JPH0357611B2 - - Google Patents
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- JPH0357611B2 JPH0357611B2 JP59103098A JP10309884A JPH0357611B2 JP H0357611 B2 JPH0357611 B2 JP H0357611B2 JP 59103098 A JP59103098 A JP 59103098A JP 10309884 A JP10309884 A JP 10309884A JP H0357611 B2 JPH0357611 B2 JP H0357611B2
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- JP
- Japan
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- substrates
- substrate
- processed
- cassette
- substrate processing
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Description
【発明の詳細な説明】
(利用分野)
本発明は、半導体デバイス等を製造する際に用
いる半導体基板等の自動基板処理装置に関するも
のである。
いる半導体基板等の自動基板処理装置に関するも
のである。
(背景技術)
高密度に集積された半導体デバイス等の製造で
は生産歩留りを改善することがきわめて重要であ
る。生産歩留りを上げることで希少かつ貫重な資
源を有効に活用し、コスト低減を計ることができ
る。
は生産歩留りを改善することがきわめて重要であ
る。生産歩留りを上げることで希少かつ貫重な資
源を有効に活用し、コスト低減を計ることができ
る。
高密度集積半導体デバイスの生産歩留りに影響
を与える要因として、基板の搬送その他の前処理
工程における基板(例えばシリコンウエーハ)へ
のゴミ(極微粒子を含む)の付着がある。例えば
高密度集積回路の製造工程の中には1μm前後の
寸法のラインアンドスペースのエツチング工程が
あるが、この工程で1〜2μm前後の微粒子がエ
ツチング処理前の基板に付着すれば、その微粒子
はエツチング用マスクとして作用し、その場所に
エツチング不良(エツチング残り)を生ずる。エ
ツチング残りがAl配線の加工時に生ずるとき、
それはすなわち線間のシヨートとなり半導体デバ
イスは動作しなくなり歩留りを低下させる。
を与える要因として、基板の搬送その他の前処理
工程における基板(例えばシリコンウエーハ)へ
のゴミ(極微粒子を含む)の付着がある。例えば
高密度集積回路の製造工程の中には1μm前後の
寸法のラインアンドスペースのエツチング工程が
あるが、この工程で1〜2μm前後の微粒子がエ
ツチング処理前の基板に付着すれば、その微粒子
はエツチング用マスクとして作用し、その場所に
エツチング不良(エツチング残り)を生ずる。エ
ツチング残りがAl配線の加工時に生ずるとき、
それはすなわち線間のシヨートとなり半導体デバ
イスは動作しなくなり歩留りを低下させる。
こうした前処理工程におけるゴミ及び微粒子の
付着の原因には、(1)作業者の不注意によるもの、
(2)基板の脱着に使用するピンセツトなどの器具の
汚染によるもの、(3)基板処理に判つて不可避的に
生ずるものがある。これらのうち、(1)、(2)項は作
業者の介在によつて生ずるもので、これの除去を
目指して前処理工程を出来るだけ作業者を煩わさ
ないものにする自動化装置の採用が増加してい
る。
付着の原因には、(1)作業者の不注意によるもの、
(2)基板の脱着に使用するピンセツトなどの器具の
汚染によるもの、(3)基板処理に判つて不可避的に
生ずるものがある。これらのうち、(1)、(2)項は作
業者の介在によつて生ずるもので、これの除去を
目指して前処理工程を出来るだけ作業者を煩わさ
ないものにする自動化装置の採用が増加してい
る。
さて、第2図は従来のドライエツチング工程に
おける自動基板処理装置の概略を示す図である。
被処理基板11はカセツト10に1枚または複数
枚収納された状態で扉2を開けて右方の外気側か
らカセツト室1に投入設置される。被処理基板1
1はこのあと、トランスフアー室5に設けられた
フオーク6によつて自動的にエツチング室7の電
極8上に設けられたステージ9に搬送される。第
2図では電極8の上に合計8個のステージ9が設
けられているためこれに8枚の被処理基板を配し
て8枚が一群となつて同時にエツチングされる
が、カセツト10内にたまたま8の整数倍の枚数
