WO2005015139A1 - 光測定装置 - Google Patents

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WO2005015139A1
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light
output terminal
optical
input terminal
wavelength band
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PCT/JP2004/011493
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French (fr)
Inventor
Shoji Niki
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Advantest Corporation
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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum

Definitions

  • the present invention relates to measurement of a wavelength characteristic and an optical spectrum of an object to be measured such as an optical fiber.
  • the spectrum analyzer has a spectroscope and a photodetector (for example, see Patent Document 1 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-34067 (Summary))).
  • a wavelength characteristic measuring device for measuring the wavelength characteristic of an object to be measured such as an optical fiber has a light source for emitting light to the object to be measured and a photodetector for detecting light transmitted through the object to be measured.
  • a wavelength characteristic measuring device may be used, and then a spectrum analyzer may be used.
  • the present invention provides an apparatus having a minimum configuration capable of measuring both the wavelength characteristic and the optical spectrum characteristic.
  • a wavelength band component extracting unit that extracts a component of a predetermined wavelength band from incident light, a branch that branches the predetermined wavelength band component into a first direction and a second direction Means, a first input terminal, a second input terminal, a first output terminal, and a second output terminal, the first input terminal being located at one end of the device under test, and the second input terminal being located in the first direction of the branching means.
  • Optical connection means connected to the side, an optical amplification means for receiving light from the second output terminal, and outputting amplified light to the incident light receiving section of the wavelength band component extraction means for amplifying the light, and a first output And a light detecting means for detecting light, wherein the other end of the device under test is connected to the second direction side of the branching means, and the optical connection means comprises: (1) a first input terminal; Connect the first output terminal and the second input terminal and the second output terminal at the same time. Or (2) at the same time connects the first input terminal and a second output terminal configured to connect a second input terminal and a first output terminal.
  • the wavelength band component extracting unit extracts a component of a predetermined wavelength band from the incident light.
  • the branching unit branches the predetermined wavelength band component into a first direction and a second direction.
  • the stage has a first input terminal, a second input terminal, a first output terminal, and a second output terminal, the first input terminal being at one end of the device under test, and the second input terminal being the first of the branch means. Connect to the direction side.
  • the optical amplifier receives the light from the second output terminal and outputs amplified light to the incident light receiver of the wavelength band component extractor.
  • the light detecting means is connected to the first output terminal and detects light.
  • the other end of the device under test is connected to the branching means in the second direction.
  • the optical connection means may be configured to: (1) connect the first input terminal and the first output terminal, and at the same time connect the second input terminal and the second output terminal, or (2) the first input terminal And the second output terminal, and simultaneously, the second input terminal and the first output terminal.
  • the optical amplifier can be a fiber amplifier or a semiconductor optical amplifier.
  • the wavelength band component extracting means can make the predetermined wavelength band variable.
  • the device under test can be an optical fiber or an object that transmits a light beam.
  • the optical measuring device configured as described above, there are a plurality of wavelength band component extracting means, different predetermined wavelength bands from which the means are extracted, and a plurality of optical detecting means, each of which has a light detecting means.
  • This wavelength band can correspond to a predetermined wavelength band.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a light measuring device 1 according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing an operation when the optical measurement device 1 according to the first embodiment is used as a wavelength characteristic measurement device.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating an operation when the optical measurement device 1 according to the first embodiment is used as a spectrum analyzer.
  • FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of the optical measurement device 1 according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating an operation when the optical measurement device 1 according to the second embodiment is used as a wavelength characteristic measurement device.
  • FIG. 6 is a diagram showing an operation when the optical measurement device 1 according to the second embodiment is used as a spectrum analyzer (for a long wavelength band).
  • FIG. 7 is a diagram showing an operation when the optical measurement device 1 according to the second embodiment is used as a spectrum analyzer (for a short wavelength band).
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a light measuring device 1 according to the first embodiment of the present invention.
  • the optical measurement device 1 is connected to a device under test (DUT: Device Under Test) 2.
  • the DUT 2 is preferably an optical fiber, but may be an optical fiber.
  • the optical measuring device 1 includes an optical amplifier (optical amplification means) 10, a spectroscope (wavelength component extracting means) 12, a power blur (branching means) 14, an optical input terminal 16, an optical output terminal 18, and an optical switch. (Optical connection means) 20; light detection unit 30; sweep controller 32;
  • the optical amplifier (optical amplification means) 10 amplifies the incident light.
  • the optical amplifier 10 may be a fiber amplifier such as an EDFA (erbium doped fiber amplifier) or a semiconductor optical amplifier.
  • the light output from the optical amplifier 10 is called amplified light.
  • the spectroscope (wavelength component extracting means) 12 extracts a component of a predetermined wavelength band from the amplified light output from the optical amplifier 10.
  • the predetermined wavelength band can be changed by the sweep controller 32. That is, a predetermined wavelength band can be swept.
  • the force brass (branching means) 14 has an input terminal 14a, output terminals 14b, and 14c.
  • the power brassier 14 branches the light received by the input terminal 14a to output terminals 14b and 14c.
  • the input terminal 14 a receives a predetermined wavelength band component output from the spectroscope 12.
  • the predetermined wavelength band component is output to the output terminals 14b and 14c.
  • the output terminal (first direction side) 14 b is connected to the second input terminal 22 b of the optical switch 20, and the output terminal (second direction side) 14 c is connected to the optical output terminal 18.
  • the optical input terminal 16 is connected to one end of the device under test 2 and receives light emitted from the device under test 2.
  • Optical output terminals 18 are to be measured It is connected to the other end of the object 2 and allows light to enter the device under test 2.
  • the optical switch (optical connection means) 20 is a DPDT (double ports double throws) type switch.
  • the optical switch 20 has a first input terminal 22a, a second input terminal 22b, a first output terminal 24a, and a second output terminal 24b.
  • the first input terminal 22a and the second input terminal 22b are terminals for receiving light.
  • the first input terminal 22 a is connected to one end of the device under test 2 via the optical input terminal 16.
  • the second input terminal 2 2 b is connected to the output terminal 14 b of the force brush 14.
  • the first output terminal 24a and the second output terminal 24b are terminals for outputting light.
  • the first output terminal 24a is connected to the light detection unit 30.
  • the second output terminal 24 b is connected to the input side of the optical amplifier 10.
  • the second output terminal 24 b is connected to the input side (incident light receiving unit) of the spectroscope 12 via the optical amplifier 10.
