイッチ１８においてＤＵＴ１９を介さない
で直接光スイッチ２０へ到達する経路に切り換える。そ
して、光スイッチ１８〜光スイッチ２０〜光アイソレー
タ２１〜光カプラ２２〜光スペクトラムアナライザ２３
という経路で測定を行う。
路損失と出力経路損失を算出すると、次に光アンプとし
てのＤＵＴ１９への入力パワーの値の測定を行う（ステ
ップＳ１０７）。このＤＵＴ１９への入力パワーの値の
測定は、光スイッチ１８においてＤＵＴ１９を介さない
で直接光スイッチ２０へ到達する経路に切り換える。そ
して、光スイッチ１８〜光スイッチ２０〜光アイソレー
タ２１〜光カプラ２２〜光スペクトラムアナライザ２３
という経路で測定を行う。
【００５１】ＤＵＴ１９への入力パワーの値を測定後、
この測定システムに依存した入力経路損失を差し引くこ
とによって、ＤＵＴ１９へ入力される偏光依存性損失に
影響されない入力光パワーの値“Ｐｉｎ”を算出する
（ステップＳ１０８）。
この測定システムに依存した入力経路損失を差し引くこ
とによって、ＤＵＴ１９へ入力される偏光依存性損失に
影響されない入力光パワーの値“Ｐｉｎ”を算出する
（ステップＳ１０８）。
【００５２】同様にしてＤＵＴ１９からの出力光パワー
の値の測定を行う（ステップＳ１０９）。すなわち光ス
イッチ１８においてＤＵＴ１９を経由して光スイッチ２
０へ到達する経路に切り換える。そして、光スイッチ１
８〜ＤＵＴ１９〜光スイッチ２０〜光アイソレータ２１
〜光カプラ２２〜光スペクトラムアナライザ２３という
経路で測定を行う。そして測定システムに依存した出力
経路損失を差し引くことによってＤＵＴ１９から出力さ
れる偏光依存性損失に影響されない出力光パワーの値
“Ｐｏｕｔ”を算出する（ステップＳ１１０）。
の値の測定を行う（ステップＳ１０９）。すなわち光ス
イッチ１８においてＤＵＴ１９を経由して光スイッチ２
０へ到達する経路に切り換える。そして、光スイッチ１
８〜ＤＵＴ１９〜光スイッチ２０〜光アイソレータ２１
〜光カプラ２２〜光スペクトラムアナライザ２３という
経路で測定を行う。そして測定システムに依存した出力
経路損失を差し引くことによってＤＵＴ１９から出力さ
れる偏光依存性損失に影響されない出力光パワーの値
“Ｐｏｕｔ”を算出する（ステップＳ１１０）。
【００５３】このようにして測定した入力光パワーの値
“Ｐｉｎ”と出力光パワーの値“Ｐｏｕｔ”を差し引く
こと（“Ｐｏｕｔ”−“Ｐｉｎ”）によって、測定シス
テムの光部品の偏光依存性損失に影響されないＤＵＴ１
９の利得を算出することができる（ステップＳ１１
１）。なお、以上の手順を各波長について行う必要があ
る。これらの入力経路損失“Pin_cal”と出力経路損失
“Pout_cal”算出後、偏光依存性損失に影響されないＤ
ＵＴの入力光パワーの値と出力光パワーの値の測定が、
入出力パワー測定ステップ４７としての第３ステップと
なる。
“Ｐｉｎ”と出力光パワーの値“Ｐｏｕｔ”を差し引く
こと（“Ｐｏｕｔ”−“Ｐｉｎ”）によって、測定シス
テムの光部品の偏光依存性損失に影響されないＤＵＴ１
９の利得を算出することができる（ステップＳ１１
１）。なお、以上の手順を各波長について行う必要があ
る。これらの入力経路損失“Pin_cal”と出力経路損失
“Pout_cal”算出後、偏光依存性損失に影響されないＤ
ＵＴの入力光パワーの値と出力光パワーの値の測定が、
入出力パワー測定ステップ４７としての第３ステップと
なる。
【００５４】変形例
【００５５】これまで説明した光部品特性測定システム
では、多波長光源としてＤＦＢ−ＬＤを用いていたが、
例えば波長可変光源（Tunable WaveLength Source:Ｔ
ＬＳ）を用いることもできる。また、光結合器である光
カプラ１２のかわりにＡＷＧ（Arrayed Waveguide Gr
ating）を用いることもできる。
では、多波長光源としてＤＦＢ−ＬＤを用いていたが、
例えば波長可変光源（Tunable WaveLength Source:Ｔ
ＬＳ）を用いることもできる。また、光結合器である光
カプラ１２のかわりにＡＷＧ（Arrayed Waveguide Gr
ating）を用いることもできる。
【００５６】図６はこのような変形例における光部品特
性測定システムの構成の概要を表わしたものである。図
１に示す本実施例における光部品特性測定システムと同
一要素部分には同一符号を付している。この光部品特性
測定システムは、可変波長光源であるＴＬＳ５０1〜５
０8と、これらＴＬＳ５０1〜５０8のそれぞれに対応し
て出力光を適時オン・オフする光スイッチ１１1〜１１8
と、ＡＷＧ５２とからなる直線偏波の多波長光源を備え
ている。この多波長光源からは互いに異なる複数の波長
を有する直線偏波の信号光が出力され、ＴＬＳ５０1〜
５０8のそれぞれから互いに異なる波長を有する出力光
が、光スイッチ１１1〜１１8によって切り換えられてＡ
ＷＧ５２によって、互いに異なる複数の波長を有する試
験信号光が生成される。
性測定システムの構成の概要を表わしたものである。図
１に示す本実施例における光部品特性測定システムと同
