JPH0375563A - 粒子凝集パターン判定方法 - Google Patents

粒子凝集パターン判定方法

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JPH0375563A
JPH0375563A JP1212006A JP21200689A JPH0375563A JP H0375563 A JPH0375563 A JP H0375563A JP 1212006 A JP1212006 A JP 1212006A JP 21200689 A JP21200689 A JP 21200689A JP H0375563 A JPH0375563 A JP H0375563A
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晴久 渡辺
Tomohito Tanaka
智史 田中
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は臨床検査等において、被検液中の粒子のパタ
ーンを光学的に測定し、そのパターンの属性を凝集、非
凝集、その他に自動判定をする粒子凝集パターン判定方
法に関するものである。
[従来の技術] 被検液中の粒子のパターンの凝集、非凝集、その他の属
性の判定を行うため、粒子パターンを光学的に測定し、
属性判定のためのパラメータを求め、そのパラメータを
予め設定されているしきい値と比べて、その属性が凝集
、非凝集、その他のいずれかに属しているかを判定する
粒子凝集パターン判定装置が従来より知られている。
このような粒子凝集パターン判定装置において、予め設
定するしきい値は下記に述べる条件の違い等により適切
な値を設定する必要があり、また条件に応じて変更する
必要もある。
a、被検液中の粒子の種類 す、被検液中の粒子の濃度 C1粒子と反応する試薬または検体の種類、濃度 d1粒子凝集パターン判定装置を操作する操作者の判定
基準 これらの条件をもとに決定されたしきい値を、キーボー
ドに代表される入力装置により粒子凝集パターン判定装
置に操作者が予め入力しておく方法が一般的にとられて
いた。
しかしながら上記したようなしきい値を設定方法をとる
粒子凝集パターン判定装置には下記のような問題点があ
った。
a、Lきい値は凝集パターンの所定部分を数値化したも
のであるが、その数値より粒子のパターンを連想するこ
とは慣れないと困難で、しきい値を決定するのに手間が
か\つた。
b、特にしきい値が複数個ある場合で、お互いに関連し
あっている場合は適正な値を決定するのにかなり困難を
伴った。
C1以上のようにしきい値を入力しても、最終的な値を
決定するには、試行錯誤的な判定実験により値を修正調
整する必要のある場合があり、しきい値の設定に多くの
時間を要していた。
d、またキーボード等の入力操作は、キーボード等に慣
れていない操作者にとって煩わしく、操作ミスを発生さ
せる可能性もあった。
このような問題を解決するため本願発明者らは本願と同
時出願の特許顧にその詳細を説明した粒子凝集パターン
判定方法を提案している。
この判定方法は要約すると、マイクロプレートのウェル
内の複数被検体をパターン判定装置によりパターンの凝
集、非凝集を判定するためのパラメータを測定算出する
と共にこれら被検体のパターンを目視により凝集、非凝
集を判定して装置に設定し、パターン判定装置は両者を
比較演算処理して最も矛盾の少ないパラメータのしきい
値を求め、このしきい値により被検体のパターンの11
非凝集を判定し、その結果に目視判定した結果と矛盾す
る被検体があれば、この被検体について目視による再判
定を行うなどにより目視判定結果を修正して、再びしき
い値を求め直し、このしきい値で再び凝集、非凝集を判
定するような逐次補正により適切なしきい値を求めて被
検体のパターンの凝集、非凝集を判定を行う判定方法で
ある。
[発明が解決しようとする課wi] この判定方法により前記した問題の多くの部分を解決し
たが、さらに次のような問題について解決が要望されて
いる。
a、マイクロプレートのウェル内の被検体パターンの凝
集、非凝集を目視で判定することに馴れていない操作者
にとって、凝集から非凝集への連続的なパターン変化を
的確に見分けて、凝集、非凝集を判定することは難しく
、判定に戸惑うゲースが多く、結果的に装置による判定
と矛盾するするサンプル数も多くなり最適のしきい値決
定に手間と時間がかNった。
b、この目視判定を助けるため、凝集から非凝集へパタ
ーンを連続的に変化させた標準サンプルのようなものを
作り、それを保存しておき、しきい値決定のとき使える
ようにおくと、その標準サンプルを見ながら判定ができ
便利であり、判定のための時間も短縮できるが、このよ
うな標準サンプルを実際の被検体により作成する場合は
、経時変化が激しく長期保存に適さない。
C0また上記したようなWA準サンプルを実際の被検体
により作成する場合は、サンプル自体を作るのに多くの
時間と手間が必要である。
この発明は、このような問題を解決するためになされた
もので、凝集、非凝集の目視判定による初期設定を容易
にした粒子凝集パターン判定方法を提供することを目的
としている。
[課題を解決するための手段および作用コこの発明は、
被検液中の粒子パターンの凝集、非凝集の属性を判定す
るための複数のしきい値設定用標準サンプルパターンを
記録再生する画像記録再生手段と、これらしきい値設定
用標準サンプルパターンを表示する表示手段と、この表
示手段に表示されたしきい値設定用標準サンプルパター
