JPH0353184Y2 - - Google Patents
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- JPH0353184Y2 JPH0353184Y2 JP3954785U JP3954785U JPH0353184Y2 JP H0353184 Y2 JPH0353184 Y2 JP H0353184Y2 JP 3954785 U JP3954785 U JP 3954785U JP 3954785 U JP3954785 U JP 3954785U JP H0353184 Y2 JPH0353184 Y2 JP H0353184Y2
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- Japan
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- insulator
- electrodes
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- contamination
- insulators
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- Expired
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Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Insulators (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は発電所、変電所等の碍子に付着する塩
分量を正確に把握するための湿潤式碍子汚損測定
器に用いられる汚損測定用パイロツト碍子の改良
に関するものである。
分量を正確に把握するための湿潤式碍子汚損測定
器に用いられる汚損測定用パイロツト碍子の改良
に関するものである。
（従来の技術）
碍子表面に付着する塩分量の測定は、通常はパ
イロツト碍子の表面の塩分を蒸留水に溶解させて
その電導度を測定する洗浄式碍子汚損測定器によ
つて行われるが、この場合には測定の都度パイロ
ツト碍子の表面は洗浄されるため、長時間の汚損
量の累積値がどのような変化を示すかを知るため
には多数のパイロツト碍子が必要となる。そこで
パイロツト碍子に付着した塩分が流下しない程度
の湿潤を与えたうえ、碍子表面に電圧を印加して
電極間の洩れ電流を測定する湿潤式碍子汚損測定
器が考案され、一部に使用されている。ところ
が、長時間曝露された汚損されたパイロツト碍子
の表面は撥水性を示すため、湿潤を与えても碍子
表面に結露した水は独立した微小な水滴となり、
水滴の不連続部の抵抗が非常に大となるので電圧
を印加してもほとんど電流が流れず、正確な汚損
の測定ができない欠点があつた。また、このよう
な欠点を解消するために碍子表面に微小間隔で多
数の電極を設け、水滴がいずれかの点において必
らず電極間にまたがつて付着するようにして汚損
量に応じた電流が流れるようにしたパイロツト碍
子も考案されているが、このパイロツト碍子の表
面は本来の碍子の釉薬面とは大幅に異なつたもの
となり、塩分の付着度合が同一性を失うので汚損
量の測定精度が悪くなる欠点があつた。
イロツト碍子の表面の塩分を蒸留水に溶解させて
その電導度を測定する洗浄式碍子汚損測定器によ
つて行われるが、この場合には測定の都度パイロ
ツト碍子の表面は洗浄されるため、長時間の汚損
量の累積値がどのような変化を示すかを知るため
には多数のパイロツト碍子が必要となる。そこで
パイロツト碍子に付着した塩分が流下しない程度
の湿潤を与えたうえ、碍子表面に電圧を印加して
電極間の洩れ電流を測定する湿潤式碍子汚損測定
器が考案され、一部に使用されている。ところ
が、長時間曝露された汚損されたパイロツト碍子
の表面は撥水性を示すため、湿潤を与えても碍子
表面に結露した水は独立した微小な水滴となり、
水滴の不連続部の抵抗が非常に大となるので電圧
を印加してもほとんど電流が流れず、正確な汚損
の測定ができない欠点があつた。また、このよう
な欠点を解消するために碍子表面に微小間隔で多
数の電極を設け、水滴がいずれかの点において必
らず電極間にまたがつて付着するようにして汚損
量に応じた電流が流れるようにしたパイロツト碍
子も考案されているが、このパイロツト碍子の表
面は本来の碍子の釉薬面とは大幅に異なつたもの
となり、塩分の付着度合が同一性を失うので汚損
量の測定精度が悪くなる欠点があつた。
（考案が解決しようとする問題点）
本考案はこのような従来の問題点を解決して、
碍子表面を実際の碍子と同様の釉薬面としたまま
で付着塩分量に応じた洩れ電流を確実に電極間に
流すことができ、これによつて碍子表面の汚損を
正確に測定することを可能とした汚損測定用パイ
ロツト碍子を目的として完成されたものである。
碍子表面を実際の碍子と同様の釉薬面としたまま
で付着塩分量に応じた洩れ電流を確実に電極間に
流すことができ、これによつて碍子表面の汚損を
正確に測定することを可能とした汚損測定用パイ
ロツト碍子を目的として完成されたものである。
（問題点を解決するための手段）
本考案は碍子表面に汚損測定用の電極を適当な
間隔で設けるとともに、碍子表面の少なくとも電
極間の部分を半導電性の釉薬が施釉された半導電
部としたことを特徴とするものである。
間隔で設けるとともに、碍子表面の少なくとも電
極間の部分を半導電性の釉薬が施釉された半導電
部としたことを特徴とするものである。
次に本考案を図面を参照しつつ更に詳細に説明
すれば、第１図において１はパイロツト碍子の碍
子本体であり、その碍子表面には汚損測定用の電
極２，２が適当な間隔で設けられている。電極
２，２は例えば碍子表面に金属線を焼付けたもの
とすることができる。３は碍子表面のうち、少く
とも電極２，２間の部分に形成された半導電部で
あり、この半導電部３は例えば酸化錫、酸化鉄の
ような半導電性の酸化金属微粉末が混入された釉
薬を施釉することによつて形成されている。な
お、電極２及び半導電部３の配置については種々
の変形が可能であり、同一の笠上に電極２を配置
して局部的に半導電部３を設けてもよく、あるい
は数枚の笠を隔てて電極２を設け、その間の笠全
体を半導電部３としてもよい。
