JPH0366787B2 - - Google Patents
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- JPH0366787B2 JPH0366787B2 JP59237252A JP23725284A JPH0366787B2 JP H0366787 B2 JPH0366787 B2 JP H0366787B2 JP 59237252 A JP59237252 A JP 59237252A JP 23725284 A JP23725284 A JP 23725284A JP H0366787 B2 JPH0366787 B2 JP H0366787B2
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Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
- H05K7/10—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
- H05K7/1007—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets with means for increasing contact pressure at the end of engagement of coupling parts
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は格子状に配列されたICリード群を具
有せる格子配列形ICパツケージ用のソケツトに
関する。
有せる格子配列形ICパツケージ用のソケツトに
関する。
従来技術とその問題点
この種格子配列形ICパツケージ用のソケツト
は、例えば特開昭58−150281号等で示されている
ように、格子状配列のICリード挿通孔群と、該
ICリード挿通孔群の下位に対応し配置された格
子状配列のICリード接触用コンタクト群とを備
えるものであるが、それらの共通構造として言え
ることは、上記格子状配列の全てのコンタクトの
接片部分(ICリードとの接触点を形成する)が、
上記格子状配列の縦列線上又は横列線上に配置さ
れ、該コンタクトの接触又は解除のための変位が
上記縦列線又は横列線方向(ICリードピツチに
相当する間隔内)でなされるようになつているこ
とである。
は、例えば特開昭58−150281号等で示されている
ように、格子状配列のICリード挿通孔群と、該
ICリード挿通孔群の下位に対応し配置された格
子状配列のICリード接触用コンタクト群とを備
えるものであるが、それらの共通構造として言え
ることは、上記格子状配列の全てのコンタクトの
接片部分(ICリードとの接触点を形成する)が、
上記格子状配列の縦列線上又は横列線上に配置さ
れ、該コンタクトの接触又は解除のための変位が
上記縦列線又は横列線方向(ICリードピツチに
相当する間隔内)でなされるようになつているこ
とである。
而して、上記格子配列形ICパツケージのICリ
ードは非常に狭小なピツチで配列されており、近
年益々該リードピツチの狭小化、高密度格子化が
進行している。
ードは非常に狭小なピツチで配列されており、近
年益々該リードピツチの狭小化、高密度格子化が
進行している。
例えば従来、国際規格2.54mmピツチ(ICリード
の間隔)の格子配列形ICパツケージが広く使用
されていたが、近年これを2分の1以下に縮小し
た1.27mmピツチ以下の同格子配列形ICパツケージ
が提供されるに至つており、これに対処し得る
ICソケツトが必要とされている。
の間隔)の格子配列形ICパツケージが広く使用
されていたが、近年これを2分の1以下に縮小し
た1.27mmピツチ以下の同格子配列形ICパツケージ
が提供されるに至つており、これに対処し得る
ICソケツトが必要とされている。
然るに、既述した構造を有するICソケツトを
上記リードピツチが2分の1に狭小化されたIC
パツケージに適用された場合、各ICリードに接
触するための各コンタクトを上記1.27mmピツチの
ICリード間隔内(1.27mmピツチのICリード挿通孔
の間隔内)に夫々配置せねばならず、加えて同
1.27mmピツチ間で接触又は接触解除のための変位
量を確保せねばならないという、極めて過酷な製
造条件を強いられることとなる。
上記リードピツチが2分の1に狭小化されたIC
パツケージに適用された場合、各ICリードに接
触するための各コンタクトを上記1.27mmピツチの
ICリード間隔内(1.27mmピツチのICリード挿通孔
の間隔内)に夫々配置せねばならず、加えて同
1.27mmピツチ間で接触又は接触解除のための変位
量を確保せねばならないという、極めて過酷な製
造条件を強いられることとなる。
因みに上記コンタクトとしてはICリードの一
側面に接触圧を与える片バネ形構造のものとIC
リードの両側面に接触圧を与える二枚バネ形構造
のものが知られているが、何れの場合にも接点た
る接片部分を湾曲若しくは逆L形、U字形等に曲
げ出したり、或は接片全体を傾斜させ良好な弾性
を得るように設計するのが通常であつて、コンタ
クト自身所要の前後巾を有するばかりか、更にコ
ンタクトの背後にコンタクトの接触又は接触解除
のための変位を許容するバツクスペースの設定が
要求される。又各コンタクト間には絶縁のための
