JPH0377384A - 窒化ホウ素を用いた電子装置 - Google Patents

窒化ホウ素を用いた電子装置

Info

Publication number
JPH0377384A
JPH0377384A JP1213966A JP21396689A JPH0377384A JP H0377384 A JPH0377384 A JP H0377384A JP 1213966 A JP1213966 A JP 1213966A JP 21396689 A JP21396689 A JP 21396689A JP H0377384 A JPH0377384 A JP H0377384A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
boron nitride
substrate
type
diamond
boron
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1213966A
Other languages
English (en)
Inventor
Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority to JP1213966A priority Critical patent/JPH0377384A/ja
Publication of JPH0377384A publication Critical patent/JPH0377384A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Led Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「発明の利用分野」 本発明は、ダイヤモンド上に窒化ホウ素を作り、さらに
好ましくはこれらの間にヘテロ接合のPNまたはPIN
接合を有する機能素子、例えば紫外光または可視光発光
装置その他の電子装置に関するものである。
「従来の技術」 窒化ホウ素を超高圧下で形成する方法は、これまでいく
つか試みられている。しかし特にその応用として、基板
上に窒化ホウ素膜を形成した電子装置は知られていない
また、この窒化ホウ素を用いて発光素子とするために大
面積かつ均一な良質の窒化ホウ素を膜状に基板上に安定
に、かつ高い歩留まりで作る方法は基板として適当な材
料が全く知られていないため、これまで示されていない
「従来の欠点」 電子装置の応用として、窒化ホウ素を用いんとするため
には、大面積に均一な厚さを有し、かつ均質な窒化ホウ
素が形成されることが必要な条件である。
従来公知の方法としては、窒化ホウ素のバルク材を超高
温、超高圧で形成する方法が知られている。しかし膜形
成をさせること、およびそのための基板材料の決定等は
まったくなされていない。
「発明の目的j 本発明はかかる欠点を除去するために威されたものであ
る。プラズマエネルギ、熱エネルギまたは紫外光エネル
ギを用い、ホウ素化合物および窒素化合物を活性化せし
め、適切な基板であるダイヤモンド上に窒化ホウ素を形
成する。
特に大きい成膜速度で立方晶形の窒化ホウ素膜(CBN
ともいう)を形成させたものである。この窒化ホウ素を
用いて、ショットキ接合、PN接合またはPIN接合を
作り、効率よく電荷を窒化ホウ素内に注入し、再結合を
発光中心間、バンド(伝導帯〜価電子帯間)間または発
光中心−バンド(伝導帯または価電子帯)間で行う発光
装置への応用が大いに期待できる。
「発明の構J戊j 本発明は、基板材料としてダイヤモンドを用い、この上
に立方晶形の窒化ホウ素、例えばN型の窒化ホウ素を形
成することにより、PNまたはPIN接合を設けたもの
