JPH0363566A - 分析装置の分析指示装置 - Google Patents
分析装置の分析指示装置Info
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- JPH0363566A JPH0363566A JP19970789A JP19970789A JPH0363566A JP H0363566 A JPH0363566 A JP H0363566A JP 19970789 A JP19970789 A JP 19970789A JP 19970789 A JP19970789 A JP 19970789A JP H0363566 A JPH0363566 A JP H0363566A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 69
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 17
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
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- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はガスクロマトグラフや液体クロマトグラフなど
の分析装置であって、特に測定条件の異なる試料を連続
して自動的に分析することのできる分析装置において、
各試料の測定条件や試料の測定順序を自動的に設定する
ことのできる分析指示装置に関するものである。
の分析装置であって、特に測定条件の異なる試料を連続
して自動的に分析することのできる分析装置において、
各試料の測定条件や試料の測定順序を自動的に設定する
ことのできる分析指示装置に関するものである。
(従来の技術)
ガスクロマトグラフを例にとると、従来のガスクロマト
グラフでは測定条件の異なる試料については連続して自
動的に分析することができないが。
グラフでは測定条件の異なる試料については連続して自
動的に分析することができないが。
できるとしてもその試料の種類は2〜3種類に限られて
いる。
いる。
ガスクロマトグラフの測定条件としてはキャリアガス流
量、カラムの種類、カラム温度などがあるが、試料によ
ってその測定条件を最適なものに設定するにはかなりの
経験を必要とする。
量、カラムの種類、カラム温度などがあるが、試料によ
ってその測定条件を最適なものに設定するにはかなりの
経験を必要とする。
また、複数の試料を測定する場合、その測定順序はすべ
て操作を行なう人が指定する必要がある。
て操作を行なう人が指定する必要がある。
測定順序の指定の仕方によっては全体の測定時間が長く
なったり短かくなったりする。
なったり短かくなったりする。
このような事情はガスクロマトグラフに限らず、液体ク
ロマトグラフにおいても存在する。
ロマトグラフにおいても存在する。
(発明が解決しようとする課題)
本発明は複数種類の試料を連続して測定することのでき
る分析装置において、試料の情報を入力すればその試料
に最適な測定条件を自動的に法定し、かつ、測定順序も
全体の測定時間が最も短かくなるように自動的に決定す
るようにして1分析操作に熟練していない人でも容易に
最適な分析条件で、最短時間で測定を完了できるように
することを目的とするものである。
る分析装置において、試料の情報を入力すればその試料
に最適な測定条件を自動的に法定し、かつ、測定順序も
全体の測定時間が最も短かくなるように自動的に決定す
るようにして1分析操作に熟練していない人でも容易に
最適な分析条件で、最短時間で測定を完了できるように
することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明を第工図により説明する。
2はガスクロマトグラフなどの分析機器、6は試料瓶ラ
ック4などに並べられた複数の試料から選択された試料
を分析機器2に導入する試料導入装置、8は分析機器2
の分析条件や試料導入装置6の動作を制御する制御装置
、18は分析指示装置である。分析指示装置工8は、試
料に対する最適測定条件を記憶している測定条件データ
ベース10と、試料情報が入力されると測定条件データ
ベース10からその試料に最適な測定条件を決定し、試
料情報テーブル上2へ記憶させるとともに、測定開始時
には現在の測定条件から変更の少ない順に試料測定順序
を決定する推論部14と、推論部14で決定された各試
料の測定条件を記憶する試料情報テーブル12とを備え
、制御装置8へ測定試料及び分析条件を指示する。
ック4などに並べられた複数の試料から選択された試料
を分析機器2に導入する試料導入装置、8は分析機器2
の分析条件や試料導入装置6の動作を制御する制御装置
、18は分析指示装置である。分析指示装置工8は、試
料に対する最適測定条件を記憶している測定条件データ
ベース10と、試料情報が入力されると測定条件データ
ベース10からその試料に最適な測定条件を決定し、試
料情報テーブル上2へ記憶させるとともに、測定開始時
には現在の測定条件から変更の少ない順に試料測定順序
を決定する推論部14と、推論部14で決定された各試
料の測定条件を記憶する試料情報テーブル12とを備え
、制御装置8へ測定試料及び分析条件を指示する。
測定条件データベース10にはキーボードなどの入出力
装置16から試料に含まれる成分の組合せとそのときの
分析条件を熟練者の知識から抽出して知識データベース
として記憶させておく。測定条件データベース10の内
容は追加したり変更したりすることができる。
装置16から試料に含まれる成分の組合せとそのときの
分析条件を熟練者の知識から抽出して知識データベース
として記憶させておく。測定条件データベース10の内
