JPH0356489Y2 - - Google Patents

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JPH0356489Y2
JPH0356489Y2 JP10409387U JP10409387U JPH0356489Y2 JP H0356489 Y2 JPH0356489 Y2 JP H0356489Y2 JP 10409387 U JP10409387 U JP 10409387U JP 10409387 U JP10409387 U JP 10409387U JP H0356489 Y2 JPH0356489 Y2 JP H0356489Y2
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semiconductor element
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taping
embossed tape
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は半導体素子のエンボステープへのテー
ピングを行うテーピング装置に関する。
〔従来の技術〕
第3図に示すように従来のテーピング装置は、
半導体素子1をパーツフイーダ2に供給し、該半
導体素子1をリニアフイーダ3で送り出した後、
第1吸着ノズル4によつて半導体素子1を位置決
め部のプツシヤー6で位置補正した後、第2吸着
ノズル5によつてエンボステープ7にテーピング
を行つていた。
〔考案が解決しようとする問題点〕
ところが、供給される半導体素子1が近年小さ
くなるにつれ、従来のメカ的な位置決め機構では
半導体素子の全周をガイドしきれないため、前後
又は左右方向に対し、充分な位置決めを行うこと
ができないという欠点があつた。
また、リード変形等のため、製品が傾いた状態
であつても、位置決め部のプツシヤー6が通常通
りに動作すれば、製品の状態に関係なく半導体素
子を吸着挿入してしまい、テーピング不良の原因
となつているという欠点があつた。
本考案の目的は半導体素子の位置決め補正を正
確に行うことと、リード変形等で傾いた状態の不
良品をエンボステープに挿入する以前に検出する
テーピング装置を提供することにある。
〔考案の従来技術に対する相違点〕
上述した従来のテーピング装置に対し、本考案
は半導体素子の位置決め部において位置ずれ量を
検出し、それに基づいて半導体素子の位置補正を
行うという相違点を有する。
〔問題点を解決するための手段〕
本考案は供給された半導体素子を特定位置で位
置決めし、該半導体素子をエンボステープに装填
するテーピング装置において、前記半導体素子の
位置決めを行う位置決め部を支持し、直交する2
軸方向に移動するX−Yテーブルと、前記位置決
め部上の半導体素子の姿勢を撮影するカメラ部
と、該カメラ部の出力に基づき半導体素子の基準
位置に対する位置ずれ量を演算する演算部と、該
演算部の指令に基づいて前記X−Yテーブルの駆
動制御を行う制御部とを有することを特徴とする
テーピング装置である。
〔実施例〕
以下、本考案の実施例を図により説明する。
(実施例 1) 第1図において、本考案は、半導体素子1を供
給するパーツフイーダ2及びリニアフイーダ3
と、半導体素子1の位置決めを行うプツシヤー
(位置決め部)6と、半導体素子1をリニアフイ
ーダ3からプツシヤー6に搬入する第1吸着ノズ
ル4と、前記プツシヤー6を支えて直交する2軸
方向に移動するX−Yテーブル8と、プツシヤー
6で位置決めされた半導体素子1の姿勢を撮像す
るカメラ9と、カメラ9の出力に基づき半導体素
子1の基準位置に対する位置ずれ量を演算する演
算部11と、演算部11の指令に基づきX−Yテ
ーブル8の駆動制御を行う制御部12とを有す
る。演算部11は、カメラ9の出力を2値化する
2値化回路11aと、画像メモリ11bと、
CPU11cとからなる。
第1図において、本装置は半導体素子1の位置
決め用プツシヤー6全体をX−Y方向に移動させ
るX−Yテーブル8を有する。パーツフイーダに
供給された半導体素子1はリニアフイーダ3で送
られた後、第1吸着ノズル4によつて位置決め部
に搬送されプツシヤー6によつて固定された後、
レンズ10を介して上部のカメラ9によりモール
ド外形が撮像される。このとき、撮像された像を
2値化回路11aにより2値化してメモリ11b
に取り込み、ずれ量をCPU11cで算出して、
制御部12に補正量をデータ転送する。その結
果、X−Yテーブル8は制御部12の駆動により
エンボステープ7の挿入位置に合せて移動する。
位置補正完了後の半導体素子1は第2吸着ノズル
5によつてエンボステープ7内に挿入される。供
給された半導体素子1のリードが変形していた場
合には、モールドが傾いた状態になるため、撮像
した結果が不良となり、エンボステープ7に挿入
する前に検出することが可能である。
(実施例 2) 第2図は本考案の第2の実施例を示す図であ
る。テーピング装置においては、ステイツク13
内に配列された状態から半導体素子1を供給する
場合がある。本実施例はこの種のテーピング装置
に本考案を適用した実施例であり、ステイツク1
3の送りにずれがあつた場合にそのずれ量を補正
して半導体素子1をエンボステープ7に挿入する
ものである。その他の構成は第1図の実施例と同
一構成である。
〔考案の効果〕
以上説明したように本考案は位置決め部で正確
な位置決めを行うことにより、エンボステープへ
の挿入不良や不良テーピングをなくすことができ
る効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の第1の実施例を示す構成図、
第2図は本考案の第2の実施例を示す構成図、第
3図は従来のテーピング装置を示す構成図であ
る。 1……半導体素子、2……パーツフイーダ、3
……リニアフイーダ、4……第1吸着ノズル、5
……第2吸着ノズル、6……プツシヤー、7……
エンボステープ、8……X−Yテーブル、9……
カメラ、10……レンズ、11……演算部、12
……制御部、13……ステイツク。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 供給された半導体素子を特定位置で位置決め
    し、該半導体素子をエンボステープに装填するテ
    ーピング装置において、前記半導体素子の位置決
    めを行う位置決め部を支持し、直交する2軸方向
    に移動するX−Yテーブルと、前記位置決め部上
    の半導体素子の姿勢を撮影するカメラ部と、該カ
    メラ部の出力に基づき半導体素子の基準位置に対
    する位置ずれ量を演算する演算部と、該演算部の
    指令に基づいて前記X−Yテーブルの駆動制御を
    行う制御部とを有することを特徴とするテーピン
    グ装置。
JP10409387U 1987-07-07 1987-07-07 Expired JPH0356489Y2 (ja)

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JP10409387U JPH0356489Y2 (ja) 1987-07-07 1987-07-07

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JPS649104U JPS649104U (ja) 1989-01-18
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JP7073652B2 (ja) * 2017-09-07 2022-05-24 Tdk株式会社 部品装填装置と部品装填方法

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