JPH03491A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置

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JPH03491A
JPH03491A JP1130189A JP13018989A JPH03491A JP H03491 A JPH03491 A JP H03491A JP 1130189 A JP1130189 A JP 1130189A JP 13018989 A JP13018989 A JP 13018989A JP H03491 A JPH03491 A JP H03491A
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JP
Japan
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laser
laser beam
polarizing plate
faraday element
workpiece
Prior art date
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Pending
Application number
JP1130189A
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English (en)
Inventor
Noboru Nakano
昇 中野
Naoki Kubota
尚樹 久保田
Yoshihisa Miyazaki
宮崎 善久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
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Publication date
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Publication of JPH03491A publication Critical patent/JPH03491A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、レーザ加工装置に関する。
〈従来の技術〉 近年、レーザビームを用いた加工装置は、非接触で高い
パワー密度を有しており、かつ制御性が優れていること
などから、鋼板や非鉄金属などの金属材料はいうまでも
なく半導体や電子部品、セラミックなどの非金属材料に
いたる広範な分野にわたって、それらの除去加工や溶接
加工さらには表面改質加工などに利用されている。
従来のレーザ加工装置に用いられるレーザ発振装置は、
例えば第3図に示すように、全反射鏡lと出力鏡2とか
らなるレーザ共振器内に、Qスイッチ素子3と複数のラ
ンプハウス4,4・・・を同一光軸上に配置するように
して構成されており、そのレーザ発振装置5から出力さ
れるレーザビームは、出力鏡2を介して被加工物6に照
射される。
なお、集光レンズ7は、レーザ光強度を高めるために必
要に応じて用いられる。
〈発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、上記のように配列されたレーザ加工装置
を用いて被加工物6にレーザビームを照射する場合は、
被加工物6を置かないときに比べてその集光特性が落ち
、出力エネルギーあるいは出力パワーが不安定になるな
どの問題があった。
本発明者らがそれらの原因を調査したところ、被加工物
6からの戻り光が大きいため、出力鏡2を無視して全反
射鏡1と被加工物6との間で発振現象を生じていること
が判明した。この発振現象の傾向は、集光レンズ7を用
いた場合に特に顕著であることも分かった。
本発明は、上記のような課題を解決すべくしてなされた
ものであって、被加工物との間の相互作用をなくしたレ
ーザ加工装置を提供することを目的とする。
く課題を解決するための手段〉 本発明は、全反射鏡と出力鏡とからなるレーザ共振器内
にランプハウスを配したレーザ発振装置を被加工物に相
対して設置してなるレーザ加工装置において、前記レー
ザ発振装置の出力鏡と前記被加工物との間に戻り光除去
装置を設けたことを特徴とするレーザ加工装置である。
〈作 用〉 本発明によれば、レーザ発振装置の出力鏡と被加工物と
の間に設けたファラデー素子などの戻り光除去装置によ
って、被加工物からの戻り光を光学的に分離することが
できるから、これによってレーザ発振装置と被加工物と
の間の相互作用を阻止することができる。したがって、
レーザ加工装置の本来有する性能を維持することができ
る。
〈実施例〉 以下に、本発明の実施例について説明する。
〔実施例■〕
第1図は、本発明に係るレーザ加工装置の第1実施例の
構成を示す模式図である。なお、図中において、従来例
と同一の物は、同一の符号を付して説明を省略する。
図に示すように、本実施例のレーザ加工装置は、レーザ
発振装置5の出力鏡2と集光レンズ7との間に、偏光板
8とファラデー素子9とからなる戻り光除去装置10が
同一光軸上に配列して構成される。なお、ランプハウス
4の設置台数は2台とすこのように戻り光除去装置10
を配列にすることによって、レーザ発振装置5の出力1
12から出力されるレーザビームが偏光板8とファラデ
ー素子9を通って被加工物6に照射され、また偏光板8
に戻ってくる被加工物6からの戻り光はファラデー素子
9によって偏光面が90°回転し、この光は偏光板8に
より反射されるため、偏光板8を通過してレーザ発振装
置5に到達することができない。
したがって、レーザ発振装置5の全反射鏡lと被加工物
6との間の相互作用によって生じる発振現象を阻止する
ことができる。
レーザ発振装置5として、Nd;YAGレーザの不安定
共振器に光音響素子を用いてQスイッチをかけピーク出
力を数kWとした平均出力60Wのレーザ加工装置を用
いて被加工物6に照射した。特に図示しないが、出力光
の偏光面を決めるために、レーザ共振器内に別個に偏光
板を置いてもよい。
その結果、戻り光除去装置10を用いない従来例では、
ビーム広がり角が10mrad、集光径が2fflll
と悪い値であったのに対し、戻り光除去装置10として
偏光板8とファラデー素子9を配置した本実施例では、
ビーム広がり角がI mrad以下、集光径が200μ
mとなり、それぞれ1/10程度に改善された。
このビーム広がり角1 mradの値は、Nd;YAG
レーザ固有の性能である。
なお、本実施例ではQスイッチ素子3を用いるとして説
明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、Q
スイッチ素子3がなくても同様の結果を得ることができ
たことが41 tvされている。
また、レーザ発振装置5にはランプハウス3を2台備え
るとしたが、本発明はこれに限定されるものではなく、
ランプハウス3は1台でもあるいは2台以上であっても
構わない。
さらに、レーザ共振器の形式として不安定型を用いると
したが、安定型であっても同様の性能を得ることが確認
されている。
さらにまた、レーザ発振袋W5の型式としては、固体レ
ーザ物質、固体レーザあるいはガスレーザなどいずれの
型式であっても構わない。
〔実施例■〕
第2図は、本発明の第2実施例の構成を示す模式図であ
る。
図に示すように、本実施例のレーザ加工装置における戻
り光除去装置O’としては、第1実施例のファラデー素
子9の代わりにλ/4波長板11を設けて構成される。
また、レーザ発振装置5内のQスイッチ素子3とランプ
ハウス4との間にもう一つの偏光板12を配置される。
この偏光板12によって、偏光板8を通過可能なレーザ
ビームを効率よく出力される。なお、本実施例では、ラ
ンプハウス4は1台設置した。
また、本実施例に用いる出力鏡2の特性としては、レー
ザビームの透過率が中心から周囲方向へいくにつれて低
くなるようにする。これによって出力ビームパターンの
よいものを得ることができる。具体的には、例えば中心
での透過率が90%とし、その周回では80%とする。
このような戻り光除去装置10’を配列にすることによ
って、レーザ発振装置5の出力鏡2から出力されるレー
ザビームが偏光板8とλ/4波長板11を通って被加工
物6に照射され、また偏光板8に戻ってくる光はλ/4
波長vi11によって偏光面が90°回転するため、偏
光板8を通過してレーザ発振装置5に到達することがで
きない、したがって、実施例Iと同様にレーザ発振装置
5の全反射鏡lと被加工物6との間の相互作用によって
生じる発振現象を阻止することができる。
レーザ発振装置5として、安定共振器Nd;YAGレー
ザに光音響素子を用いてQスイッチをかけピーク出力を
数kWとした平均出力50Wのレーザ加工装置を用いて
被加工物6を加工した。
その結果、戻り光除去装置10′を用いない従来例では
ビームの集光径が400μ蒙と悪い値であフたのに対し
、偏光板8とλ/4波長板11を配置した本実施例では
ビームの集光径が200μ翔となり、1/2に改善され
た。この集光特性の値は、Nd;YACレーザ装置の理
論的な性能に近いものである。
なお、上記実施例においてランプハウス4の設置台数は
1台ないし2台として説明したが、本発明はランプハウ
スの台数に制約されるものではない。
〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によれば、戻り光除去装置
を設けるようにしたので、被加工物からの戻り光を光学
的に分離することができ、これによってレーザ発振装置
の木来有する性能を維持することが可能となり、レーザ
加工分野にもたらす効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係るレーザ加工装置の第1実施例の
構成を示す模式図、第2図は、本発明に係るレーザ加工
装置の第2実施例の構成を示す模式図、第3図は、従来
例の構成を示す模式図である。 9・・・ファラデー素子 11・・・λ/4波長板。 lO・・・戻り光除去装置 1・・・全反射鏡1.   2・・・出力鏡。 3・・・Qスイッチ素子、  4・・・ランプハウス5
・・・レーザ発振装置、  6・・・被加工物。 7・・・集光レンズ、     8.12・・・偏光板

