JP4384119B2 - 光測定装置 - Google Patents
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Description
本発明は、光ファイバ等の被測定物の波長特性および光スペクトルの測定に関する。
従来より、光スペクトルを測定するためにスペクトルアナライザが使用されている。スペクトルアナライザは、分光器と光検出器とを有する（例えば、特許文献１（特開２００２−３４０６７３号公報（要約））を参照）。
また、光ファイバ等の被測定物の波長特性を測定する波長特性測定装置は、被測定物に光を入射する光源と、被測定物を透過した光を検出する光検出器とを有する。
ここで、被測定物の波長特性および光スペクトルの測定を続けて行ないたい場合がある。この場合、波長特性測定装置を使用し、その後、スペクトルアナライザを使用すればよい。
しかしながら、波長特性測定装置を使用する際には、スペクトルアナライザが有する分光器および光検出器を使用できない。スペクトルアナライザを使用する際には、波長特性測定装置が有する光源および光検出器を使用できない。
そこで、本発明は、スペクトルアナライザおよび波長特性測定装置が有する部材を有効に使用することを課題とする。すなわち、波長特性および光スペクトル特性の両方が測定できる最小構成の装置を提供するものである。
また、光ファイバ等の被測定物の波長特性を測定する波長特性測定装置は、被測定物に光を入射する光源と、被測定物を透過した光を検出する光検出器とを有する。
ここで、被測定物の波長特性および光スペクトルの測定を続けて行ないたい場合がある。この場合、波長特性測定装置を使用し、その後、スペクトルアナライザを使用すればよい。
しかしながら、波長特性測定装置を使用する際には、スペクトルアナライザが有する分光器および光検出器を使用できない。スペクトルアナライザを使用する際には、波長特性測定装置が有する光源および光検出器を使用できない。
そこで、本発明は、スペクトルアナライザおよび波長特性測定装置が有する部材を有効に使用することを課題とする。すなわち、波長特性および光スペクトル特性の両方が測定できる最小構成の装置を提供するものである。
本発明の一態様による光測定装置によれば、入射された光から所定の波長帯域の成分を取り出す波長帯域成分取出手段と、所定波長帯域成分を第一方向と第二方向とに分岐する分岐手段と、第一入力端子、第二入力端子および第一出力端子、第二出力端子を有し、第一入力端子が被測定物の一端に、第二入力端子が分岐手段の第一方向側に接続された光接続手段と、第二出力端子から光を受け、波長帯域成分取出手段の入射光受光部に向けて光を増幅した増幅光を出力する光増幅手段と、第一出力端子に接続され、光を検出する光検出手段とを備え、被測定物の他端が分岐手段の第二方向側に接続されており、光接続手段は、（１）第一入力端子と第一出力端子とを接続すると同時に、第二入力端子と第二出力端子とを接続する、あるいは、（２）第一入力端子と第二出力端子とを接続すると同時に、第二入力端子と第一出力端子とを接続するように構成される。
上記のように構成された光測定装置によれば、波長帯域成分取出手段は、入射された光から所定の波長帯域の成分を取り出す。分岐手段は、所定波長帯域成分を第一方向と第二方向とに分岐する。光接続手段は、第一入力端子、第二入力端子および第一出力端子、第二出力端子を有し、第一入力端子が被測定物の一端に、第二入力端子が分岐手段の第一方向側に接続する。光増幅手段は、第二出力端子から光を受け、波長帯域成分取出手段の入射光受光部に向けて光を増幅した増幅光を出力する。光検出手段は、第一出力端子に接続され、光を検出する。
しかも、被測定物の他端が分岐手段の第二方向側に接続されている。さらに、光接続手段は、（１）第一入力端子と第一出力端子とを接続すると同時に、第二入力端子と第二出力端子とを接続する、あるいは、（２）第一入力端子と第二出力端子とを接続すると同時に、第二入力端子と第一出力端子とを接続する。
上記のように構成された光測定装置によれば、光増幅手段は、ファイバアンプあるいは半導体光アンプとすることができる。
上記のように構成された光測定装置によれば、波長帯域成分取出手段は、所定波長帯域が可変であるようにできる。
上記のように構成された光測定装置によれば、被測定物は、光ファイバあるいは光ビームを透過する物とすることができる。
上記のように構成された光測定装置によれば、波長帯域成分取出手段が複数あって、それぞれが取り出す所定の波長帯域が異なり、光検出手段が複数あって、それぞれが検出する光の波長帯域が、所定の波長帯域に対応するようにできる。
上記のように構成された光測定装置によれば、波長帯域成分取出手段は、入射された光から所定の波長帯域の成分を取り出す。分岐手段は、所定波長帯域成分を第一方向と第二方向とに分岐する。光接続手段は、第一入力端子、第二入力端子および第一出力端子、第二出力端子を有し、第一入力端子が被測定物の一端に、第二入力端子が分岐手段の第一方向側に接続する。光増幅手段は、第二出力端子から光を受け、波長帯域成分取出手段の入射光受光部に向けて光を増幅した増幅光を出力する。光検出手段は、第一出力端子に接続され、光を検出する。
しかも、被測定物の他端が分岐手段の第二方向側に接続されている。さらに、光接続手段は、（１）第一入力端子と第一出力端子とを接続すると同時に、第二入力端子と第二出力端子とを接続する、あるいは、（２）第一入力端子と第二出力端子とを接続すると同時に、第二入力端子と第一出力端子とを接続する。
上記のように構成された光測定装置によれば、光増幅手段は、ファイバアンプあるいは半導体光アンプとすることができる。
上記のように構成された光測定装置によれば、波長帯域成分取出手段は、所定波長帯域が可変であるようにできる。
上記のように構成された光測定装置によれば、被測定物は、光ファイバあるいは光ビームを透過する物とすることができる。
上記のように構成された光測定装置によれば、波長帯域成分取出手段が複数あって、それぞれが取り出す所定の波長帯域が異なり、光検出手段が複数あって、それぞれが検出する光の波長帯域が、所定の波長帯域に対応するようにできる。
図１は、本発明の第一の実施形態にかかる光測定装置１の構成を示すブロック図である。
図２は、第一の実施形態にかかる光測定装置１を波長特性測定装置として利用する場合の動作を示す図である。
図３は、第一の実施形態にかかる光測定装置１をスペクトルアナライザとして利用する場合の動作を示す図である。
