JPH0382558A - サーマルヘツドの製造方法 - Google Patents

サーマルヘツドの製造方法

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Publication number
JPH0382558A
JPH0382558A JP21984589A JP21984589A JPH0382558A JP H0382558 A JPH0382558 A JP H0382558A JP 21984589 A JP21984589 A JP 21984589A JP 21984589 A JP21984589 A JP 21984589A JP H0382558 A JPH0382558 A JP H0382558A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
film
silica tube
silicon nitride
thermal head
Prior art date
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Pending
Application number
JP21984589A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaaki Yoshida
雅昭 吉田
Hideto Kitakado
英人 北角
Kenji Fujita
健二 藤田
Daisuke Kosaka
小坂 大介
Shoji Matsumoto
庄司 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はファクシミリやプリンタなどに用いられるサー
マルヘッドに関するものである。
(従来の技術) ファクシミリのGIV規格に対応したサーマルヘッドや
高速プリンタに用いるサーマルヘッドなどとして、高速
で高効率(低エネルギー)のサーマルヘッドの開発が進
められている。
現在一般に用いられているサーマルヘッドの基板は、セ
ラミック基板の表面tガラス質のグレーズ層で被った基
板である。これに対し、高速、高効率のサーマルヘッド
を得るために、セラミック基板などの絶縁板や金属板の
表面にポリイミド膜を塗布したものが検討されている(
特開昭52−100245号、特開昭59−14216
7号、特開昭60−167574号公報参照)。
絶縁板や金属板表面にポリイミド膜を塗布した基板を用
いた場合でも、サーマルヘッドとしてはその基板上に発
熱抵抗体と電極を形成し、その上に保護膜を形成する。
゛保護膜としては窒化シリコン膜を用いる。
(発明が解決しようとする課題) シリコン窒化膜は半導体集積回路装置ではパッシベーシ
ョン膜として用いられており、シリコン窒化膜を形成す
る方法として常圧CVD法や減圧CVD法に比べて低温
で膜を形成することができる点から、プラズマCVD法
が用いられているが。
その場合でも炉内温度は380〜400℃に設定されて
いる。サーマルヘッドの保護膜としてシリコン窒化膜を
形成する際、従来のグレーズ層をもつセラミック基板の
場合には炉内温度を400℃に設定してプラズマCVD
法を用いている。しかしながら、基板として絶縁板や金
属板表面にポリイミド膜を持つものを用いた場合に、炉
内温度を400℃にしてプラズマCVD法でシリコン窒
化膜を形成すると、ポリイミドの熱分解温度が500℃
以上であるにも拘らず、ポリイミド膜が剥れる現象が起
こる。これは、ポリイミド膜の熱膨張や、ごく僅かの熱
分解ガスが発生するためであると考えられる。
そこで、本発明は絶縁板や金属板表面にポリイミド膜な
どの耐熱性有機樹脂膜を持つ基板上に発熱抵抗体や電極
を形成した後、保護膜としてのシリコン窒化膜を耐熱性
有機樹脂膜の剥れをなくして形成する方法を提供するこ
とを目的とするものである。
(課題を解決するための手段) 本発明では、保護膜であるシリコン窒化膜を、炉内温度
を250℃から350℃の範囲に設定したプラズマCV
D法により形成する。
(作用) 炉内温度を250℃から350℃の範囲に設定してシリ
コン窒化膜をプラズマCVD法で形成すると、基板の耐
熱性有機樹脂膜が剥れる現象はなくなる。
(実施例) 第1図は本発明により形成されるサーマルヘッドを表わ
している。
1はセラミック板であり、その表面がポリイミド膜2で