間隔や隔壁を設ける必要もある。更にICリード
をコンタクトに対する接触解除位置から接触位置
へ移動しコンタクト間へ挟持させたり或はコンタ
クトへ押し付けたりするタイプの低抵抗抜差用ソ
ケツトにおいてはICリードの移動ストロークの
確保が必要となる。
側面に接触圧を与える片バネ形構造のものとIC
リードの両側面に接触圧を与える二枚バネ形構造
のものが知られているが、何れの場合にも接点た
る接片部分を湾曲若しくは逆L形、U字形等に曲
げ出したり、或は接片全体を傾斜させ良好な弾性
を得るように設計するのが通常であつて、コンタ
クト自身所要の前後巾を有するばかりか、更にコ
ンタクトの背後にコンタクトの接触又は接触解除
のための変位を許容するバツクスペースの設定が
要求される。又各コンタクト間には絶縁のための
間隔や隔壁を設ける必要もある。更にICリード
をコンタクトに対する接触解除位置から接触位置
へ移動しコンタクト間へ挟持させたり或はコンタ
クトへ押し付けたりするタイプの低抵抗抜差用ソ
ケツトにおいてはICリードの移動ストロークの
確保が必要となる。
従来のICソケツト構造では上記の如きコンタ
クト本体の設置巾や変位のためのバツクスペー
ス、更には前記絶縁隔壁等をICリードピツチに
相応する間隔内で確保することが要求されるが、
前記益々狭小化する傾向にあるICリードピツチ
間隔内で上記要求を満足する設計を行なうことは
非常に困難なものとなる。又片バネ式にしても二
枚バネ式にしても、変形を防止し適正な弾性変位
を確保する必要上その微細化には限度を伴なう。
殊に上記コンタクトを形成する接片をより大きく
拡開することが求められる低抵抗抜差形ICソケ
ツトにおいてはより広いバツクスペースを確保す
ることが要求され、或はICリードを接触位置と
接触解除位置へ移動するタイプのソケツトにおい
ては同ICリードの移動ストロークの確保が必要
となり、このような場合設計によつては従来形は
適用困難となる恐れがある。
クト本体の設置巾や変位のためのバツクスペー
ス、更には前記絶縁隔壁等をICリードピツチに
相応する間隔内で確保することが要求されるが、
前記益々狭小化する傾向にあるICリードピツチ
間隔内で上記要求を満足する設計を行なうことは
非常に困難なものとなる。又片バネ式にしても二
枚バネ式にしても、変形を防止し適正な弾性変位
を確保する必要上その微細化には限度を伴なう。
殊に上記コンタクトを形成する接片をより大きく
拡開することが求められる低抵抗抜差形ICソケ
ツトにおいてはより広いバツクスペースを確保す
ることが要求され、或はICリードを接触位置と
接触解除位置へ移動するタイプのソケツトにおい
ては同ICリードの移動ストロークの確保が必要
となり、このような場合設計によつては従来形は
適用困難となる恐れがある。
発明の目的
本発明は上記の如き実情を抜本的に解決するこ
とを目的として提供されたものであつて、前記格
子配列形ICパツケージ用ソケツトにおいて、IC
リード接触用コンタクトの強度や弾性効果を損な
うことなく(コンタクトの微細化や曲げ変形の制
限を伴なうことなく)、初期の性能を有するコン
タクト設計を可能としつつ、前記コンタクト設置
スペース、弾性変位のためのバツクスペース、或
は絶縁隔壁形成のための間隔等を充分に確保し得
るようにし、前記ICリードの狭小ピツチ化への
対応を適切且つ効果的にしたものを提供せんとす
るものである。
とを目的として提供されたものであつて、前記格
子配列形ICパツケージ用ソケツトにおいて、IC
リード接触用コンタクトの強度や弾性効果を損な
うことなく(コンタクトの微細化や曲げ変形の制
限を伴なうことなく)、初期の性能を有するコン
タクト設計を可能としつつ、前記コンタクト設置
スペース、弾性変位のためのバツクスペース、或
は絶縁隔壁形成のための間隔等を充分に確保し得
るようにし、前記ICリードの狭小ピツチ化への
対応を適切且つ効果的にしたものを提供せんとす
るものである。
発明の構成
本発明は上記目的を達成すべく構成された格子
配列形ICパツケージ用ソケツトに関するもので
あつて、以下に一実施例として説明する如く、
ICリード挿通孔群と、該ICリード挿通孔群下位
に対応し配列されたICリード接触用コンタクト
群とが格子状配列となされたICソケツトにおい
て、上記ICリード挿通孔群及びICリード接触用
コンタクト群の格子状配列パターンの対角線上に
ICリードとの接触点を形成する各コンタクトの
接片部分が配置され、該コンタクトの接触又は同
解除のための変位が上記対角線方向でなされる構
成としたことを特徴とする。
配列形ICパツケージ用ソケツトに関するもので
あつて、以下に一実施例として説明する如く、
ICリード挿通孔群と、該ICリード挿通孔群下位
に対応し配列されたICリード接触用コンタクト
群とが格子状配列となされたICソケツトにおい
て、上記ICリード挿通孔群及びICリード接触用
コンタクト群の格子状配列パターンの対角線上に
ICリードとの接触点を形成する各コンタクトの
接片部分が配置され、該コンタクトの接触又は同
解除のための変位が上記対角線方向でなされる構
成としたことを特徴とする。
発明の実施例
以下発明の本実施例を第1図乃至第8図に基い
て詳述する。
て詳述する。
図において1は格子配列形ICパツケージを示
し、2は同ICパツケージ用ソケツトを示す。
し、2は同ICパツケージ用ソケツトを示す。
該ICパツケージ1は断面円形の多数のICリー