図４は、本発明の第二の実施形態にかかる光測定装置１の構成を示すブロック図である。
図５は、第二の実施形態にかかる光測定装置１を波長特性測定装置として利用する場合の動作を示す図である。
図６は、第二の実施形態にかかる光測定装置１をスペクトルアナライザ（長波長帯域用）として利用する場合の動作を示す図である。
図７は、第二の実施形態にかかる光測定装置１をスペクトルアナライザ（短波長帯城用）として利用する場合の動作を示す図である。
図２は、第一の実施形態にかかる光測定装置１を波長特性測定装置として利用する場合の動作を示す図である。
図３は、第一の実施形態にかかる光測定装置１をスペクトルアナライザとして利用する場合の動作を示す図である。
図４は、本発明の第二の実施形態にかかる光測定装置１の構成を示すブロック図である。
図５は、第二の実施形態にかかる光測定装置１を波長特性測定装置として利用する場合の動作を示す図である。
図６は、第二の実施形態にかかる光測定装置１をスペクトルアナライザ（長波長帯域用）として利用する場合の動作を示す図である。
図７は、第二の実施形態にかかる光測定装置１をスペクトルアナライザ（短波長帯城用）として利用する場合の動作を示す図である。
以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。
第一の実施形態
図１は、本発明の第一の実施形態にかかる光測定装置１の構成を示すブロック図である。光測定装置１は、被測定物（ＤＵＴ：Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ）２に接続されている。被測定物２は、光ファイバであることが好ましいが、光ビームを透過するものであってもよい。
光測定装置１は、光アンプ（光増幅手段）１０、分光器（波長成分取出手段）１２、カプラ（分岐手段）１４、光入力端子１６、光出力端子１８、光スイッチ（光接続手段）２０、光検出部３０、掃引コントローラ３２、表示器３４を備える。
光アンプ（光増幅手段）１０は、入射された光を増幅する。光アンプ１０は、ＥＤＦＡ（ｅｒｂｉｕｍ ｄｏｐｅｄ ｆｉｂｅｒ ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）のようなファイバアンプでもよいし、半導体光アンプでもよい。光アンプ１０の出力する光を増幅光という。
分光器（波長成分取出手段）１２は、光アンプ１０の出力する増幅光から所定の波長帯域の成分を取り出す。なお、所定の波長帯域は、掃引コントローラ３２により変化させることができる。すなわち、所定の波長帯域を掃引することができる。
カプラ（分岐手段）１４は、入力端子１４ａ、出力端子１４ｂ、１４ｃを有する。カプラ１４は、入力端子１４ａが受けた光を、出力端子１４ｂ、１４ｃに分岐する。入力端子１４ａは、分光器１２が出力する所定波長帯域成分を受ける。よって、所定波長帯域成分は、出力端子１４ｂ、１４ｃに出力される。なお、出力端子（第一方向側）１４ｂは光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂに接続され、出力端子（第二方向側）１４ｃは光出力端子１８に接続される。
光入力端子１６は、被測定物２の一端に接続され、被測定物２から出射された光を受けるためのものである。光出力端子１８は、被測定物２の他端に接続され、被測定物２に光を入射するためのものである。
光スイッチ（光接続手段）２０は、ＤＰＤＴ（ｄｏｕｂｌｅ ｐｏｒｔｓ ｄｏｕｂｌｅ ｔｈｒｏｗｓ）型のスイッチである。光スイッチ２０は、第一入力端子２２ａ、第二入力端子２２ｂ、第一出力端子２４ａ、第二出力端子２４ｂを有する。
第一入力端子２２ａ、第二入力端子２２ｂは、光を受けるための端子である。第一入力端子２２ａは、光入力端子１６を介して、被測定物２の一端に接続される。第二入力端子２２ｂは、カプラ１４の出力端子１４ｂに接続される。
第一出力端子２４ａ、第二出力端子２４ｂは、光を出力するための端子である。第一出力端子２４ａは、光検出部３０に接続される。第二出力端子２４ｂは、光アンプ１０の入力側に接続されている。なお、第二出力端子２４ｂは、光アンプ１０を介して、分光器１２の入力側（入射光受光部）に接続されているといえる。
なお、光スイッチ２０は、（１）第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると同時に第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続する、あるいは（２）第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続する。
なお、第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると、カプラ１４の出力端子１４ｂと、光アンプ１０の入力側とを接続することになる。第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続すると、被測定物２の一端と、光検出部３０とを接続することになる。
また、第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると、カプラ１４の出力端子１４ｂと、光検出部３０とを接続することになる。第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続すると、被測定物２の一端と、光アンプ１０の入力側とを接続することになる。
光検出部３０は、第一出力端子２４ａから受けた光を検出する。具体的には、受けた光を電気信号に変換する。
掃引コントローラ３２は、分光器１２における所定の波長帯域を掃引する。なお、所定の波長帯域は、表示器３４にも送られる。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０の出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
次に、第一の実施形態にかかる光測定装置１の動作を図２、３を参照して説明する。
まず、図２に示すように、光スイッチ２０を操作して、（１）第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると同時に第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続する。