容は追加したり変更したりすることができる。
(作用)
第2図及び第3図により動作を説明する。
第2図は試料の情報が入力されたときに推論部上4がそ
の試料の測定条件を決定する手順を示したものである。
の試料の測定条件を決定する手順を示したものである。
測定者から測定したい試料の情報(その試料に含マして
いる成分の種類など)が入力されると(ステップS1)
、推論部14は測定条件データベース10から最適な測
定条件を選ぶ(ステップS2)。その選んだ測定条件を
試料情報テーブル上2に登録する(ステップ33)。次
の試料に関する情報が入力されると(ステップ33)、
IElにしてその試料の測定条件を決定し、試料情報テ
ーブル12に’1Bする(ステップS2.S3)。
いる成分の種類など)が入力されると(ステップS1)
、推論部14は測定条件データベース10から最適な測
定条件を選ぶ(ステップS2)。その選んだ測定条件を
試料情報テーブル上2に登録する(ステップ33)。次
の試料に関する情報が入力されると(ステップ33)、
IElにしてその試料の測定条件を決定し、試料情報テ
ーブル12に’1Bする(ステップS2.S3)。
測定者から必要なだけの試料の情報の入力が終了し、そ
れらの測定条件がすべて試料情報テーブル上2に登録さ
れた後、測定者から測定開始の指示が入力されると(ス
テップS4)、第3図に示される測定フローに移行する
。
れらの測定条件がすべて試料情報テーブル上2に登録さ
れた後、測定者から測定開始の指示が入力されると(ス
テップS4)、第3図に示される測定フローに移行する
。
第3図は測定開始が指示された後の測定フローを表わし
たものである。
たものである。
測定しようとする試料の測定条件が決定された時点では
すでに測定者は試料を試料瓶ラックやターンテーブルそ
の他の所定の位置に設定している。
すでに測定者は試料を試料瓶ラックやターンテーブルそ
の他の所定の位置に設定している。
測定者から測定開始が指示されると、推論部14は未測
定試料のうち現在の測定条件から目的の条件に最も短時
間で移行できる試料を選ぶ(ステップ512)。そして
制御装置8にその試料の種類を表わす情報と測定条件を
指示し、制御装置8は試料導入装置6を制御し、指示さ
れた試料を分析機器2に導入するとともに、分析機器2
の測定条件を変更する(ステップ513)。測定条件が
目的の条件になった時点で測定が開始される(ステップ
S14,515)。
定試料のうち現在の測定条件から目的の条件に最も短時
間で移行できる試料を選ぶ(ステップ512)。そして
制御装置8にその試料の種類を表わす情報と測定条件を
指示し、制御装置8は試料導入装置6を制御し、指示さ
れた試料を分析機器2に導入するとともに、分析機器2
の測定条件を変更する(ステップ513)。測定条件が
目的の条件になった時点で測定が開始される(ステップ
S14,515)。
測定が終了すると(ステップ516)、推論部14は終
了した試料に関して試料情報テーブル12のその試料の
状態を測定済みにし、残りの試料から現在の測定条件か
ら最も短時間で移行できる試料を選ぶ(ステップ512
)。以下同様にして測定を行ない、試料情報テーブル1
2に登録されている未測定試料がなくなるまで繰り返す
(ステップ5ll)。
了した試料に関して試料情報テーブル12のその試料の
状態を測定済みにし、残りの試料から現在の測定条件か
ら最も短時間で移行できる試料を選ぶ(ステップ512
)。以下同様にして測定を行ない、試料情報テーブル1
2に登録されている未測定試料がなくなるまで繰り返す
(ステップ5ll)。
(実施例)
第4図は本発明をガスクロマトグラフに適用した一実施
例を示す。
例を示す。
分析機器としてガスクロマトグラフが示され、キャリア
ガスが調圧弁20を経て液体試料導入口22を経てカラ
ム26a又は26bに導かれている。試料導入口22と
カラム26a、26bの間には、いずれかのカラム26
a、26bをキャリアガス流路に接続するために切換え
弁24が設けられている。カラム出口にも切換え弁28
が設けられ、カラム出口が複数の検出器30a、30b
のいずれかに接続室れるようになっている。検出器は、
図のように複数の検出器が並列に接続されている場合だ
けでなく、検出器30aと破線で示された検出器30c
のように検出器が直列に接続され、いずれかの検出器の
出力を選択して取り込むようにしてもよい。
ガスが調圧弁20を経て液体試料導入口22を経てカラ
ム26a又は26bに導かれている。試料導入口22と
カラム26a、26bの間には、いずれかのカラム26
a、26bをキャリアガス流路に接続するために切換え
弁24が設けられている。カラム出口にも切換え弁28
が設けられ、カラム出口が複数の検出器30a、30b
のいずれかに接続室れるようになっている。検出器は、
図のように複数の検出器が並列に接続されている場合だ
けでなく、検出器30aと破線で示された検出器30c
のように検出器が直列に接続され、いずれかの検出器の
出力を選択して取り込むようにしてもよい。
カラム26a、26bと検出器30a、30bはオーブ
ン32によって温度が制御される。オーブン32には温
度制御装置34が設けられている。
ン32によって温度が制御される。オーブン32には温
度制御装置34が設けられている。
複数の試料を試料導入口22に自動的に導入するために
、複数の試料瓶36が並べられる試料瓶ラック38と、
試料瓶ラック38の試料瓶36を選択してサンプリング
ニードル40により試料導入口22に導入する試料導入
装置42が設けられている。サンプリングニードル40
はXYZアームによって三次元方向の任意の方向に移動
することができ、選択された任意の試料瓶36から試料
を吸入し、試料導入口22に導入する。
、複数の試料瓶36が並べられる試料瓶ラック38と、
試料瓶ラック38の試料瓶36を選択してサンプリング