被われて基板を構成している。ポリイミド膜2上には発
熱抵抗体3が形成され、その上に電極4a、4bが形成
されている。4aは各発熱抵抗体の発熱部を選択する選
択電極、4bは全ての発熱部に通M&電源を供給する共
通電極である。
電極4a、4bの・間で発熱抵抗体3が露出した部分が
発熱部である1発熱部及び電極4a、4bは電極が外部
と接続されるボンディング部分などを除いてシリコン窒
化膜にてなる保護膜5により被覆されている。6は共通
電極4bの電流容量を補強するために設けられたメツキ
膜である。
基板1としてはセラミックス板に代えて金属板を用いる
こともできる0発熱抵抗体2としてはTa5iO,やT
aNなどのタンタル系抵抗体を用いる。電極3としては
AuやAQなどを用いる。
しかし、各部の材質はこれらに限らず、従来からサーマ
ルヘッドで用いられているものを用いることができる。
次に1本発明における製造方法の一実施例を説明する。
セラミック基板l上にポリイミド膜2を形成するために
、基板l上にポリイミド液をブレードで塗布する。塗布
された状態でのポリイミド膜2の膜厚は約30μmであ
る。これを硬化させるとポリイミド膜2の膜厚は約15
μmとなる。
第2図によりシリコン窒化膜5を形成する方法を説明す
る。
石英管10内に治具12により支持された基板14を!
!2fiする。基板14は複数個のサーマルヘッドを含
む大判の基板である。基板14は横長になるヒうに、立
てて支持する。
石英管10内には炉内温度を測定するために、石英チュ
ーブ16に入れられた熱電対18を設ける。
石英管10の一端から反応ガスとしてSiH4とNH,
を供給し1石英管10内の圧力を10−1〜I Tor
rに調節し、石英管10の外部からコイルにより高周波
電力を与えて石英管10内でプラズマを発生させ、基板
14にシリコン窒化膜を形成させる。
プラズマCVD法の方法としては、上記に示した高周波
放電プラズマCVD法の誘導結合型の他。
容量結合型の装置を用いてもよい。また、マイクロ波放
電プラズマCVD法を用いてもよい。
シリコン窒化膜5を形成した後、選択電極48のうち邸
動回路と接続されるボンディング部分と、共通電極4b
のうちメツキ膜6が形成される領域と開動用電源回路に
接続されるボンディング部分のシリコン窒化膜を除去す
るために写真製版とエツチングを施す、その後、メツキ
膜6を形成する。
スパッタリング工程においては、予め基板10上に選択
電極のボンディング部分と、共通電極のメツキ膜形成領
域及びボンディング部分にスパッタリング膜が形成され
ないようにマスクをしておくマスクスパッタリング法を
用いてもよい。
ポリイミド膜2は第1図のように基板lの一表面だけに
形成されている場合だけではなく、例えばポリイミド膜
の形成方法として基板lをポリイミド液に浸すことによ
り、基板lの表面、裏面及び端面の全面に形成すること
もできる。
(発明の効果) 本発明では炉内温度を250〜350℃に設定してプラ
ズマCVD法により保護膜のシリコン窒化膜を形成する
ようにしたので、基板のポリイミド膜などの耐熱性有機
樹脂膜が剥がれる現象がなくなり、耐熱性有機樹脂膜を
保温層として用いる基板にサーマルヘッドを形成するこ
とができる。
このサーマルヘッドは高速、高効率のサーマルヘッドと
して用いることができる。
【図面の簡単な説明】
第工図は本発明により製造されるサーマルヘッドの一例
を示す断面図、第2図は一実施例におけるプラズマCV
D法を示す断面図である。 l・・・・・・セラミック基板、2・・・・・・ポリイ
ミド膜、3・・・・・・発熱抵抗体、4a、4b・・・
・・・電極、5・・・・・・シリコン窒化膜、10・・
・・・・石英管、12・・・・・・治兵、14・・・・
・・基板、18・・・・・・熱電対。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)表面が耐熱性有機樹脂膜で被われた基板上に発熱
    抵抗体及び電極を形成した後、炉内温度を250℃から
    350℃の範囲に設定したプラズマCVD法により保護
    膜としてシリコン窒化膜を形成するサーマルヘッドの製
    造方法。
JP21984589A 1989-08-25 1989-08-25 サーマルヘツドの製造方法 Pending JPH0382558A (ja)

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