JPH0346333Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0346333Y2 JPH0346333Y2 JP7333283U JP7333283U JPH0346333Y2 JP H0346333 Y2 JPH0346333 Y2 JP H0346333Y2 JP 7333283 U JP7333283 U JP 7333283U JP 7333283 U JP7333283 U JP 7333283U JP H0346333 Y2 JPH0346333 Y2 JP H0346333Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ferromagnetic thin
- thin film
- detection
- magnetic sensor
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 79
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 claims description 77
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 71
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 43
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 41
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 5
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 5
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- QXZUUHYBWMWJHK-UHFFFAOYSA-N [Co].[Ni] Chemical compound [Co].[Ni] QXZUUHYBWMWJHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000005405 multipole Effects 0.000 description 2
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000914 Mn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008642 heat stress Effects 0.000 description 1
- UGKDIUIOSMUOAW-UHFFFAOYSA-N iron nickel Chemical compound [Fe].[Ni] UGKDIUIOSMUOAW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- ZAUUZASCMSWKGX-UHFFFAOYSA-N manganese nickel Chemical compound [Mn].[Ni] ZAUUZASCMSWKGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- BSIDXUHWUKTRQL-UHFFFAOYSA-N nickel palladium Chemical compound [Ni].[Pd] BSIDXUHWUKTRQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 229910052596 spinel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011029 spinel Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
考案の背景
技術分野
本考案は、磁気センサに関する。さらに詳しく
は、モーター等の回転を検出するために、着磁さ
れた回転子の回転周上に配置される磁気センサに
関する。
は、モーター等の回転を検出するために、着磁さ
れた回転子の回転周上に配置される磁気センサに
関する。
先行技術とその問題点
基板上に、パーマロイ等の強磁性薄膜をパター
ン状に形成し、磁気抵抗効果により、外部磁場に
よる抵抗の変化で磁気信号を検出するMR素子を
用いた磁気センサが知られている。
ン状に形成し、磁気抵抗効果により、外部磁場に
