JPH0353780B2 - - Google Patents
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- JPH0353780B2 JPH0353780B2 JP60018361A JP1836185A JPH0353780B2 JP H0353780 B2 JPH0353780 B2 JP H0353780B2 JP 60018361 A JP60018361 A JP 60018361A JP 1836185 A JP1836185 A JP 1836185A JP H0353780 B2 JPH0353780 B2 JP H0353780B2
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は樹脂封止形半導体装置に関し、特に
樹脂封止形半導体装置における半導体ベーシツク
エレメントの熱応力緩衝材の改良に関するもので
ある。
樹脂封止形半導体装置における半導体ベーシツク
エレメントの熱応力緩衝材の改良に関するもので
ある。
従来例によるこの種の樹脂封止形半導体装置と
して、第2図に示すものがあり、これは平板上に
形成された1対の熱応力緩衝材2,3間に半導体
ペレツト1を配置し、この半導体ペレツト1と熱
応力緩衝材2,3とを一体としたものに外部端子
取出し用電極4をろう付けしてベーシツクエレメ
ントとし、この半導体ベーシツクエレメントに外
部端子5,6を半田付けするとともに、絶縁基板
8を介して放熱ベース7に取付け、またこの放熱
ベース7にケース9を配した上で、これらにエポ
キシ樹脂10などを充填硬化させて樹脂封止した
ものである。
して、第2図に示すものがあり、これは平板上に
形成された1対の熱応力緩衝材2,3間に半導体
ペレツト1を配置し、この半導体ペレツト1と熱
応力緩衝材2,3とを一体としたものに外部端子
取出し用電極4をろう付けしてベーシツクエレメ
ントとし、この半導体ベーシツクエレメントに外
部端子5,6を半田付けするとともに、絶縁基板
8を介して放熱ベース7に取付け、またこの放熱
ベース7にケース9を配した上で、これらにエポ
キシ樹脂10などを充填硬化させて樹脂封止した
ものである。
そしてこの構成の樹脂封止形半導体装置は、熱
応力緩衝材をろう付けする半導体ペレツト1の接
合面にガラスなどの絶縁物を塗布することによ
り、この接合部を電気的に安定した状態で保護す
ることができ、そのため、従来からのハーメチツ
クシールを施した半導体素子とか、トランスフア
モールドで樹脂封止した半導体素子に比較して、
コンパクトかつ安価に提供できるものとしてその
需要が多い。
応力緩衝材をろう付けする半導体ペレツト1の接
合面にガラスなどの絶縁物を塗布することによ
り、この接合部を電気的に安定した状態で保護す
ることができ、そのため、従来からのハーメチツ
クシールを施した半導体素子とか、トランスフア
モールドで樹脂封止した半導体素子に比較して、
コンパクトかつ安価に提供できるものとしてその
需要が多い。
ところで、この従来例による樹脂封止形半導体
装置においては、前記半導体ペレツト1にガラス
パツシベーシヨンダイオードを用いた場合には、
その両面に配置される熱応力緩衝材2,3の材料
として熱膨張係数の小さいモリブデン、タングス
テンなどが用いられており、これらによつて半導
体ペレツト1を温度サイクル、通電時などでの熱
応力による歪から保護し得るようになつている。
しかし一方、このような場合に熱応力緩衝材2,
3としてのモリブデン、タングステンなどを半導
体ペレツト1にろう付けするためには、一般に、
Niメツキを施しているが、このNiメツキは熱応
力緩衝材2,3であるモリブデン、タングステン
などの全面にNiメツキを施すのが普通であつて、
この全面にメツキを施した状態でこれを所定温度
に昇温された水素雰囲気の加熱炉内を通過させて
ろう付けさせると、半導体ペレツト1に好ましく
ない影響を生ずることがある。
装置においては、前記半導体ペレツト1にガラス
パツシベーシヨンダイオードを用いた場合には、
その両面に配置される熱応力緩衝材2,3の材料
として熱膨張係数の小さいモリブデン、タングス
テンなどが用いられており、これらによつて半導
体ペレツト1を温度サイクル、通電時などでの熱
応力による歪から保護し得るようになつている。
しかし一方、このような場合に熱応力緩衝材2,
3としてのモリブデン、タングステンなどを半導