である。
窒化ホウ素〈立方晶形をしているためCBNともいう〉
を作る方法としてはCVD法を用いた。
特にプラズマ損傷を生じないため、イオンに運動エネル
ギを与えないマイクロ波を用いた。さらに非平衡状態で
のCBNの結晶成長をさせるため、プラズマ密度の大き
い有磁場マイクロ波CVD法を用い、窒化ホウ素膜を形
成せんとするものである。
本発明において、均一性を向上し、かつ成膜速度を向上
させるために、反応圧力は0.01〜10torr−、
代表的には0.1〜1torrとした。
本発明においては、流速が一般的なものより大きく、ホ
ウ素化合物および窒素化物を水素で0.1〜10体積%
(100体積2が(ホウ素化合物干窒素化合物)/水素
−1:1に対応)に希釈した。
かつプラズマを発生させる反応容器内の圧力が、比較的
低いことが特長である。反応気体として、ホウ素化合物
としてジボラン(B、+(6)、弗化ホウ素(BFl)
、有機ホウ素化合物、例えばメチルホウ素(B(CH3
) i) 、窒素化物としてアンモニア(NH,)、窒
素(Nz)、弗化窒素(Nh)を用いた。ホウ素と窒素
との化合物としては、例えば弗化ホウ素酸アンモニウム
(NifJF4)等を用いた。
導電型を決める不純物として、N型用に珪素化合物、例
えばシラン(Si、fln) 、弗化珪素(SiF4)
を用いた。P型の窒化ホウ素を形成するにはその不純物
がベリリウム(Be)であるため、加圧真空中で昇華性
の弗化ベリリウム(BeFz)、有機ベリリウムを用い
た。
P型またはN型の窒化ホウ素の形成またはさらにその土
への積層とするため、これら不純物用の化合物をBN化
合物用の気体に対し0.1〜5体積%添加した。
またはイオン注入法により不純物を注入し、その後レー
ザアニールを行った。
またマイクロ波の出力は2〜l0KWを導入し、磁場は
875Gの共鳴面を有すべく、最大2.2KGが印加で
きるようにした。共鳴面またはその近傍に配設された基
板温度は600〜1200°Cであり、代表的には70
0〜1000°Cで窒化ホウ素の結晶の自形面を有せし
めることができた。
本発明の電子装置の応用として、可視光発光装置があげ
られる。これはダイヤモンド基板上に、PまたはN型の
窒化ホウ素を形成する。この窒化ホウ素上に1つまたは
複数の電極を設ける。1つの電極の場合は基板を導体と
し、この基板と電極との間にパルスまたは直流、交流電
流を流すことにより可視光を発生させて、例えば可視光
発光装置を設けたものである。
これらの結果、窒化ホウ素中を電流が流れ、バンド間遷
移、バンド−再結合中心または発光中心間の遷移、また
は再結合中心同士または発光中心同土間での遷移による
キャリアの再結合が起き、その再結合のエネルギバンド
間隔(ギャップ)に従って可視光発光をなさしめんとし
たものである。特にその可視光は、この遷移バンド間に
従って青色、紫外光を出すことができる。さらに複数の
バンド間の再結合中心のエネルギレベルを作ることによ
り、白色光等の連続光をも作ることが可能である。
以下に本発明を実施例に従って記す。
「実施例Iノ 本発明において、窒化ホウ素はP型のダイヤモンド上に
第1図に示す有磁場マイクロ波CvD装置を用い作製し
た。その概要を以下に示す。
例えばP型の不純物が高濃度に添加されたダイヤモンド
上にN型の珪素をドープをさせつつ結晶成長(単結晶成
長または多結晶成長)させる。
この上にPN接合またはPIN接合とするため、ベリリ
ウムが添加されたP型のCBNを形成させる。
この基板(1)を有磁場マイクロ波プラズマCVD装置
(以下単にプラズマCVD装置ともいう)内に配設した
。このプラズマCVD装置は、1〜5GHz例えば2.
45GIIzの周波数を用い反応室(B9)は円筒状を