よる抵抗の変化で磁気信号を検出するMR素子を
用いた磁気センサが知られている。
このような磁気センサを、外周を多極着磁した
円形回転子の回転周上に配置すれば、回転数を検
出することができる。
円形回転子の回転周上に配置すれば、回転数を検
出することができる。
そして、基板上に強磁性薄膜を2つ配置して、
基板を回転子の円周部厚さ方向と対向させれば、
両者の信号の位相差により、回転数とともに、回
転方向も検知することができる。
基板を回転子の円周部厚さ方向と対向させれば、
両者の信号の位相差により、回転数とともに、回
転方向も検知することができる。
さらに、これら1つ以上の強磁性薄膜を主検知
用とし、さらに主検知用の強磁性薄膜と対応する
副検知用の強磁性薄膜を設ければ、抵抗の温度補
償や、外部磁場のキヤンセルを行うことができ、
検出精度が向上する。
用とし、さらに主検知用の強磁性薄膜と対応する
副検知用の強磁性薄膜を設ければ、抵抗の温度補
償や、外部磁場のキヤンセルを行うことができ、
検出精度が向上する。
しかし、このような平板状基板の表面に強磁性
薄膜を形成する場合には、検出信号をとりだすた
めのリード体を、強磁性薄膜の上部、回転子側か
ら接続しなければならない。このため、磁気セン
サと回転子との距離をある程度はなさなくてはな
らない。ところが、回転子からのフラツクスは、
回転子からの距離がはなれるに従い急激に減少し
てしまう。このため、検出感度が極端に低くなつ
てしまう。
薄膜を形成する場合には、検出信号をとりだすた
めのリード体を、強磁性薄膜の上部、回転子側か
ら接続しなければならない。このため、磁気セン
サと回転子との距離をある程度はなさなくてはな
らない。ところが、回転子からのフラツクスは、
回転子からの距離がはなれるに従い急激に減少し
てしまう。このため、検出感度が極端に低くなつ
てしまう。
他方、このような感度の減少を防止するために
は、回転子に比較して大きな素子を用い、回転子
からはなれた位置で、リード体を接続すればよい
が、このときセンサ面の面積は、きわめて大面積
化してしまい、センサのコスト高、組み込む装置
の大型化等の点から好ましくない。
は、回転子に比較して大きな素子を用い、回転子
からはなれた位置で、リード体を接続すればよい
が、このときセンサ面の面積は、きわめて大面積
化してしまい、センサのコスト高、組み込む装置
の大型化等の点から好ましくない。
考案の目的
本考案の主たる目的は、回転子との間隙をきわ
めて小さくすることができ、しかもセンサ面の面
積をきわめて小さくすることのできる、主検知用
と副検知用の強磁性薄膜を具えた磁気センサを提
供することにある。
めて小さくすることができ、しかもセンサ面の面
積をきわめて小さくすることのできる、主検知用
と副検知用の強磁性薄膜を具えた磁気センサを提
供することにある。
このような目的は、下記の本考案によつて達成
される。
される。
すなわち本考案は、
第1の基板の表面の一部に凸部を設け、この凸
部および凸部以外の領域に亘つて、少なくとも1
つの強磁性薄膜を有する主検知用の強磁性薄膜部
を設け、第1の基板表面の凸部頂面以外の領域に
位置する各強磁性薄膜にリード体が接続可能に構
成された主検知部と、第2の基板の表面に、少な
くとも1つの強磁性薄膜を有する副検知用の強磁
性薄膜部を設けてなる副検知部とを、主検知用の
強磁性薄膜部が外表面に位置するように積層して
一体化してなることを特徴とする磁気センサであ
る。
部および凸部以外の領域に亘つて、少なくとも1
つの強磁性薄膜を有する主検知用の強磁性薄膜部
を設け、第1の基板表面の凸部頂面以外の領域に
位置する各強磁性薄膜にリード体が接続可能に構
成された主検知部と、第2の基板の表面に、少な
くとも1つの強磁性薄膜を有する副検知用の強磁
性薄膜部を設けてなる副検知部とを、主検知用の
強磁性薄膜部が外表面に位置するように積層して
一体化してなることを特徴とする磁気センサであ
る。
考案の具体的構成
以下、本考案の具体的構成について詳細に説明
する。
する。
第1図〜第4図には本考案の実施例が示され
る。
る。
これらの例に示されるように、本考案の磁気セ
ンサ1は、第1の基板2の一面上に、少なくとも
1つ(図示では2つ)の強磁性薄膜31,32を
有する主検知部11と、第2の基板20の一面上
に、少なくとも1つ(図示では2つ)の強磁性薄
膜301,302を有する副検知部110とを有
する。
ンサ1は、第1の基板2の一面上に、少なくとも
1つ(図示では2つ)の強磁性薄膜31,32を
有する主検知部11と、第2の基板20の一面上
に、少なくとも1つ(図示では2つ)の強磁性薄
膜301,302を有する副検知部110とを有