体ペレツト1にろう付けするためには、一般に、
Niメツキを施しているが、このNiメツキは熱応
力緩衝材2,3であるモリブデン、タングステン
などの全面にNiメツキを施すのが普通であつて、
この全面にメツキを施した状態でこれを所定温度
に昇温された水素雰囲気の加熱炉内を通過させて
ろう付けさせると、半導体ペレツト1に好ましく
ない影響を生ずることがある。
即ち、第3図に示すように、ガラスパツシベー
シヨンダイオードである半導体ペレツト1のガラ
スパツシベーシヨン部のある表面(図示下面)側
にろう付けされる熱応力緩衝材2は全面Niメツ
キが施されているため、ここに介在されるろう材
11は熱応力緩衝材2の側面に流れ出し(図示1
1a参照)、ろう材11の厚みを確保できず、信
頼性上の不都合があつた。また半導体ペレツト1
の裏面側にろう付けされる熱応力緩衝材3につい
ても、ここに介在するろう材12,13により同
様に側面までろう材が流れ出し(図示14参照)、
半導体ペレツト1の裏面と外部端子取出し用電極
4とがこのろう材14により短絡を生ずることが
あり、このようにして製造された樹脂封止形半導
体装置では、このろう材の短絡部14により半導
体ペレツト1が引張られ、ペレツトに割れが生じ
たりして、ペレツト自体の特性劣化を招いたり、
ペレツト表面側と同様にろう材12,13の厚み
を確保できないという不都合があつた。
シヨンダイオードである半導体ペレツト1のガラ
スパツシベーシヨン部のある表面(図示下面)側
にろう付けされる熱応力緩衝材2は全面Niメツ
キが施されているため、ここに介在されるろう材
11は熱応力緩衝材2の側面に流れ出し(図示1
1a参照)、ろう材11の厚みを確保できず、信
頼性上の不都合があつた。また半導体ペレツト1
の裏面側にろう付けされる熱応力緩衝材3につい
ても、ここに介在するろう材12,13により同
様に側面までろう材が流れ出し(図示14参照)、
半導体ペレツト1の裏面と外部端子取出し用電極
4とがこのろう材14により短絡を生ずることが
あり、このようにして製造された樹脂封止形半導
体装置では、このろう材の短絡部14により半導
体ペレツト1が引張られ、ペレツトに割れが生じ
たりして、ペレツト自体の特性劣化を招いたり、
ペレツト表面側と同様にろう材12,13の厚み
を確保できないという不都合があつた。
この発明は上記のような従来の欠点を解消する
ためになされたもので、半導体ペレツトの割れ等
の低減、特性劣化の防止、さらには信頼性の向上
を図ることができる樹脂封止形半導体装置を提供
することを目的としている。
ためになされたもので、半導体ペレツトの割れ等
の低減、特性劣化の防止、さらには信頼性の向上
を図ることができる樹脂封止形半導体装置を提供
することを目的としている。
この発明に係る樹脂封止形半導体装置は、半導
体ペレツトの主面にろう付けされる熱応力緩衝材
の主面にのみメツキを施し、側面にはメツキを施
さないようにしたものである。
体ペレツトの主面にろう付けされる熱応力緩衝材
の主面にのみメツキを施し、側面にはメツキを施
さないようにしたものである。
この発明においては、半導体ペレツトの主面に
ろう付けされる熱応力緩衝材の主面にのみメツキ
を施し、側面にはメツキを施さないようにしたか
ら、半導体ペレツト裏面側でろう材の流れ出しが
あつてもこれは熱応力緩衝材の側面までは流れ
ず、ろう材の厚みが確保できなかつたり、外部端
子取出し用電極と半導体ペレツトとが短絡したり
することはなく、特性劣化、信頼性の低下を防止
できる。
ろう付けされる熱応力緩衝材の主面にのみメツキ
を施し、側面にはメツキを施さないようにしたか
ら、半導体ペレツト裏面側でろう材の流れ出しが
あつてもこれは熱応力緩衝材の側面までは流れ
ず、ろう材の厚みが確保できなかつたり、外部端
子取出し用電極と半導体ペレツトとが短絡したり
することはなく、特性劣化、信頼性の低下を防止
できる。
以下、この発明の一実施例を第1図を参照して
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第1図において、第2図及び第3図と同一符号
は同一又は相当部分を示しており、本実施例装置
では、従来装置において半導体ペレツト1にろう
付けすべき熱応力緩衝材としては、全面にNiメ
ツキを施したものに替えて、主面にのみメツキを
施し、側面にはメツキを施していない熱応力緩衝
材15,16を用いている。
は同一又は相当部分を示しており、本実施例装置