有し、その内径は1.7cmを有している。
矢印の方向のガス流(20)で平均流速は容器内が層流
と仮定し、全流量をこの内径面積で割った値として示し
ている。マイクロ波エネルギを最大10問までマイクロ
波発振器(18) 、アテニスエイタ(16)、石英窓
(15)より反応室(19)に加えることができる。又
、磁場(17)、 (17’)でヘルムホルツコイルを
用い、875ガウスの共鳴面を基板またはその近傍に構
成せしめるため、2KG以上、最大2.2KG !こま
で加えた。反応室(19)内部には、2〜6インチ、代
表的には4インチの円形の基板母材(1゛)上に0.1
〜511111角のダイヤモンド、例えば3問角のダイ
ヤモンド(基板ともいう)をホルダ(13)に基板おさ
え(14)で配設させた。
ホルダ(13)の外径は反応室の内径に対しく2日−1
)の如くに3〜30問例えば15mmと近接させた。
ホルダの厚さ(28−2)をl0〜50mmとした。そ
れは隙間(284)より石英窓(15)から導入された
マイクロ波が後方に漏洩し、むだになることを防ぐため
である。かくして反応室は円筒状を有し、かつ円筒状の
基板ホルダより実質的に閉じられた反応空間(反応後、
不要気体はこの隙間(281〉より後方の排気系に放出
する)(19)を作り、導入されたマイクロ波の反射を
5%以下にすることができる。また反応室およびホルダ
がともに同心で円筒状であるため、基板位置移動機構(
12)で1応炉内での成膜に最適な位置を調節させ得る
排気系は圧力調整バルブとストンブバルブを兼ね、バル
ブ(25)、広域ターボ分子ポンプ(26)、荒引ポン
プ(27)よりなっている。ターボ分子ポンプを用いる
ため、反応容器内の気体の流速を0.01torrで6
00cm/秒と高くすることができた。
圧力調整バルブ(25)を用いると、反応室(19)内
での流速(20)が5〜100c117秒を得られ、特
に3〜60cm/秒が最適であることが明らかになった
初期真空引きも10−’〜No−’torrまで広域タ
ーボ真空ポンプを用いて行った。
この後これらに対し、ドーピング系(31) 、 (3
2) 。
(33) 、 (34,) 、 (35) 、 (36
)を用いて反応性気体、キャリアガスを導入した。即ち
、水素(B1)、 ジボラン(32)、アンモニア(3
3)、N型ドーパント用に水素で希釈されたシラン(3
χに希釈’) (34)、加熱容器から連結されたP型
ドーパント用の弗化ベリリウム(35)、真空容器のエ
ツチング用気体(例えばCF、または酸素)を(36)
より導入した。
Bziih/N11i−0,5〜2とし、(B2116
+NH:l)/II□ −1〜10体積%とした。また
SiH4/ (BJ6+Nt13) =0.1〜3体積
%添加した。
成膜中の圧力は、0.01〜10torr、代表的には
0.1 ”4torr例えば0.26torrとした。
 2.2KG(キロガウス)の磁場を加え、基板の位置
またはその近傍が875ガウスとなるようにした。マイ
クロ波は2.45GHzの周波数を用い、そのマイクロ
波強度として2〜l0KWを加え、このマイク0波の電
磁エネルギ自体で基板の温度を200〜1200゛C1
例えば1000″Cとした。
するとこのマイクロ波エネルギで分解されプラズマ化し
たB、N e、分は、基板上に成長して、単結晶の窒化
ホウ素(立方結晶形の窒化ホウ素の白形面を有するCB
Nともいう)を成長させることができる。
結果として、結晶化した炭素即ち窒化ホウ素を0.5〜
5μm例えば平均厚さ1.3μm(成膜時間2時間)と
従来公知の方法に比べて10〜30倍の速度で成長をさ
せることができた。
その成膜した窒化ホウ素成分、結晶性をレザラマン分光
で調べたところ、するどいピークが観察さ・れ、単結晶
