JPH0362897A - 洗浄剤組成物 - Google Patents

洗浄剤組成物

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JPH0362897A
JPH0362897A JP19662789A JP19662789A JPH0362897A JP H0362897 A JPH0362897 A JP H0362897A JP 19662789 A JP19662789 A JP 19662789A JP 19662789 A JP19662789 A JP 19662789A JP H0362897 A JPH0362897 A JP H0362897A
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cleaning
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ether compound
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Kozo Kitazawa
北澤 宏造
Masayuki Takeda
雅之 武田
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子部品用洗浄剤組成物、特にプリント基板か
らのはんだフラックス及びフラックス残渣の除去に使用
される洗浄剤組成物に関する。
〔従来の技術〕
一般に、電子機器等で使用されるプリント基板は、ガラ
ス、エポキシ樹脂等の積層板上に回路を作成し、この回
路にICチップ等の電子部品をはんだ付けすることによ
って製造されるが、このはんだ付けを完全かつ速やかに
行うために、はんだ付けに先立ってフラックス処理が行
われている。
しかし、フラックスやフラックス残渣は回路の電気特性
等を悪化させるので、はんだ付は後洗浄剤を用いて除去
している。
この洗浄剤としては、これにで多くの水系又は溶媒系の
洗浄剤が提案されているが、実際には、引火点がなく、
化学的にも変化しにくい塩素系あるいはフロン系の溶剤
が使用されている。
また、近年、環境汚染が少なくかつ安全性の高い洗浄剤
として、米国特許@4.511.488号明細書、同第
4.640.719号明細書、同第4.740.247
号明細書等に見られるようなリモネン、ピネン、ジペン
テン等のテルペン類も提案されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、これらの洗浄剤はいずれを取っても、フラック
ス除去性、耐劣化性及び低毒性という、洗浄剤組成物に
要求される条件のすべてを満たすようなものではなかっ
た。すなわち、塩素系及びフロン系の溶剤を用いる洗浄
剤は、安全性、毒性、環境汚染性等に大きな問題を有し
ており、水系洗浄剤は、溶剤系洗浄剤に比較して危険性
と毒性が低い点では好ましいが、フラックス除去性にお
いて数段劣っている。また、リモネンに代表されるテル
ペン類は、安全性とフラックス除去性を両立させ得る化
合物であるが、使用時に劣化しやすく耐久性が問題であ
るばかりでなく、天然物由来のために安定品質の物が得
難く、高価でかつ供給量に限界があり、工業用洗浄剤と
して実際的ではない。
従って、本発明は、上述のような従来技術のもつ欠点を
改良し、フラックス除去性、耐劣化性及び安全性に優れ
かつ環境汚染のない洗浄剤組成物を提供することを目的
とするものである。
〔課題を解決するための手段〕
斯かる実情において、本発明者らは鋭意研究を行った結
果、特定のアルコール又はエーテル化合物を含有する洗
浄剤組成物が上記条件を具備することを見出し、本発明
を完成した。
すなわち、本発明は、1又は2個の水酸基を有する炭素
数6〜22のアルコール又は該アルコールの水酸基の水
素原子を炭素数1〜4の炭化水素基で置換したエーテル
化合物を50重量%以上含有する電子部品用洗浄剤組成
物を提供するものである。
本発明で使用されるアルコール類は炭素数が6〜22の
脂肪族系又は脂環族系のものであることが必要であり、
炭素数が5以下のものは操業上火災や爆発の危険が大き
く安全面で問題があり、また22を超えるとフラックス
除去性が低下する。
その中でも炭素数10〜18のものが特に好ましい。ま
たアルコールの水酸基数は1又は2個であることが必要
であり、水酸基が3個以上のアルコールはフラックス除
去力が不充分である。斯かるアルコール類の具体例とし
ては、例えばヘキシルアルコール、オクチルアルコール
、ラウリルアルコール、オレイルアルコール、C2oの
ゲルベアルコール、2−シクロ−2−プロパツール、1
.2ドデカンジオール、 1.2−オクタテ゛カンジオ
ール等の天然あるいは台底アルコールが挙げられる。
また、エーテル化合物としては、上記アルコルの水酸基
の水素原子を炭素数1〜4の炭化水素基、例えばメチル
基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−
ブチル基、1−ブチル基、t−ブチル基で置換したもの
であり、これらは、例えば上記アルコール類に対応する
ハロゲン化炭化水素を反応させることによって得られる
。これらのエーテル化合物は優れたフラックス除去性を
