JPH0346047B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0346047B2 JPH0346047B2 JP303485A JP303485A JPH0346047B2 JP H0346047 B2 JPH0346047 B2 JP H0346047B2 JP 303485 A JP303485 A JP 303485A JP 303485 A JP303485 A JP 303485A JP H0346047 B2 JPH0346047 B2 JP H0346047B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- outer diameter
- end mill
- measurement
- measuring device
- measure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はエンドミルの外径測定方法に関するも
のである。
のである。
エンドミルは、外周端面加工、溝加工等に用い
られる精密切削工具であるため、その製造過程で
は外径寸法等について厳しい管理が要求されてい
る。このエンドミルは被測定物としての一般の円
筒形ワーク等と異なり外周に切刃を有するので、
その外径寸法を測定する場合、２枚刃エンドミル
を例にとると一方の切刃から他方の切刃までの距
離を測定することになる。
られる精密切削工具であるため、その製造過程で
は外径寸法等について厳しい管理が要求されてい
る。このエンドミルは被測定物としての一般の円
筒形ワーク等と異なり外周に切刃を有するので、
その外径寸法を測定する場合、２枚刃エンドミル
を例にとると一方の切刃から他方の切刃までの距
離を測定することになる。
このようなエンドミルの外径を測定するのに、
従来はマイクロメータを用いて行なつているが、
個人差による測定誤差を生じるばかりか、測定の
際に直接切刃に触れるため切刃に損傷を招来し易
く、また測定の自動化も図り得ないという問題が
あつた。
従来はマイクロメータを用いて行なつているが、
個人差による測定誤差を生じるばかりか、測定の
際に直接切刃に触れるため切刃に損傷を招来し易
く、また測定の自動化も図り得ないという問題が
あつた。
このほかスプライン等の切欠加工の施された円
筒等に対する外径測定用として、従来より接触式
の電気計測器が開発されている。この計測器は、
一方向に回転させた被測定物に対し機械的な測定
子を接触させる特殊ダンピング装置と、この装置
より得られる電気的検出信号のうちピーク信号を
選択的に記憶する記憶装置との連係動作により、
被測定物外周の不連続面の頂部のみを読み取るよ
うにしたものである。しかしながら、この場合に
も機械的な測定子を被測定物に接触させながら測
定が行なわれるので、これをエンドミルのような
外周に切刃を有する被測定物の外径測定に利用し
ようとすれば、切刃の刃こぼれを防ぐためにエン
ドミルを極端に低速回転させて測定しなければな
らず、結局、測定に手間が掛かり非能率となるも
のであつた。
筒等に対する外径測定用として、従来より接触式
の電気計測器が開発されている。この計測器は、
一方向に回転させた被測定物に対し機械的な測定
子を接触させる特殊ダンピング装置と、この装置
より得られる電気的検出信号のうちピーク信号を
選択的に記憶する記憶装置との連係動作により、
被測定物外周の不連続面の頂部のみを読み取るよ
うにしたものである。しかしながら、この場合に
も機械的な測定子を被測定物に接触させながら測
定が行なわれるので、これをエンドミルのような
外周に切刃を有する被測定物の外径測定に利用し
ようとすれば、切刃の刃こぼれを防ぐためにエン
ドミルを極端に低速回転させて測定しなければな
らず、結局、測定に手間が掛かり非能率となるも
のであつた。
近年、非接触型の外径測定器としてレーザーや
イメージセンサ等を利用した光学式のものが開発
されている。然るに、この種の外径測定器を使用
して、一定方向にのみ回転する被測定物としての
エンドミルを測定してその最大値からエンドミル
の外径寸法の測定を行なうと、測定時間が長く掛
かり過ぎるという問題があつた。
イメージセンサ等を利用した光学式のものが開発
されている。然るに、この種の外径測定器を使用
して、一定方向にのみ回転する被測定物としての
エンドミルを測定してその最大値からエンドミル
の外径寸法の測定を行なうと、測定時間が長く掛
かり過ぎるという問題があつた。