ド3を備え、ICリード3はICパツケージ1の下
面から縦列Yと横列Xとの格子状配列を以つて突
設され、各ICリード3は縦列Yと横列Xにおい
て互いに等ピツチとなるように配置されている。
ド3を備え、ICリード3はICパツケージ1の下
面から縦列Yと横列Xとの格子状配列を以つて突
設され、各ICリード3は縦列Yと横列Xにおい
て互いに等ピツチとなるように配置されている。
上記ソケツト2はICリード接触用コンタクト
を保有するソケツト本体たる基盤4と、上記IC
パツケージを搭載しこれを接触位置と接触解除位
置に移動するためのIC搭載用カバー5とから成
る。
を保有するソケツト本体たる基盤4と、上記IC
パツケージを搭載しこれを接触位置と接触解除位
置に移動するためのIC搭載用カバー5とから成
る。
該ICソケツト2(基盤4とカバー5)は外形
が方形の絶縁材で構成され、基盤4の上面にカバ
ー5が横移動可に重合されている。
が方形の絶縁材で構成され、基盤4の上面にカバ
ー5が横移動可に重合されている。
上記IC搭載用カバー5は上記ICリード3の格
子状配列に対応する格子状配列の多数のICリー
ド挿通孔7を有し、該挿通孔7群が展開された方
形領域(平行四辺形)Dがカバー5の外形に対し
ダイヤモンド配置となるようにひねり回転角を以
つて配置する。
子状配列に対応する格子状配列の多数のICリー
ド挿通孔7を有し、該挿通孔7群が展開された方
形領域(平行四辺形)Dがカバー5の外形に対し
ダイヤモンド配置となるようにひねり回転角を以
つて配置する。
即ち、格子状配列のICリード挿通孔7の各列
X,Yがカバー5の各辺に対し45度傾き、格子状
配列の2方向の対角線Wがカバー5の2組の対向
する辺と夫々平行となるように配置する。
X,Yがカバー5の各辺に対し45度傾き、格子状
配列の2方向の対角線Wがカバー5の2組の対向
する辺と夫々平行となるように配置する。
更に上記ソケツト基盤4は上記ICリード3群
及びICリード挿通孔7群に対応した格子状配列
の多数のコンタクト10群を保有し、コンタクト
10群が展開された方形領域(平行四辺形)D
が、上記ICリード挿通孔7群の展開パターンと
同様、基盤4の外形に対しダイヤモンド配置とな
るようにひねり回転角を以つて配置する。
及びICリード挿通孔7群に対応した格子状配列
の多数のコンタクト10群を保有し、コンタクト
10群が展開された方形領域(平行四辺形)D
が、上記ICリード挿通孔7群の展開パターンと
同様、基盤4の外形に対しダイヤモンド配置とな
るようにひねり回転角を以つて配置する。
該ICリード挿通孔7とコンタクト10が縦列
Yと横列Xとにおいて、夫々等ピツチであること
はICリードの場合と同様である。
Yと横列Xとにおいて、夫々等ピツチであること
はICリードの場合と同様である。
上記ICの搭載用カバー5とソケツト基盤4と
はそのICリード挿通孔7とコンタクト10とが
一対一の対応関係になるように重ね合せられ、該
重ね合せ下でICパツケージ1がカバー5の上面
に搭載され、そのICリード3を上記各ICリード
挿通孔7に貫通させ上記コンタクト10との接触
を図る構成とする。
はそのICリード挿通孔7とコンタクト10とが
一対一の対応関係になるように重ね合せられ、該
重ね合せ下でICパツケージ1がカバー5の上面
に搭載され、そのICリード3を上記各ICリード
挿通孔7に貫通させ上記コンタクト10との接触
を図る構成とする。
IC搭載用カバー5は上記重ね合せ下で上記挿
通孔7とコンタクト10の格子配列の一方の対角
線W方向に平行移動される。
通孔7とコンタクト10の格子配列の一方の対角
線W方向に平行移動される。
6は該カバー5に移動力を付与する既知のL形
レバーであつて、一方の曲げ片たるレバー部分を
カバー5と基盤4間に介装せるカム軸6aとし、
他方の曲げ片たるレバー部分を把手6bとし、該
把手6bを回動させることにより上記カム軸6a
を回動させ、該軸の偏心曲部6cによつてカバー
5の移動を得る構成とする。
レバーであつて、一方の曲げ片たるレバー部分を
カバー5と基盤4間に介装せるカム軸6aとし、
他方の曲げ片たるレバー部分を把手6bとし、該
把手6bを回動させることにより上記カム軸6a
を回動させ、該軸の偏心曲部6cによつてカバー
5の移動を得る構成とする。
該カバー5の移動によつてこれに搭載するIC
パツケージ1も移動され、そのICリード3をコ
ンタクト10に対する接触解除位置から接触位置
へ、又はその逆方向へ移動させる。
パツケージ1も移動され、そのICリード3をコ
ンタクト10に対する接触解除位置から接触位置
へ、又はその逆方向へ移動させる。
而して上記コンタクト10とICリード3の接
触点が上記各格子配列の対角線W上で形成される
如く上記コンタクト10の接片を配置する。
触点が上記各格子配列の対角線W上で形成される
如く上記コンタクト10の接片を配置する。
即ち、上記ICリード挿通孔7群とコンタクト
10群の格子配列パターンの対角線W上にICリ
ード3との接触点を形成する各コンタクト10の
接片部分を配置し、該コンタクト10の接触又は
同解除のための変位が上記対角線W方向でなされ
る構成とする。10aは上記コンタクト10の弾
性を有する接片を示し、10a′は該接片10a自
由端部における接片部分を示す。
10群の格子配列パターンの対角線W上にICリ
ード3との接触点を形成する各コンタクト10の