一要素部分には同一符号を付している。この光部品特性
測定システムは、可変波長光源であるＴＬＳ５０1〜５
０8と、これらＴＬＳ５０1〜５０8のそれぞれに対応し
て出力光を適時オン・オフする光スイッチ１１1〜１１8
と、ＡＷＧ５２とからなる直線偏波の多波長光源を備え
ている。この多波長光源からは互いに異なる複数の波長
を有する直線偏波の信号光が出力され、ＴＬＳ５０1〜
５０8のそれぞれから互いに異なる波長を有する出力光
が、光スイッチ１１1〜１１8によって切り換えられてＡ
ＷＧ５２によって、互いに異なる複数の波長を有する試
験信号光が生成される。
【００５７】本変形例における光部品特性測定システム
では、その他の構成について、図１に示す本実施例と同
様であり、動作も同様であるため説明を省略する。
では、その他の構成について、図１に示す本実施例と同
様であり、動作も同様であるため説明を省略する。
【００５８】このように、本実施例あるいは本変形例で
示した互いに異なる複数の波長を出力する直線偏波の多
波長光源からの出力光を用いることにより、測定対象と
なる光部品特性を偏光依存性損失に影響されず、その波
長または周波数に依存した特性を高精度に測定すること
ができる。
示した互いに異なる複数の波長を出力する直線偏波の多
波長光源からの出力光を用いることにより、測定対象と
なる光部品特性を偏光依存性損失に影響されず、その波
長または周波数に依存した特性を高精度に測定すること
ができる。
【００５９】なお、実施例および変形例では互いに異な
る波長を有するＤＦＢ−ＬＤ光源あるいは波長可変光源
を用いたが、例えば１〜Ｎ波長の互いに異なる波長を有
する光源であればよい。また実施例および変形例では、
光スイッチ１１1〜１１8を用いたが、例えば光源が出力
光をオフすることができれば必ずしも光スイッチは必要
ではない。さらに、実施例および変形例では、光源とし
て多波長光源を用いたが、これに限るものではなく、例
えば直線偏波の単波長光源であってもよい。
る波長を有するＤＦＢ−ＬＤ光源あるいは波長可変光源
を用いたが、例えば１〜Ｎ波長の互いに異なる波長を有
する光源であればよい。また実施例および変形例では、
光スイッチ１１1〜１１8を用いたが、例えば光源が出力
光をオフすることができれば必ずしも光スイッチは必要
ではない。さらに、実施例および変形例では、光源とし
て多波長光源を用いたが、これに限るものではなく、例
えば直線偏波の単波長光源であってもよい。
【００６０】また実施例および変形例では、光アンプの
特性として利得試験について説明したが、例えば雑音指
数やアイソレーション、スペクトラム、利得偏光依存
性、反射減衰量などの測定にも用いることができる。さ
らに実施例および変形例では、ＤＵＴとして光アンプを
用いたが、例えば光カプラや光アイソレータなどの光部
品の挿入損失や偏光依存性損失の測定にも用いることが
できる。
特性として利得試験について説明したが、例えば雑音指
数やアイソレーション、スペクトラム、利得偏光依存
性、反射減衰量などの測定にも用いることができる。さ
らに実施例および変形例では、ＤＵＴとして光アンプを
用いたが、例えば光カプラや光アイソレータなどの光部
品の挿入損失や偏光依存性損失の測定にも用いることが
できる。
【００６１】また実施例および変形例では試験信号光と
して直線偏波のものを用いたが、それほど精度が問題で
なければ、直線偏波の試験信号光を用いなくてもある程
度の偏光依存性損失による影響を低減することができ
る。
して直線偏波のものを用いたが、それほど精度が問題で
なければ、直線偏波の試験信号光を用いなくてもある程
度の偏光依存性損失による影響を低減することができ
る。
【００６２】これまで説明したように本実施例または本
変形例における光部品特性測定システムによれば、直線
偏波の試験信号光をＤＵＴに入力する前に偏波スクラン
ブラを挿入するようにしたことにより、ＤＵＴへ入力さ
れる試験信号光の偏光状態をランダムに変えることがで
きる。したがって、光部品特性測定システムを構成する
光スイッチや光カプラ、光アンプなどの光部品が本質的
に有する偏光依存性損失に対して、ある所定の周期で考
えれば偏光状態に依存する損失は平均して同一とみなせ
るため、測定した光パワー値をこの周期ごとに平均化す
るようにした。これにより、光部品特性測定システムを
構成する光部品が有する偏光依存性損失には影響されな
い安定した高精度な測定結果が得られるようになる。し
たがって、波長分割伝送システムを構成する光部品の特
性の試験に、これまで光スペクトラムアナライザのよう
に周波数成分ごとにその光パワー値の測定しても測定ポ
イントごとに測定誤差を有していたような測定手段を用
いても、安定した高精度な測定結果を得ることができる
ようになる。
変形例における光部品特性測定システムによれば、直線
偏波の試験信号光をＤＵＴに入力する前に偏波スクラン
ブラを挿入するようにしたことにより、ＤＵＴへ入力さ
れる試験信号光の偏光状態をランダムに変えることがで
きる。したがって、光部品特性測定システムを構成する
光スイッチや光カプラ、光アンプなどの光部品が本質的
