JPH0366097A - 電流センス増幅器 - Google Patents

電流センス増幅器

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JPH0366097A
JPH0366097A JP2206663A JP20666390A JPH0366097A JP H0366097 A JPH0366097 A JP H0366097A JP 2206663 A JP2206663 A JP 2206663A JP 20666390 A JP20666390 A JP 20666390A JP H0366097 A JPH0366097 A JP H0366097A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はメモリ用の電流センス増幅器に関し、詳細には
低電カスタチックランダムアクセスメモリ(SRAM)
に用いるためのダイナミック増幅器に関する。
〔従来の技術〕
半導体メモリは一般に1とOの形の2進データを記憶す
るための直交メモリセルアレイを含む。
RAMでは一般に夫々のメモリセルは一対のビットライ
ンと一本のワードラインに接続する交叉接続フリップフ
ロップとして配置された2個のトランジスタを含む。こ
のアレイは一般にビットラインカラムとワードライン行
を含む。一般にこれらビットラインは対とされて群化さ
れる。メモリセルはビットライン対と1本のワードライ
ンの交点に夫々配置される。一対のビットラインは列ア
ドレスデコーダから成る多数の列、選択ラインの1本の
制御によりデータラインに選択的に接続しうる。列アド
レスデコーダから出るワードラインの1本はその列内の
メモリセルを対応するビットラインにそのメモリセル内
のアクセストランジスタをオンとすることにより選択的
に接続しうる。入力アドレスは列アドレスデコーダと行
アドレスデコーダにより、特定のメモリセル、すなわち
選択されたビットラインとワードラインの交点にあるメ
モリセルをデータラインに接続するためにデコードされ
る。このようにメモリセルに記憶された2進データがビ
ットラインに、そして次にデータラインに移されてメモ
リ出力装置への転送しつる。
データは同じようにしてメモリセルに書込まれる。
データラインとメモリ出力装置の間にはセンス回路、す
なわちいわゆるセンス増幅器が必要である。SRAM用
の従来のセンス増幅器はビットライン間の電位差を検出
している。ビットライン間に発生する電位差は一般に装
置の電源電圧の5%から10%程度である。従って電源
電圧が5ボルトのときにはビットライン電位差は0.2
5から0.5ボルトの範囲となる。
現在のスタチック電圧センス増幅器は連続的にビットラ
イン電位差を検知してその電位差を増幅したものを出力
として出す。この増幅器の利得は高くなくてはならず、
そのためにこの増幅器は数個の従来の差動増幅段を含み
、その1個の出力が次の入力に供給されてメモリ出力装
置を駆動するに充分な高さの利得を得ている。
〔発明が解決しようとする課題〕
この形式のセンス回路はいくつかの欠点を有する。いく
つかの増幅段を必要とすることは、この回路がチップ面
積のかなりの部分を占めることおよび大きな電力を必要
とすることを意味する。更に、夫々の増幅段について正
確な電圧基準を与えねばならない。
また、特定の時点での電位差の瞬時値をとることにより
動作するダイナミック電圧センス増幅器も存在する。こ
の時点は、高い信頼度をもって検知されるに充分な電位
差がデータライン間に生じた時点での検知クロックφに
より決定される。そのような増幅器はスタチックセンス
増幅器より小型であり電力消費も少ないが電位差の検出
により動作する点は同じである。
ビットライン間の電位差の検出における1つの問題はこ
れらビットラインおよびデータラインが容量的に負荷さ
れるということである。従って、所要の電位差の発生に
は時間遅延が付随する。容量によるこの時間遅延はメモ
リセルからのデータの読出しに要する時間を増加させる
ビットライン間の電位差による検知技術を用いることに
おける他の欠点はセンス増幅器から最適の信号利得を得
ることおよび差信号がメモリ出力信号として使用しうる
前にビットライン上の共通モード電圧レベルをシフトす
ることが困難なことである。これらの問題は、ビットラ
インがメモリセルの安定性を保持するために装置の電源
電圧の約80%に等しい電圧より高く維持されねばなら
ないことによるものである。
RAMにおけるビットライン電位差の測定の上記問題を
解決するための試みがなされている。これに関し、ビッ
トラインの電位差を検知する代りにビットラインに沿っ
て供給される電流間の差を検出するスタチックセンス増
幅器を示す米国特許第4766333号を参照する。2
個の電流源がビットラインに夫々接続して電流Iclを
供給する。
アクセスされるとセルが駆動電流Icellをとり込み
、その方向がそのセル内にあるデータによりきまる。従
って、電流差がデータライン間に生じる。
このセンス増幅器の詳細は上記米国特許に示されており