ニードル40により試料導入口22に導入する試料導入
装置42が設けられている。サンプリングニードル40
はXYZアームによって三次元方向の任意の方向に移動
することができ、選択された任意の試料瓶36から試料
を吸入し、試料導入口22に導入する。
制御装置8は分析指示装置18の指示を受けていずれか
の試料を試料導入口22に導入し、調圧弁20を介して
キャリアガス流量を調節し、切換え弁24,28の切換
えを行ない、温度制御装置34によりカラム温度を制御
するというように、各部を制御する。
の試料を試料導入口22に導入し、調圧弁20を介して
キャリアガス流量を調節し、切換え弁24,28の切換
えを行ない、温度制御装置34によりカラム温度を制御
するというように、各部を制御する。
分析指示装置18を実現するために、CPU44、RA
M46、ROM48、フロッピディスク装置50、キー
ボード52、CRT54などを備えている。第1図にお
ける推論部14はCPU44、RAM46、ROM48
により実現され、試料情報テーブル12はRAM46に
より実現され、測定条件データベース10はフロッピデ
ィスク装置50により実現される。入出力装置16はキ
ーボード52に対応している。
M46、ROM48、フロッピディスク装置50、キー
ボード52、CRT54などを備えている。第1図にお
ける推論部14はCPU44、RAM46、ROM48
により実現され、試料情報テーブル12はRAM46に
より実現され、測定条件データベース10はフロッピデ
ィスク装置50により実現される。入出力装置16はキ
ーボード52に対応している。
指定された試料をガスクロマトグラフに導入するために
は第4図のように試料瓶ラック38を用いたものの他に
、試料瓶をターンテーブルの円周に沿って配列する形式
のものなど、液体クロマトグラフの試料導入機構として
用いられているものを利用することもできる。
は第4図のように試料瓶ラック38を用いたものの他に
、試料瓶をターンテーブルの円周に沿って配列する形式
のものなど、液体クロマトグラフの試料導入機構として
用いられているものを利用することもできる。
また、ガスクロマトグラフでガス試料を測定するときは
、ガスクロマトグラフのガス試料導入口に複数個の電磁
弁を設け、制御装置8を介して電磁弁を選択することに
より任意のガス試料を切り換えてガスクロマトグラフに
導入するようにすればよい。
、ガスクロマトグラフのガス試料導入口に複数個の電磁
弁を設け、制御装置8を介して電磁弁を選択することに
より任意のガス試料を切り換えてガスクロマトグラフに
導入するようにすればよい。
カラムの数や検出器の数などは任意に設定すればよい。
また本発明はガスクロマトグラフだけではなく、液体ク
ロマトグラフにも同様に適用することができる。
ロマトグラフにも同様に適用することができる。
(発明の効果)
本発明では複数の試料を試料導入機構に設定し、それら
の試料の情報を入力すれば各試料の最適測定条件を自動
的に決定し、全体の測定時間が最短になるように測定順
序も決定するようにしたので。
の試料の情報を入力すれば各試料の最適測定条件を自動
的に決定し、全体の測定時間が最短になるように測定順
序も決定するようにしたので。
分析機器の取扱いに不慣れな人にも最適な分析条件で、
かつ、最適な分析順序での測定を容易に行なうことがで
きるようになる。
かつ、最適な分析順序での測定を容易に行なうことがで
きるようになる。
第工図は本発明をガスクロマトグラフに適用する場合の
概要を示すブロック図、第2図は測定条件決定動作を示
すフローチャート図、第3図は測定動作を示すフローチ
ャート図、第4図は本発明をガスクロマトグラフに適用
した一実施例を示す構成図である。 2・・・・・・分析機器、6・・・・・・試料導入装置
、8制御装置、10・・・・・・測定条件データベース
、工2・・・・・・試料情報テーブル、14・・・・・
・推論部、工6・・・・・・入出力部、18・・・・・
・分析指示装置。
概要を示すブロック図、第2図は測定条件決定動作を示
すフローチャート図、第3図は測定動作を示すフローチ
ャート図、第4図は本発明をガスクロマトグラフに適用
した一実施例を示す構成図である。 2・・・・・・分析機器、6・・・・・・試料導入装置
、8制御装置、10・・・・・・測定条件データベース
、工2・・・・・・試料情報テーブル、14・・・・・
・推論部、工6・・・・・・入出力部、18・・・・・
・分析指示装置。
Claims (1)
- (1)分析機器、複数の試料から選択された試料を分析
機器に導入する試料導入装置、並びに分析機器の分析条
件や試料導入装置の動作を制御する制御装置を備えた分
析装置に設けられ、試料に対する最適測定条件を記憶し
ている測定条件データベースと、試料情報が入力される
と前記測定条件データベースからその試料に最適な測定
条件を決定し、後記試料情報テーブルへ記憶させるとと
もに、測定開始時には現在の測定条件から変更の少ない
順に試料測定順序を決定する推論部と、前記推論部で決
定された各試料の測定条件を記憶する試料情報テーブル
とを備え、前記分析装置の制御装置へ測定試料及び分析
条件を指示する分析指示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19970789A JPH06103295B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 分析装置の分析指示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19970789A JPH06103295B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 分析装置の分析指示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0363566A true JPH0363566A (ja) | 1991-03-19 |