接片部分を配置し、該コンタクト10の接触又は
同解除のための変位が上記対角線W方向でなされ
る構成とする。10aは上記コンタクト10の弾
性を有する接片を示し、10a′は該接片10a自
由端部における接片部分を示す。
上記コンタクト10としては、前記の如く二枚
バネ形又は片バネ形が適用される。
バネ形又は片バネ形が適用される。
第5図は上記二枚バネ形のコンタクト10を上
記格子状配列パターンの対角線W方向となるよう
に配置した実施例を示す。
記格子状配列パターンの対角線W方向となるよう
に配置した実施例を示す。
同図に示すように、二枚バネ形コンタクト10
の接片部分10a′は前記一方の対角線W上に対向
して配置される。そして同実施例においては、
ICリード3はカバー5と共に、他方の対角線W
上を移動して接触解除位置aから接触位置bへ至
る。図中Zはカバー5の上記対角線W上における
移動方向を示す。
の接片部分10a′は前記一方の対角線W上に対向
して配置される。そして同実施例においては、
ICリード3はカバー5と共に、他方の対角線W
上を移動して接触解除位置aから接触位置bへ至
る。図中Zはカバー5の上記対角線W上における
移動方向を示す。
第5図はICリードを接触解除位置から接触位
置、又は逆方向へ移動させるタイプのICソケツ
トに関し説明したが、例えばカバー5と基盤4間
にコンタクト10の開閉を掌どる移動板(図示せ
ず)を配し、該移動板を一方向に移動させること
により、コンタクトの接片に押圧力を与えて開
き、他方向に移動させることによりコンタクトを
閉じ、開状態においてICリード3を挿入するよ
うにした低抵抗抜差タイプのソケツトにおいて
は、上記コンタクト10の接片部分10a′は上記
何れか一方の対角線Wに配置されれば良い。上記
移動板を設ける場合は、カバー5と基盤4とは一
体的に構成する。
置、又は逆方向へ移動させるタイプのICソケツ
トに関し説明したが、例えばカバー5と基盤4間
にコンタクト10の開閉を掌どる移動板(図示せ
ず)を配し、該移動板を一方向に移動させること
により、コンタクトの接片に押圧力を与えて開
き、他方向に移動させることによりコンタクトを
閉じ、開状態においてICリード3を挿入するよ
うにした低抵抗抜差タイプのソケツトにおいて
は、上記コンタクト10の接片部分10a′は上記
何れか一方の対角線Wに配置されれば良い。上記
移動板を設ける場合は、カバー5と基盤4とは一
体的に構成する。
第7図A,Bは上記2枚バネ形コンタクトを用
いた低抵抗抜差形ソケツトの一例を第5図A−A
線断面図を以つて示し、同A図は接触解除位置
を、同B図は接触位置を夫々示す。断面図の関係
からICリード3は紙面に対し垂直となる方向か
ら移動する。即ち、第7図A図においてICリー
ドはIC搭載カバー5のリード挿通孔7を通じコ
ンタクト10の手前にフリー状態で挿入される。
次いで第7図B図に示すように、カバー5が紙面
に対し垂直方向に移動することにより、ICパツ
ケージ1及びICリード3が共に同方向へ移動さ
れてコンタクト10の一対の接片10a間にその
弾性に抗し割込、挟圧接触を受けることとなる。
上記と逆方向にて接触状態(第7図B)から接触
解除状態(第7図A)が得られる。図中8はソケ
ツト基盤4に設けられたコンタクト収容孔であ
り、当然該収容孔8もICリード挿通孔7及びコ
ンタクト10の前記格子状配列と同様のパターン
を以つて格子状に配列される。9は該コンタクト
収容孔8間の絶縁隔壁である。又10bはコンタ
クト10下端に連設された雄端子部であり、基盤
4を貫通し下方へ突出される。
いた低抵抗抜差形ソケツトの一例を第5図A−A
線断面図を以つて示し、同A図は接触解除位置
を、同B図は接触位置を夫々示す。断面図の関係
からICリード3は紙面に対し垂直となる方向か
ら移動する。即ち、第7図A図においてICリー
ドはIC搭載カバー5のリード挿通孔7を通じコ
ンタクト10の手前にフリー状態で挿入される。
次いで第7図B図に示すように、カバー5が紙面
に対し垂直方向に移動することにより、ICパツ
ケージ1及びICリード3が共に同方向へ移動さ
れてコンタクト10の一対の接片10a間にその
弾性に抗し割込、挟圧接触を受けることとなる。
上記と逆方向にて接触状態(第7図B)から接触
解除状態(第7図A)が得られる。図中8はソケ
ツト基盤4に設けられたコンタクト収容孔であ
り、当然該収容孔8もICリード挿通孔7及びコ
ンタクト10の前記格子状配列と同様のパターン
を以つて格子状に配列される。9は該コンタクト
収容孔8間の絶縁隔壁である。又10bはコンタ
クト10下端に連設された雄端子部であり、基盤
4を貫通し下方へ突出される。
本発明はコンタクトの接片10aを前記格子状
配列パターンの対角線W方向に配し、同方向へ接
片10aを変位させ接触圧を得るようにした思想
を開示し、ICパツケージ及びそのリードを横移
動させずに抜差のみにて接触と接触解除を得る場
合にも実施できる。
配列パターンの対角線W方向に配し、同方向へ接
片10aを変位させ接触圧を得るようにした思想
を開示し、ICパツケージ及びそのリードを横移
動させずに抜差のみにて接触と接触解除を得る場
合にも実施できる。
次に第6図は上記片バネ形のコンタクト10を
上記格子状配列パターンの対角線W方向となるよ
うに配置した実施例を示す。同図に示すように、
片バネ形コンタクト10の接片部分10a′は前記