すると、（Ａ）光アンプ１０の出力する増幅光は、分光器１２、カプラ１４の入力端子１４ａ、出力端子１４ｂ、光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂ、第二出力端子２４ｂを通過して、光アンプ１０に入力される。よって、光アンプ１０の出力する増幅光が、光アンプ１０に入力されることになり、正帰還といえる。正帰還しているので、光アンプ１０が出力する増幅光の強度が高くなる。しかも、光アンプ１０の出力が分光器１２を通るため、所定波長帯域成分について、強度が高くなる。さらに、掃引コントローラ３２により、所定の波長帯域が掃引されるため、光アンプ１０および分光器１２を通過する光は、波長が変化する光となる。この光を取り出せば、光アンプ１０および分光器１２を有する正帰還系を、可変波長光源として利用できる。
次に、（Ｂ）光アンプ１０および分光器１２を通過する光は、カプラ１４の入力端子１４ａに入る。入力端子１４ａに入った光は、出力端子１４ｂ、１４ｃに分岐する。出力端子１４ｃに分岐した光は、光出力端子１８を通過する。
さらに、（Ｃ）光出力端子１８を通過した光は、被測定物２の他端に入射する。そして、被測定物２を透過して、被測定物２の一端から出射する。出射された光は、光入力端子１６により受けられる。
そして、（Ｄ）光入力端子１６により受けられた光は、光スイッチ２０の第一入力端子２２ａ、第一出力端子２４ａを通過して、光検出部３０によって受けられる。光検出部３０は受けた光を、電気信号に変換する。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０の出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
表示器３４の表示内容を観察すれば、被測定物２の波長特性がわかる。よって、光測定装置１は、被測定物２の波長特性を測定する波長特性測定装置として機能する。
次に、図３に示すように、光スイッチ２０を操作して、（２）第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続する。
すると、（Ｐ）被測定物２の一端から出射された光は、光入力端子１６により受けられる。
次に、（Ｑ）光入力端子１６により受けられた光は、光スイッチ２０の第一入力端子２２ａ、第二出力端子２４ｂを通過して、光アンプ１０に入力される。
そして、（Ｒ）光アンプ１０は受けた光を増幅し、増幅光として出力する。
さらに、（Ｓ）増幅光の所定波長帯域成分が分光器１２により取り出される。取り出された所定波長帯域成分は、カプラ１４の入力端子１４ａを経由して、出力端子１４ｂから出射される。
そして、（Ｔ）出力端子１４ｂから出射された光は、光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂ、第一出力端子２４ａを通過して、光検出部３０によって受けられる。光検出部３０は受けた光を、電気信号に変換する。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０の出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
表示器３４の表示内容を観察すれば、被測定物２の一端から出射された光の所定の波長帯域の成分がわかる。よって、光測定装置１は、被測定物２の一端から出射された光のスペクトルを測定するスペクトルアナライザとして機能する。しかも、光アンプ１０により増幅された光から所定波長帯域成分が取り出されるので、光アンプ１０がプリアンプとして機能する。よって、光測定装置１は、高感度なスペクトルアナライザとして機能する。
第一の実施形態によれば、波長特性測定装置において使用する可変波長光源を、光アンプ１０および分光器１２によって構成している。一方、高感度なスペクトルアナライザにおいては、光アンプ１０および分光器１２を使用する。よって、波長特性測定装置を使用する際には、スペクトルアナライザが有する光アンプ１０および分光器１２を可変波長光源として使用できる。スペクトルアナライザを使用する際には、波長特性測定装置が有する可変波長光源の光アンプ１０および分光器１２を使用できる。しかも、波長特性測定装置およびスペクトルアナライザは共に光検出部３０を使用できる。したがって、波長特性測定装置およびスペクトルアナライザは共に光アンプ１０、分光器１２および光検出部３０を使用できる。よって、スペクトルアナライザおよび波長特性測定装置が有する部材（光アンプ１０、分光器１２および光検出部３０）を有効に使用できる。
第二の実施形態
第二の実施形態は、第一の実施形態における光アンプ１０、分光器１２および光検出部３０を複数設けて、長波長帯域および短波長帯域に対応できるようにしたものである。
図４は、本発明の第二の実施形態にかかる光測定装置１の構成を示すブロック図である。光測定装置１は、光アンプ（光増幅手段）１０ａ、１０ｂ、分光器（波長成分取出手段）１２ａ、１２ｂ、カプラ（分岐手段）１４、光入力端子１６、光出力端子１８、光スイッチ（光接続手段）２０、光検出部３０ａ、３０ｂ、掃引コントローラ３２、表示器３４を備える。以下、第一の実施形態と同様な部分は同一の番号を付して説明を省略する。
光アンプ１０ａ、１０ｂは、第一の実施形態における光アンプ１０と同様なものである。ただし、光アンプ１０ａは、光アンプ１０ｂに比べて、長波長の帯域の光を出力する。よって、光アンプ１０ａは長波長帯域用の光アンプ、光アンプ１０ｂは短波長帯域用の光アンプといえる。
分光器１２ａは、光アンプ１０ａの出力する増幅光から所定の波長帯域の成分を取り出す。分光器１２ｂは、光アンプ１０ｂの出力する増幅光から所定の波長帯域の成分を取り出す。なお、所定の波長帯域は、掃引コントローラ３２により変化させることができる。すなわち、所定の波長帯域を掃引することができる。また、分光器１２ａは、分光器１２ｂに比べて、長波長の帯域の光を取り出す。
カプラ１４は、入力端子１４ａ、出力端子１４ｂ、１４ｃを有する。カプラ１４は、入力端子１４ａが受けた光を、出力端子１４ｂ、１４ｃに分岐する。入力端子１４ａは、分光器１２ａ、１２ｂが出力する所定波長帯域成分を受ける。よって、所定波長帯域成分は、出力端子１４ｂ、１４ｃに出力される。なお、出力端子（第一方向側）１４ｂは光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂに接続され、出力端子（第二方向側）１４ｃは光出力端子１８に接続される。
光入力端子１６および光出力端子１８は第一の実施形態と同様であり、説明を省略する。