JPH06103295B2 JPH06103295B2 (ja) | 1994-12-14 |
Family
ID=16412273
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19970789A Expired - Lifetime JPH06103295B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 分析装置の分析指示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06103295B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005083841A (ja) * | 2003-09-08 | 2005-03-31 | Hitachi High-Technologies Corp | 透過電子顕微鏡システムおよびそれを用いた検査方法 |
US7700691B2 (en) | 2003-12-12 | 2010-04-20 | Ube Industries, Ltd. | Vinyl-cis-polybutadiene rubber and butadiene rubber composition using the same |
US7868103B2 (en) | 2006-05-22 | 2011-01-11 | Ube Industries, Ltd. | Method for producing polybutadiene |
WO2014068786A1 (ja) * | 2012-11-05 | 2014-05-08 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ分析装置 |
JP2014182070A (ja) * | 2013-03-21 | 2014-09-29 | Jeol Ltd | 質量分析装置 |
WO2015189945A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | 株式会社島津製作所 | 分析装置用制御装置 |
JP2020056595A (ja) * | 2018-09-28 | 2020-04-09 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | クロマトグラフ、およびクロマトグラフの分析方法決定装置 |
-
1989
- 1989-07-31 JP JP19970789A patent/JPH06103295B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005083841A (ja) * | 2003-09-08 | 2005-03-31 | Hitachi High-Technologies Corp | 透過電子顕微鏡システムおよびそれを用いた検査方法 |
US7700691B2 (en) | 2003-12-12 | 2010-04-20 | Ube Industries, Ltd. | Vinyl-cis-polybutadiene rubber and butadiene rubber composition using the same |
US7863385B2 (en) | 2003-12-12 | 2011-01-04 | Ube Industries, Ltd. | Vinyl-cis-polybutadiene rubber and butadiene rubber composition using the same |
US7868103B2 (en) | 2006-05-22 | 2011-01-11 | Ube Industries, Ltd. | Method for producing polybutadiene |
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WO2015189945A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | 株式会社島津製作所 | 分析装置用制御装置 |
JPWO2015189945A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2017-04-20 | 株式会社島津製作所 | 分析装置用制御装置 |
US10359405B2 (en) | 2014-06-12 | 2019-07-23 | Shimadzu Corporation | Analyzing-device controller |
JP2020056595A (ja) * | 2018-09-28 | 2020-04-09 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | クロマトグラフ、およびクロマトグラフの分析方法決定装置 |
US12072324B2 (en) | 2018-09-28 | 2024-08-27 | Hitachi High-Tech Science Corporation | Chromatograph and apparatus for determining chromatograph analysis method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06103295B2 (ja) | 1994-12-14 |
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