に有する偏光依存性損失に対して、ある所定の周期で考
えれば偏光状態に依存する損失は平均して同一とみなせ
るため、測定した光パワー値をこの周期ごとに平均化す
るようにした。これにより、光部品特性測定システムを
構成する光部品が有する偏光依存性損失には影響されな
い安定した高精度な測定結果が得られるようになる。し
たがって、波長分割伝送システムを構成する光部品の特
性の試験に、これまで光スペクトラムアナライザのよう
に周波数成分ごとにその光パワー値の測定しても測定ポ
イントごとに測定誤差を有していたような測定手段を用
いても、安定した高精度な測定結果を得ることができる
ようになる。
【００６３】
【発明の効果】以上説明したように請求項１記載の発明
によれば、試験信号光の偏光状態を偏波スクランブラに
よりランダムに変えて、測定結果を所定の時間を単位と
して平均化するようにしている。その一方で、ＤＵＴに
ついて測定システムに依存する入力経路損失および出力
経路損失を考慮して、測定システムを構成する光部品の
偏光依存性損失と測定システムに依存した経路損失に影
響されないように測定結果に反映するようにしたので、
光アンプなどの光部品特性を安定して高精度に測定を行
うことができるようになる。
によれば、試験信号光の偏光状態を偏波スクランブラに
よりランダムに変えて、測定結果を所定の時間を単位と
して平均化するようにしている。その一方で、ＤＵＴに
ついて測定システムに依存する入力経路損失および出力
経路損失を考慮して、測定システムを構成する光部品の
偏光依存性損失と測定システムに依存した経路損失に影
響されないように測定結果に反映するようにしたので、
光アンプなどの光部品特性を安定して高精度に測定を行
うことができるようになる。
【００６４】
【００６５】
【００６６】また請求項２記載の発明によれば、光スペ
クトラムアナライザによる測定結果を平均化するように
したので、試験信号光の偏光状態のランダムな変化に対
しても測定する信号光は全偏光状態の損失状態を含むた
め、信号光の偏光状態によらず安定した測定が可能とな
る。これはＷＤＭ伝送システムを構成する光部品特性試
験でも非常に有用となる。
クトラムアナライザによる測定結果を平均化するように
したので、試験信号光の偏光状態のランダムな変化に対
しても測定する信号光は全偏光状態の損失状態を含むた
め、信号光の偏光状態によらず安定した測定が可能とな
る。これはＷＤＭ伝送システムを構成する光部品特性試
験でも非常に有用となる。
【００６７】さらに請求項３記載の発明によれば、多波
長光源を波長可変光源と光スイッチで構成するようにし
たので、非常に簡素化した測定システムにおいて、柔軟
かつ安定して高精度な光部品特性の測定を行うことがで
きるようになる。
長光源を波長可変光源と光スイッチで構成するようにし
たので、非常に簡素化した測定システムにおいて、柔軟
かつ安定して高精度な光部品特性の測定を行うことがで
きるようになる。
【００６８】さらに請求項４記載の発明によれば、従来
の単波長光源に対しても測定システムを構成する光部品
のもつ偏光依存性損失に影響されない高精度な測定結果
を得ることができる。
の単波長光源に対しても測定システムを構成する光部品
のもつ偏光依存性損失に影響されない高精度な測定結果
を得ることができる。
【図１】 本発明の一実施例における光部品特性測定シ
ステムの構成の概要を表わしたシステム構成図である。
ステムの構成の概要を表わしたシステム構成図である。
【図２】 偏波スクランブラの出力光が偏光依存性損失
を有する光部品に入力されたときの光パワーの変動を説
明するための説明図である。
を有する光部品に入力されたときの光パワーの変動を説
明するための説明図である。
【図３】 本実施例における光部品特性測定システムで
光アンプの特性試験の手順の概要を表わした流れ図であ
る。
光アンプの特性試験の手順の概要を表わした流れ図であ
る。
【図４】 本実施例における光部品の特性試験時の測定
手順について補足説明をするための第１の説明図であ
る。
手順について補足説明をするための第１の説明図であ
る。
【図５】 本実施例における光部品の特性試験時の測定
手順について補足説明をするための第２の説明図であ
る。
手順について補足説明をするための第２の説明図であ
る。
【図６】 本発明の変形例における光部品特定測定シス
テムの構成の概要を表わしたシステム構成図である。
テムの構成の概要を表わしたシステム構成図である。
【図７】 波長分割多重信号の概念を説明するための説
明図である。
明図である。
【図８】 従来提案された光部品特性測定システムの構
成の概要を表わしたシステム構成図である。
成の概要を表わしたシステム構成図である。
【図９】 偏光依存性損失を有する光部品への入力光の
偏光状態による光パワーの変動を説明するための説明図
である。
偏光状態による光パワーの変動を説明するための説明図
である。