の基板11がない場合には、電極8上に不足分の
空きステージを生ずることゝなる。この状態でエ
ツチングを行なうと、空きステージは過度の活性
プラズマに晒され、ステージ9のその部分の表面
がエツチングされたり、あるいはこの表面に反応
生成物や重合物が堆積するなどし、損傷あるいは
汚染されるなどの問題を生ずる。このため、こう
した場合には空きステージの上にはダミー用の補
助基板を置してこれをエツチングさせるようにし
ている。
おける自動基板処理装置の概略を示す図である。
被処理基板11はカセツト10に1枚または複数
枚収納された状態で扉2を開けて右方の外気側か
らカセツト室1に投入設置される。被処理基板1
1はこのあと、トランスフアー室5に設けられた
フオーク6によつて自動的にエツチング室7の電
極8上に設けられたステージ9に搬送される。第
2図では電極8の上に合計8個のステージ9が設
けられているためこれに8枚の被処理基板を配し
て8枚が一群となつて同時にエツチングされる
が、カセツト10内にたまたま8の整数倍の枚数
の基板11がない場合には、電極8上に不足分の
空きステージを生ずることゝなる。この状態でエ
ツチングを行なうと、空きステージは過度の活性
プラズマに晒され、ステージ9のその部分の表面
がエツチングされたり、あるいはこの表面に反応
生成物や重合物が堆積するなどし、損傷あるいは
汚染されるなどの問題を生ずる。このため、こう
した場合には空きステージの上にはダミー用の補
助基板を置してこれをエツチングさせるようにし
ている。
この補助基板は、被処理基板11が入つている
カセツト10をカセツト室1に搬入する前に、作
業者が被処理基板11の枚数を数えて、それが前
記した一群の枚数の8の整数倍になるように調整
しているもので、この場合の基板の出し入れには
ピンセツトを用いているが、これがゴミの発生を
促進することになつている。この枚数調整作業は
上述のローデイング(投入)作業時だけでなく、
アンローデイング(回収)作業時にも必要であ
る。即ち、図示のように、処理済の基板にはカセ
ツト室3に配置されたカセツト15内に補助基板
と一緒に回収されるので、カセツト室3からカセ
ツト15を取り出した際に不要な補助基板を抜き
取る作業が必要である。この際にもゴミ付着の機
会を生ずる。従つて、上記の作業を自動化すると
ともに、その作業を密閉した室内で行うような装
置が必要となる。
カセツト10をカセツト室1に搬入する前に、作
業者が被処理基板11の枚数を数えて、それが前
記した一群の枚数の8の整数倍になるように調整
しているもので、この場合の基板の出し入れには
ピンセツトを用いているが、これがゴミの発生を
促進することになつている。この枚数調整作業は
上述のローデイング(投入)作業時だけでなく、
アンローデイング(回収)作業時にも必要であ
る。即ち、図示のように、処理済の基板にはカセ
ツト室3に配置されたカセツト15内に補助基板
と一緒に回収されるので、カセツト室3からカセ
ツト15を取り出した際に不要な補助基板を抜き
取る作業が必要である。この際にもゴミ付着の機
会を生ずる。従つて、上記の作業を自動化すると
ともに、その作業を密閉した室内で行うような装
置が必要となる。
(発明の構成)
本発明はこの問題を次の構成の装置で解決する
ものである。即ち、上記の第2図の装置を基板処
理部として、その前・後段に基板搬送装置および
それに連なる基板収納装置を設備し、基板収納装
置には、被処理基板、処理済基板と、ダミー用の
補助基板の三者をそれぞれ区別して収納し、これ
に対応して基板搬送装置には次の(A)、(B)の機能を
持たせたものである。
ものである。即ち、上記の第2図の装置を基板処
理部として、その前・後段に基板搬送装置および
それに連なる基板収納装置を設備し、基板収納装
置には、被処理基板、処理済基板と、ダミー用の
補助基板の三者をそれぞれ区別して収納し、これ
に対応して基板搬送装置には次の(A)、(B)の機能を
持たせたものである。
(A) 基板収納装置から基板処理部に搬送する被処
理基板の個数が、前記の一群の枚数(前記では
8枚)に達しないときは、補助基板収納のカセ
ツトから、不足枚数だけの補助基板を取出して
搬送する。
理基板の個数が、前記の一群の枚数(前記では
8枚)に達しないときは、補助基板収納のカセ
ツトから、不足枚数だけの補助基板を取出して
搬送する。
(B) 基板処理部から基板収納装置に基板を搬送す
るときには、基板を処理済基板と補助基板に区
別してそれぞれのカセツトに収納する。
るときには、基板を処理済基板と補助基板に区
別してそれぞれのカセツトに収納する。
(実施例)
以下、図に基いて本発明の実施例を説明する。
第1図において、基板処理部Aは、カセツト1