光スイッチ（光接続手段）２０は、ＤＰ３Ｔ（ｄｏｕｂｌｅ ｐｏｒｔｓ ３ ｔｈｒｏｗｓ）型のスイッチである。光スイッチ２０は、第一入力端子２２ａ、第二入力端子２２ｂ、第一出力端子２４ａ、第二出力端子２４ｂ、第三出力端子２６ａ、第四出力端子２６ｂを有する。
第一入力端子２２ａ、第二入力端子２２ｂは第一の実施形態と同様であり、説明を省略する。
第一出力端子２４ａ、第二出力端子２４ｂは、光を出力するための端子である。第一出力端子２４ａは、光検出部３０ａに接続される。第二出力端子２４ｂは、光アンプ１０ａの入力側に接続されている。
第三出力端子２６ａ、第四出力端子２６ｂは、光を出力するための端子である。第三出力端子２６ａは、光検出部３０ｂに接続される。第四出力端子２６ｂは、光アンプ１０ｂの入力側に接続されている。
なお、光スイッチ２０は、（１）第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると同時に第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続する、（２）第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続する、（３）第二入力端子２２ｂと第三出力端子２６ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第四出力端子２６ｂとを接続する、のいずれか一つを行なう。
なお、第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると、カプラ１４の出力端子１４ｂと、光アンプ１０ａの入力側とを接続することになる。第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続すると、被測定物２の一端と、光検出部３０ａとを接続することになる。
また、第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると、カプラ１４の出力端子１４ｂと、光検出部３０ａとを接続することになる。第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続すると、被測定物２の一端と、光アンプ１０ａの入力側とを接続することになる。
さらに、第二入力端子２２ｂと第三出力端子２６ａとを接続すると、カプラ１４の出力端子１４ｂと、光検出部３０ｂとを接続することになる。第一入力端子２２ａと第四出力端子２６ｂとを接続すると、被測定物２の一端と、光アンプ１０ｂの入力側とを接続することになる。
光検出部３０ａは、第一出力端子２４ａから受けた光を検出する。具体的には、受けた光を電気信号に変換する。光検出部３０ｂは、第二出力端子２４ｂから受けた光を検出する。具体的には、受けた光を電気信号に変換する。なお、光検出部３０ａが検出する光の波長帯域は、光アンプ１０ａの出力する光の波長帯域（長波長帯域）に対応する。また、光検出部３０ｂが検出する光の波長帯域は、光アンプ１０ｂの出力する光の波長帯域（短波長帯域）に対応する。例えば、光検出部３０ａはＩｎＧａＡｓフォトダイオード、光検出部３０ｂはＳｉフォトダイオードである。
掃引コントローラ３２は、分光器１２ａ、１２ｂにおける所定の波長帯域を掃引する。なお、所定の波長帯域は、表示器３４にも送られる。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０ａ、３０ｂの出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
次に、第二の実施形態にかかる光測定装置１の動作を図５、６および７を参照して説明する。
まず、図５に示すように、光スイッチ２０を操作して、（１）第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると同時に第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続する。
すると、（Ａ）光アンプ１０ａの出力する増幅光は、分光器１２ａ、カプラ１４の入力端子１４ａ、出力端子１４ｂ、光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂ、第二出力端子２４ｂを通過して、光アンプ１０ａに入力される。よって、光アンプ１０ａの出力する増幅光が、光アンプ１０ａに入力されることになり、正帰還といえる。正帰還しているので、光アンプ１０ａが出力する増幅光の強度が高くなる。しかも、光アンプ１０ａの出力が分光器１２ａを通るため、所定波長帯域成分について、強度が高くなる。さらに、掃引コントローラ３２により、所定の波長帯域が掃引されるため、光アンプ１０ａおよび分光器１２ａを通過する光は、波長が変化する光となる。この光を取り出せば、光アンプ１０ａおよび分光器１２ａを有する正帰還系を、可変波長光源として利用できる。
次に、（Ｂ）光アンプ１０ａおよび分光器１２ａを通過する光は、カプラ１４の入力端子１４ａに入る。入力端子１４ａに入った光は、出力端子１４ｂ、１４ｃに分岐する。出力端子１４ｃに分岐した光は、光出力端子１８を通過する。
さらに、（Ｃ）光出力端子１８を通過した光は、被測定物２の他端に入射する。そして、被測定物２を透過して、被測定物２の一端から出射する。出射された光は、光入力端子１６により受けられる。
そして、（Ｄ）光入力端子１６により受けられた光は、光スイッチ２０の第一入力端子２２ａ、第一出力端子２４ａを通過して、光検出部３０ａによって受けられる。光検出部３０ａは受けた光を、電気信号に変換する。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０ａ、３０ｂの出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
表示器３４の表示内容を観察すれば、被測定物２の波長特性がわかる。よって、光測定装置１は、被測定物２の波長特性を測定する波長特性測定装置として機能する。
次に、図６に示すように、光スイッチ２０を操作して、（２）第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続する。
すると、（Ｐ）被測定物２の一端から出射された光は、光入力端子１６により受けられる。
次に、（Ｑ）光入力端子１６により受けられた光は、光スイッチ２０の第一入力端子２２ａ、第二出力端子２４ｂを通過して、光アンプ１０ａに入力される。