する。
この場合、第1の基板2および第2の基板20
は、非磁性、電気絶縁性の材質から、通常、矩形
状の平板状とされる。基板材質としては、各種ガ
ラス、結晶化ガラス、サフアイヤ、アルミナ、ス
ピネル等のセラミクス、グレーズドセラミクス等
が使用できる。
は、非磁性、電気絶縁性の材質から、通常、矩形
状の平板状とされる。基板材質としては、各種ガ
ラス、結晶化ガラス、サフアイヤ、アルミナ、ス
ピネル等のセラミクス、グレーズドセラミクス等
が使用できる。
このような基板のうち、第1の基板2の表面
(強磁性薄膜部形成面)の一部、特に中央部には、
凸部21が形成される。
(強磁性薄膜部形成面)の一部、特に中央部には、
凸部21が形成される。
凸部21は、通常、第1の基板2の表面の中央
部に設けられ、0.02〜2mm、より好ましくは0.05
〜1mm程度の高さとされる。
部に設けられ、0.02〜2mm、より好ましくは0.05
〜1mm程度の高さとされる。
これにより、後述のリード体65,67等を凸
部頂面以外の領域にて各強磁性薄膜31,32,
301,302と接続すれば、磁気センサ1表面
にリード体65,67等は突出しない(第4図参
照)ので、磁気センサ1を回転子Rに極力近づけ
ることができる。
部頂面以外の領域にて各強磁性薄膜31,32,
301,302と接続すれば、磁気センサ1表面
にリード体65,67等は突出しない(第4図参
照)ので、磁気センサ1を回転子Rに極力近づけ
ることができる。
このような場合、凸部21は、平坦な頂面と、
この頂面と底部平坦面とに連接するテーパー面と
から形成することが好ましい。
この頂面と底部平坦面とに連接するテーパー面と
から形成することが好ましい。
これにより、強磁性薄膜の被着が容易かつ確実
となり、断線等の発生が少なくなり、かつセンサ
面の大型化も回避できる。
となり、断線等の発生が少なくなり、かつセンサ
面の大型化も回避できる。
この場合、テーパー面が底部平坦面となす角度
は、20〜80゜、より好ましくは30〜60゜であること
が好ましい。
は、20〜80゜、より好ましくは30〜60゜であること
が好ましい。
さらに、このテーパー面と底部平坦面との連接
部、およびテーパー面と平坦頂面との連接部は、
丸みを帯び、実質的に稜線がなく、曲率をもつて
いることが好ましい。
部、およびテーパー面と平坦頂面との連接部は、
丸みを帯び、実質的に稜線がなく、曲率をもつて
いることが好ましい。
これにより、製造時の断線や、使用や保存にお
ける熱ストレスによる断線、抵抗劣化等がきわめ
て少なくなる。
ける熱ストレスによる断線、抵抗劣化等がきわめ
て少なくなる。
なお、第1の基板2および第2の基板20の寸
法、厚さ等には特に制限はないが、厚さは、通
常、0.1〜3mm程度とされる。この場合、第2の
基板20の表面は平坦とし、また、特に、後述の
ように副検知部110の強磁性薄膜301,30
2と第1の基板2とが接するように積層するとき
には、第2の基板20を第1の基板2より大きく
する。
法、厚さ等には特に制限はないが、厚さは、通
常、0.1〜3mm程度とされる。この場合、第2の
基板20の表面は平坦とし、また、特に、後述の
ように副検知部110の強磁性薄膜301,30
2と第1の基板2とが接するように積層するとき
には、第2の基板20を第1の基板2より大きく
する。
また、第1の基板2の凸部21の形成は、ウエ
ツトエツチングや、切削加工によればよい。そし
て、テーパー面の連接部を丸めるには、ウエツト
エツチングや、加工後の軟化処理等によればよ
い。
ツトエツチングや、切削加工によればよい。そし
て、テーパー面の連接部を丸めるには、ウエツト
エツチングや、加工後の軟化処理等によればよ
い。
他方、総計2つ以上の強磁性薄膜31,32,
301,302は、ニツケル、パーマロイ等のニ
ツケル−鉄合金、ニツケル−コバルト合金、鉄−
ニツケル−コバルト合金、ニツケル−パラジウム
合金、ニツケル−マンガン合金等の強磁性材料か
ら形成される。
301,302は、ニツケル、パーマロイ等のニ
ツケル−鉄合金、ニツケル−コバルト合金、鉄−
ニツケル−コバルト合金、ニツケル−パラジウム
合金、ニツケル−マンガン合金等の強磁性材料か
ら形成される。
そして、強磁性薄膜31,32,301,30
2は、第1の基板2ないし第2の基板20の一面
上に、所定のパターンおよび配置にて形成され
る。
2は、第1の基板2ないし第2の基板20の一面
上に、所定のパターンおよび配置にて形成され
る。
すなわち、通常は、所定の巾をもつ細条状に形
成された検知部分311,321,3011,3