  • the optical switch 20 (1) connects the second input terminal 22b to the second output terminal 24b and simultaneously connects the first input terminal 22a to the first output terminal 24a.
  • the output terminal 14 b of the force brass 14 is connected to the input side of the optical amplifier 10. It will be.
  • the light detection section 30 detects light received from the first output terminal 24a. Specifically, it converts the received light into an electrical signal.
  • the sweep controller 32 sweeps a predetermined wavelength band in the spectroscope 12. The predetermined wavelength band is also sent to the display 34.
  • the display 34 displays the predetermined wavelength band determined by the sweep controller 32 on the X axis (horizontal axis) and the electric signal output from the photodetector 30 on the Y axis (vertical axis).
  • the optical switch 20 is operated to (1) connect the second input terminal 22 b and the second output terminal 24 b and at the same time, connect the first input terminal 22 a And the first output terminal 24a.
  • the amplified light output from the optical amplifier 10 is turned into a spectroscope 12
  • the light passes through the input terminal 14a, the output terminal 14b, and the second input terminal 22b, the second output terminal 24b of the optical switch 20, and is input to the optical amplifier 10. Therefore, the amplified light output from the optical amplifier 1 ⁇ is input to the optical amplifier 10 and can be said to be positive feedback. Because of the positive feedback, the intensity of the amplified light output from the optical amplifier 10 increases. Moreover, since the output of the optical amplifier 10 passes through the spectroscope 12, the intensity of the predetermined wavelength band component is increased.
  • the light passes through the DUT 2 and is emitted from one end of the DUT 2.
  • the emitted light is received by the light input terminal 16.
  • the light received by the optical input terminal 16 passes through the first input terminal 22 a and the first output terminal 24 a of the optical switch 20 and is received by the light detection unit 30.
  • the light detector 30 converts the received light into an electric signal.
  • the display 34 displays the predetermined wavelength band determined by the sweep controller 32.
  • the X-axis displays the electrical signal output by the photodetector 30 along the Y-axis (vertical axis). By observing the display on the display 34, the wavelength characteristics of the DUT 2 can be determined.
  • the optical measurement device 1 functions as a wavelength characteristic measurement device that measures the wavelength characteristics of the device under test 2.
  • the optical switch 20 is operated to (2) connect the second input terminal 22 b and the first output terminal 24 a, and at the same time, connect the first input terminal 22 Connect a to the second output terminal 2 4 b.
  • (P) light emitted from one end of the device under test 2 is received by the optical input terminal 16.
  • (Q) the light received by the optical input terminal 16 passes through the first input terminal 22 a and the second output terminal 24 b of the optical switch 20 and is input to the optical amplifier 10. You.
  • the (R) optical amplifier 10 amplifies the received light and outputs the amplified light.
  • (S) a predetermined wavelength band component of the amplified light is extracted by the spectroscope 12.
  • the extracted predetermined wavelength band component is output from the output terminal 14 b via the input terminal 14 a of the power brush 14.
  • the light emitted from the (T) output terminal 14 b is an optical switch 20.
  • the light detection unit 30 converts the received light into an electric signal.
  • the display 34 displays the predetermined wavelength band determined by the sweep controller 32 on the X axis (horizontal axis) and the electric signal output from the photodetector 30 on the Y axis (vertical axis).
  • the optical measurement device 1 functions as a spectrum analyzer that measures the spectrum of light emitted from one end of the device under test 2. Moreover, since a predetermined wavelength band component is extracted from the light amplified by the optical amplifier 10, the optical amplifier 10 functions as a preamplifier. Therefore, the optical measurement device 1 functions as a highly sensitive spectrum analyzer.
  • the variable wavelength light source used in the wavelength characteristic measuring device is constituted by the optical amplifier 10 and the spectroscope 12.
  • a high-sensitivity spectrum analyzer uses an optical amplifier 10 and a spectroscope 12.
  • the optical amplifier 10 and the spectroscope 12 included in the spectrum analyzer can be used as a variable wavelength light source.
  • the optical amplifier 10 and the spectroscope 12 of the variable wavelength light source included in the wavelength characteristic measuring device can be used.
  • both the wavelength characteristic measuring device and the spectrum analyzer can use the photodetector 30. Therefore, both the wavelength characteristic measuring device and the spectrum analyzer are optical amplifier 10 and spectrometer. 12 and the photodetector 30 can be used. Therefore, the members (optical amplifier 10, spectroscope 12, and light detector 30) of the spectrum analyzer and the wavelength characteristic measuring device can be used effectively.
  • FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of the optical measurement device 1 according to the second embodiment of the present invention.
  • Optical measuring device 1 includes optical amplifiers (optical amplification means) 10a, 10b, spectrometers (wavelength component extraction means) 12a, 12b, power blurs (branching means) 14, optical input terminals 16; optical output terminal 18; optical switch (optical connection means) 20; photodetectors 30a, 30b; sweep controller 32;
  • optical amplifiers 10a and 10b are the same as the optical amplifier 10 in the first embodiment. However, the optical amplifier 10a outputs light in a longer wavelength band than the optical amplifier 10b.
  • the optical amplifier 10a is an optical amplifier for a long wavelength band and the optical amplifier 10b is an optical amplifier for a short wavelength band.
  • the spectroscope 12a extracts a component in a predetermined wavelength band from the amplified light output from the optical amplifier 10a.
  • the spectroscope 12b extracts a component in a predetermined wavelength band from the amplified light output from the optical amplifier 10b.
  • the specified wavelength band Can be changed by the sweep controller 32. That is, a predetermined wavelength band can be swept.
  • the spectrometer 12a extracts light in a longer wavelength band than the spectrometer 12b.
  • the coupler 14 has an input terminal 14a, output terminals 14b, and 14c.
  • the power brush 14 branches the light received by the input terminal 14a to the output terminals 14b and 14c.
  • the input terminal 14a receives a predetermined wavelength band component output from the spectrometers 12a and 12b. Therefore, the predetermined wavelength band component is output to the output terminals 14b and 14c.
  • the output terminal (first direction side) 14 b is connected to the second input terminal 22 b of the optical switch 20, and the output terminal (second direction side) 14 c is connected to the optical output terminal 18. You.
  • the optical input terminal 16 and the optical output terminal 18 are the same as in the first embodiment, and the description is omitted.
  • the optical switch (optical connection means) 20 is a DP3T (double ports 3 throws) type switch.