一方の対角線W上にICリード3と対向して配置
される。同実施例においてはICリード3はカバ
ー5と共に上記対角線W上を移動して接触解除位
置aから接触位置bへ至る。図中Zはカバー5の
上記対角線W上における移動方向を示す。第8図
A,Bは上記片バネ形コンタクトを用いた格子配
列形ソケツトの一例を第6図B−B線断面図を以
つて示す。同図においてコンタクト10の接片先
端部分は基盤4より突出するように植込まれ、該
接片先端部分をICリード挿通孔7直下に形成さ
れたカバー5の接片収容孔11内に収容し、カバ
ー5が第8図Aにおける実線矢印Z方向(前記対
角線W方向)に移動してICリード3を接片10
aから離間する方向(同対角線W方向)に移動さ
せて開状態とし、ICパツケージ1の無負荷抜差
を許容する。又第8図Bに示すようにカバー5が
実線矢印Z方向(同対角線W方向)へ移動するこ
とによりICリード3を同方向へ移動させ、接片
10a′に押付け弾性接触を得る。
上記格子状配列パターンの対角線W方向となるよ
うに配置した実施例を示す。同図に示すように、
片バネ形コンタクト10の接片部分10a′は前記
一方の対角線W上にICリード3と対向して配置
される。同実施例においてはICリード3はカバ
ー5と共に上記対角線W上を移動して接触解除位
置aから接触位置bへ至る。図中Zはカバー5の
上記対角線W上における移動方向を示す。第8図
A,Bは上記片バネ形コンタクトを用いた格子配
列形ソケツトの一例を第6図B−B線断面図を以
つて示す。同図においてコンタクト10の接片先
端部分は基盤4より突出するように植込まれ、該
接片先端部分をICリード挿通孔7直下に形成さ
れたカバー5の接片収容孔11内に収容し、カバ
ー5が第8図Aにおける実線矢印Z方向(前記対
角線W方向)に移動してICリード3を接片10
aから離間する方向(同対角線W方向)に移動さ
せて開状態とし、ICパツケージ1の無負荷抜差
を許容する。又第8図Bに示すようにカバー5が
実線矢印Z方向(同対角線W方向)へ移動するこ
とによりICリード3を同方向へ移動させ、接片
10a′に押付け弾性接触を得る。
第6図、第8図はIC搭載カバー5をICパツケ
ージ1と共に接触解除位置から接触位置、又は逆
方向へ移動させるタイプのICソケツトに関し説
明したが、第5図、第7図の実施例で説明したの
と同様、カバー5と基盤4間を移動不可に一体構
造とし、内部にコンタクト10の開閉を掌どる移
動板(図示せず)を配し、該移動板を一方向に移
動させることによりコンタクトを開き、他方向に
移動させることによりコンタクトを閉じ、開状態
においてICリード3を挿入するようにした低抵
抗抜差タイプのソケツトにおいては、上記コンタ
クト10の接片10aは二方向の対角線の何れか
一方に配置されれば良い。
ージ1と共に接触解除位置から接触位置、又は逆
方向へ移動させるタイプのICソケツトに関し説
明したが、第5図、第7図の実施例で説明したの
と同様、カバー5と基盤4間を移動不可に一体構
造とし、内部にコンタクト10の開閉を掌どる移
動板(図示せず)を配し、該移動板を一方向に移
動させることによりコンタクトを開き、他方向に
移動させることによりコンタクトを閉じ、開状態
においてICリード3を挿入するようにした低抵
抗抜差タイプのソケツトにおいては、上記コンタ
クト10の接片10aは二方向の対角線の何れか
一方に配置されれば良い。
発明の効果
既に述べたように、格子配列形ICパツケージ
用ソケツトにおいては、ICリードピツチの狭小
化が進められていることから、従来のICリード
ピツチに相当する間隔(格子状配列のICリード
挿通孔及びコンタクトの縦列又は横列線上のIC
リードピツチに相当する間隔)内においてコンタ
クトの設置スペース、変位を許容するためのバツ
クスペース、若しくは隔壁形成スペース等を確保
することは非常に困難となつている。又コンタク
トの強度、適正な弾性効果を得るための要請から
コンタクトを一定限度以上に微細化し上記要求
(ICリードピツチに相当する間隔内で前記スペー
スを確保する)を満足することも困難となる。本
発明は上記の如き実情を抜本的に解決することを
可能とする。
用ソケツトにおいては、ICリードピツチの狭小
化が進められていることから、従来のICリード
ピツチに相当する間隔(格子状配列のICリード
挿通孔及びコンタクトの縦列又は横列線上のIC
リードピツチに相当する間隔)内においてコンタ
クトの設置スペース、変位を許容するためのバツ
クスペース、若しくは隔壁形成スペース等を確保
することは非常に困難となつている。又コンタク
トの強度、適正な弾性効果を得るための要請から
コンタクトを一定限度以上に微細化し上記要求
(ICリードピツチに相当する間隔内で前記スペー
スを確保する)を満足することも困難となる。本
発明は上記の如き実情を抜本的に解決することを
可能とする。
即ち、本発明は前記格子配列形ICパツケージ
用ソケツトにおいて、前記ICリード接触用コン
タクト群の接片部の配置、同接片部の変位のため
のバツクスペース(低抵抗抜差形ソケツトにおい
てはICリードの移動ストロークと変位のための
スペース)、若しくは隔壁設置のためのスペース
等を前記格子状配列パターンの対角線上において
充分に確保し、且つ処理することを可能とする。
用ソケツトにおいて、前記ICリード接触用コン
タクト群の接片部の配置、同接片部の変位のため