そして、（Ｒ）光アンプ１０ａは受けた光を増幅し、増幅光として出力する。
さらに、（Ｓ）増幅光の所定波長帯域成分が分光器１２ａにより取り出される。取り出された所定波長帯域成分は、カプラ１４の入力端子１４ａを経由して、出力端子１４ｂから出射される。
そして、（Ｔ）出力端子１４ｂから出射された光は、光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂ、第一出力端子２４ａを通過して、光検出部３０ａによって受けられる。光検出部３０ａは受けた光を、電気信号に変換する。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０ａ、３０ｂの出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
表示器３４の表示内容を観察すれば、被測定物２の一端から出射された光の長波長帯域の成分がわかる。
次に、図７に示すように、光スイッチ２０を操作して、（３）第二入力端子２２ｂと第三出力端子２６ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第四出力端子２６ｂとを接続する。
すると、（Ｐ）被測定物２の一端から出射された光は、光入力端子１６により受けられる。
次に、（Ｑ）光入力端子１６により受けられた光は、光スイッチ２０の第一入力端子２２ａ、第四出力端子２６ｂを通過して、光アンプ１０ｂに入力される。
そして、（Ｒ）光アンプ１０ｂは受けた光を増幅し、増幅光として出力する。
さらに、（Ｓ）増幅光の所定波長帯域成分が分光器１２ｂにより取り出される。取り出された所定波長帯域成分は、カプラ１４の入力端子１４ａを経由して、出力端子１４ｂから出射される。
そして、（Ｔ）出力端子１４ｂから出射された光は、光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂ、第三出力端子２６ａを通過して、光検出部３０ｂによって受けられる。光検出部３０ｂは受けた光を、電気信号に変換する。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０ａ、３０ｂの出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
表示器３４の表示内容を観察すれば、被測定物２の一端から出射された光の短波長帯域の成分がわかる。
よって、光測定装置１は、被測定物２の一端から出射された光のスペクトルを測定するスペクトルアナライザとして機能する（図６、７参照）。しかも、光アンプ１０ａ、１０ｂにより増幅された光から所定波長帯域成分が取り出されるので、光アンプ１０ａ、１０ｂがプリアンプとして機能する。よって、光測定装置１は、高感度なスペクトルアナライザとして機能する。
第二の実施形態によれば、第一の実施形態と同様な効果を奏する。しかも、光測定装置１をスペクトルアナライザとして利用する場合、光検出部３０ａが長波長帯域に対応し、光検出部３０ｂが短波長帯域に対応するため、第一の実施形態の場合よりも広い波長帯域の成分を検出できる。
第一の実施形態
図１は、本発明の第一の実施形態にかかる光測定装置１の構成を示すブロック図である。光測定装置１は、被測定物（ＤＵＴ：Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ）２に接続されている。被測定物２は、光ファイバであることが好ましいが、光ビームを透過するものであってもよい。
光測定装置１は、光アンプ（光増幅手段）１０、分光器（波長成分取出手段）１２、カプラ（分岐手段）１４、光入力端子１６、光出力端子１８、光スイッチ（光接続手段）２０、光検出部３０、掃引コントローラ３２、表示器３４を備える。
光アンプ（光増幅手段）１０は、入射された光を増幅する。光アンプ１０は、ＥＤＦＡ（ｅｒｂｉｕｍ ｄｏｐｅｄ ｆｉｂｅｒ ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）のようなファイバアンプでもよいし、半導体光アンプでもよい。光アンプ１０の出力する光を増幅光という。
分光器（波長成分取出手段）１２は、光アンプ１０の出力する増幅光から所定の波長帯域の成分を取り出す。なお、所定の波長帯域は、掃引コントローラ３２により変化させることができる。すなわち、所定の波長帯域を掃引することができる。
カプラ（分岐手段）１４は、入力端子１４ａ、出力端子１４ｂ、１４ｃを有する。カプラ１４は、入力端子１４ａが受けた光を、出力端子１４ｂ、１４ｃに分岐する。入力端子１４ａは、分光器１２が出力する所定波長帯域成分を受ける。よって、所定波長帯域成分は、出力端子１４ｂ、１４ｃに出力される。なお、出力端子（第一方向側）１４ｂは光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂに接続され、出力端子（第二方向側）１４ｃは光出力端子１８に接続される。
光入力端子１６は、被測定物２の一端に接続され、被測定物２から出射された光を受けるためのものである。光出力端子１８は、被測定物２の他端に接続され、被測定物２に光を入射するためのものである。
光スイッチ（光接続手段）２０は、ＤＰＤＴ（ｄｏｕｂｌｅ ｐｏｒｔｓ ｄｏｕｂｌｅ ｔｈｒｏｗｓ）型のスイッチである。光スイッチ２０は、第一入力端子２２ａ、第二入力端子２２ｂ、第一出力端子２４ａ、第二出力端子２４ｂを有する。
第一入力端子２２ａ、第二入力端子２２ｂは、光を受けるための端子である。第一入力端子２２ａは、光入力端子１６を介して、被測定物２の一端に接続される。第二入力端子２２ｂは、カプラ１４の出力端子１４ｂに接続される。
第一出力端子２４ａ、第二出力端子２４ｂは、光を出力するための端子である。第一出力端子２４ａは、光検出部３０に接続される。第二出力端子２４ｂは、光アンプ１０の入力側に接続されている。なお、第二出力端子２４ｂは、光アンプ１０を介して、分光器１２の入力側（入射光受光部）に接続されているといえる。
なお、光スイッチ２０は、（１）第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると同時に第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続する、あるいは（２）第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続する。