または多結晶が1分に成長していることが判明した。
「実施例2」 第2図は、前述の実施例に示した本発明方法を用いて窒
化ホウ素発光装萱を作った1例である。
P型のダイヤモンドを実施例1と同様にして用いた。
即ち、第2図に示す如く、P型ダイヤモンド基板(1)
上にBJi/NH*=1/1とし、(BJ+、+NH1
)/1I2=3体積%とし、5t)I4/(BJi+N
Hff) = 1体積%として、第1のN型の窒化ホウ
素(2)を1.3μmの厚さに形成している。するとこ
の間にはPN接合(10)を作ることができる。
この上側に電極部材を真空蒸着法、スパッタ法で形成し
た。電極(5)としては透光性導電膜を形成した。
また裏面にもアル逅ニウムのオーム接触を電極(5゛)
によりさせた。
かくして接合(10)での発光を外部により効率よく取
り出せるようにした。
この第2図(B)の構造において、一対をなす電極即ち
(5)、(5’)の間に2〜20v(直流〜1001z
デューイ比1)例えば4Vの電圧で印加した。するとこ
の窒化ホウ素の部分に電流を流した後、ここから可視光
発光特に青色の発光をさせることが可能となった。
「実施例3」 この実施例は、第3図にその断面図を示す。
実施例2と同様に基板としてホウ素が不純物として添加
されているP型のダイヤモンドを基板として用いた。さ
らにこの上にI型のCBN (10)を形成した。この
ホウ素が基板内にオー トドーブされやすいため、ダイ
ヤモンドを基板として用いる場合は、P型のダイヤモン
ド上に■型のN型の不純物の珪素、CBNの構成物であ
るホウ素、窒素またはダイヤモンドの構成分の炭素の一
部または全部を構成する層を形成した。さらにひきつづ
きこの上に、N型の窒化ホウ素(2)を形成した。実施
例2と同じく電極を形成した。
370nmの紫外光に近い発光を印加電圧が5vの順方
向で観察することができた。
「効泉」 今まで立方晶形のBNの薄膜を形成するための基板は知
られていなかった。しかし本発明ではダイヤモンドを用
いることにより、初めてPまたはN型のCBNを結晶成
長させることに成功した。このため、工業的窓用である
電子装置を機能装置として多量に作ることができる、生
産スピードも膜形成スピードが大であることより、大き
くすることができる等の多くの特長を有する。
本発明の応用として、1つの発光素子を作る場合を主と
して示した。しかし同一基板上に複数の窒化ホウ素を用
いた電子装置を作り、電極を形成した後適当な大きさに
スクライブ、ブレイクをし、1つづつ単体または集積化
した電子装置とすることは有効である。さらにかかる電
子装置の一部を発光装置とし、同じ窒化ホウ素を用い、
またこの上または下側のシリコン半導体を用いてダイオ
ード、トランジスタ、抵抗、コンデンサを一体化して作
り、複合化した集積化電子装置を構成せしめることは有
効である。
本発明は、窒化ホウ素結晶の自形面を作る成膜時間が従
来の方法に比べてきわめて小さく、量産性が大変優れて
いる。
本発明方法において窒化ホウ素用の不純物としてN型材
料は珪素を、またP型材料はベリリウムを用いた。しか
しNまたはP型とするために他の不純物を用いてもよい
ことはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の窒化ホウ素を形成するための有磁場マ
イクロ波装置の1例を示す。 第2図および第3図は本発明方法を用いた窒化ホウ素発
光素子の作製工程およびその縦断面図を示す。 1 ・ ・ 17、17” 18・ ・ 19・ ・ 20・ ・ 25・ ・ 26・ ・ 27・ ・ ・基板 ・外部磁界 ・マイクロ波電源 ・反応室 ・ガス流 ・バルブ ・ターボ分子ポンプ ・荒引きポンプ 、〜鴫− 弔