のバツクスペース(低抵抗抜差形ソケツトにおい
てはICリードの移動ストロークと変位のための
スペース)、若しくは隔壁設置のためのスペース
等を前記格子状配列パターンの対角線上において
充分に確保し、且つ処理することを可能とする。
本発明によれば、ICリード接触用コンタクト
を充分な板厚や板巾を持つた素材で構成でき、曲
げ加工巾も充分に設定可能であり、ICリードピ
ツチの狭小化に起因するコンタクトの微細化、曲
げ変形の招来、弾性効果の低下を招かずに初期の
性能を有するコンタクト設計を可能とし、前記
ICリードの狭小化への適切且つ効果的な対応が
果せる。
を充分な板厚や板巾を持つた素材で構成でき、曲
げ加工巾も充分に設定可能であり、ICリードピ
ツチの狭小化に起因するコンタクトの微細化、曲
げ変形の招来、弾性効果の低下を招かずに初期の
性能を有するコンタクト設計を可能とし、前記
ICリードの狭小化への適切且つ効果的な対応が
果せる。
又ICリードピツチの狭小化に制約を受けるこ
となく従来の低抵抗抜差形ソケツト等を支障なく
実用できる。
となく従来の低抵抗抜差形ソケツト等を支障なく
実用できる。
更に本発明の効果につき現状に照し具体的に述
べるならば、上記4本のICリードで形成する最
小単位の桝目について考えた時、その一辺は前記
例に従うと、1.27mm(前記縦列Y、横列X方向の
ICリードピツチに相当する)となる。ところで
上記桝目の一辺をxとし、対角線をyとすると、
x、yの長さの関係は、y=√2・2の公式とな
る。而して該公式に前記1.27mmをxとしてあては
めると、対角線yの長さはy≒1.796mmとなり、
従来のICリードピツチに相当する間隔を使用し
た場合に比べ対角線yを使用した場合の方がスペ
ース的に4割強(1.796:1.27)のスペース増加
が可能となる。このようなことから、本発明の上
記効果の顕著なる点が証左される。
べるならば、上記4本のICリードで形成する最
小単位の桝目について考えた時、その一辺は前記
例に従うと、1.27mm(前記縦列Y、横列X方向の
ICリードピツチに相当する)となる。ところで
上記桝目の一辺をxとし、対角線をyとすると、
x、yの長さの関係は、y=√2・2の公式とな
る。而して該公式に前記1.27mmをxとしてあては
めると、対角線yの長さはy≒1.796mmとなり、
従来のICリードピツチに相当する間隔を使用し
た場合に比べ対角線yを使用した場合の方がスペ
ース的に4割強(1.796:1.27)のスペース増加
が可能となる。このようなことから、本発明の上
記効果の顕著なる点が証左される。
第1図は本発明の一実施例を示すICソケツト
を一部切欠して示す斜視図、第2図は同ICソケ
ツト平面図、第3図は同背面図、第4図は同ソケ
ツトを構成する基盤斜視図、第5図は本発明に係
る原理構造を2枚バネ形コンタクトを以つて示す
ICソケツト概略平面図、第6図は本発明に係る
原理構造を片バネ形コンタクトを以つて示すIC
ソケツト概略平面図、第7図A,Bは第5図A−
A線断面図であり、同A図は接触解除状態、同B
図は接触状態を夫々示し、更に第8図A,Bは第
6図B−B線断面図であり、同A図は接触解除状
態、同B図は接触状態を夫々示す。 1……ICパツケージ、2……ICソケツト、3
……格子状配列のICリード、4……ソケツト基
盤、5……IC搭載カバー、7……格子状配列の
ICリード挿通孔、10……コンタクト、10a
……接片、10a′……同接片のICリードとの接触
点を形成する接片部分、X……上記格子状配列の
横列、Y……上記格子状配列の縦列、W……上記
格子状配列パターンの対角線、Z……移動方向、
D……ICリード挿通孔群とICリード接触用コン
タクト群が展開された方形領域。
を一部切欠して示す斜視図、第2図は同ICソケ
ツト平面図、第3図は同背面図、第4図は同ソケ
ツトを構成する基盤斜視図、第5図は本発明に係
る原理構造を2枚バネ形コンタクトを以つて示す
ICソケツト概略平面図、第6図は本発明に係る
原理構造を片バネ形コンタクトを以つて示すIC
ソケツト概略平面図、第7図A,Bは第5図A−
A線断面図であり、同A図は接触解除状態、同B
図は接触状態を夫々示し、更に第8図A,Bは第
6図B−B線断面図であり、同A図は接触解除状
態、同B図は接触状態を夫々示す。 1……ICパツケージ、2……ICソケツト、3
……格子状配列のICリード、4……ソケツト基
盤、5……IC搭載カバー、7……格子状配列の
ICリード挿通孔、10……コンタクト、10a
……接片、10a′……同接片のICリードとの接触
点を形成する接片部分、X……上記格子状配列の
横列、Y……上記格子状配列の縦列、W……上記
格子状配列パターンの対角線、Z……移動方向、
D……ICリード挿通孔群とICリード接触用コン
タクト群が展開された方形領域。
Claims (1)
- 1 ICリード挿通孔群と、該ICリード挿通孔群
下位に対応し配列された格子状配列のICリード
接触用コンタクト群とを備えた外形が略方形の
ICソケツトにおいて、上記ICリード挿通孔群と
ICリード接触用コンタクト群の各列を上記ICソ
ケツトの各辺に対し傾斜して配置すると共に、上
記ICリード挿通孔群及びICリード接触用コンタ
クト群の格子状配列パターンの対角線上に各コン
タクトの接片部が配置され、該コンタクトの接触
又は同解除のための接片部の変位が上記対角線方
向でなされる構成としたことを特徴とする格子配