なお、第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると、カプラ１４の出力端子１４ｂと、光アンプ１０の入力側とを接続することになる。第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続すると、被測定物２の一端と、光検出部３０とを接続することになる。
また、第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると、カプラ１４の出力端子１４ｂと、光検出部３０とを接続することになる。第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続すると、被測定物２の一端と、光アンプ１０の入力側とを接続することになる。
光検出部３０は、第一出力端子２４ａから受けた光を検出する。具体的には、受けた光を電気信号に変換する。
掃引コントローラ３２は、分光器１２における所定の波長帯域を掃引する。なお、所定の波長帯域は、表示器３４にも送られる。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０の出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
次に、第一の実施形態にかかる光測定装置１の動作を図２、３を参照して説明する。
まず、図２に示すように、光スイッチ２０を操作して、（１）第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると同時に第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続する。
すると、（Ａ）光アンプ１０の出力する増幅光は、分光器１２、カプラ１４の入力端子１４ａ、出力端子１４ｂ、光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂ、第二出力端子２４ｂを通過して、光アンプ１０に入力される。よって、光アンプ１０の出力する増幅光が、光アンプ１０に入力されることになり、正帰還といえる。正帰還しているので、光アンプ１０が出力する増幅光の強度が高くなる。しかも、光アンプ１０の出力が分光器１２を通るため、所定波長帯域成分について、強度が高くなる。さらに、掃引コントローラ３２により、所定の波長帯域が掃引されるため、光アンプ１０および分光器１２を通過する光は、波長が変化する光となる。この光を取り出せば、光アンプ１０および分光器１２を有する正帰還系を、可変波長光源として利用できる。
次に、（Ｂ）光アンプ１０および分光器１２を通過する光は、カプラ１４の入力端子１４ａに入る。入力端子１４ａに入った光は、出力端子１４ｂ、１４ｃに分岐する。出力端子１４ｃに分岐した光は、光出力端子１８を通過する。
さらに、（Ｃ）光出力端子１８を通過した光は、被測定物２の他端に入射する。そして、被測定物２を透過して、被測定物２の一端から出射する。出射された光は、光入力端子１６により受けられる。
そして、（Ｄ）光入力端子１６により受けられた光は、光スイッチ２０の第一入力端子２２ａ、第一出力端子２４ａを通過して、光検出部３０によって受けられる。光検出部３０は受けた光を、電気信号に変換する。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０の出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
表示器３４の表示内容を観察すれば、被測定物２の波長特性がわかる。よって、光測定装置１は、被測定物２の波長特性を測定する波長特性測定装置として機能する。
次に、図３に示すように、光スイッチ２０を操作して、（２）第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続する。
すると、（Ｐ）被測定物２の一端から出射された光は、光入力端子１６により受けられる。
次に、（Ｑ）光入力端子１６により受けられた光は、光スイッチ２０の第一入力端子２２ａ、第二出力端子２４ｂを通過して、光アンプ１０に入力される。
そして、（Ｒ）光アンプ１０は受けた光を増幅し、増幅光として出力する。
さらに、（Ｓ）増幅光の所定波長帯域成分が分光器１２により取り出される。取り出された所定波長帯域成分は、カプラ１４の入力端子１４ａを経由して、出力端子１４ｂから出射される。
そして、（Ｔ）出力端子１４ｂから出射された光は、光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂ、第一出力端子２４ａを通過して、光検出部３０によって受けられる。光検出部３０は受けた光を、電気信号に変換する。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０の出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
表示器３４の表示内容を観察すれば、被測定物２の一端から出射された光の所定の波長帯域の成分がわかる。よって、光測定装置１は、被測定物２の一端から出射された光のスペクトルを測定するスペクトルアナライザとして機能する。しかも、光アンプ１０により増幅された光から所定波長帯域成分が取り出されるので、光アンプ１０がプリアンプとして機能する。よって、光測定装置１は、高感度なスペクトルアナライザとして機能する。
第一の実施形態によれば、波長特性測定装置において使用する可変波長光源を、光アンプ１０および分光器１２によって構成している。一方、高感度なスペクトルアナライザにおいては、光アンプ１０および分光器１２を使用する。よって、波長特性測定装置を使用する際には、スペクトルアナライザが有する光アンプ１０および分光器１２を可変波長光源として使用できる。スペクトルアナライザを使用する際には、波長特性測定装置が有する可変波長光源の光アンプ１０および分光器１２を使用できる。しかも、波長特性測定装置およびスペクトルアナライザは共に光検出部３０を使用できる。したがって、波長特性測定装置およびスペクトルアナライザは共に光アンプ１０、分光器１２および光検出部３０を使用できる。よって、スペクトルアナライザおよび波長特性測定装置が有する部材（光アンプ１０、分光器１２および光検出部３０）を有効に使用できる。
第二の実施形態
第二の実施形態は、第一の実施形態における光アンプ１０、分光器１２および光検出部３０を複数設けて、長波長帯域および短波長帯域に対応できるようにしたものである。