  • the optical switch 20 has a first input terminal 22 a, a second input terminal 22 b, a first output terminal 24 a, a second output terminal 24 b, a third output terminal 26 a, and a fourth output. It has terminals 26b.
  • the first input terminal 22a and the second input terminal 22b are the same as in the first embodiment, and the description is omitted.
  • the first output terminal 24a and the second output terminal 24b are terminals for outputting light.
  • the first output terminal 24a is connected to the photodetector 30a.
  • the second output terminal 24b is connected to the input side of the optical amplifier 10a.
  • the third output terminal 26a and the fourth output terminal 26b are terminals for outputting light.
  • the third output terminal 26a is connected to the detector 30b.
  • the fourth output terminal 26b is connected to the input side of the optical amplifier 10b.
  • the optical switch 20 (1) connects the second input terminal 22b and the second output terminal 24b and simultaneously connects the first input terminal 22a and the first output terminal 24a.
  • One of the following two connections is performed: the first input terminal 22a and the fourth output terminal 26b are connected simultaneously with the two input terminals 22b and the third output terminal 26a.
  • the output terminal 14 b of the force brass 14 is connected to the input side of the optical amplifier 10 a. .
  • the light detector 30a detects light received from the first output terminal 24a. Specifically, it converts the received light into an electric signal.
  • the light detection section 3 Ob detects light received from the second output terminal 24b. Specifically, it converts the received light into an electric signal.
  • the wavelength band of light detected by the light detection unit 30a corresponds to the wavelength band (long wavelength band) of light output from the optical amplifier 10a.
  • the wavelength band of light detected by the light detection unit 30b corresponds to the wavelength band (short wavelength band) of light output from the optical amplifier 10b.
  • the light detector 30a is an InGaAs photodiode
  • the light detector 30b is a Si photodiode.
  • the sweep controller 32 sweeps a predetermined wavelength band in the spectrometers 12a and 12b.
  • the predetermined wavelength band is also sent to the display 34.
  • the display 34 displays the predetermined wavelength band determined by the sweep controller 32 on the X axis (horizontal axis), and the electric signals output from the photodetectors 30a and 30b on the Y axis (vertical axis). Display.
  • the optical switch 20 is operated to (1) connect the second input terminal 22 b and the second output terminal 24 b and at the same time simultaneously connect the first input terminal 22 a And the first output terminal 24a. Then, (A) the amplified light output from the optical amplifier 10a is divided into the spectroscope 12a, the input terminal 14a of the power brawler 14a, the output terminal 14b, and the second input terminal 2 of the optical switch 20. 2b, passes through the second output terminal 24b and is input to the optical amplifier 10a. Therefore, the amplified light output from the optical amplifier 10a is input to the optical amplifier 10a, which can be said to be positive feedback. Because of the positive feedback, the intensity of the amplified light output from the optical amplifier 10a increases.
  • the intensity of the predetermined wavelength band component is increased. Furthermore, since a predetermined wavelength band is swept by the sweep controller 32, light passing through the optical amplifier 10a and the spectroscope 12a has a wavelength that changes. By extracting this light, a positive feedback system having the optical amplifier 10a and the spectroscope 12a can be used as a variable wavelength light source.
  • the light passing through the optical amplifier 10 a and the spectroscope 12 a enters the input terminal 14 a of the power blur 14. Light entering the input terminal 14a branches to the output terminals 14b and 14c. The light branched to the output terminal 14 c passes through the light output terminal 18.
  • the light passing through the light output terminal 18 is incident on the other end of the DUT 2. Then, the light passes through the DUT 2 and is emitted from one end of the DUT 2. The emitted light is received by the light input terminal 16.
  • the light received by the optical input terminal 16 passes through the first input terminal 22 a and the first output terminal 24 a of the optical switch 20, and Can be received.
  • the light detector 30a converts the received light into an electrical signal Convert to
  • the display 34 displays the predetermined wavelength band determined by the sweep controller 32 on the X axis (horizontal axis), and the electric signals output from the photodetectors 30a and 30b on the Y axis (vertical axis). Display.
  • the optical measurement device 1 functions as a wavelength characteristic measurement device that measures the wavelength characteristics of the device under test 2.
  • the optical switch 20 is operated to (2) connect the second input terminal 22 b and the first output terminal 24 a and at the same time, connect the first input terminal 22 Connect a to the second output terminal 2 4 b.
  • (P) light emitted from one end of the device under test 2 is received by the optical input terminal 16.
  • (Q) the light received by the optical input terminal 16 passes through the first input terminal 22 a and the second output terminal 24 b of the optical switch 20 and is input to the optical amplifier 10 a. Is done.
  • the (R) optical amplifier 10a amplifies the received light and outputs the amplified light as amplified light. Further, the (S) predetermined wavelength band component of the amplified light is extracted by the spectroscope 12a. The extracted predetermined wavelength band component is input terminal of coupler 14 The light is output from the output terminal 14 b via the 14 a. Then, the light emitted from the (T) output terminal 14b passes through the second input terminal 22b and the first output terminal 24a of the optical switch 20 and is received by the photodetector 30a. Can be The light detector 30a converts the received light into an electric signal.
  • the display 34 displays the predetermined wavelength band determined by the sweep controller 32 on the X axis (horizontal axis), and the electric signals output from the photodetectors 30a and 30b on the Y axis (vertical axis). Display. By observing the display contents of the display 34, the component of the long wavelength band of the light emitted from one end of the device under test 2 can be understood.
  • the optical switch 20 is operated to (3) connect the second input terminal 22 b and the third output terminal 26 a and at the same time, connect the first input terminal 22 Connect a to the fourth output terminal 26 b. Then, (P) light emitted from one end of the device under test 2 is received by the optical input terminal 16.
  • (Q) the light received by the optical input terminal 16 passes through the first input terminal 22 a and the fourth output terminal 26 b of the optical switch 20 and is input to the optical amplifier 10 b. Is done.
  • the (R) optical amplifier 10b amplifies the received light and outputs it as amplified light. Power.
  • a predetermined wavelength band component of the (S) amplified light is extracted by the spectroscope 12b.
  • the extracted predetermined wavelength band component is output from the output terminal 14 b via the input terminal 14 a of the power brush 14.
  • the light emitted from the (T) output terminal 14 b passes through the second input terminal 22 b and the third output terminal 26 a of the optical switch 20, and is received by the light detection unit 3 Ob.
  • the light detector 30b converts the received light into an electric signal.
