JPH0355047Y2 - - Google Patents

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JPH0355047Y2
JPH0355047Y2 JP6299986U JP6299986U JPH0355047Y2 JP H0355047 Y2 JPH0355047 Y2 JP H0355047Y2 JP 6299986 U JP6299986 U JP 6299986U JP 6299986 U JP6299986 U JP 6299986U JP H0355047 Y2 JPH0355047 Y2 JP H0355047Y2
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heat insulating
measuring device
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beam generator
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Description

【考案の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
この考案は光学式測定装置に係り、特に、平行
走査ビームを利用して被測定物の寸法等を測定す
る光学式測定装置の改良に関する。
【従来の技術】
従来、回転平面鏡又はポリゴンミラーにより形
成された回転走査ビーム(レーザビーム)あるい
は音又偏向により偏向された扇形の回転走査ビー
ムをコリメータレンズによりこのコリメータレン
ズと集光レンズ間を通る平行走査ビームに変換
し、該コリメータレンズと集光レンズの間に被測
定物を置き、この被測定物によつて前記平行走査
ビームが遮られて生じる暗部又は明部の時間の長
さから被測定物の寸法を測定する光学式測定装置
があつた。 これは、例えば第4図及び第5図に示す如く、
レーザ管10からレーザビーム12を固定ミラー
14に向けて発振し、この固定ミラー14により
反射されたレーザビーム12を多角形回転ミラー
16によつて回転走査ビーム17に変換し、この
走査ビーム17をコリメータレンズ18によつて
平行走査ビーム20に変換し、この平行走査ビー
ム20によりコリメータレンズ18と集光レンズ
22の間に配置した被測定物24を高速走査し、
その時被測定物24によつて生じる暗部又は明部
の時間の長さから、被測定物24の走査方向(Y
方向)寸法を測定するものである。即ち、平行走
査ビーム20の明暗は、集光レンズ22の焦点位
置にある受光素子26の出力電圧の変化となつて
検出され、該受光素子26からの信号は、プリア
ンプ28に入力され、ここで増幅された後、セグ
メント選択回路30に送られる。このセグメント
選択回路30は、受光素子26の出力電圧から被
測定物24が走査されている時間tの間だけゲー
ト回路32を開くための電圧Vを発生して、ゲー
ト回路32に出力するようにされている。このゲ
ート回路32には、クロツクパルス発振器34か
らクロツクパルスCPが入力されているので、ゲ
ート回路からは被測定物24の走査方向寸法(例
えば外径)に対応した時間tに対応するクロツク
パルスPを計数回路36に入力する。計数回路3
6は、このクロツクパルスPを計数して、デジタ
ル表示器38に計数信号を出力し、デジタル表示
器38は被測定物24の走査方向寸法即ち外径を
デジタル表示することになる。一方、前記多角形
回転ミラー16は、前記クロツクパルス発振器3
4出力を分周して400〜800Hz程度の方形波に分周
する分周器40からパワーアンプ42を経て増幅
された方形波により駆動されているパルスモータ
44により、前記クロツクパルス発振器34出力
のクロツクパルスCPと同期して回転され、測定
精度を維持するようにされている。 このような高速度走査型の光学式測定装置は、
移動する物体、高温物体の長さ、厚み等を非接触
で高精度に測定できるので広く利用されつつあ
る。 従つて、被測定物の種類、形状、大きさ等も多
様化し、これに対応して上記の光学式測定装置