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、P型のダイヤモンド上にN型の窒化ホウ素を有して
    PN接合が設けられたことを特徴とする窒化ホウ素を用
    いた電子装置。 2、P型のダイヤモンド上に炭素、珪素、窒素およびホ
    ウ素の混在物の層を有し、該層上 にN型の不純物が添加された窒化ホウ素を 有してPNまたはPIN接合が設けられたことを特徴と
    する窒化ホウ素を用いた電子装置。 3、ダイヤモンド上に窒化ホウ素が立方晶形を有して設
    けられたことを特徴とする窒化ホ ウ素を用いた電子装置。
JP1213966A 1989-08-19 1989-08-19 窒化ホウ素を用いた電子装置 Pending JPH0377384A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1213966A JPH0377384A (ja) 1989-08-19 1989-08-19 窒化ホウ素を用いた電子装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1213966A JPH0377384A (ja) 1989-08-19 1989-08-19 窒化ホウ素を用いた電子装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0377384A true JPH0377384A (ja) 1991-04-02

Family

ID=16648015

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1213966A Pending JPH0377384A (ja) 1989-08-19 1989-08-19 窒化ホウ素を用いた電子装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0377384A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002080228A2 (en) * 2001-04-02 2002-10-10 Motorola, Inc. Structure including cubic boron nitride films
JP2006222391A (ja) * 2005-02-14 2006-08-24 Kobe Steel Ltd ダイヤモンド紫外線発光素子
AU2005281106B2 (en) * 2004-09-07 2009-10-01 Temco Japan Co., Ltd. Spectacle type communication device
JP2012508469A (ja) * 2008-11-06 2012-04-05 ビーコ・インストゥルメンツ・インコーポレイテッド 高温ガス注入を伴う化学気相成長方法及び反応器

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002080228A2 (en) * 2001-04-02 2002-10-10 Motorola, Inc. Structure including cubic boron nitride films
WO2002080228A3 (en) * 2001-04-02 2003-02-27 Motorola Inc Structure including cubic boron nitride films
AU2005281106B2 (en) * 2004-09-07 2009-10-01 Temco Japan Co., Ltd. Spectacle type communication device
JP2006222391A (ja) * 2005-02-14 2006-08-24 Kobe Steel Ltd ダイヤモンド紫外線発光素子
JP4592439B2 (ja) * 2005-02-14 2010-12-01 株式会社神戸製鋼所 ダイヤモンド紫外線発光素子
JP2012508469A (ja) * 2008-11-06 2012-04-05 ビーコ・インストゥルメンツ・インコーポレイテッド 高温ガス注入を伴う化学気相成長方法及び反応器
US8895107B2 (en) 2008-11-06 2014-11-25 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition with elevated temperature gas injection
US8937000B2 (en) 2008-11-06 2015-01-20 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition with elevated temperature gas injection
US9053935B2 (en) 2008-11-06 2015-06-09 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition with elevated temperature gas injection

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4481229A (en) Method for growing silicon-including film by employing plasma deposition
JP4184789B2 (ja) M’nベース物質の生成装置及び生成方法
US5210051A (en) High efficiency light emitting diodes from bipolar gallium nitride
US5747118A (en) Plasma enhanced chemical transport process for forming diamond films
Münch et al. Silicon carbide light-emitting diodes with epitaxial junctions
US6340393B1 (en) Method for synthesizing n-type diamond having low resistance
JPS60173829A (ja) 化合物半導体薄膜の成長方法
CN109841708B (zh) 半导体器件及其制备方法
US5903015A (en) Field effect transistor using diamond
GB1585827A (en) Heterostructure semiconductor devices
CN1077607C (zh) 光辐射加热金属有机化学汽相淀积氮化镓生长方法与装置
JPH0377384A (ja) 窒化ホウ素を用いた電子装置
JPH08172055A (ja) 窒化物半導体結晶の成長方法およびその装置
JPH0379769A (ja) 窒化ホウ素の作製方法
JPH0379770A (ja) 窒化ホウ素の作製方法
JPH10247624A (ja) n型単結晶ダイヤモンドおよびその製造方法、人工ダイヤモンドの製造方法
JPH04266020A (ja) 半導体ダイヤモンド
JP2529001B2 (ja) 炭化珪素を用いたpn接合型発光ダイオ―ドの製造方法
JP3816759B2 (ja) 成膜方法および成膜装置
JP2761758B2 (ja) ダイヤモンドの作製方法
JPH08264829A (ja) 化合物半導体構造およびその製造方法
KR19980072406A (ko) 발광소자용 질화갈륨 기판 및 그 제조 방법
JPH06334171A (ja) ダイヤモンド薄膜素子の製造方法
JPS62118521A (ja) 半導体被膜作製方法
JPH0529653A (ja) 半導体素子