すれば、第１図において１はパイロツト碍子の碍
子本体であり、その碍子表面には汚損測定用の電
極２，２が適当な間隔で設けられている。電極
２，２は例えば碍子表面に金属線を焼付けたもの
とすることができる。３は碍子表面のうち、少く
とも電極２，２間の部分に形成された半導電部で
あり、この半導電部３は例えば酸化錫、酸化鉄の
ような半導電性の酸化金属微粉末が混入された釉
薬を施釉することによつて形成されている。な
お、電極２及び半導電部３の配置については種々
の変形が可能であり、同一の笠上に電極２を配置
して局部的に半導電部３を設けてもよく、あるい
は数枚の笠を隔てて電極２を設け、その間の笠全
体を半導電部３としてもよい。
（作用）
このように構成されたものは、湿潤式碍子汚損
測定器に取付けて使用されるものであり、実際の
碍子と同様の自然条件下に曝露されたうえで定期
的に蒸気室等において湿潤され、図示のように碍
子表面に水滴１０を結露させた状態において方面
の碍子汚損測用の電極２，２間に電圧を印加して
電極間の洩れ電流あるいは抵抗値を測定する。測
定の際には水滴１０は独立した微小な水滴とな
り、不連続部が生ずることは従来のパイロツト碍
子と同様であるが、本考案においては碍子表面の
少くとも電極２，２間の部分が半導電部３とされ
ているので、第２図の等価回路図に示すように電
極２，２間には水滴によりイオン化された部分の
抵抗低下に応じた有限の抵抗Ｒ１が形成され、碍
子本体の非常に大きい抵抗Ｒ２との並列抵抗回路
となる。この抵抗Ｒ１は碍子表面の塩分量に応じ
て変化するので、汚損は正確に測定されることと
なり、しかも電極２，２間の碍子表面は釉薬によ
り施釉されているので、その表面状態は実際の碍
子と全く異なるところはなく、実際の碍子と同一
の汚損を生じさせることができるものである。
測定器に取付けて使用されるものであり、実際の
碍子と同様の自然条件下に曝露されたうえで定期
的に蒸気室等において湿潤され、図示のように碍
子表面に水滴１０を結露させた状態において方面
の碍子汚損測用の電極２，２間に電圧を印加して
電極間の洩れ電流あるいは抵抗値を測定する。測
定の際には水滴１０は独立した微小な水滴とな
り、不連続部が生ずることは従来のパイロツト碍
子と同様であるが、本考案においては碍子表面の
少くとも電極２，２間の部分が半導電部３とされ
ているので、第２図の等価回路図に示すように電
極２，２間には水滴によりイオン化された部分の
抵抗低下に応じた有限の抵抗Ｒ１が形成され、碍
子本体の非常に大きい抵抗Ｒ２との並列抵抗回路
となる。この抵抗Ｒ１は碍子表面の塩分量に応じ
て変化するので、汚損は正確に測定されることと
なり、しかも電極２，２間の碍子表面は釉薬によ
り施釉されているので、その表面状態は実際の碍
子と全く異なるところはなく、実際の碍子と同一
の汚損を生じさせることができるものである。
なお、抵抗Ｒ１は温度によつて変化するので、
一定温度における抵抗値に補正する必要があり、
このために碍子表面に温度センサーを接触させて
温度測定を行つてもよいが、碍子表面に汚損物が
付着しないよう絶縁被膜を形成して、その下面に
電極を設け、電極間の半導電部の抵抗値変化のみ
を検出して温度を求めることも可能である。
一定温度における抵抗値に補正する必要があり、
このために碍子表面に温度センサーを接触させて
温度測定を行つてもよいが、碍子表面に汚損物が
付着しないよう絶縁被膜を形成して、その下面に
電極を設け、電極間の半導電部の抵抗値変化のみ
を検出して温度を求めることも可能である。
（考案の効果）
本考案は以上の説明からも明らかなように、碍
子方面を実際の碍子と同様の釉薬面としたままで
付着塩分量に応じた洩れ電流を電極間に流すこと
ができるものであるから、実際の碍子表面の汚損
を的確に把握するのに適したものである。よつて
本考案の汚損測定用パイロツト碍子は湿潤式碍子
汚損測定器の測定部として優れたものであり、そ
の実用的価値は極めて大である。
子方面を実際の碍子と同様の釉薬面としたままで
付着塩分量に応じた洩れ電流を電極間に流すこと
ができるものであるから、実際の碍子表面の汚損
を的確に把握するのに適したものである。よつて
本考案の汚損測定用パイロツト碍子は湿潤式碍子
汚損測定器の測定部として優れたものであり、そ
の実用的価値は極めて大である。
第１図は本考案の汚損測定用パイロツト碍子の
要部を示す拡大断面図、第２図はその等価回路図
である。 ２：電極、３：半導電部。
要部を示す拡大断面図、第２図はその等価回路図
である。 ２：電極、３：半導電部。
Claims (1)
- 碍子表面に汚損測定用の電極２を適当な間隔で
設けるとともに、碍子表面の少なくとも電極２，
２間の部分を半導電性の釉薬が施釉された半導電
部３としたことを特徴とする汚損測定用パイロツ
ト碍子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3954785U JPH0353184Y2 (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3954785U JPH0353184Y2 (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61155772U JPS61155772U (ja) | 1986-09-27 |
| JPH0353184Y2 true JPH0353184Y2 (ja) | 1991-11-20 |
Family
ID=30547592
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3954785U Expired JPH0353184Y2 (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0353184Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-03-19 JP JP3954785U patent/JPH0353184Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61155772U (ja) | 1986-09-27 |
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