  • the display 34 displays the predetermined wavelength band determined by the sweep controller 32 on the X axis (horizontal axis), and the electric signals output from the photodetectors 30a and 30b on the Y axis (vertical axis). Display. By observing the contents displayed on the display 34, the short-wavelength band component of the light emitted from one end of the device under test 2 can be determined. Therefore, the optical measurement device 1 functions as a spectrum analyzer that measures the spectrum of the light emitted from one end of the device under test 2 (see FIGS. 6 and 7).
  • the optical measurement device 1 functions as a high-sensitivity spectrum analyzer. According to the second embodiment, the same effects as in the first embodiment can be obtained. Moreover, when the optical measurement device 1 is used as a spectrum analyzer, the first implementation is performed because the photodetector 30a corresponds to a long wavelength band and the photodetector 30b corresponds to a short wavelength band. Components in a wider wavelength band than in the case of the form can be detected.

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Abstract

　波長特性及び光スペクトル特性の両方が測定できる最小構成の装置を提供する。光アンプ１０と、それにより増幅された光から所定波長帯域成分を取り出す分光器１２と、所定波長帯域成分を二方向に分岐するカプラ１４と、第一入力端子２２ａ、第二入力端子２２ｂ、第一出力端子２４ａ、第二出力端子２４ｂを有する光スイッチ２０と、光を検出する光検出部３０とを備え、第一入力端子２２ａが被測定物２の一端に、第二入力端子２２ｂがカプラ１４に、第一出力端子２４ａが光検出部３０に、第二出力端子２４ｂが光アンプ１０の入力側に接続される。光スイッチ２０は、（１）第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂを接続し、第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａを接続する（波長特性測定装置）、又は（２）第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａを接続し、第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂを接続する（スペクトルアナライザ）。

Description

光測定装置
技術分野
本発明は、 光ファイバ等の被測定物の波長特性および光スぺク トル の測定に関する。
明 田
背景技術
従来より、 光スぺクトルを測定するためにスぺクトルアナライザが 使用されている。 スペクトルアナライザは、 分光器と光検出器とを有 する （例えば、 特許文献 1 (特開 2 0 0 2 - 3 4 0 6 7 3号公報 （要 約）） を参照）。
また、 光ファイバ等の被測定物の波長特性を測定する波長特性測定 装置は、 被測定物に光を入射する光源と、 被測定物を透過した光を検 出する光検出器とを有する。
ここで、 被測定物の波長特性および光スぺ トルの測定を続けて行 ないたい場合がある。この場合、波長特性測定装置を使用し、その後、 スぺク トルアナライザを使用すればよい。
しかしながら、 波長特性測定装置を使用する際には、 スペクトルァ ナライザが有する分光器および光検出器を使用できない。 スぺクトル アナライザを使用する際には、 波長特性測定装置が有する光源および 光検出器を使用できない そこで、 本発明は、 スペク トルアナライザおよび波長特性測定装置 が有する部材を有効に使用することを課題とする。 すなわち、 波長特 性および光スぺクトル特性の両方が測定できる最小構成の装置を提供 するものである。
発明の開示
本発明の一態様による光測定装置によれば、 入射された光から所定 の波長帯域の成分を取り出す波長帯域成分取出手段と、 所定波長帯域 成分を第一方向と第二方向とに分岐する分岐手段と、 第一入力端子、 第二入力端子および第一出力端子、 第二出力端子を有し、 第一入力端 子が被測定物の一端に、 第二入力端子が分岐手段の第一方向側に接続 された光接続手段と、 第二出力端子から光を受け、 波長帯域成分取出 手段の入射光受光部に向けて光を増幅した増幅光を出力する光増幅手 段と、 第一出力端子に接続され、 光を検出する光検出手段とを備え、 被測定物の他端が分岐手段の第二方向側に接続されており、 光接続手 段は、 （ 1 )第一入力端子と第一出力端子とを接続すると同時に、第二 入力端子と第二出力端子とを接続する、 あるいは、 （ 2 )第一入力端子 と第二出力端子とを接続すると同時に、 第二入力端子と第一出力端子 とを接続するように構成される。 上記のように構成された光測定装置によれば、 波長帯域成分取出手 段は、 入射された光から所定の波長帯域の成分を取り出す。 分岐手段 は、 所定波長帯域成分を第一方向と第二方向とに分岐する。 光接続手 段は、 第一入力端子、 第二入力端子および第一出力端子、 第二出力端 子を有し、 第一入力端子が被測定物の一端に、 第二入力端子が分岐手 段の第一方向側に接続する。 光増幅手段は、 第二出力端子から光を受 け、 波長帯域成分取出手段の入射光受光部に向けて光を増幅した増幅 光を出力する。 