図４は、本発明の第二の実施形態にかかる光測定装置１の構成を示すブロック図である。光測定装置１は、光アンプ（光増幅手段）１０ａ、１０ｂ、分光器（波長成分取出手段）１２ａ、１２ｂ、カプラ（分岐手段）１４、光入力端子１６、光出力端子１８、光スイッチ（光接続手段）２０、光検出部３０ａ、３０ｂ、掃引コントローラ３２、表示器３４を備える。以下、第一の実施形態と同様な部分は同一の番号を付して説明を省略する。
光アンプ１０ａ、１０ｂは、第一の実施形態における光アンプ１０と同様なものである。ただし、光アンプ１０ａは、光アンプ１０ｂに比べて、長波長の帯域の光を出力する。よって、光アンプ１０ａは長波長帯域用の光アンプ、光アンプ１０ｂは短波長帯域用の光アンプといえる。
分光器１２ａは、光アンプ１０ａの出力する増幅光から所定の波長帯域の成分を取り出す。分光器１２ｂは、光アンプ１０ｂの出力する増幅光から所定の波長帯域の成分を取り出す。なお、所定の波長帯域は、掃引コントローラ３２により変化させることができる。すなわち、所定の波長帯域を掃引することができる。また、分光器１２ａは、分光器１２ｂに比べて、長波長の帯域の光を取り出す。
カプラ１４は、入力端子１４ａ、出力端子１４ｂ、１４ｃを有する。カプラ１４は、入力端子１４ａが受けた光を、出力端子１４ｂ、１４ｃに分岐する。入力端子１４ａは、分光器１２ａ、１２ｂが出力する所定波長帯域成分を受ける。よって、所定波長帯域成分は、出力端子１４ｂ、１４ｃに出力される。なお、出力端子（第一方向側）１４ｂは光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂに接続され、出力端子（第二方向側）１４ｃは光出力端子１８に接続される。
光入力端子１６および光出力端子１８は第一の実施形態と同様であり、説明を省略する。
光スイッチ（光接続手段）２０は、ＤＰ３Ｔ（ｄｏｕｂｌｅ ｐｏｒｔｓ ３ ｔｈｒｏｗｓ）型のスイッチである。光スイッチ２０は、第一入力端子２２ａ、第二入力端子２２ｂ、第一出力端子２４ａ、第二出力端子２４ｂ、第三出力端子２６ａ、第四出力端子２６ｂを有する。
第一入力端子２２ａ、第二入力端子２２ｂは第一の実施形態と同様であり、説明を省略する。
第一出力端子２４ａ、第二出力端子２４ｂは、光を出力するための端子である。第一出力端子２４ａは、光検出部３０ａに接続される。第二出力端子２４ｂは、光アンプ１０ａの入力側に接続されている。
第三出力端子２６ａ、第四出力端子２６ｂは、光を出力するための端子である。第三出力端子２６ａは、光検出部３０ｂに接続される。第四出力端子２６ｂは、光アンプ１０ｂの入力側に接続されている。
なお、光スイッチ２０は、（１）第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると同時に第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続する、（２）第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続する、（３）第二入力端子２２ｂと第三出力端子２６ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第四出力端子２６ｂとを接続する、のいずれか一つを行なう。
なお、第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると、カプラ１４の出力端子１４ｂと、光アンプ１０ａの入力側とを接続することになる。第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続すると、被測定物２の一端と、光検出部３０ａとを接続することになる。
また、第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると、カプラ１４の出力端子１４ｂと、光検出部３０ａとを接続することになる。第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続すると、被測定物２の一端と、光アンプ１０ａの入力側とを接続することになる。
さらに、第二入力端子２２ｂと第三出力端子２６ａとを接続すると、カプラ１４の出力端子１４ｂと、光検出部３０ｂとを接続することになる。第一入力端子２２ａと第四出力端子２６ｂとを接続すると、被測定物２の一端と、光アンプ１０ｂの入力側とを接続することになる。
光検出部３０ａは、第一出力端子２４ａから受けた光を検出する。具体的には、受けた光を電気信号に変換する。光検出部３０ｂは、第二出力端子２４ｂから受けた光を検出する。具体的には、受けた光を電気信号に変換する。なお、光検出部３０ａが検出する光の波長帯域は、光アンプ１０ａの出力する光の波長帯域（長波長帯域）に対応する。また、光検出部３０ｂが検出する光の波長帯域は、光アンプ１０ｂの出力する光の波長帯域（短波長帯域）に対応する。例えば、光検出部３０ａはＩｎＧａＡｓフォトダイオード、光検出部３０ｂはＳｉフォトダイオードである。
掃引コントローラ３２は、分光器１２ａ、１２ｂにおける所定の波長帯域を掃引する。なお、所定の波長帯域は、表示器３４にも送られる。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０ａ、３０ｂの出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
次に、第二の実施形態にかかる光測定装置１の動作を図５、６および７を参照して説明する。
まず、図５に示すように、光スイッチ２０を操作して、（１）第二入力端子２２ｂと第二出力端子２４ｂとを接続すると同時に第一入力端子２２ａと第一出力端子２４ａとを接続する。
すると、（Ａ）光アンプ１０ａの出力する増幅光は、分光器１２ａ、カプラ１４の入力端子１４ａ、出力端子１４ｂ、光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂ、第二出力端子２４ｂを通過して、光アンプ１０ａに入力される。よって、光アンプ１０ａの出力する増幅光が、光アンプ１０ａに入力されることになり、正帰還といえる。正帰還しているので、光アンプ１０ａが出力する増幅光の強度が高くなる。しかも、光アンプ１０ａの出力が分光器１２ａを通るため、所定波長帯域成分について、強度が高くなる。さらに、掃引コントローラ３２により、所定の波長帯域が掃引されるため、光アンプ１０ａおよび分光器１２ａを通過する光は、波長が変化する光となる。この光を取り出せば、光アンプ１０ａおよび分光器１２ａを有する正帰還系を、可変波長光源として利用できる。