021と、この検知部分311,321,301
1,3021に連接し、リード体65,67等と
接続する電極部分315,317,325,32
7,3015,3017,3025,3027と
からなる形状とされる。
成された検知部分311,321,3011,3
021と、この検知部分311,321,301
1,3021に連接し、リード体65,67等と
接続する電極部分315,317,325,32
7,3015,3017,3025,3027と
からなる形状とされる。
このような場合、主検知部11の強磁性薄膜3
1,32、そして副検知部110の強磁性薄膜3
01,302は、検知部分311,321,30
11,3021の抵抗値と、検知部分311,3
21,3011,3021の細条巾とから、100
〜4000Å、特に200〜2000Åの厚さとされる。
1,32、そして副検知部110の強磁性薄膜3
01,302は、検知部分311,321,30
11,3021の抵抗値と、検知部分311,3
21,3011,3021の細条巾とから、100
〜4000Å、特に200〜2000Åの厚さとされる。
検知部分の抵抗値は20〜20KΩ、特に50〜
10KΩ程度とされるが、細条巾は5〜100μm、特
に5〜50μm程度としないと製造が困難となり、
このとき厚さは上記の値となるからである。
10KΩ程度とされるが、細条巾は5〜100μm、特
に5〜50μm程度としないと製造が困難となり、
このとき厚さは上記の値となるからである。
なお、主検知部11の強磁性薄膜の検知部分3
11,321、そして副検知部110の強磁性薄
膜の検知部分3011,3021の細条長さは
0.1〜10mm、特に0.2〜5mmが好適である。
11,321、そして副検知部110の強磁性薄
膜の検知部分3011,3021の細条長さは
0.1〜10mm、特に0.2〜5mmが好適である。
そして、主検知部11の強磁性薄膜31,32
は、底部平坦面から、凸部21のテーパー面、頂
面およびテーパー面を経て、底部平坦面に亘つて
形成される。
は、底部平坦面から、凸部21のテーパー面、頂
面およびテーパー面を経て、底部平坦面に亘つて
形成される。
そして、その検知部分311,321は、凸部
21の平坦頂面上に形成される。また、電極部分
315,317,325,327は、通常、底部
平坦面上に形成され、この平坦面上にて、リード
体65,67等と接続する。
21の平坦頂面上に形成される。また、電極部分
315,317,325,327は、通常、底部
平坦面上に形成され、この平坦面上にて、リード
体65,67等と接続する。
なお、図示のように、主検知部11の強磁性薄
膜31,32の検知部分311,321が底部平
坦面まで延長されていても、逆に電極部分31
5,317,325,327が頂面まで延長され
ていてもよい。
膜31,32の検知部分311,321が底部平
坦面まで延長されていても、逆に電極部分31
5,317,325,327が頂面まで延長され
ていてもよい。
このような主検知部11の強磁性薄膜は、1つ
のみから構成して回転速度を検出するようにして
もよいが、通常は2つ以上、特に、図示のように
2つの主検知用の強磁性薄膜を設けて、回転速度
と回転方向とを検出するようにされる。
のみから構成して回転速度を検出するようにして
もよいが、通常は2つ以上、特に、図示のように
2つの主検知用の強磁性薄膜を設けて、回転速度
と回転方向とを検出するようにされる。
これら主検知部11の強磁性薄膜31,32
は、互いに平行に配列される。
は、互いに平行に配列される。
この場合、その間隙は10〜2000μm、特に50〜
1000μmとされる。
1000μmとされる。
このとき、通常のサイズの回転子と組合わせ
て、きわめて良好な検知信号をうることができ
る。
て、きわめて良好な検知信号をうることができ
る。
これに対し、副検知部110の強磁性薄膜30
1,302は、通常、主検知部11の強磁性薄膜
31,32と対応した数にて設けられ、2つ以上
設けられるとき、互いに平行に配列される。た
だ、これらの間隙は任意であつてもよいが、通常
は、主検知部11の強磁性薄膜と同一とし、しか
も図示のように強磁性薄膜31,32の下方に配
置する。
1,302は、通常、主検知部11の強磁性薄膜
31,32と対応した数にて設けられ、2つ以上
設けられるとき、互いに平行に配列される。た
だ、これらの間隙は任意であつてもよいが、通常
は、主検知部11の強磁性薄膜と同一とし、しか
も図示のように強磁性薄膜31,32の下方に配
置する。
そして、このような副検知部110の強磁性薄
膜301,302は、第2の基板20の平坦面上
に平坦に形成される。