光検出手段は、 第一出力端子に接続され、 光を検出す る。 しかも、被測定物の他端が分岐手段の第二方向側に接続されている。 さらに、光接続手段は、 （ 1 )第一入力端子と第一出力端子とを接続す ると同時に、 第二入力端子と第二出力端子とを接続する、 あるいは、 ( 2 ) 第一入力端子と第二出力端子とを接続すると同時に、 第二入力 端子と第一出力端子とを接続する。 上記のように構成された光測定装置によれば、 光増幅手段は、 ファ ィバアンプあるいは半導体光アンプとすることができる。 上記のように構成された光測定装置によれば、 波長帯域成分取出手 段は、 所定波長帯域が可変であるようにできる。 上記のように構成された光測定装置によれば、 被測定物は、 光ファ ィバあるいは光ビームを透過する物とすることができる。 上記のように構成された光測定装置によれば、 波長帯域成分取出手 段が複数あって、 それそれが取り出す所定の波長帯域が異なり、 光検 出手段が複数あって、 それぞれが検出する光の波長帯域が、 所定の波 長帯域に対応するようにできる。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の第一の実施形態にかかる光測定装置 1の構成を示 すプロック図である。
図 2は、 第一の実施形態にかかる光測定装置 1を波長特性測定装置 として利用する場合の動作を示す図である。
図 3は、 第一の実施形態にかかる光測定装置 1をスぺク トルアナラ ィザとして利用する場合の動作を示す図である。
図 4は、 本発明の第二の実施形態にかかる光測定装置 1の構成を示 すプロック図である。
図 5は、 第二の実施形態にかかる光測定装置 1を波長特性測定装置 として利用する場合の動作を示す図である。
図 6は、 第二の実施形態にかかる光測定装置 1をスぺクトルアナラ ィザ （長波長帯域用） として利用する場合の動作を示す図である。 図 7は、 第二の実施形態にかかる光測定装置 1をスぺクトルアナラ ィザ （短波長帯域用） として利用する場合の動作を示す図である。
発明を実施するための最良の形態 以下、 本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。 第一の実施形態
図 1は、 本発明の第一の実施形態にかかる光測定装置 1の構成を示 すプロック図である。光測定装置 1は、被測定物（DUT : Device Under Test) 2に接続されている。 被測定物 2は、 光ファイバであることが 好ましいが、 光ビームを透過するものであってもよい。 光測定装置 1は、 光アンプ （光増幅手段） 1 0、 分光器 （波長成分 取出手段） 1 2、 力ブラ （分岐手段） 1 4、 光入力端子 1 6、 光出力 端子 1 8、 光スィッチ （光接続手段） 2 0、 光検出部 3 0、 掃引コン トロ一ラ 3 2、 表示器 3 4を備える。 光アンプ （光増幅手段） 1 0は、 入射された光を増幅する。 光アン プ 1 0は、 EDFA ( erbium doped fiber amplifier) のようなファイバ アンプでもよいし、 半導体光アンプでもよい。 光アンプ 1 0の出力す る光を増幅光という。 分光器 （波長成分取出手段） 1 2は、 光アンプ 1 0の出力する増幅 光から所定の波長帯域の成分を取り出す。 なお、 所定の波長帯域は、 掃引コントロ一ラ 3 2により変化させることができる。 すなわち、 所 定の波長帯域を掃引することができる。 力ブラ （分岐手段） 1 4は、 入力端子 1 4 a、 出力端子 1 4 b、 1 4 cを有する。 力ブラ 1 4は、 入力端子 1 4 aが受けた光を、 出力端 子 1 4 b、 1 4 cに分岐する。 入力端子 1 4 aは、 分光器 1 2が出力 する所定波長帯域成分を受ける。 よって、 所定波長帯域成分は、 出力 端子 1 4 b、 1 4 cに出力される。 なお、 出力端子 （第一方向側） 1 4 bは光スィツチ 2 0の第二入力端子 2 2 bに接続され、出力端子（第 二方向側） 1 4 cは光出力端子 1 8に接続される。 光入力端子 1 6は、 被測定物 2の一端に接続され、 被測定物 2から 出射された光を受けるためのものである。 光出力端子 1 8は、 被測定 物 2の他端に接続され、被測定物 2に光を入射するためのものである。 光スイッチ （光接続手段） 2 0は、 DPDT ( double ports double throws) 型のスィヅチである。 光スイッチ 2 0は、 第一入力端子 2 2 a、 第二入力端子 2 2 b、 第一出力端子 2 4 a、 第二出力端子 2 4 b を有する。 第一入力端子 2 2 a、 第二入力端子 2 2 bは、 光を受けるための端 子である。 第一入力端子 2 2 aは、 光入力端子 1 6を介して、 被測定 物 2の一端に接続される。 第二入力端子 2 2 bは、 力ブラ 1 4の出力 端子 1 4 bに接続される。 第一出力端子 2 4 a、 第二出力端子 2 4 bは、 光を出力するための 端子である。 第一出力端子 2 4 aは、 光検出部 3 0に接続される。 第 二出力端子 2 4 bは、光アンプ 1 0の入力側に接続されている。なお、 第二出力端子 2 4 bは、 光アンプ 1 0を介して、 分光器 1 2の入力側 (入射光受光部） に接続されているといえる。 なお、光スィヅチ 2 0は、 （ 1 )第二入力端子 2 2 bと第二出力端子 2 4 bとを接続すると同時に第一入力端子 2 2 aと第一出力端子 2 4 aとを接続する、 あるいは （ 2 ) 第二入力端子 2 2 bと第一出力端子 2 4 aとを接続すると同時に、 第一入力端子 2 2 aと第二出力端子 2 4 bとを接続する。 なお、 第二入力端子 2 2 bと第二出力端子 2 4 bとを接続すると、 力ブラ 1 4の出力端子 1 4 bと、 光アンプ 1 0の入力側とを接続する ことになる。 第一入力端子 2 2 aと第一出力端子 2 4 aとを接続する と、 被測定物 2の一端と、 光検出部 3 0とを接続することになる。 また、 第二入力端子 2 2 bと第一出力端子 2 4 aとを接続すると、 力ブラ 1 4の出力端子 1 4 bと、 光検出部 3 0とを接続することにな る。 第一入力端子 2 2 aと第二出力端子 2 4 bとを接続すると、 被測 定物 2の一端と、 光アンプ 1 0の入力側とを接続することになる。 光検出部 3 0は、 第一出力端子 2 4 aから受けた光を検出する。 具 体的には、 受けた光を電気信号に変換する。 掃引コントローラ 3 2は、 分光器 1 2における所定の波長帯域を掃 引する。 