列形ICパツケージ用ソケツト。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59237252A JPS61116783A (ja) | 1984-11-10 | 1984-11-10 | 格子配列形icパツケ−ジ用ソケツト |
US07/021,355 US4750891A (en) | 1984-11-10 | 1987-03-03 | Lattice shaped arrangement type socket for IC package |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59237252A JPS61116783A (ja) | 1984-11-10 | 1984-11-10 | 格子配列形icパツケ−ジ用ソケツト |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61116783A JPS61116783A (ja) | 1986-06-04 |
JPH0366787B2 true JPH0366787B2 (ja) | 1991-10-18 |
Family
ID=17012648
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59237252A Granted JPS61116783A (ja) | 1984-11-10 | 1984-11-10 | 格子配列形icパツケ−ジ用ソケツト |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4750891A (ja) |
JP (1) | JPS61116783A (ja) |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH054226Y2 (ja) * | 1987-10-26 | 1993-02-02 | ||
JPH0690258B2 (ja) * | 1987-11-26 | 1994-11-14 | 山一電機工業株式会社 | 電気部品用ソケット |
JPH02121288A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-09 | Yamaichi Electric Mfg Co Ltd | 電気部品用ソケットにおける接触及び接触解除用移動板の移動機構 |
US4988310A (en) * | 1989-10-10 | 1991-01-29 | Amp Incorporated | ZIF PGA socket and a tool for use therewith |
US5059135A (en) * | 1990-06-06 | 1991-10-22 | Yamaichi Electric Mfg. Co., Ltd. | Contact in a socket for an electric part |
US5092789A (en) * | 1990-08-15 | 1992-03-03 | Aries Electronics, Inc. | Electrical connector for ZIF PGA test socket |
US5057031A (en) * | 1990-08-15 | 1991-10-15 | Aries Electronics, Inc. | Zero insertion force pin grid array test socket |
JP3302720B2 (ja) * | 1992-06-09 | 2002-07-15 | ミネソタ マイニング アンド マニュファクチャリング カンパニー | Icソケット |
US5482471A (en) * | 1993-02-24 | 1996-01-09 | Texas Instruments Incorporated | Socket apparatus for IC package testing |
SE501896C2 (sv) * | 1993-10-12 | 1995-06-12 | Ellemtel Utvecklings Ab | Elektriskt anslutningsarrangemang |
US5342214A (en) * | 1993-11-01 | 1994-08-30 | Hsu Feng Chien | IC socket |
JPH07335350A (ja) * | 1994-06-07 | 1995-12-22 | Ueruzu Japan Kk | Icソケット |
US5588861A (en) * | 1994-07-15 | 1996-12-31 | Berg Technology, Inc. | ZIF chip socket |
JP3256796B2 (ja) * | 1994-08-23 | 2002-02-12 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | ソケット及びソケットを用いた電気部品の試験方法 |
US5597320A (en) * | 1995-01-03 | 1997-01-28 | Molex Incorporated | Zero insertion force electrical connector and terminal |