は、1μm以下の高分解能、高精度のものが要求さ
れてきている。
【考案が解決しようとする問題点】
しかしながら、従来の上記のような光学式測定
装置において、ビーム発生器としてのレーザ管1
0は、ガスレーザ発振器を用いるものが多く、こ
の場合は、レーザ発振器の発熱、外部温度の変化
等の影響で平行走査ビーム発生装置内に空気の対
流が生じて、高分解にすると測定値の表示が安定
しないという問題点がある。 即ち、分解能1μm以上の場合、経験的に、レー
ザ発振器の発熱に基づき、前記空気の対流による
レーザビームの乱れは無視できる程度であつた
が、クロツクパルスCPを高周波にして高分解能
にすると、計測値に乱れが生じ、特に、電源の投
入直後に変動が大きいという問題点があつた。 更に、外部温度が変化しても同様に計測値に変
動が生じるようになつた。
【考案の目的】
この考案は上記従来の問題点に鑑みてなさたも
のであつて、平行走査ビーム発生装置内における
レーザビーム発生器の発熱による空気の対流を防
止して、高分解能での計数値の安定化、ひいては
高精度化、及び外部の温度変化による空気の対流
の発生防止を図つた光学式測定装置を提供するこ
とを目的とする。
【問題点を解決するための手段】
この考案は、ビーム発生器からの入射ビームを
反射して回転走査ビームとするビーム変換手段、
該回転走査ビームを平行走査ビームとするコリメ
ータレンズ、これらビーム変換手段及びコリメー
タレンズを収容する筐体、を含む平行走査ビーム
発生装置と、被測定物を通過した前記平行走査ビ
ームの明暗を検出する受光素子とを有し、平行走
査ビーム発生装置と前記受光素子の間に配置した
被測定物によつて前記平行走査ビームの一部が遮
られて生じる暗部又は明部の時間の長さを検出し
て被測定物の走査方向寸法を求めるようにした光
学式測定装置において、前記ビーム発生器及び前
記筐体の少なくとも一方の少なくとも一部を断熱
構造とすることにより上記目的を達成するもので
ある。 又、前記断熱構造を前記ビーム発生器のビーム
射出口を除く外側面を被う断熱材から構成するこ
とにより上記目的を達成するものである。 又、前記断熱構造を、前記ビーム発生器のビー
ム射出口を除く外側を被う金属製カバーと、この
金属製カバーの外側及び内側の少なくとも一方に
貼付された断熱材から構成することにより上記目
的を達成するものである。 又、前記ビーム発生器における断熱構造を、該
ビーム発生器の上方を通るビームの光路の下方に
位置させることにより上記目的を達成するもので
ある。 又、前記断熱構造を、前記筐体の内側面に貼付
された断熱材から構成する事により上記目的を達
成するものである。 又、前記筐体内側面貼付された断熱材を、該筐
体内における前記回転走査ビームの上方に及び両
側を被うように配置することにより上記目的を達
成するものである。
【作用】
この考案においては、平行走査ビーム発生装置
におけるビーム発生器及び筐体の少なくとも一方
の少なくとも一部が断熱構造とされていることか
ら、ビーム発生器の発熱及び外部の温度変化によ
る筐体内での空気対流が抑制され、光学式測定装
置において高分解とした場合でもその計測値の安
定化を図ることができる。
【実施例】
以下本考案の実施例を図面を参照して説明す
る。ここで、この実施例において、前記第4図及
び第5図に示される従来の光学式測定装置と同一
又は相当部分にはこれらの図と同一の符号を付す
ることにより説明を省略するものとする。 この実施例は、第1図及び第2図に示されるよ
うに、ビーム発生器であるレーザ管10からの入
射ビーム12を反射して回転走査ビーム17とす
る多角形回転ミラー16、該回転走査ビーム17
を平行走査ビーム20とするコリメータレンズ1
8、前記レーザ管10、多角形回転ミラー16を
被う筐体19、を含む平行走査ビーム発生装置2
1と、被測定物24を通過した前記平行走査ビー
ム20の明暗を検出する受光素子26とを有し、
平行走査ビーム発生装置21と前記受光素子26
との間に配置した被測定物24によつて前記平行
走査ビーム20の一部が遮られて生じる暗部又は
明部の時間の長さを検出して被測定物24の走査
方向寸法を求めるようにした光学式測定装置にお
いて、前記平行走査ビーム発生装置21における