ンの凝集、非凝集の目視判定結果を入力する入力手段と
、しきい値設定用標準サンプルおよび被検体粒子パター
ンのそれぞれのパターンを処理可能に取り込む画像取込
手段と、取り込んだパターンのパラメータを求める手段
と、これらパラメータや目視判定した結果を比較演算処
理する演算処理手段と、前記求めたパラメータ、目視判
定した結果、比較演算処理されたデータ等を記憶する記
憶手段と、これらのデータを出力表示する出力表示手段
とを有するパターン判定装置を備え、第1の動作モード
で、 a、前記表示手段に表示された前記しきい値設定用標準
サンプルパターンの凝集、非凝集の属性を目視判定し、 b、その判定結果を前記入力手段より前記パターン判定
装置に入力し、 C1前記画像取込手段により取り込んだしきい値設定用
標準サンプルパターンのパラメータを求め、 d、このパラメータと前記目視判定結果とを演算処理し
て凝集、非凝集の属性を判定するパラメータのしきい値
を算出し、 e、このしきい値を前記パターン判定装置に設定し、 第2の動作モードで、 f、被検体のパターンを画像取込手段を介して取り込み
、そのパラメータを求め、 g、求めたパラメータを前記設定したパラメータのしき
い値と比較演算処理し、 h、被検体パターンの凝集、非凝集を判定する。
このような判定方法を特徴とした粒子凝集パターン判定
方法である。
[実施例] 以下図面を参照しながらこの発明の一実施例の判定方法
を説明する。第1図はこの実施例の判定方法に使用する
パターン判定装置(以下装置と呼ぶ〉の−構成を示すブ
ロック構成図であり、同図において1は複数のしきい値
設定用標準サンプルのパターンを記録再生する画像記録
再生装置で、この画像記録再生装置1に記録されたしき
い値設定用標準サンプルのパターンはCRTモニター2
に出力表示される。また画像記録再生装置1は画像取込
装置3に接続されていて、しきい値設定用標準サンプル
のパターンはA/D変換機能を有する画像取込装置3で
パターン像がA/D変換され、そのディジタル値画像情
報はデータ処理制御装置4に送られる。またこの画像取
込装置3は第2図に示すようなマイクロプレート5のウ
ェル5aの中の被検体パターンを光源6からの透過光に
より、そのパターン像を読取りA/D変換して、その画
像情報をデータ処理制御装置4に送ることもできる。
データ処理制御装?l!4は装置の各部を制御すると共
に、画像記録再生装置1より送られるしきい値設定用標
準サンプルのパターンの画像情報データおよびマイクロ
プレート5のウェル5aの中の被検体パターンの画像情
報データを演算処理して、それぞれのパターンについて
の凝集、非凝集判定のためのパラメータ、例えばウェル
5a中心と周囲部分の光透過率の比などを求め記憶する
もので、またこのデータ処理制御装置4は、CRTモニ
ター2に出力表示された画像記録再生装置1のしきい値
設定用標準サンプルのパターンを操作者が目視により凝
集、非凝集と判定する結果をこのデータ処理部[脚装置
4に入力するためのキーボードよりなる入力装置7と、
演算処理した出力データ等や操作者に対する指示を表示
するための表示装置8と、出力データ等を記録するデー
タ出力装置9および目視判定結果をデータ処理制御装置
4を介して画像記録再生装置1に記録するためのインタ
ーフェイス回路10とが接続されている。
このような構成をなす判定装置を使用し、被検体の凝集
、非凝集の判定がなされるが、この発明の判定方法は大
きく分けると次の動作モードに分けられる。
■、パラメータしきい値の設定 ■、実際の被検体の判定 ■、パラメータしきい値の設定 しきい値設定用vA準サンプルを使用して下記のような
手順方法によりパターン凝集、非凝集判定のためのしき
い値が決定される。
(1)操作者は入力装置7により判定装置を「目視判定
モード」に設定する。
(2)画像記録再生装置1のしきい値設定用標準サンプ
ルのパターンを順次CRTモニター2に出力表示する。
(3)操作者はCRTモニター2に出力表示されたしき
い値設定用標準サンプルのパターンを目視によりそのパ
ターンの凝集、非凝集を判定し、入力装置7からその判
定結果をデータ処理制御装置4に入力する。
(4)この判定結果はインターフェイス回1110を介
して画像記録再生装置1に記憶する。
(5)この目視判定を全てのしきい値設定用標準サンプ
ルについて行う。
(6)以上の判定操作が終わったら入力装置7により装
置を「しきい値算出モード」′に設定する。
(7)画像取込装置11!3を介して画像記録再生装置
1よりしきい値設定用標準サンプルのパターンデータを
データ処理制御装置4に順次読み出す。
(8)同時に(4)で画像記録再生装置1に記憶した目
視による判定結果もインターフェイス回路10を介して
読み出す。
(9)データ処理制御装置4は読み出されたしきい値設
定用標準サンプルごとのパターンデータをもとに、その
標準サンプルについての凝集、非凝集の属性を判定する
ためのパラメータを算出する。
(10)前’[1! (9)のパラメータを算出をすべ
てのしきい値設定用標準サンプルについて繰り返し行な
う。
(11)算出されたパラメータと目視判定結果をデータ
処理制御装置4で比較演算処理して、パラメータのしき
い値を算出する。
算出されたパラメータのしきい値はデータ処理制御装置
4内に初期設定値として記憶されて実際の被検体の判定
に使用される。
■、実際の被検体の判定 実際の被検体パターンの凝集、非凝集の属性判定は次の
ような手順で行われる。
(1)操作者は入力装置7により判定装置を「自動判定