、本願においてもそれを参照する。
この増幅器はビットライン電位差が発生するまで待つ必
要がないという利点を有する。それ故上記の電圧スタチ
ックセンス増幅器より高速である。
しかしながら、大型であり電力消費が大きいという欠点
は電圧センス増幅器と同じである。
本発明の目的は上述の従来技術における欠点を解消ある
いは少くとも軽減する、RAM用のセンス増幅器を提供
することである@ 〔課題を解決するための手段及び作用〕本発明によれば
、夫々、制御ノード、第1接続ノードおよびこの第1接
続ノードとの間に制御可能な電路を形成する第2接続ノ
ードを有する第1および第2入力エレメントであって、
前記入力エレメントはその内の一方の制御ノードを他方
の制御可能な電路上の信号を受けるように接続すること
により交叉接続され、夫々の入力エレメントの第1接続
ノードがメモリのデータライン電流の一方を受けるよう
に接続する前記第1および第2入力エレメントと、これ
ら第1および第2入力エレメントの第2接続ノードに夫
々接続すると共にそれらの間に出力電圧を発生する第1
および第2負荷と、前記入力エレメントの制御ノード間
にあって出力電圧が実質的に同一となる平衡状態に増幅
器を保持する第1状態および前記データライン電流の差
の検知により2つの論理状態の一方へと前記増幅器をラ
ッチするように前記入力エレメントが出力電圧を駆動し
うるようにする第2状態で動作しうるスイッチエレメン
トとを備えていることを特徴とするメモリのデータライ
ン上の電流信号の差を検知するためにメモリのデータラ
インにまたがり接続する電流センス増幅器が提供される
好適には上記入力エレメントは電界効果トランジスタ(
FET)であり、その場合にはそのゲートが制御ノード
であり、そのドレン/ソースチャンネルが制御可能な電
路である。
好適には上記負荷は第1および第2入力エレメントのド
レン/ソースチャンネルを接続するドレン/ソースチャ
ンネルを有するFETである。これら負荷はそれらのゲ
ートを第1および第2入力FETのゲートに接続するこ
とにより交叉接続しうる。
好適には上記スイッチエレメントはスイッチング信号を
受けるようになった制御ノードと、入力エレメントの制
御ノード間に接続する制御可能な電路と、を有する。好
適な実施例ではこのスイッチエレメントは制御ノードで
あるゲートと制御可能な電路であるドレン/ソースチャ
ンネルを有するFETトランジスタである。
〔実施例〕
背景技術として第1乃至3図を参照する。第1図は電圧
センス増幅器について使用する代表的メモリ装置を示し
ており、これは3個の主要素、すなわち、アドレスデコ
ード回路2、メモリセルアレイ4およびデータセンス回
路6を含む。メモリセルアレイの1セグメントをm2図
に示す。複数のメモリセル8が行列として配置され、1
つのコラム内のすべてのセルか一対のビットラインBL
BL間に接続される。各ビットライン対は夫々の列マル
チプレクサ12に接続し、このマルチプレクサが出力デ
ータライン14に接続する。1つの列内のすべてのセル
は1本の共通のワードライン10に接続する。セルの内
部構造を第3図に示す。
アクセスすべきセルはワードライン信号とコラムマルチ
プレクサにより決定される。ワードライン10の電位が
上がると、そのセルのアクセストランジスタ16.18
がオンとなりそのセルの状態によりビットラインBLま
たはBLからの放電路を形成する。これによりビットラ
インBL、BL間に電位差ΔVが生じ、列マルチプレク
サによりデータライン上に与えられる。但しΔV ””
 V tv2である。
データセンス回路6の機能は電位差Δv1特にその正負
を検出し、それによりアクセスされたセルの2進状態を
決定する。本発明は電流(電圧ではなく)検知の原理に
もとづきこれを達成する。
第4図は電流検知の理想化された原理を示す。
2個の電流源46.48がビットラインBL。
BLを介して電流1c■を供給するように夫々接続され
る。セル8がアクセスされる場合には、それが電流1c
ellをとり混み、それ故データライン14上の電流(
I cm、  I Cm −1cell)が値1cel
lだけそのセルに記憶されたデータによりきまる方向に
異なるものとなる。参照数字50は電流センス増幅器を
示す。データライン電流のこの差はビットラインのイン
ピーダンス不整合としてこの電流センス増幅器50に与
えられる。スタチックセンス増幅器として動作するこの
原理を用いる増幅器は前記米国特許第4766333号
に示されている。本発明は第5図について述べるように
この電流検知の原理をダイナミック検知に応用する。
上述のようにアクセスされたセルは電流センス増幅器5
0にデータライン上のインピーダンスの不整合として信
号を与えるのであり、これらインピーダンスを第5図で
はZlと22で示しである。
センス増幅器は2個の入力pチャンネルトランジスタ5
2.54を含み、その一方のゲートが他方のドレンに接
続して交叉接続を形成する。トランジスタ52.54の
ソースはデータライン14゜DL、DLの電流を夫々受