１０1〜１０8 分布帰還型（ＤＦＢ）レーザ光源 １１1〜１１8、１８、２０ 光スイッチ １２、１５、２２ 光カプラ １３ 光アンプ １４ 光アッテネータ １６1、１６2 光パワーメータ １７、２１ 光アイソレータ １９ ＤＵＴ ２３ 光スペクトラムアナライザ ２５ ＤＵＴ挿入部 ３０ 偏波スクランブラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平９−214035（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−120835（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−5461（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−11415（ＪＰ，Ａ) 特開 平10−12955（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/02
Claims (4)
- 【請求項１】 互いに異なる複数の波長を有する直線偏
波の信号光を出力する多波長光源と、 この多波長光源から出力された信号光の偏波状態をスク
ランブルする偏波スクランブラと、 この偏波スクランブラによってスクランブルされた信号
光を試験信号光として入力される被測定光部品と、 波長ごとにこの被測定光部品からの出力光のパワーを測
定する出力光パワー測定手段と、 この出力光パワー測定手段によって測定された光パワー
を所定の時間を単位として平均化する測定結果平均化手
段と、 前記被測定光部品への入力経路損失を測定する入力経路
損失測定手段と、 前記被測定光部品から前記出力光パワー測定手段までの
出力経路損失を測定する出力経路損失測定手段と、 前記測定結果平均化手段によって測定された前記被測定
光部品への入力光のパワーから前記入力経路損失測定手
段によって測定された入力経路損失を差し引いた校正入
力パワーと、前記測定結果平均化手段によって測定され
た前記被測定光部品からの出力光のパワーから前記出力
経路損失測定手段によって測定された出力経路損失を差
し引いた校正出力パワーとから、前記被測定光部品の特
性測定値を求める被測定光部品測定手段 とを具備するこ
とを特徴とする光部品特性測定システム。 - 【請求項２】 前記出力光パワー測定手段が光スペクト
ラムアナライザであることを特徴とする請求項１記載の
光部品特性測定システム。 - 【請求項３】 前記多波長光源は、波長可変光源と光ス
イッチで構成され、光スイッチの切り換えによって所定
の複数の互いに異なる波長を有する直線偏波の信号光が
出力されることを特徴とする請求項１記載の光部品特性
測定システム。 - 【請求項４】 前記多波長光源から出力される信号光が
直線偏波の単波長の信号光であることを特徴とする請求
項１〜請求項３記載の光部品特性測定システム。
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|---|---|---|---|
| JP09366152A JP3107027B2 (ja) | 1997-12-25 | 1997-12-25 | 光部品特性測定システム |
| US09/219,612 US6104477A (en) | 1997-12-25 | 1998-12-23 | Optical characteristic measurement system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09366152A JP3107027B2 (ja) | 1997-12-25 | 1997-12-25 | 光部品特性測定システム |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11183324A JPH11183324A (ja) | 1999-07-09 |
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Family
ID=18486052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09366152A Expired - Fee Related JP3107027B2 (ja) | 1997-12-25 | 1997-12-25 | 光部品特性測定システム |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP3107027B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| EP1126739A1 (en) * | 2000-02-15 | 2001-08-22 | Lucent Technologies Inc. | Method of and arrangement for buffering digital optical signals |
| US6614955B1 (en) * | 2000-08-22 | 2003-09-02 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for an extended wavelength range coherent optical spectrum analyzer |