0および15の形状を除けば第1図と同一の基板
処理装置である。この実施例ではカセツト10,
15はカセツト室1,3の専用となつてこゝに固
定され脱着の必要がないものになつている。また
これに伴つて(第1図には第2図と同じ大きさに
描いたが)カセツト室の扉2,4も基板が通過で
きるだけの最小開口でよいものとなる。カセツト
10,15の出し入れが省略されるので、その分
だけ真空室へのゴミの流入の確率が小さくなる。
0および15の形状を除けば第1図と同一の基板
処理装置である。この実施例ではカセツト10,
15はカセツト室1,3の専用となつてこゝに固
定され脱着の必要がないものになつている。また
これに伴つて(第1図には第2図と同じ大きさに
描いたが)カセツト室の扉2,4も基板が通過で
きるだけの最小開口でよいものとなる。カセツト
10,15の出し入れが省略されるので、その分
だけ真空室へのゴミの流入の確率が小さくなる。
第1図の基板搬送装置60と基板収納装置70
は本実施例で付設された部分である。基板収納装
置70の内では処理前の被処理基板21はカセツ
ト20に収納され、処理後の基板31はカセツト
30に収納され、ダミー用の補助基板51はカセ
ツト41,42に収納されている。カセツト室
1,3に固定されている既述のカセツト10,1
5と基板収納装置70の各カセツトの間の基板の
搬送を基板搬送装置60が受持つ。即ち、カセツ
ト室1のカセツト10の被処理基板11がなくな
つた場合には、扉2を開いて、基板収納装置70
内にあらかじめ投入されている被処理基板21が
カセツト20から、搬送器Cで搬送されてくるよ
うになつている。そしてこの場合、もしカセツト
21にセツトされている基板の枚数が、エツチン
グ室7に設けられたステージ9の個数(これは一
回で処理される枚数であつて、図の場合は8個)
の整数倍になつていない場合には、(この検出は
カウンターの設置などで比較的簡単に行なわれ
る。図示していない。)不足枚数だけの補助用基
板51がカセツト41より搬送器F−D−Cを経
由して、カセツト室1のカセツト10に自動的に
搬送補給されるようになつている。次に、所定の
基板処理を終えてエツチング室7からトランスフ
アー室5を経由して、処理済基板12がカセツト
室3のカセツト15に納められた後は、扉4が開
かれ、処理済基板12が搬送器D,Fによつて処
理済基板31と補助基板51に区分けされて、そ
れぞれがカセツト30とカセツト41または42
に送られ収納される。処理済基板31と補助基板
51の区別けは、例えば補助基板51の周縁部に
あらかじめ切欠ぎを設けておき、搬送器Dにはそ
の切欠ぎを検出する機能を付与しておくなどの方
法でこれも比較的簡単に行なわれる。従つて、そ
の詳細の図示・説明は省略する。
は本実施例で付設された部分である。基板収納装
置70の内では処理前の被処理基板21はカセツ
ト20に収納され、処理後の基板31はカセツト
30に収納され、ダミー用の補助基板51はカセ
ツト41,42に収納されている。カセツト室
1,3に固定されている既述のカセツト10,1
5と基板収納装置70の各カセツトの間の基板の
搬送を基板搬送装置60が受持つ。即ち、カセツ
ト室1のカセツト10の被処理基板11がなくな
つた場合には、扉2を開いて、基板収納装置70
内にあらかじめ投入されている被処理基板21が
カセツト20から、搬送器Cで搬送されてくるよ
うになつている。そしてこの場合、もしカセツト
21にセツトされている基板の枚数が、エツチン
グ室7に設けられたステージ9の個数(これは一
回で処理される枚数であつて、図の場合は8個)
の整数倍になつていない場合には、(この検出は
カウンターの設置などで比較的簡単に行なわれ
る。図示していない。)不足枚数だけの補助用基
板51がカセツト41より搬送器F−D−Cを経
由して、カセツト室1のカセツト10に自動的に
搬送補給されるようになつている。次に、所定の
基板処理を終えてエツチング室7からトランスフ
アー室5を経由して、処理済基板12がカセツト
室3のカセツト15に納められた後は、扉4が開
かれ、処理済基板12が搬送器D,Fによつて処
理済基板31と補助基板51に区分けされて、そ
れぞれがカセツト30とカセツト41または42
に送られ収納される。処理済基板31と補助基板
51の区別けは、例えば補助基板51の周縁部に
あらかじめ切欠ぎを設けておき、搬送器Dにはそ
の切欠ぎを検出する機能を付与しておくなどの方
法でこれも比較的簡単に行なわれる。従つて、そ
の詳細の図示・説明は省略する。
なお、上述の被処理基板個数の検出とそれに基
づく補助基板の追加と、処理済基板と補助基板の
区分けと各カセツトへの振分け搬送などは、簡単