けるように接続する。
第3のnチャンネルトランジスタ56の形のスイッチェ
ーレメントがそのドレン/ソースチャンネルをトランジ
スタ52.54のゲート間にし、そのゲートをクロック
信号φを受けるようにして接続する。負荷はトランジス
タ52.54のドレンに夫々接続し、増幅器の出力電圧
V。、vo力咄力ノードN、Nにおいてこれら負荷にま
たがり発生する。第6図に示す好適な実施例ではこれら
負荷は3チヤンネルトランジスタであり、それらのゲー
トは入力トランジスタ52.54のゲートに夫々接続す
る。
クロック信号φが高いときはpチャンネルトランジスタ
52と54および負荷トランジスタ58と60のゲート
電圧はこれらトランジスタを飽和にまでバイアスし、デ
ータラインDL、DLの電流の差には無関係に出力電圧
V。、Voが等しく(またはほり等しく)維持されるよ
うにするものである。データラインDL、DL上の電流
を1111 とする。但し、12〉11である。すなわ
ち1 はIc−であり1.はIcm−1cellである
。負荷トランジスタは夫々ドレン電流I3を通すように
バイアスされる。但し■2〉13〉llである。
トランジスタ56がオンになると、差電流I 2−13
がトランジスタ56を介してトランジスタ54のドレン
からトランジスタ58のドレンへと流れてトランジスタ
52から電流11に加わる。従って、出力電圧Vo、V
l++負荷トランジスタについてのV d s / V
 g特性によりきまる。クロック信号が低となり、トラ
ンジスタ56がオフとなると、電流差力他力電圧V。、
voを逆方向に駆動して出力電位差を発生する。すなわ
ち平衡電流路が消滅し、出力ノードNにおける電流差1
2−1 aによるそのノードの充電が生じ(ノードNの
寄生容量の効果による)、vOが増大する。それと同時
に、出力ノードNは電流差13−11によりその電荷密
度が減少し、Voを減少させる。ノードNにおけるより
高い電圧が負荷60にまたがり発生すると、トランジス
タ52のゲート−ソース電圧が減少し、従ってトランジ
スタを流れる電流が減少してノードNの電流密度を更に
減少させる。ノードNの電荷密度の減少によりトランジ
スタ54のゲート−ソース電圧が大となり、ドレン電流
が大となる。出力電圧が逆の方向に駆動される速度は2
個のトランジスタ52と54の交叉接続により生じる帰
還と負荷トランジスタ58.60の交叉接続により増大
する。これら出力電圧は、通常のCMO8のロジックレ
ベル5VとOvに近いレベルに夫々急速に近づき、それ
酸ラッチ回路あるいは増幅回路を別途必要としない。デ
ータはそれ故適当な「バックエンド(back end
) J回路による使用に適した形である。
第5図の回路は最低でも例えば300mVなければなら
ない検出に充分な高さをもつ電位差をビットラインBL
、BL間に発生される必要がないためその動作が高速で
ある点で電圧センス回路より有利である。
このセンス増幅器の他の利点は、この回路が「自己バイ
アス」形であり、すなわちこの増幅器から最適性能を得
るための電圧基準レベルが不要であること、および共通
モード入力レベルの大きな変化に対し設計に制約がない
ことである。この後者の許容性は正確な共通モード電圧
レベルが常に保証されるとは限らないメモリの書込サイ
クルまたはアボーテド(aborted )読取サイク
ル後にあるいはパワーレールディスターバンス(pow
errail disturbance)中に最適性能
を保証する上で重要である。この回路は3vから5Vの
範囲(トランジスタのしきい値電圧v tn、 v t
pを約0.7V、−0,7Vとした場合)の共通モード
電圧変化を許容する。
センス増幅器をその最も感度の高い領域へとバイアスす
るために基準電圧を発生しなければならないメモリでは
、電源ノイズおよび劣化したビットラインレベルが検知
範囲に悪影響を与えうる。
このセンス増幅器は入力トランジスタおよび負荷トラン
ジスタに対し、整合トランジスタを用いて形成出来る。
整合トランジスタはゲート−ソース電圧(V gs)が
同じ条件であるときにドレン−ソース電圧(VdS)と
基板電圧(V 5ubstrate )が同じドレン/
ソース電流を有するようなトランジスタである。製造技
術により2個の整合トランジスタのドレン電流に10%
までの差が生じうるが、そのような差は多くの応用面で
は整合トランジスタとして許容しうるちのである。
しかしながら、製造技術により常に、完全に整合したト
ランジスタあるいは10%以内に整合したトランジスタ
でさえ、得られるとは限らない。
本発明回路の重要な利点は入力トランジスタおよび負荷
トランジスタにおける大きな不整合にも不感であるとい
うことである。第6図は通常のアクセスにおいてセンス
増幅器が平衡しているときの2個の入力トランジスタ5
2.54の特性を示す。
これらトランジスタは飽和しており、この状態における
IdsとVgsの関係はβを相互コンダクタンスとする
とIds−β/2 (Vgs−V  ) 2で決定され
る。このグラフから電流1c■の33%の差1dRfが