なお、 所定の波長帯域は、 表示器 3 4にも送られる。 表示器 3 4は、 掃引コントローラ 3 2が決定した所定の波長帯域を X軸 （横軸） に、 光検出部 3 0の出力する電気信号を Y軸 （縦軸） に とって表示する。 次に、 第一の実施形態にかかる光測定装置 1の動作を図 2、 3を参 照して説明する。 まず、 図 2に示すように、 光スイッチ 2 0を操作して、 （ 1 )第二入 力端子 2 2 bと第二出力端子 2 4 bとを接続すると同時に第一入力端 子 2 2 aと第一出力端子 2 4 aとを接続する。 すると、 （A )光アンプ 1 0の出力する増幅光は、 分光器 1 2、 カブ ラ 14の入力端子 1 4 a、 出力端子 1 4 b、 光スイッチ 20の第二入 力端子 2 2 b、 第二出力端子 24 bを通過して、 光アンプ 1 0に入力 される。 よって、 光アンプ 1 ◦の出力する増幅光が、 光アンプ 1 0に 入力されることになり、 正帰還といえる。 正帰還しているので、 光ァ ンプ 1 0が出力する増幅光の強度が高くなる。 しかも、 光アンプ 1 0 の出力が分光器 1 2を通るため、 所定波長帯域成分について、 強度が 高くなる。 さらに、 掃引コントローラ 3 2により、 所定の波長帯域が 掃引されるため、 光アンプ 1 0および分光器 1 2を通過する光は、 波 長が変化する光となる。 この光を取り出せば、 光アンプ 1 0および分 光器 1 2を有する正帰還系を、 可変波長光源として利用できる。 次に、 （B)光アンプ 1 0および分光器 1 2を通過する光は、 力ブラ 14の入力端子 14 aに入る。 入力端子 14 aに入った光は、 出力端 子 14 b、 1 4 cに分岐する。 出力端子 14 cに分岐した光は、 光出 力端子 1 8を通過する。 さらに、 （C)光出力端子 1 8を逄過した光は、被測定物 2の他端に 入射する。 そして、 被測定物 2を透過して、 被測定物 2の一端から出 射する。 出射された光は、 光入力端子 1 6により受けられる。 そして、 （D)光入力端子 1 6により受けられた光は、光スイッチ 2 0の第一入力端子 2 2 a、 第一出力端子 24 aを通過して、 光検出部 3 0によって受けられる。 光検出部 3 0は受けた光を、 電気信号に変 換する。 表示器 34は、 掃引コントローラ 3 2が決定した所定の波長帯域を X軸 （横軸） に、 光検出部 3 0の出力する電気信号を Y軸 （縦軸） に とって表示する。 表示器 3 4の表示内容を観察すれば、 被測定物 2の波長特性がわか る。 よって、 光測定装置 1は、 被測定物 2の波長特性を測定する波長 特性測定装置として機能する。 次に、 図 3に示すように、 光スィツチ 2 0を操作して、 （ 2 )第二入 力端子 2 2 bと第一出力端子 2 4 aとを接続すると同時に、 第一入力 端子 2 2 aと第二出力端子 2 4 bとを接続する。 すると、 （P )被測定物 2の一端から出射された光は、光入力端子 1 6により受けられる。 次に、 （Q )光入力端子 1 6により受けられた光は、光スイッチ 2 0 の第一入力端子 2 2 a、 第二出力端子 2 4 bを通過して、 光アンプ 1 0に入力される。 そして、 （R )光アンプ 1 0は受けた光を増幅し、増幅光として出力 する。 さらに、 （S )増幅光の所定波長帯域成分が分光器 1 2により取り出 される。 取り出された所定波長帯域成分は、 力ブラ 1 4の入力端子 1 4 aを経由して、 出力端子 1 4 bから出射される。 そして、 （T )出力端子 1 4 bから出射された光は、光スィ ヅチ 2 0 の第二入力端子 2 2 b、 第一出力端子 2 4 aを通過して、 光検出部 3 0によって受けられる。 光検出部 3 0は受けた光を、 電気信号に変換 する。 表示器 3 4は、 掃引コントローラ 3 2が決定した所定の波長帯域を X軸 （横軸） に、 光検出部 3 0の出力する電気信号を Y軸 （縦軸） に とって表示する。 表示器 3 4の表示内容を観察すれば、 被測定物 2の一端から出射さ れた光の所定の波長帯域の成分がわかる。 よって、 光測定装置 1は、 被測定物 2の一端から出射された光のスペクトルを測定するスぺク ト ルアナライザとして機能する。 しかも、 光アンプ 1 0により増幅され た光から所定波長帯域成分が取り出されるので、 光アンプ 1 0がプリ アンプとして機能する。 よって、 光測定装置 1は、 高感度なスぺク ト ルアナライザとして機能する。 第一の実施形態によれば、 波長特性測定装置において使用する可変 波長光源を、 光アンプ 1 0および分光器 1 2によって構成している。 一方、 高感度なスペクトルアナライザにおいては、 光アンプ 1 0およ び分光器 1 2を使用する。 よって、 波長特性測定装置を使用する際に は、 スぺク トルアナライザが有する光アンプ 1 0および分光器 1 2を 可変波長光源として使用できる。 スぺク トルアナライザを使用する際 には、 波長特性測定装置が有する可変波長光源の光アンプ 1 0および 分光器 1 2を使用できる。 しかも、 波長特性測定装置およびスぺク ト ルアナライザは共に光検出部 3 0を使用できる。 したがって、 波長特 性測定装置およびスぺクトルアナライザは共に光アンプ 1 0、 分光器 1 2および光検出部 3 0を使用できる。 よって、 スペクトルアナライ ザおよび波長特性測定装置が有する部材 （光アンプ 1 0、 分光器 1 2 および光検出部 3 0 ) を有効に使用できる。 第二の実施形態
第二の実施形態は、 第一の実施形態における光アンプ 1 0、 分光器 1 2および光検出部 3 0を複数設けて、 長波長帯域および短波長帯域 に対応できるようにしたものである。 図 4は、 本発明の第二の実施形態にかかる光測定装置 1の構成を示 すブロック図である。 光測定装置 1は、 光アンプ （光増幅手段） 1 0 a、 1 0 b、 分光器（波長成分取出手段） 1 2 a、 1 2 b、 力ブラ （分 岐手段） 1 4、 光入力端子 1 6、 光出力端子 1 8、 光スィツチ （光接 続手段） 2 0、 光検出部 3 0 a、 3 0 b、 掃引コントローラ 3 2、 表 示器 3 4を備える。 以下、 第一の実施形態と同様な部分は同一の番号 を付して説明を省略する。 光アンプ 1 0 a、 1 0 bは、 第一の実施形態における光アンプ 1 0 と同様なものである。 ただし、 光アンプ 1 0 aは、 光アンプ 1 0 bに 比べて、 長波長の帯域の光を出力する。 