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、全反射鏡と出力鏡とからなるレーザ共振器内にラン
    プハウスを配したレーザ発振装置を被加工物に相対して
    設置してなるレーザ加工装置において、前記レーザ発振
    装置の出力鏡と前記被加工物との間に戻り光除去装置を
    設けたことを特徴とするレーザ加工装置。 2、前記戻り光除去装置は偏光板とファラデー素子とか
    らなることを特徴とする請求項1記載のレーザ加工装置
    。 3、前記ファラデー素子の代わりにλ/4波長板を用い
    たことを特徴とする請求項2記載のレーザ加工装置。
JP1130189A 1989-05-25 1989-05-25 レーザ加工装置 Pending JPH03491A (ja)

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JP1130189A JPH03491A (ja) 1989-05-25 1989-05-25 レーザ加工装置

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JP1130189A JPH03491A (ja) 1989-05-25 1989-05-25 レーザ加工装置

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JPH03491A true JPH03491A (ja) 1991-01-07

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JP1130189A Pending JPH03491A (ja) 1989-05-25 1989-05-25 レーザ加工装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007017363A1 (de) * 2007-04-03 2008-10-16 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Bearbeitung von Bauteilen

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007017363A1 (de) * 2007-04-03 2008-10-16 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Bearbeitung von Bauteilen
DE102007017363B4 (de) * 2007-04-03 2010-09-16 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Bearbeitung von Bauteilen

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