前記レーザ管10及び筐体19の一部を断熱材で
被つて断熱構造としたものである。 前記筐体19は底部19A、この底部19Aの
前後端に直角に立ち上がつて形成されたエンドパ
ネル19B,19C及び上方からこれら底部19
A、エンドパネル19B,19Cを被うように取
り付けられるカバー19Dとから構成されてい
る。前記底部19Aとエンドパネル19B,19
Cは一体に形成されている。 又、前記多角形回転ミラー16及びこれを駆動
するためのモータ44と、レーザ管10と、固定
ミラー14と、は筐体19における底部19Aの
上面に取り付けられている。 又、前記コリメータレンズ18は一方のエンド
パネル19Bに隣接して筐体19内位置に底部1
9Aに取り付け配置されている。 前記レーザ管10はその一方の端部であるレー
ザ射出口10Aを除いて断熱構造とされている。
即ち、第2図及び第3図に示されるように、レー
ザ管10を筐体19の底部19Aに固定するため
の固定台50及びレーザ管10の幅方向両側、上
方を被うようにして固定台50に取り付けられた
断面下向きコ字形状の鉄板カバー52と、この鉄
板カバー52の両側及び上面を被うようにして該
鉄板カバー52に取り付けられた断熱材54とか
ら断熱構造が形成されている。 図の符号56はレーザ管10を固定台50に締
め付け固定するためのクランプ、58は鉄板カバ
ー52を固定台50に締め付け固定するためのね
じをそれぞれ示す。 ここで、第1図に示されるように、この実施例
においては、レーザ管10の上方に多角形回転ミ
ラー16が配置され、レーザ管10から射出され
たレーザビーム12は固定ミラー14で反射され
多角形回転ミラー16に到達するようにされてい
るが、この時、固定ミラー14で反射されたレー
ザビーム12の光路はレーザ管10の上方に位置
することになる。 即ち、鉄板カバー52及び断熱材54からなる
断熱構造は、レーザ管10の上方を被うことによ
り、レーザビーム12の光路下側を被うことにな
る。 又前記筐体19における断熱構造は、カバー1
9Dの内側であつて、且つレーザビーム12が多
角形回転ミラー16によつて反射して形成された
回転走査ビーム17の光路の上側及び両側を被う
ようにした断面が下向きコ字形状の断熱材60を
取り付けることにより構成されている。 この実施例においては、測定作業中にレーザ管
10から発生する熱は、該レーザ管10が鉄板カ
バー52及び断熱材54によつてその上部及び両
側部が被われているために、断熱材54の幅方向
両端から筐体19の内側面に沿つて放出されるこ
とになる。 従つて、レーザ管10から発生した熱が該レー
ザ管10から射出される入射ビーム12及び回転
走査ビーム17の光路に影響を与えることはな
い。 更に、多角形回転ミラー16によつて形成され
る回転走査ビーム17の光路は、筐体19におけ
るカバー19D内側面に取り付けられた断熱材6
0によつて、その上方及び両側を被われているこ
とから、外部における熱変化の影響を受けること
がない。 従つて、この実施例においては、レーザビーム
が、レーザ管10の発熱及び外部の熱変化による
空気の対流の影響を受けることがなく、測定装置
の分解能を高めてもその計測値に乱れを生じるこ
とはない。 実験によれば、分解能を1μm以下とした場合で
も測定値の変動は許容範囲に収まつた。又、分解
能が大きくない場合であつても、より安定した測
定が可能になつた。 なお、上記実施例において、レーザ管10の断
熱構造は鉄板カバー52及び断熱材54とから構
成されているが、本考案はこれに限定されるもの
でなく、断熱材54のみから構成するようにして
もよい。又、鉄板カバー52は他の金属であつて
もよい。 又、断熱材54を鉄板カバー52の内側又は内
外面に取り付けるようにした構造であつてもよ
い。 更に又、筐体19における断熱材60は、上記
実施例においてはカバー19Dの内側に取り付け
られたものであるが、断熱材60は例えば底部1
9Aから立ち上がらせて取り付けるようにしても
よい。 又、断熱材の材質としては、ポリエチレンフオ
ーム、ポリウレタンフオーム、ハツポースチロー
ル、スチレンペーパー等を使用することができ