| US6731381B2 (en) * | 2001-02-27 | 2004-05-04 | Tyco Telecommunications (Us) Inc. | Method and apparatus to measure gain spectra of erbium doped fiber amplifier |
| KR100380255B1 (ko) * | 2001-03-16 | 2003-04-18 | 도남시스템주식회사 | 반복적인 고속 편광 스크램블링을 이용한 편광의존성 손실측정장치 및 방법 |
| KR20030070397A (ko) * | 2002-02-25 | 2003-08-30 | 한국전자통신연구원 | 광커플러의 특성 측정 시스템 |
| GB2394375A (en) * | 2002-10-19 | 2004-04-21 | Bookham Technology Plc | Integrated optical monitor with polarisation scrambling |
| WO2005015139A1 (ja) * | 2003-08-08 | 2005-02-17 | Advantest Corporation | 光測定装置 |
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| US7555221B2 (en) * | 2004-12-23 | 2009-06-30 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Method and apparatus for polarization-independent RF spectrum analysis of an optical source |
| US8059958B1 (en) | 2008-10-10 | 2011-11-15 | Sprint Communications Company L.P. | Measurement of polarization dependent loss in an optical transmission system |
| CN102201864B (zh) * | 2011-07-08 | 2014-07-23 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种多通道光器件的损耗测试装置 |
| CN103326773B (zh) * | 2013-05-31 | 2016-01-06 | 上海霍普光通信有限公司 | 一种plc平面波导光分路器自动测量装置 |
| TW201603508A (zh) | 2014-07-11 | 2016-01-16 | 智邦科技股份有限公司 | 測試系統和方法 |
| US10397190B2 (en) * | 2016-02-05 | 2019-08-27 | Huawei Technologies Co., Ltd. | System and method for generating an obfuscated optical signal |
| KR101890358B1 (ko) * | 2018-02-06 | 2018-08-21 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 다중 파장 레이저의 복합 성능 측정 장치 및 시스템 |
| CN111366334B (zh) * | 2018-12-26 | 2022-05-13 | 海思光电子有限公司 | 偏振相关损耗的确定方法、检测系统及光信号传输结构 |
| CN110470456B (zh) * | 2019-08-16 | 2021-08-10 | 中国信息通信研究院 | 一种光插回损校准装置和测试方法 |
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| US5970201A (en) * | 1997-09-18 | 1999-10-19 | Lucent Technologies Inc. | Power regulation in optical networks |
-
1997
- 1997-12-25 JP JP09366152A patent/JP3107027B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-12-23 US US09/219,612 patent/US6104477A/en not_active Expired - Fee Related
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| US6104477A (en) | 2000-08-15 |
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