では、従来装置において半導体ペレツト1にろう
付けすべき熱応力緩衝材としては、全面にNiメ
ツキを施したものに替えて、主面にのみメツキを
施し、側面にはメツキを施していない熱応力緩衝
材15,16を用いている。
本実施例装置においても、従来装置と同様熱応
力緩衝材15,16及び外部端子取出し用電極4
を半導体ペレツト1にろう付けさせることにより
半導体ベーシツクエレメントを製造する。そし
て、この場合半導体ペレツト1の裏面側でろう材
12,13の流れ出しがあつてもこれは熱応力緩
衝材16の側面までは流れず、また表面側でのろ
う材11の流れ出しがあつてもこれは熱応力緩衝
材15の側面までは流れず、従つて前記従来例の
ようにろう材の厚みが確保できなかつたり、外部
端子取出し用電極4と半導体ペレツト1裏面とが
短絡したりすることはなく、ペレツト1の割れな
どの特性劣化を生じたり、また信頼性上の不都合
を招いたりすることはない。
力緩衝材15,16及び外部端子取出し用電極4
を半導体ペレツト1にろう付けさせることにより
半導体ベーシツクエレメントを製造する。そし
て、この場合半導体ペレツト1の裏面側でろう材
12,13の流れ出しがあつてもこれは熱応力緩
衝材16の側面までは流れず、また表面側でのろ
う材11の流れ出しがあつてもこれは熱応力緩衝
材15の側面までは流れず、従つて前記従来例の
ようにろう材の厚みが確保できなかつたり、外部
端子取出し用電極4と半導体ペレツト1裏面とが
短絡したりすることはなく、ペレツト1の割れな
どの特性劣化を生じたり、また信頼性上の不都合
を招いたりすることはない。
ちなみに、本発明者の実験結果によれば、250
〜350℃の水素雰囲気の加熱炉内でろう付けを行
なつた場合、従来例では10〜15%の特性劣化を生
じていたが、本実施例ではこれを0.1%以下に抑
制し得ることを確認できた。
〜350℃の水素雰囲気の加熱炉内でろう付けを行
なつた場合、従来例では10〜15%の特性劣化を生
じていたが、本実施例ではこれを0.1%以下に抑
制し得ることを確認できた。
なお、前記実施例においては、ガラスパツシベ
ーシヨンダイオードに適用する場合について述べ
たが、その他にもガラスパツシベーシヨンサイリ
スタなどのガラスパツシベーシヨンを施した半導
体ペレツトにも同様に適用できることは勿論であ
る。
ーシヨンダイオードに適用する場合について述べ
たが、その他にもガラスパツシベーシヨンサイリ
スタなどのガラスパツシベーシヨンを施した半導
体ペレツトにも同様に適用できることは勿論であ
る。
以上のようにこの発明によれば、ガラスパツシ
ベーシヨンダイオードなどのように、ガラスなど
によつて絶縁分離された半導体ペレツトの主面
に、熱応力緩衝材をろう付けさせ、また同時に外
部端子取出し用電極をろう付けさせて構成する半
導体ベーシツクエレメントを有する樹脂封止形半
導体装置において、熱応力緩衝材の主面のみにメ
ツキを施し、側面にはメツキを施さないようにし
たので、ろう付けの際のろう材の流れ出しを抑制
でき、これによつて半導体ペレツトの割れ等の低
減、特性劣化の防止、さらには信頼性の向上を図
ることができ、装置の製造歩留り向上に寄与する
ところ大である。
ベーシヨンダイオードなどのように、ガラスなど
によつて絶縁分離された半導体ペレツトの主面
に、熱応力緩衝材をろう付けさせ、また同時に外
部端子取出し用電極をろう付けさせて構成する半
導体ベーシツクエレメントを有する樹脂封止形半
導体装置において、熱応力緩衝材の主面のみにメ
ツキを施し、側面にはメツキを施さないようにし
たので、ろう付けの際のろう材の流れ出しを抑制
でき、これによつて半導体ペレツトの割れ等の低
減、特性劣化の防止、さらには信頼性の向上を図
ることができ、装置の製造歩留り向上に寄与する
ところ大である。
第1図はこの発明の一実施例による樹脂封止形
半導体装置の半導体ベーシツクエレメントのろう
付け部の拡大図、第2図は従来例による樹脂封止
形半導体装置の概略構成を示す要部断面図、第3
図は上記従来例の半導体ベーシツクエレメントの
ろう付け部の拡大図である。 1……半導体ペレツト、15,16……熱応力
緩衝材、4……外部端子取出し用電極、5,6…
…外部端子、7……放熱ベース、8……絶縁基
板、9……ケース、10……エポキシ樹脂、1
1,12,13……ろう材。
半導体装置の半導体ベーシツクエレメントのろう
付け部の拡大図、第2図は従来例による樹脂封止