る。 更に、本考案は多角形回転ミラーを用いた場合
に限定されるものでなく、回転平面鏡、音又偏向
器を含むビーム変換手段を用いた場合に一般的に
適用されるものである。
【考案の効果】
本考案は上記のように構成したので、平行走査
ビーム発生装置の筐体内における空気の対流を抑
制して、ビームの乱れを減少させ、高分解の時に
おける測定値の表示を安定させ、高製度な測定を
可能とすることができるという優れた効果を有す
る。 又、分解度が高くない場合であつても安定した
測定を可能とすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係る光学式測定装置の実施例
を示す分解斜視図、第2図は同実施例におけるレ
ーザ発生器を示す側面図、第3図は第2図に−
線に沿う断面図、第4図は従来の光学式測定装
置を示すブロツク図、第5図は同断面図である。 10……レーザ管(ビーム発生器)、10A…
…レーザ射出口、12……レーザビーム、16…
…多角形回転ミラー、17……回転走査ビーム、
18……コリメータレンズ、19……筐体、19
D……カバー、20……平行走査ビーム、24…
…被測定物、26……受光素子、52……鉄板カ
バー、54……断熱材、60……断熱材。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) ビーム発生器からの入射ビームを反射して回
    転走査ビームとするビーム変換手段、該回転走
    査ビームを平行走査ビームとするコリメータレ
    ンズ、これらビーム変換手段及びコリメータレ
    ンズを収容する筐体、を含む平行走査ビーム発
    生装置と、被測定物を通過した前記平行走査ビ
    ームの明暗を検出する受光素子とを有し、平行
    走査ビーム発生装置と前記受光素子の間に配置
    した被測定物によつて前記平行走査ビームの一
    部が遮られて生じる暗部又は明部の時間の長さ
    を検出して被測定物の走査方向寸法を求めるよ
    うにした光学式測定装置において、前記ビーム
    発生器及び前記筐体の少なくとも一方の少なく
    とも一部を断熱構造としてなる光学式測定装
    置。 (2) 前記断熱構造は、前記ビーム発生器のビーム
    射出口を除く外側面を被う断熱材を含んでなる
    実用新案登録請求の範囲第1項記載の光学式測
    定装置。 (3) 前記断熱構造は、前記ビーム発生器のビーム
    射出口を除く外側を被う金属製カバーと、この
    金属製カバーの外側及び内側の少なくとも一方
    に貼付された断熱材から構成されてなる実用新
    案登録請求範囲第1項記載の光学式測定装置。 (4) 前記ビーム発生器における断熱構造は、該ビ
    ーム発生器の上方を通るビームの光路の下方に
    位置されてなる実用新案登録請求の範囲第2項
    又は第3項記載の光学式測定装置。 (5) 前記断熱構造は、前記筐体の内側面に貼付さ
    れた断熱材を含んで構成された実用新案登録請
    求の範囲第1項、乃至第4項のうちいずれかの
    光学式測定装置。 (6) 前記筐体内側面貼付された断熱材は、該筐体
    内における前記回転走査ビームの上方に及び両
    側を被うように配置されておる実用新案登録請
    求の範囲第5項記載の光学式測定装置。
JP6299986U 1986-04-25 1986-04-25 Expired JPH0355047Y2 (ja)

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JPH0714803Y2 (ja) * 1989-09-27 1995-04-10 株式会社ミツトヨ 光学式走査型測定装置
JP6951107B2 (ja) 2017-04-18 2021-10-20 株式会社ミツトヨ 光学式外径測定装置

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JPS62174210U (ja) 1987-11-05

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