膜301,302は、第2の基板20の平坦面上
に平坦に形成される。
そして、これらの副検知部110の強磁性薄膜
301,302は、主検知部11の強磁性薄膜3
1,32とブリツジを組んだりして、抵抗の温度
係数補償用や外部磁場のキヤンセル用に用いられ
る。
301,302は、主検知部11の強磁性薄膜3
1,32とブリツジを組んだりして、抵抗の温度
係数補償用や外部磁場のキヤンセル用に用いられ
る。
このような強磁性薄膜31,32,301,3
02は、スパツタリング、真空蒸着、CVD等の
気相における被着形成法などによつて形成され
る。
02は、スパツタリング、真空蒸着、CVD等の
気相における被着形成法などによつて形成され
る。
この場合、強磁性薄膜31,32,301,3
02には磁気異方性を付与して、検知能を高める
ことが好ましいので、第1の基板2ないし第2の
基板20の面方向、特に検知部分311,32
1,3011,3021の長手方向に磁場を印加
しながら気相被着を行うことが好ましい。
02には磁気異方性を付与して、検知能を高める
ことが好ましいので、第1の基板2ないし第2の
基板20の面方向、特に検知部分311,32
1,3011,3021の長手方向に磁場を印加
しながら気相被着を行うことが好ましい。
なお、主検知部11および副検知部110の強
磁性薄膜の検知部分は、それぞれ同一サイズであ
ることが好ましい。
磁性薄膜の検知部分は、それぞれ同一サイズであ
ることが好ましい。
また、後述のように、副検知部110の強磁性
薄膜301,302側から第1の基板に接着する
ようなときには、副検知部110の強磁性薄膜3
01,302の検知部分3011,3021の長
さを長くして、リード体605,607等との接
続を容易にする。
薄膜301,302側から第1の基板に接着する
ようなときには、副検知部110の強磁性薄膜3
01,302の検知部分3011,3021の長
さを長くして、リード体605,607等との接
続を容易にする。
このような主検知部11と副検知部110と
は、積層して一体化される。
は、積層して一体化される。
積層は、図示のように、主検知部11の第1の
基板2と、副検知部110の強磁性薄膜301,
302側とが接するように、接着等によつて行わ
れる。
基板2と、副検知部110の強磁性薄膜301,
302側とが接するように、接着等によつて行わ
れる。
この場合、通常は、前述のように第2の基板2
0と強磁性薄膜301,302とを、主検知部1
1のそれより長尺とし、リード体605,607
等との接続を容易にする。また、通常は、主検知
部11の強磁性薄膜31,32と副検知部110
の強磁性薄膜301,302は、それぞれ対応す
るものが、センサ厚さ方向に配列するようにす
る。
0と強磁性薄膜301,302とを、主検知部1
1のそれより長尺とし、リード体605,607
等との接続を容易にする。また、通常は、主検知
部11の強磁性薄膜31,32と副検知部110
の強磁性薄膜301,302は、それぞれ対応す
るものが、センサ厚さ方向に配列するようにす
る。
あるいは、これとは異なり、第1の基板2と第
2の基板20とが接するように、接着等してもよ
い。
2の基板20とが接するように、接着等してもよ
い。
このときには、通常は、やはり両検知部11
0,110の対応する強磁性薄膜の検知部分は、
センサ厚さ方向に対応して配列されるが、リード
体605,607の接続に支障がないので、検知
部分等の長さについては制限がない。
0,110の対応する強磁性薄膜の検知部分は、
センサ厚さ方向に対応して配列されるが、リード
体605,607の接続に支障がないので、検知
部分等の長さについては制限がない。
さらに、電極部分315,317,325,3
27,3015,3017,3025,3027
上には、必要に応じ、Au、Cu、Ni、Al、Tiあ
るいはこれらの合金等からなる電極層415,4
17,425,427,4015,4017,4
025,4027を積層することが好ましい。こ
れにより、リード体との接続強度が向上し、オー
ミツク性が良好となる。
27,3015,3017,3025,3027
上には、必要に応じ、Au、Cu、Ni、Al、Tiあ
るいはこれらの合金等からなる電極層415,4
17,425,427,4015,4017,4
025,4027を積層することが好ましい。こ
れにより、リード体との接続強度が向上し、オー
ミツク性が良好となる。
はた、第1の基板2、さらには第2の基板20
の表面上の強磁性薄膜31,32、さらには30
1,302上には、絶縁性の保護層5,50が形
成されていてもよい。