よって、 光アンプ 1 0 aは長 波長帯域用の光アンプ、 光アンプ 1 0 bは短波長帯域用の光アンプと いえる。 分光器 1 2 aは、 光アンプ 1 0 aの出力する増幅光から所定の波長 帯域の成分を取り出す。 分光器 1 2 bは、 光アンプ 1 0 bの出力する 増幅光から所定の波長帯域の成分を取り出す。 なお、 所定の波長帯域 は、掃引コントロ一ラ 3 2により変化させることができる。すなわち、 所定の波長帯域を掃引することができる。 また、 分光器 1 2 aは、 分 光器 1 2 bに比べて、 長波長の帯域の光を取り出す。 カプラ 1 4は、入力端子 1 4 a、出力端子 1 4 b、 1 4 cを有する。 力ブラ 1 4は、 入力端子 1 4 aが受けた光を、 出力端子 1 4 b、 1 4 cに分岐する。 入力端子 1 4 aは、 分光器 1 2 a、 1 2 bが出力する 所定波長帯域成分を受ける。 よって、 所定波長帯域成分は、 出力端子 1 4 b、 1 4 cに出力される。 なお、 出力端子 （第一方向側） 1 4 b は光スィッチ 2 0の第二入力端子 2 2 bに接続され、 出力端子 （第二 方向側） 1 4 cは光出力端子 1 8に接続される。 光入力端子 1 6および光出力端子 1 8は第一の実施形態と同様であ り、 説明を省略する。 光スィヅチ （光接続手段） 2 0は、 DP3T (double ports 3 throws) 型のスィヅチである。 光スイッチ 2 0は、 第一入力端子 2 2 a、 第二 入力端子 2 2 b、 第一出力端子 2 4 a、 第二出力端子 2 4 b、 第三出 力端子 2 6 a、 第四出力端子 2 6 bを有する。 第一入力端子 2 2 a、 第二入力端子 2 2 bは第一の実施形態と同様 であり、 説明を省略する。 第一出力端子 2 4 a、 第二出力端子 2 4 bは、 光を出力するための 端子である。 第一出力端子 2 4 aは、 光検出部 3 0 aに接続される。 第二出力端子 2 4 bは、 光アンプ 1 0 aの入力側に接続されている。 第三出力端子 2 6 a、 第四出力端子 2 6 bは、 光を出力するための 端子である。 第三出力端子 2 6 aは、 検出部 3 0 bに接続される。 第四出力端子 2 6 bは、 光アンプ 1 0 bの入力側に接続されている。 なお、光スィツチ 2 0は、 （ 1 )第二入力端子 2 2 bと第二出力端子 2 4 bとを接続すると同時に第一入力端子 2 2 aと第一出力端子 2 4 aとを接続する、 （2 )第二入力端子 2 2 bと第一出力端子 2 4 aとを 接続すると同時に、 第一入力端子 2 2 aと第二出力端子 2 4 bとを接 続する、 （ 3 )第二入力端子 2 2 bと第三出力端子 2 6 aと夸接続する と同時に、 第一入力端子 2 2 aと第四出力端子 2 6 bとを接続する、 のいずれか一つを行なう。 なお、 第二入力端子 2 2 bと第二出力端子 2 4 bとを接続すると、 力ブラ 1 4の出力端子 1 4 bと、 光アンプ 1 0 aの入力側とを接続す ることになる。 第一入力端子 2 2 aと第一出力端子 2 4 aとを接続す ると、被測定物 2の一端と、光検出部 3 0 aとを接続することになる。 また、 第二入力端子 2 2 bと第一出力端子 2 4 aとを接続すると、 力ブラ 1 4の出力端子 1 4 bと、 光検出部 3 0 aとを接続することに なる。 第一入力端子 2 2 aと第二出力端子 2 4 bとを接続すると、 被 測定物 2の一端と、光アンプ 1 0 aの入力側とを接続することになる。 さらに、第二入力端子 2 2 bと第三出力端子 2 6 aとを接続すると、 力ブラ 1 4の出力端子 1 4わと、 光検出部 3 O bとを接続することに なる。 第一入力端子 2 2 aと第四出力端子 2 6 bとを接続すると、 被 測定物 2の一端と、光アンプ 1 0 bの入力側とを接続することになる。 光検出部 3 0 aは、 第一出力端子 2 4 aから受けた光を検出する。 具体的には、 受けた光を電気信号に変換する。 光検出部 3 O bは、 第 二出力端子 2 4 bから受けた光を検出する。 具体的には、 受けた光を 電気信号に変換する。 なお、 光検出部 3 0 aが検出する光の波長帯域 は、 光アンプ 1 0 aの出力する光の波長帯域 （長波長帯域） に対応す る。 また、 光検出部 3 0 bが検出する光の波長帯域は、 光アンプ 1 0 bの出力する光の波長帯域 （短波長帯域） に対応する。 例えば、 光検 出部 3 0 aは InGaAsフォ トダイォード、光検出部 3 0 bは Siフォト ダイオードである。 掃引コントローラ 3 2は、 分光器 1 2 a、 1 2 bにおける所定の波 長帯域を掃引する。 なお、 所定の波長帯域は、 表示器 3 4にも送られ る。 表示器 3 4は、 掃引コントローラ 3 2が決定した所定の波長帯域を X軸 （横軸） に、 光検出部 3 0 a、 3 0 bの出力する電気信号を Y軸 (縦軸） にとつて表示する。 次に、 第二の実施形態にかかる光測定装置 1の動作を図 5、 6およ び 7を参照して説明する。 まず、 図 5に示すように、 光スイッチ 2 0を操作して、 （ 1 )第二入 力端子 2 2 bと第二出力端子 2 4 bとを接続すると同時に第一入力端 子 2 2 aと第一出力端子 2 4 aとを接続する。 すると、 （A ) 光アンプ 1 0 aの出力する増幅光は、 分光器 1 2 a、 力ブラ 1 4の入力端子 1 4 a、 出力端子 1 4 b、 光スイッチ 2 0の第 二入力端子 2 2 b、 第二出力端子 2 4 bを通過して、 光アンプ 1 0 a に入力される。 よって、 光アンプ 1 0 aの出力する増幅光が、 光アン プ 1 0 aに入力されることになり、 正帰還といえる。 正帰還している ので、 光アンプ 1 0 aが出力する増幅光の強度が高くなる。 しかも、 光アンプ 1 0 aの出力が分光器 1 2 aを通るため、 所定波長帯域成分 について、 強度が高くなる。 さらに、 掃引コントローラ 3 2により、 所定の波長帯域が掃引されるため、 光アンプ 1 0 aおよび分光器 1 2 aを通過する光は、 波長が変化する ¾となる。 この光を取り出せば、 光アンプ 1 0 aおよび分光器 1 2 aを有する正帰還系を、 可変波長光 源として利用できる。 次に、 （B )光アンプ 1 0 aおよび分光器 1 2 aを通過する光は、 力 ブラ 1 4の入力端子 1 4 aに入る。 入力端子 1 4 aに入った光は、 出 力端子 1 4 b、 1 4 cに分岐する。 