次に、（Ｂ）光アンプ１０ａおよび分光器１２ａを通過する光は、カプラ１４の入力端子１４ａに入る。入力端子１４ａに入った光は、出力端子１４ｂ、１４ｃに分岐する。出力端子１４ｃに分岐した光は、光出力端子１８を通過する。
さらに、（Ｃ）光出力端子１８を通過した光は、被測定物２の他端に入射する。そして、被測定物２を透過して、被測定物２の一端から出射する。出射された光は、光入力端子１６により受けられる。
そして、（Ｄ）光入力端子１６により受けられた光は、光スイッチ２０の第一入力端子２２ａ、第一出力端子２４ａを通過して、光検出部３０ａによって受けられる。光検出部３０ａは受けた光を、電気信号に変換する。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０ａ、３０ｂの出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
表示器３４の表示内容を観察すれば、被測定物２の波長特性がわかる。よって、光測定装置１は、被測定物２の波長特性を測定する波長特性測定装置として機能する。
次に、図６に示すように、光スイッチ２０を操作して、（２）第二入力端子２２ｂと第一出力端子２４ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第二出力端子２４ｂとを接続する。
すると、（Ｐ）被測定物２の一端から出射された光は、光入力端子１６により受けられる。
次に、（Ｑ）光入力端子１６により受けられた光は、光スイッチ２０の第一入力端子２２ａ、第二出力端子２４ｂを通過して、光アンプ１０ａに入力される。
そして、（Ｒ）光アンプ１０ａは受けた光を増幅し、増幅光として出力する。
さらに、（Ｓ）増幅光の所定波長帯域成分が分光器１２ａにより取り出される。取り出された所定波長帯域成分は、カプラ１４の入力端子１４ａを経由して、出力端子１４ｂから出射される。
そして、（Ｔ）出力端子１４ｂから出射された光は、光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂ、第一出力端子２４ａを通過して、光検出部３０ａによって受けられる。光検出部３０ａは受けた光を、電気信号に変換する。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０ａ、３０ｂの出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
表示器３４の表示内容を観察すれば、被測定物２の一端から出射された光の長波長帯域の成分がわかる。
次に、図７に示すように、光スイッチ２０を操作して、（３）第二入力端子２２ｂと第三出力端子２６ａとを接続すると同時に、第一入力端子２２ａと第四出力端子２６ｂとを接続する。
すると、（Ｐ）被測定物２の一端から出射された光は、光入力端子１６により受けられる。
次に、（Ｑ）光入力端子１６により受けられた光は、光スイッチ２０の第一入力端子２２ａ、第四出力端子２６ｂを通過して、光アンプ１０ｂに入力される。
そして、（Ｒ）光アンプ１０ｂは受けた光を増幅し、増幅光として出力する。
さらに、（Ｓ）増幅光の所定波長帯域成分が分光器１２ｂにより取り出される。取り出された所定波長帯域成分は、カプラ１４の入力端子１４ａを経由して、出力端子１４ｂから出射される。
そして、（Ｔ）出力端子１４ｂから出射された光は、光スイッチ２０の第二入力端子２２ｂ、第三出力端子２６ａを通過して、光検出部３０ｂによって受けられる。光検出部３０ｂは受けた光を、電気信号に変換する。
表示器３４は、掃引コントローラ３２が決定した所定の波長帯域をＸ軸（横軸）に、光検出部３０ａ、３０ｂの出力する電気信号をＹ軸（縦軸）にとって表示する。
表示器３４の表示内容を観察すれば、被測定物２の一端から出射された光の短波長帯域の成分がわかる。
よって、光測定装置１は、被測定物２の一端から出射された光のスペクトルを測定するスペクトルアナライザとして機能する（図６、７参照）。しかも、光アンプ１０ａ、１０ｂにより増幅された光から所定波長帯域成分が取り出されるので、光アンプ１０ａ、１０ｂがプリアンプとして機能する。よって、光測定装置１は、高感度なスペクトルアナライザとして機能する。
第二の実施形態によれば、第一の実施形態と同様な効果を奏する。しかも、光測定装置１をスペクトルアナライザとして利用する場合、光検出部３０ａが長波長帯域に対応し、光検出部３０ｂが短波長帯域に対応するため、第一の実施形態の場合よりも広い波長帯域の成分を検出できる。
Claims (5)
- 入射された光から所定の波長帯域の成分を取り出す波長帯域成分取出手段と、
前記所定波長帯域成分を第一方向と第二方向とに分岐する分岐手段と、
第一入力端子、第二入力端子および第一出力端子、第二出力端子を有し、前記第一入力端子が被測定物の一端に、前記第二入力端子が前記分岐手段の前記第一方向側に接続された光接続手段と、
前記第二出力端子から光を受け、前記波長帯域成分取出手段の入射光受光部に向けて前記光を増幅した増幅光を出力する光増幅手段と、
前記第一出力端子に接続され、光を検出する光検出手段と、
を備え、
前記被測定物の他端が前記分岐手段の前記第二方向側に接続されており、
前記光接続手段は、（１）前記第一入力端子と前記第一出力端子とを接続すると同時に、前記第二入力端子と前記第二出力端子とを接続するように操作されるとともに、（２）前記第一入力端子と前記第二出力端子とを接続すると同時に、前記第二入力端子と前記第一出力端子とを接続するようにも操作される、光スイッチである、
光測定装置。 - 請求項１に記載の光測定装置であって、
前記光増幅手段は、ファイバアンプあるいは半導体光アンプである、
光測定装置。 - 請求項１に記載の光測定装置であって、
前記波長帯域成分取出手段は、前記所定波長帯域が可変である、
光測定装置。 - 請求項１に記載の光測定装置であって、
前記被測定物は、光ファイバあるいはビームを透過する物である、
光測定装置。 - 請求項１に記載の光測定装置であって、
前記波長帯域成分取出手段が複数あって、それぞれが取り出す前記所定の波長帯域が異なり、
前記光検出手段が複数あって、それぞれが検出する光の波長帯域が、前記所定の波長帯域に対応する、
光測定装置。
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