モード」に設定する。
(2)画像取込装置j3は光源6からの透過光によるマ
イクロプレート5のウェル5a内の被検体パターン像を
順次取り込み、A/D変換したディジタル値データをデ
ータ処理制御装置4に送る。
(3)データ処理制御装置4は送られた被検体パターン
データから凝集、非凝集の属性判定をするためのパラメ
ータを算出する。
(4)さらにデータ処理制御装置4は算出されたパラメ
ータと、■(パラメータしきい値の設定)の動作モード
で求め設定しであるしきい値とを比較演算して凝集、非
凝集等の判定をする。
(5)判定結果は表示装置8やデータ出力装置9に出力
する。
以上で全被検体のパターン判定が終了する。
この判定方法に使゛用するしきい値設定用標準サンプル
は、マイクロプレート5のウェル5aにしきい値設定用
標準サンプルの粒子凝集パターンを生成させ、判定装置
の画像取込装置3を介して画像記録再生装置1に記録さ
せて作ることもできる。
なお、この発明は上記実施例に限定されるものでなく要
旨を変更しない範囲で変形して実總できる。
例えば、「1.パラメータしきい値の設定」の動作モー
ドにおいて、目視判定としきい値算出とを同時またはそ
の順序を逆に行なっても良い。
また使用する判定装置はパターン画像やデータの記録記
憶用としてVTRや光ディスク等が利用できる。
[発明の効果] この発明によれば次のような効果が期待出来る。
a、装置の操作者は数値化されたしきい値を意識する必
要がなく、目視判定を優先させた単純な操作で装置の初
期設定ができる。
b、このため設定ミスの発生を最小限に押さえられる。
c、Lきい値を微調整する必要がある場合でも、従来の
ように試行錯誤的な判定実験が不要になり、短い時間で
簡単にしきい値が設定できる。
41以上のようにしきい値が簡単かつ正確に設定できる
ので、実際の被検体の判定にあたっても多量の被検体も
短時間で正確に処理することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による一実施例の判定方法に使用され
るパターン判定装置の一例構成を示すブロック楕或図、
第2図はマイクロプレートの平面図である。 1・・・画像記録再生装置 2・・・CRTモニター3
・・・画像取込装置 4・・・データ処理制御装置 5・・・マイクロプレート 5a・・・ウェル6・・・
・・・光源      7・・・・・・入力装置8・・
・・・・表示装置    9・・・・・・データ出力装
置10・・・インターフェイス回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被検体の粒子パターンの凝集、非凝集の属性を判定する
    ための複数のしきい値設定用標準サンプルパターンを記
    録再生する画像記録再生手段と、これらしきい値設定用
    標準サンプルパターンを表示する表示手段と、この表示
    手段に表示されたしきい値設定用標準サンプルパターン
    の凝集、非凝集の目視判定結果を入力する入力手段と、
    しきい値設定用標準サンプルおよび被検体粒子パターン
    のそれぞれのパターンを処理可能に取り込む画像取込手
    段と、取り込んだパターンの凝集、非凝集の属性を判定
    するためのパラメータを求める手段と、これらパラメー
    タや目視判定した結果を比較演算処理する演算処理手段
    と、前記求めたパラメータ、目視判定した結果、比較演
    算処理されたデータ等を記憶する記憶手段と、これらの
    データを出力表示する出力表示手段とを有するパターン
    判定装置を備え、 第1の動作モードで、前記表示手段に表示された前記し
    きい値設定用標準サンプルパターンの凝集、非凝集の属
    性を目視判定し、その判定結果を前記入力手段より前記
    パターン判定装置に入力し、前記画像取込手段により取
    り込んだしきい値設定用標準サンプルパターンのパラメ
    ータを求め、このパラメータと前記目視判定結果とを演
    算処理して凝集、非凝集の属性をを判定するパラメータ
    のしきい値を算出し、このしきい値を前記パターン判定
    装置に設定し、第2の動作モードで、被検体のパターン
    を画像取込手段を介して取り込み、そのパラメータを求
    め、求めたパラメータを前記設定したパラメータのしき
    い値と比較演算処理し、被検体パターンの凝集、非凝集
    を判定することを特徴とした粒子凝集パターン判定方法
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US07/941,752 US5225350A (en) 1989-08-17 1992-09-03 Particle agglutination pattern judgment method

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08136439A (ja) * 1994-11-04 1996-05-31 Toa Medical Electronics Co Ltd 粒子画像分析装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH08136439A (ja) * 1994-11-04 1996-05-31 Toa Medical Electronics Co Ltd 粒子画像分析装置

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