出力端子 1 4 cに分岐した光は、 光出力端子 1 8を通過する。 さらに、 （C )光出力端子 1 8を通過した光は、被測定物 2の他端に 入射する。 そして、 被測定物 2を透過して、 被測定物 2の一端から出 射する。 出射された光は、 光入力端子 1 6により受けられる。 そして、 （D )光入力端子 1 6により受けられた光は、光スィ ヅチ 2 0の第一入力端子 2 2 a、 第一出力端子 2 4 aを通過して、 光検出部 3 0 aによって受けられる。 光検出部 3 0 aは受けた光を、 電気信号 に変換する。 表示器 3 4は、 掃引コントローラ 3 2が決定した所定の波長帯域を X軸 （横軸） に、 光検出部 3 0 a、 3 0 bの出力する電気信号を Y軸 (縦軸） にとつて表示する。 表示器 3 4の表示内容を観察すれば、 被測定物 2の波長特性がわか る。 よって、 光測定装置 1は、 被測定物 2の波長特性を測定する波長 特性測定装置として機能する。 次に、 図 6に示すように、 光スィツチ 2 0を操作して、 （ 2 )第二入 力端子 2 2 bと第一出力端子 2 4 aとを接続すると同時に、 第一入力 端子 2 2 aと第二出力端子 2 4 bとを接続する。 すると、 （P )被測定物 2の一端から出射された光は、光入力端子 1 6により受けられる。 次に、 （Q )光入力端子 1 6により受けられた光は、光スィッチ 2 0 の第一入力端子 2 2 a、 第二出力端子 2 4 bを通過して、 光アンプ 1 0 aに入力される。 そして、 （R )光アンプ 1 0 aは受けた光を増幅し、増幅光として出 力する さらに、 （ S )増幅光の所定波長帯域成分が分光器 1 2 aにより取り 出される。 取り出された所定波長帯域成分は、 カプラ 1 4の入力端子 1 4 aを経由して、 出力端子 1 4 bから出射される。 そして、 （T )出力端子 1 4 bから出射された光は、光スイッチ 2 0 の第二入力端子 2 2 b、 第一出力端子 2 4 aを通過して、 光検出部 3 0 aによって受けられる。 光検出部 3 0 aは受けた光を、 電気信号に 変換する。 表示器 3 4は、 掃引コントローラ 3 2が決定した所定の波長帯域を X軸 （横軸） に、 光検出部 3 0 a、 3 0 bの出力する電気信号を Y軸 (縦軸） にとつて表示する。 表示器 3 4の表示内容を観察すれば、 被測定物 2の一端から出射さ れた光の長波長帯域の成分がわかる。 次に、 図 7に示すように、 光スィツチ 2 0を操作して、 （ 3 )第二入 力端子 2 2 bと第三出力端子 2 6 aとを接続すると同時に、 第一入力 端子 2 2 aと第四出力端子 2 6 bとを接続する。 すると、 （P )被測定物 2の一端から出射された光は、光入力端子 1 6により受けられる。 次に、 （Q )光入力端子 1 6により受けられた光は、光スイッチ 2 0 の第一入力端子 2 2 a、 第四出力端子 2 6 bを通過して、 光アンプ 1 0 bに入力される。 そして、 （R )光アンプ 1 0 bは受けた光を増幅し、増幅光として出 力する。 さらに、 （ S )増幅光の所定波長帯域成分が分光器 1 2 bにより取り 出される。 取り出された所定波長帯域成分は、 力ブラ 1 4の入力端子 1 4 aを経由して、 出力端子 1 4 bから出射される。 そして、 （T )出力端子 1 4 bから出射された光は、光スィッチ 2 0 の第二入力端子 2 2 b、 第三出力端子 2 6 aを通過して、 光検出部 3 O bによって受けられる。 光検出部 3 0 bは受けた光を、 電気信号に 変換する。 表示器 3 4は、 掃引コントローラ 3 2が決定した所定の波長帯域を X軸 （横軸） に、 光検出部 3 0 a、 3 0 bの出力する電気信号を Y軸 (縦軸） にとつて表示する。 表示器 3 4の表示内容を観察すれば、 被測定物 2の一端から出射さ れた光の短波長帯域の成分がわかる。 よって、 光測定装置 1は、 被測定物 2の一端から出射された光のス ベク トルを測定するスペク トルアナライザとして機能する （図 6、 7 参照）。 しかも、 光アンプ 1 0 a、 1 0 bにより増幅された光から所定 波長帯域成分が取り出されるので、 光アンプ 1 0 a、 1 0 bがプリァ ンプとして機能する。 よって、 光測定装置 1は、 高感度なスペク トル アナライザとして機能する。 第二の実施形態によれば、 第一の実施形態と同様な効果を奏する。 しかも、 光測定装置 1をスぺク トルアナライザとして利用する場合、 光検出部 3 0 aが長波長帯域に対応し、 光検出部 3 0 bが短波長帯域 に対応するため、 第一の実施形態の場合よりも広い波長帯域の成分を 検出できる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 入射された光から所定の波長帯域の成分を取り出す波長帯域成 分取出手段と、
前記所定波長帯域成分を第一方向と第二方向とに分岐する分岐手段 と、
第一入力端子、 第二入力端子および第一出力端子、 第二出力端子を 有し、 前記第一入力端子が被測定物の一端に、 前記第二入力端子が前 記分岐手段の前記第一方向側に接続された光接続手段と、
前記第二出力端子から光を受け、 前記波長帯域成分取出手段の入射 光受光部に向けて前記光を増幅した増幅光を出力する光増幅手段と、 前記第一出力端子に接続され、 光を検出する光検出手段と、 を備え、
前記被測定物の他端が前記分岐手段の前記第二方向側に接続されて おり、
前記光接続手段は、 （ 1 )前記第一入力端子と前記第一出力端子とを 接続すると同時に、 前記第二入力端子と前記第二出力端子とを接続す る、あるいは、 （ 2 )前記第一入力端子と前記第二出力端子とを接続す ると同時に、 前記第二入力端子と前記第一出力端子とを接続する、 光測定装置。
2 . 請求項 1に記載の光測定装置であって、
前記光増幅手段は、ファイバアンプあるいは半導体光アンプである、 光測定装置。
3 . 請求項 1に記載の光測定装置であって、 前記波長帯域成分取出手段は、 前記所定波長帯域が可変である、 光測定装置。
4 . 請求項 1に記載の光測定装置であって、
前記被測定物は、光ファイバあるいは光ビームを透過する物である、 光測定装置。
5 . 請求項 1に記載の光測定装置であって、
前記波長帯域成分取出手段が複数あって、 それそれが取り出す前記 所定の波長帯域が異なり、
前記光検出手段が複数あって、それそれが検出する光の波長帯域が、 前記所定の波長帯域に対応する、
光測定装置。
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