形半導体装置の概略構成を示す要部断面図、第3
図は上記従来例の半導体ベーシツクエレメントの
ろう付け部の拡大図である。 1……半導体ペレツト、15,16……熱応力
緩衝材、4……外部端子取出し用電極、5,6…
…外部端子、7……放熱ベース、8……絶縁基
板、9……ケース、10……エポキシ樹脂、1
1,12,13……ろう材。
Claims (1)
- 1 ガラスパツシベーシヨンを施した半導体ペレ
ツトと、該半導体ペレツトの主面にろう付けされ
た熱応力緩衝材と、該熱応力緩衝材にろう付けさ
れた外部端子取出し用電極とを備えた半導体ベー
シツクエレメントを有する樹脂封止形半導体装置
において、前記熱応力緩衝材はその主面のみにメ
ツキが施されていることを特徴とする樹脂封止形
半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60018361A JPS61177754A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 樹脂封止形半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60018361A JPS61177754A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 樹脂封止形半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61177754A JPS61177754A (ja) | 1986-08-09 |
JPH0353780B2 true JPH0353780B2 (ja) | 1991-08-16 |
Family
ID=11969552
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60018361A Granted JPS61177754A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 樹脂封止形半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61177754A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4569423B2 (ja) * | 2005-08-31 | 2010-10-27 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置の製造方法 |
JP2011003832A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Nippon Inter Electronics Corp | パワー半導体モジュール |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4875902B2 (ja) * | 2006-02-08 | 2012-02-15 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置 |
-
1985
- 1985-01-31 JP JP60018361A patent/JPS61177754A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4569423B2 (ja) * | 2005-08-31 | 2010-10-27 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置の製造方法 |
JP2011003832A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Nippon Inter Electronics Corp | パワー半導体モジュール |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61177754A (ja) | 1986-08-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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EXPY | Cancellation because of completion of term |