の表面上の強磁性薄膜31,32、さらには30
1,302上には、絶縁性の保護層5,50が形
成されていてもよい。
この保護層5,50は、10〜1000μmの厚さと
される。そして、リード体の接続部分は露出する
ようにされる。
される。そして、リード体の接続部分は露出する
ようにされる。
保護層5,50としては、酸化ケイ素、窒化ケ
イ素、酸化アルミニウム等が好適であり、これに
より寿命が向上する。
イ素、酸化アルミニウム等が好適であり、これに
より寿命が向上する。
このように構成される磁気センサ1は、各強磁
性薄膜31,32,301,302に、リード体
65,67,605,607等が接続される。
性薄膜31,32,301,302に、リード体
65,67,605,607等が接続される。
リード体65,67,605,607等は、通
常、剛性の棒状の金属から形成される。
常、剛性の棒状の金属から形成される。
そして、リード体65,67,605,607
等と、強磁性薄膜31,32,301,302の
接続は、通常、電極層415,417,425,
427,4015,4017,4025,402
7を介し、第4図に示されるようにハンダ付等に
よつて接着されたり、ワイヤボンデイングされた
りして行われる。
等と、強磁性薄膜31,32,301,302の
接続は、通常、電極層415,417,425,
427,4015,4017,4025,402
7を介し、第4図に示されるようにハンダ付等に
よつて接着されたり、ワイヤボンデイングされた
りして行われる。
なお、リード体65,67,605,607等
は、第4図に示されるように、直線状にセンサ面
と平行に一方向に延長してとりだしてもよく、一
旦折り曲げてセンサ面裏面方向に延長してとりだ
してもよい。
は、第4図に示されるように、直線状にセンサ面
と平行に一方向に延長してとりだしてもよく、一
旦折り曲げてセンサ面裏面方向に延長してとりだ
してもよい。
さらに、これらは所定のケーシング中に収納さ
れたり、図示のように、樹脂モールド7を施され
て一体化される。
れたり、図示のように、樹脂モールド7を施され
て一体化される。
また、磁気センサ1の裏面側には、図示のよう
に、バイアス用のマグネツトMを配置することが
できる。
に、バイアス用のマグネツトMを配置することが
できる。
なお、図示ではケーシング面と凸部とがフラツ
トになつているが、図示とは異なり、ケーシング
上に、凸部部分が露出してもよい。
トになつているが、図示とは異なり、ケーシング
上に、凸部部分が露出してもよい。
考案の具体的作用
このような本考案の磁気センサ1は、第4図に
示されるように、各種モーター等に連結された円
形の回転子Rの回転周上に配置される。この場
合、回転子Rは、多極着磁されている。
示されるように、各種モーター等に連結された円
形の回転子Rの回転周上に配置される。この場
合、回転子Rは、多極着磁されている。
そして、この回転子Rの外周部厚さ方向と、主
検知部11の強磁性薄膜31,32等の長手方向
とが、平行になるように配置するのが一般的であ
る。
検知部11の強磁性薄膜31,32等の長手方向
とが、平行になるように配置するのが一般的であ
る。
この場合、磁気センサ1のセンサ面は、回転子
Rと、2〜300μm程度まで近接させて配置する
ことができる。
Rと、2〜300μm程度まで近接させて配置する
ことができる。
そして、副検知部110の強磁性薄膜301,
302にて温度補償や外部磁場のキヤンセル等を
行いながら、回転子の回転数や回転方向等を検出
する。
302にて温度補償や外部磁場のキヤンセル等を
行いながら、回転子の回転数や回転方向等を検出
する。
考案の具体的効果
本考案によれば、リード体がセンサ面から突出
しないので、回転子との距離がきわめて小さくす
ることができる。
しないので、回転子との距離がきわめて小さくす
ることができる。
このため、きわめて高い感度がえられる。
しかも、センサ面積をきわめて小さくすること
ができ、小型化、低コスト化ができる。
ができ、小型化、低コスト化ができる。
さらに、副検知部の強磁性薄膜にて温度補償や
外部磁場のキヤンセルができるので、検出精度は
きわめて高いものとなる。
外部磁場のキヤンセルができるので、検出精度は
きわめて高いものとなる。
そして、このような効果は、きわめて簡易かつ
製造容易な構成で実現される。
製造容易な構成で実現される。
第1図〜第3図は、本考案の実施例を説明する
ための図であり、このうち第1図が平面図、第2
図が第1図の−線切断端面図、第3図が、使
用例を示す断面図である。 1……磁気センサ、11……主検知部、110