な記憶装置と中央処理装置をそなえた電子的な制
御器(第1図に1点鎖線のブロツク80で示す)
を、基板搬送装置60に付設して行わせることで
も、容易に達成できる。補助基板51のカセツト
41または42への収納は41,42の一方が空
になつた時点または満杯になつた時点で供給用と
回収用が自動的に変換されるものとなつている。
そのため補助基板は一定の枚数のものが繰返し基
板処理部に供給され、かつそこから回収される。
肝心なことは、それらの移動がすべて装置内で人
手によらずして行なわれることで、装置の清浄性
の維持は容易となる。なお、本実施例では、基板
収納装置70内に被処理基板用、処理済基板用及
び補助基板用に各2コのカセツト20,30及び
41と42を用いたが、それらのカセツトの個数
には制限はない。
づく補助基板の追加と、処理済基板と補助基板の
区分けと各カセツトへの振分け搬送などは、簡単
な記憶装置と中央処理装置をそなえた電子的な制
御器(第1図に1点鎖線のブロツク80で示す)
を、基板搬送装置60に付設して行わせることで
も、容易に達成できる。補助基板51のカセツト
41または42への収納は41,42の一方が空
になつた時点または満杯になつた時点で供給用と
回収用が自動的に変換されるものとなつている。
そのため補助基板は一定の枚数のものが繰返し基
板処理部に供給され、かつそこから回収される。
肝心なことは、それらの移動がすべて装置内で人
手によらずして行なわれることで、装置の清浄性
の維持は容易となる。なお、本実施例では、基板
収納装置70内に被処理基板用、処理済基板用及
び補助基板用に各2コのカセツト20,30及び
41と42を用いたが、それらのカセツトの個数
には制限はない。
さらに、本実施例には、次の副次的効果があ
る。即ち、実工程に先だつて基板処理部のウオー
ミングアツプを行うことがこの種の装置では不可
欠であるが、その場合、被処理基板用のカセツト
20に、故意に基板を投入せずに、稼動を開始す
れば補助用基板が自動的に必要数基板処理部1に
搬送され処理され、かつ返送されその動作が繰返
されて所望回数のウオーミングアツプが実行され
るという効果がある。この際の装置の清浄性も確
保される。
る。即ち、実工程に先だつて基板処理部のウオー
ミングアツプを行うことがこの種の装置では不可
欠であるが、その場合、被処理基板用のカセツト
20に、故意に基板を投入せずに、稼動を開始す
れば補助用基板が自動的に必要数基板処理部1に
搬送され処理され、かつ返送されその動作が繰返
されて所望回数のウオーミングアツプが実行され
るという効果がある。この際の装置の清浄性も確
保される。
以上は本発明の一実施例をドライエツチング装
置について詳細に述べたものであるが、エツチン
装置に限定されることなく本発明は半導体製造装
置等での他の処理工程にも広範囲に利用できるこ
とはいうまでもない。
置について詳細に述べたものであるが、エツチン
装置に限定されることなく本発明は半導体製造装
置等での他の処理工程にも広範囲に利用できるこ
とはいうまでもない。
(発明の効果)
本発明の自動基板処理装置は、クリーンルーム
内への作業者の立入りを低減し、ゴミの発生付着
の機会を極小にし、処理基板の歩留りを向上させ
る効果がある。自動化による省力の効果も著るし
い。
内への作業者の立入りを低減し、ゴミの発生付着
の機会を極小にし、処理基板の歩留りを向上させ
る効果がある。自動化による省力の効果も著るし
い。
第1図は本発明の実施例の自動基板処理装置の
概略図、第2図は従来の基板処理装置の概略図で
ある。 1,3……カセツト室、5……トランスフアー
室、7……エツチング室、6……フオーク、8…
…電極、10,15,20,30,41,42…
…カセツト、11,21……被処理基板、12,
31……処理済基板、51……補助基板、60…
…基板搬送装置、70……基板収納装置、A……
基板処理部。
概略図、第2図は従来の基板処理装置の概略図で
ある。 1,3……カセツト室、5……トランスフアー
室、7……エツチング室、6……フオーク、8…
…電極、10,15,20,30,41,42…
…カセツト、11,21……被処理基板、12,
31……処理済基板、51……補助基板、60…
…基板搬送装置、70……基板収納装置、A……
基板処理部。
Claims (1)
- 1 所定枚数の基板を一群としその複数群の各の
上に、遂次連続的かつ自動的に薄膜の堆積、食刻
等の処理を施す自動基板処理装置において、被処
理基板と処理済基板とダミー用の補助基板の三者
をそれぞれのカセツトに区別して収納する基板収
納装置と、この基板収納装置の各カセツトと基板
処理部の間で前記各基板を搬送する基板搬送装置