得られることがわかる。不正確な検知が生じる前にドレ
ンソース電流1dsの約30%のデバイスオフセットが
必要となる。
負荷トランジスタが整合しそして飽和するようにバイア
スされていると負荷トランジスタにも30%のオフセッ
トが必要である。
整合トランジスタを用いるこのセンス増幅器は信頼性の
高い検知の目安を容易に満足することは明らかである。
この信頼性の高い検知は、第6図で述べた例では200
mVであるようなビットライン上の非常に低い電位差で
も達成出来る。これらトランジスタがより正しく整合し
ていればそれより低い電位差でも検知しうる。
このセンス増幅器で最適性能を達成するためにはp形装
置がn形装置に対し大きいこと、すなわち平衡状態にお
いてp形装置が小さい絶対Ve(Vgs−Vt)を有し
それ故Vgsの小さい変化に対し大きな差電流利得を有
することが望ましい。
p形トランジスタのサイズを大きくするとビットライン
電位差は減少するが検知される電流差は大きくなる。
〔発明の効果〕
米国特許第4766333号のスタチック電流センス構
成に比較すると本発明の回路はチップ上の占有スペース
が小さく、素子数が少なく、電力消費が小さいことが特
徴である。更に、直接出力としてCMO8の論理レベル
に近いものが与えられるから次段の論理回路の駆動のた
めに米国特許第4766333号で必要なアナログレベ
ルのディジタルレベルへの変換が不要である。
00.スイッチエレメント、58.60・・・負荷トラ
ンジスタ。
【図面の簡単な説明】
第1図は基本的なメモリのレイアウトを示す図、第2図
はメモリアレイの部分を示す図、第3図はメモリアレイ
内の1個のセルを示す図、第4図は基本的な電流センス
システムのブロック図、第5図は本発明の原理を示す「
ダイナミック」電流センス増幅器の回路図、第6図は本
発明の一実施例による「ダイナミック」電流センス増幅
器の回路図、第7図はこの増幅器の入力トランジスタに
ついてのドレン/ソース電流対ドレン/ソース電圧特性
を示すグラフである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、夫々、制御ノード、第1接続ノード、およびこの第
    1接続ノードとの間に制御可能な電路を形成する第2接
    続ノードを有する第1および第2入力エレメントであっ
    て、前記入力エレメントはその内の一方の制御ノードを
    他方の制御可能な電路上の信号を受けるように接続する
    ことにより交叉接続され、夫々の入力エレメントの第1
    接続ノードがメモリのデータライン電流の一方を受ける
    ように接続する前記第1および第2入力エレメントと、
    これら第1および第2入力エレメントの第2接続ノード
    に夫々接続すると共にそれらの間に出力電圧を発生する
    第1および第2負荷と、前記入力エレメントの制御ノー
    ド間にあって出力電圧が実質的に同一となる平衡状態に
    増幅器を保持する第1状態および前記データライン電流
    の差の検知により2つの論理状態の一方へと前記増幅器
    をラッチするように前記入力エレメントが出力電圧を駆
    動しうるようにする第2状態で動作しうるスイッチエレ
    メントとを備えていることを特徴とするメモリのデータ
    ライン上の電流信号の差を検知するためにメモリのデー
    タラインにまたがり接続する電流センス増幅器。 2、前記入力エレメントは前記制御ノードを構成するゲ
    ートと、前記制御可能な電路を構成するドレン/ソース
    チャンネルとを有するFETトランジスタであることを
    特徴とする請求項1記載の増幅器。 3、前記スイッチエレメントはスイッチング信号を受け
    るようになった制御ノードと、前記入力エレメントの制
    御ノード間の制御可能な電路とを有することを特徴とす
    る請求項1または2のいずれかに記載の増幅器。 4、前記スイッチエレメントは前記制御ノードを構成す
    るゲートと、前記制御可能な電路を構成するドレン/ソ
    ースチャンネルとを有するFETトランジスタであるこ
    とを特徴とする請求項3記載の増幅器。 5、クロックパルス発生器により発生されるクロック/
    パルスを前記スイッチング信号とすることを特徴とする
    請求項1乃至4のいずれかに記載の増幅器。
JP2206663A 1989-08-04 1990-08-03 電流センス増幅器 Expired - Lifetime JP2766056B2 (ja)

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GB8917835.4 1989-08-04
GB898917835A GB8917835D0 (en) 1989-08-04 1989-08-04 Current sensing amplifier for a memory

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