……副検知部、2……第1の基板、20……第2
の基板、31,32,301,302……強磁性
薄膜、311,321,3011,3021……
検知部分、315,317,325,327,3
015,3017,3025,3027……電極
部分、415,417,425,427,401
5,4017,4025,4027……電極層、
5,50……保護層、65,67,605,60
7……リード体、7……樹脂モールド、M……バ
イアスマグネツト、R……回転子。
ための図であり、このうち第1図が平面図、第2
図が第1図の−線切断端面図、第3図が、使
用例を示す断面図である。 1……磁気センサ、11……主検知部、110
……副検知部、2……第1の基板、20……第2
の基板、31,32,301,302……強磁性
薄膜、311,321,3011,3021……
検知部分、315,317,325,327,3
015,3017,3025,3027……電極
部分、415,417,425,427,401
5,4017,4025,4027……電極層、
5,50……保護層、65,67,605,60
7……リード体、7……樹脂モールド、M……バ
イアスマグネツト、R……回転子。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 第1の基板の表面の一部に凸部を設け、この
凸部および凸部以外の領域に亘つて、少なくと
も1つの強磁性薄膜を有する主検知用の強磁性
薄膜部を設け、第1の基板表面の凸部頂面以外
の領域に位置する各強磁性薄膜にリード体が接
続可能に構成された主検知部と、第2の基板の
表面に、少なくとも1つの強磁性薄膜を有する
副検知用の強磁性薄膜部を設けてなる副検知部
とを、主検知用の強磁性薄膜部が外表面に位置
するように積層して一体化してなることを特徴
とする磁気センサ。 2 第1の基板の表面の凸部の高さが、0.02〜2
mmである実用新案登録請求の範囲第1に記載の
磁気センサ。 3 凸部が、平担な頂面と、この頂面と底部平坦
面とに連接するテーパー面とからなる実用新案
登録請求の範囲第1項または第2項に記載の磁
気センサ。 4 テーパー面と底部平坦面のなす角が、20〜
80゜である実用新案登録請求の範囲第3項に記
載の磁気センサ。 5 テーパー面と底部平坦面および頂面との連接
部が、曲率をもつ実用新案登録請求の範囲第3
項または第4項に記載の磁気センサ。 6 主検知用の強磁性薄膜部の強磁性薄膜が、第
1の基板表面の底部平坦面、テーパー面および
頂面上に形成されている実用新案登録請求の範
囲第3項ないし第5項のいずれかに記載の磁気
センサ。 7 リード体が、底部平坦面上に位置する主検知
用強磁性薄膜部の強磁性薄膜に接続するように
構成してなる実用新案登録請求の範囲第6項に
記載の磁気センサ。 8 主検知用の強磁性薄膜部および/または副検
知用の強磁性薄膜部が、少なくとも1つの強磁
性薄膜と、基板表面のほぼ全域に亘つて設けら
れる保護層とからなる実用新案登録請求の範囲
第1項ないし第7項のいずれかに記載の磁気セ
ンサ。 9 主検知用の強磁性薄膜部および副検知用の強
磁性薄膜部が、強磁性薄膜の両端部上に設けら
れ、リード体との接続部に介在する電極層を有
する実用新案登録請求の範囲第1項ないし第8
項のいずれかに記載の磁気センサ。 10 各強磁性薄膜の厚さが、100〜4000Åである
実用新案登録請求の範囲第1項ないし第9項の
いずれかに記載の磁気センサ。 11 主検知用の強磁性薄膜が、凸部頂面に設けら
れた細条状の検知部分を有し、この検知部分の
細条巾が、5〜100μmである実用新案登録請
求の範囲第1項ないし第10項のいずれかに記載
の磁気センサ。 12 主検知用の強磁性薄膜が、2つ以上あり、主
検知用の強磁性薄膜の検知部分が、10〜2000μ
mの間隙にて、互いに平行に配列されている実
用新案登録請求の範囲第1項ないし第11項のい
ずれかに記載の磁気センサ。 13 副検知用の強磁性薄膜が、2つ以上あり、副
検知用の強磁性薄膜の検知部分が互いに平行に
配列されている実用新案登録請求の範囲第1項
ないし第12項のいずれかに記載の磁気センサ。 14 第1の基板と副検知用の強磁性薄膜部とが接
するように、主検知部と副検知部とを積層して
一体化してなる実用新案登録請求の範囲第1項
ないし第13項のいずれかに記載の磁気センサ。 15 第1の基板と第2の基板とが接するように、
主検知部と副検知部とを積層して一体化してな
る実用新案登録請求の範囲第1項ないし第14項