有すると共に、アルコール臭がないという利点を有する
。これらのエーテル化合物の中でもメチルエーテルが最
も好ましい。
これらのアルコール類又はエーテル化合物は単独又は2
種以上を組合せて配合することができ、その配合量はフ
ラックス除去性を維持し、持続性を確保するために、本
発明洗浄剤組成物の50重量%以上であることが必要で
あり、特に60重量%以上が好ましい。
本発明の洗浄剤組成物に界面活性剤を配合することによ
って、更に効果を増大させることができる。
界面活性剤としてはアニオン性活性剤、カチオン性活性
剤、両イオン性活性剤等のいずれも使用することができ
るが、洗浄面への影響が少ないという点で非イオン系界
面活性剤が最もよい。例えばポリオキシアルキレンアル
キルエーテル、ポリオキシアルキレンアルキルフェノー
ルエーテル、ポリオキシアルキレンアルキル脂肪酸エス
テル、ポリオキシアルキレンアリルフェノールエーテル
、ポリオキジアルキレンツルビクン脂肪酸エステル、ポ
リオキシアルキレンアルキルアミン、ソルビタン脂肪酸
エステル、ポリオキシアルキレン等が好ましく、そのな
かでも平均HLB4〜18の非イオン性界面活性剤が特
に優れた効果を発現する。
ここで、ポリオキシアルキレンとしては、エチレンオキ
サイド、プロピレンオキサイド又はブチレンオキサイド
の重合体が好ましい。
これらの界面活性剤の配合量は0.1〜30重量%が好
ましく、0.1重量%より少ないとこれを加えたことに
よる効果が奏されず、また30重量%を超えると界面活
性剤が洗浄表面に残留して、洗浄された部品の特性に影
響を及ぼすことがある。
本発明の洗浄剤組成物は、浸漬法、超音波洗浄法、揺動
法、スプレー法等の各種の洗浄方法において使用でき、
かつ好ましい結果を得ることができる。
本発明の洗浄剤を、フラックスの付着したプリント基板
の洗浄工程に用いる場合、例えば、まず本発明洗浄剤組
成物をいれた超音波洗浄槽で超音波洗浄し、次いで本発
明の洗浄剤組成物を満たした液浴槽において浸漬洗浄し
、最後に溶剤等でリンスする等の方法を連続的に行うこ
とにより、効率的に洗浄することができる。
〔実施例〕
以下、実施例を挙げて更に詳細に説明するが、本発明は
これらに限定されるものではない。
実施例1〜12及び比較例1〜4 ICチップを装着したプリント配線板をフラックス処理
し、続いてハンダ処理してテストピースとした。このテ
ストピースを80℃に保った洗浄液に浸漬し、5分間洗
浄後プリント配線板からのフラックスの除去性を目視で
評価した。尚、洗浄液としては第1表の組成の新液及び
新液に10%のフラックス成分を含ませた劣化液を用い
た。結果は第1表のとおりである。
(評価基準) ◎:フラックス残着はなく、非常に良好。
○:フラックス残着がほとんどなく、良好。
△:フラックス残着かわずかにあり、やS悪い。
×:フラックスが残着し、悪い。
以下余白 〔発明の効果〕 畝上の如く、本発明の洗浄剤組成物は、優れたフラック
ス除去性を有すると共に、安全性がよく環境汚染の心配
もないので、電子部品、特にプリント基板のブラックス
洗浄工程に有利に使用できる。
以上

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 1. 1又は2個の水酸基を有する炭素数6〜22のア
    ルコール又は該アルコールの水酸基の水素原子を炭素数
    1〜4の炭化水素基で置換したエーテル化合物を50重
    量%以上含有する電子部品用洗浄剤組成物。
  2. 2. 更に界面活性剤を0.1〜30重量%含有する請
    求項1記載の洗浄剤組成物。
  3. 3. 界面活性剤がHLB4〜18の非イオン性界面活
    性剤である請求項2記載の洗浄剤組成物。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0662529A1 (en) * 1994-01-11 1995-07-12 Mitsubishi Chemical Corporation Degreasing cleaner and method for cleaning oil-deposited material
US7494962B2 (en) 2001-06-28 2009-02-24 Zeon Corporation Solvents containing cycloakyl alkyl ethers and process for production of the ethers

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US7494962B2 (en) 2001-06-28 2009-02-24 Zeon Corporation Solvents containing cycloakyl alkyl ethers and process for production of the ethers
EP2279995A2 (en) 2001-06-28 2011-02-02 Zeon Corporation Process for producing cycloalkyl alkyl ethers
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