とをそなえ、かつこの基板搬送装置には、基板収
納装置から基板処理部に搬送する被処理基板の個
数が前記所定枚数に達しないときは、これに補助
基板を加えて所定枚数にし、かつ、基板処理部か
ら基板収納装置に搬送する基板は、これを処理済
基板と補助基板に区別してそれぞれのカセツトに
収納する機能を付与したことを特徴とする自動基
板処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10309884A JPS60246635A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 自動基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10309884A JPS60246635A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 自動基板処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60246635A JPS60246635A (ja) | 1985-12-06 |
JPH0357611B2 true JPH0357611B2 (ja) | 1991-09-02 |
Family
ID=14345151
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10309884A Granted JPS60246635A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 自動基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60246635A (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2644912B2 (ja) | 1990-08-29 | 1997-08-25 | 株式会社日立製作所 | 真空処理装置及びその運転方法 |
USRE39756E1 (en) | 1990-08-29 | 2007-08-07 | Hitachi, Ltd. | Vacuum processing operating method with wafers, substrates and/or semiconductors |
USRE39824E1 (en) | 1990-08-29 | 2007-09-11 | Hitachi, Ltd. | Vacuum processing apparatus and operating method with wafers, substrates and/or semiconductors |
US7089680B1 (en) | 1990-08-29 | 2006-08-15 | Hitachi, Ltd. | Vacuum processing apparatus and operating method therefor |
JPH0936198A (ja) | 1995-07-19 | 1997-02-07 | Hitachi Ltd | 真空処理装置およびそれを用いた半導体製造ライン |
JP2816139B2 (ja) * | 1996-12-16 | 1998-10-27 | 株式会社日立製作所 | 真空処理装置用搬送システム及び真空処理装置 |
JP3883929B2 (ja) | 2001-09-25 | 2007-02-21 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 薄膜形成装置および薄膜形成方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60113428A (ja) * | 1983-11-24 | 1985-06-19 | Hitachi Ltd | 半導体製造装置 |
-
1984
- 1984-05-22 JP JP10309884A patent/JPS60246635A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60113428A (ja) * | 1983-11-24 | 1985-06-19 | Hitachi Ltd | 半導体製造装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60246635A (ja) | 1985-12-06 |
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