のいずれかに記載の磁気センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7333283U JPS59179321U (ja) | 1983-05-17 | 1983-05-17 | 磁気センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7333283U JPS59179321U (ja) | 1983-05-17 | 1983-05-17 | 磁気センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59179321U JPS59179321U (ja) | 1984-11-30 |
JPH0346333Y2 true JPH0346333Y2 (ja) | 1991-09-30 |
Family
ID=30203459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7333283U Granted JPS59179321U (ja) | 1983-05-17 | 1983-05-17 | 磁気センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59179321U (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2572139B2 (ja) * | 1990-01-25 | 1997-01-16 | 旭化成工業株式会社 | 磁気抵抗センサー |
JP4178006B2 (ja) * | 2002-07-25 | 2008-11-12 | 朝日電装株式会社 | 角度センサ |
-
1983
- 1983-05-17 JP JP7333283U patent/JPS59179321U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59179321U (ja) | 1984-11-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6184680B1 (en) | Magnetic field sensor with components formed on a flexible substrate | |
JP3260921B2 (ja) | 可動体変位検出装置 | |
EP2071349B1 (en) | Magnetism detector and its manufacturing method | |
EP1037289B1 (en) | Semiconductor magnetoresistance device, magnetic sensor, and production method thereof | |
JPH0346333Y2 (ja) | ||
KR20050051655A (ko) | 자기 저항 효과 소자, 이 제조 방법 및 사용 방법 | |
JPH11261130A (ja) | 磁気センサ | |
JPH07209100A (ja) | ひずみ検出器 | |
JPS635081Y2 (ja) | ||
JP3588952B2 (ja) | 半導体薄膜磁気抵抗素子 | |
JP3835445B2 (ja) | 磁気センサ | |
US20240003990A1 (en) | Magnetic sensor | |
JP2610083B2 (ja) | 強磁性体磁気抵抗素子 | |
JPH11248808A (ja) | 磁気センサ及びその製造方法 | |
JP2001006932A (ja) | 磁気抵抗効果膜とこれを用いた磁気読取りセンサ | |
US20240003711A1 (en) | Magnetic sensor | |
JPS6073415A (ja) | 距離センサ | |
JP3285094B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッドの研磨方法 | |
JPS6184572A (ja) | 磁気センサ | |
WO2008059915A1 (fr) | Dispositif de détection magnétique et son procédé de fabrication | |
JPS59216278A (ja) | 静止載置型磁気信号読みとり装置 | |
JP3557750B2 (ja) | 磁電変換素子 | |
JP2001119083A (ja) | 半導体磁気検出素子 | |
JP2002084015A (ja) | 磁電変換素子およびそれを用いた磁気センサ | |
JP3014398B2 (ja) | 磁気センサ |