US5498970A (en) * | 1995-02-06 | 1996-03-12 | Minnesota Mining And Manufacturing | Top load socket for ball grid array devices |
JP3801713B2 (ja) | 1997-01-16 | 2006-07-26 | 株式会社エンプラス | 電気部品用ソケット |
US6247952B1 (en) * | 1998-09-04 | 2001-06-19 | Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. | Zero insertion force socket connector |
US6398558B1 (en) * | 1999-08-04 | 2002-06-04 | Fci Americas Technology, Inc. | Electrical connector and contact therefor |
JP3257994B2 (ja) | 1999-08-30 | 2002-02-18 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | ソケット |
US6338639B1 (en) | 2000-05-09 | 2002-01-15 | Tyco Electronics Corporation | Lever actuated ZIF processor socket |
TW481360U (en) * | 2001-04-10 | 2002-03-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Zero insertion force socket connector |
US6652329B1 (en) * | 2002-06-10 | 2003-11-25 | Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. | Terminals for an electrical socket |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58150281A (ja) * | 1982-03-02 | 1983-09-06 | 山一電機工業株式会社 | Icソケツト |
JPS5935380A (ja) * | 1982-08-23 | 1984-02-27 | 株式会社東芝 | ソケツト |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4012099A (en) * | 1975-05-01 | 1977-03-15 | E-H Research Laboratories, Inc. | Zero insertion force socket |
US4341429A (en) * | 1980-10-20 | 1982-07-27 | Amp Incorporated | Electrical connector |
US4420205A (en) * | 1981-09-14 | 1983-12-13 | Augat Inc. | Low insertion force electronic component socket |
JPS5993085U (ja) * | 1982-12-15 | 1984-06-23 | 日本航空電子工業株式会社 | Lsiソケツト |
JPS5998588U (ja) * | 1982-12-22 | 1984-07-04 | 日本航空電子工業株式会社 | Lsiソケツト |
GB8309402D0 (en) * | 1983-04-07 | 1983-05-11 | Int Computers Ltd | Electrical connectors |
US4674811A (en) * | 1986-07-10 | 1987-06-23 | Honeywell Inc. | Apparatus for connecting pin grid array devices to printed wiring boards |
-
1984
- 1984-11-10 JP JP59237252A patent/JPS61116783A/ja active Granted
-
1987
- 1987-03-03 US US07/021,355 patent/US4750891A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58150281A (ja) * | 1982-03-02 | 1983-09-06 | 山一電機工業株式会社 | Icソケツト |
JPS5935380A (ja) * | 1982-08-23 | 1984-02-27 | 株式会社東芝 | ソケツト |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4750891A (en) | 1988-06-14 |
JPS61116783A (ja) | 1986-06-04 |
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