本発明は上記従来例における問題点を考慮して
なされたものであつて、非接触型の光学式外径測
定器を利用することにより測定時におけるエンド
ミルの損傷を回避すると共に、測定時間を大幅に
短縮できるようにしたエンドミルの外径測定方法
の提供を目的とするものである。
なされたものであつて、非接触型の光学式外径測
定器を利用することにより測定時におけるエンド
ミルの損傷を回避すると共に、測定時間を大幅に
短縮できるようにしたエンドミルの外径測定方法
の提供を目的とするものである。
本発明に係るエンドミルの外径測定方法は、非
接触型の光学式外径測定器により正転状態にある
エンドミルの切刃部の外径を測定し、この外径測
定器がエンドミル外径の最大測定値を検出したと
きエンドミルの回転を逆転させて測定し、この逆
転状態において最大測定値を検出したとき再び正
転させて測定するといつた動作を所定のサンプリ
ング回数だけ連続的に繰り返し行ない、上記測定
値の平均値をエンドミルの外径として求めること
を特徴とするものである。
接触型の光学式外径測定器により正転状態にある
エンドミルの切刃部の外径を測定し、この外径測
定器がエンドミル外径の最大測定値を検出したと
きエンドミルの回転を逆転させて測定し、この逆
転状態において最大測定値を検出したとき再び正
転させて測定するといつた動作を所定のサンプリ
ング回数だけ連続的に繰り返し行ない、上記測定
値の平均値をエンドミルの外径として求めること
を特徴とするものである。
本発明の一実施例を図に基いて説明する。
被測定物となるエンドミル１の軸端をチヤツキ
ング治具２に掴持させて固定し、可逆パルスモー
タ３による正転駆動によつてエンドミル１を一定
方向に回転させる。
ング治具２に掴持させて固定し、可逆パルスモー
タ３による正転駆動によつてエンドミル１を一定
方向に回転させる。
一方、エンドミル１の軸長に対して直角配置と
なるように非接触型の光学式外径測定器４を設置
して、該測定器４の非接触センサ等によりエンド
ミル１の切刃部を径方向から正投影して正転状態
にある前記エンドミル１の外径測定を行ない、そ
の測定値を順次サンプリングして、測定値信号を
マイクロコンピユータ５にインプツトする。上記
光学式外径測定器４は従来公知のもの（例えば三
豊製作所製、安立電気製など）が使用され、これ
には最大値記憶機能が備えられているので、その
ピーク値すなわち最大測定値をエンドミルの外径
として求めることが出来る。
なるように非接触型の光学式外径測定器４を設置
して、該測定器４の非接触センサ等によりエンド
ミル１の切刃部を径方向から正投影して正転状態
にある前記エンドミル１の外径測定を行ない、そ
の測定値を順次サンプリングして、測定値信号を
マイクロコンピユータ５にインプツトする。上記
光学式外径測定器４は従来公知のもの（例えば三
豊製作所製、安立電気製など）が使用され、これ
には最大値記憶機能が備えられているので、その
ピーク値すなわち最大測定値をエンドミルの外径
として求めることが出来る。
光学式外径測定器４の測定値が最大値を検出
し、この最大測定値信号がマイクロコンピユータ
５に入力されると、マイクロコンピユータ５から
モータ制御信号が発生し、それと同時に前記最大
測定値が表示し記録される。モータドライバ６が
マイクロコンピユータ５からのモータ制御信号を
受けると、前記パルスモータ３を逆転駆動させ
る。これによつてエンドミル１は正回転から逆回
転に変換され、エンドミル１が逆回転した状態の
まま先述した正転時と同様に光学式外径測定器４
による測定が行われ、その測定が最大値を検出す
ると再び正転状態で測定するといつた動作が所定
のサンプリング回数だけ繰り返し連続的に行なわ
れるものである。
し、この最大測定値信号がマイクロコンピユータ
５に入力されると、マイクロコンピユータ５から
モータ制御信号が発生し、それと同時に前記最大
測定値が表示し記録される。モータドライバ６が
マイクロコンピユータ５からのモータ制御信号を
受けると、前記パルスモータ３を逆転駆動させ
る。これによつてエンドミル１は正回転から逆回
転に変換され、エンドミル１が逆回転した状態の
まま先述した正転時と同様に光学式外径測定器４
による測定が行われ、その測定が最大値を検出す
ると再び正転状態で測定するといつた動作が所定
のサンプリング回数だけ繰り返し連続的に行なわ
れるものである。
ここで、上記光学式外径測定器４の測定精度
（標準偏差）をδ0とすると、Ｎ回サンプリングす
ることにより得られる測定値の標準偏差値δは、 δ＝δ0／√Ｎ となる。
（標準偏差）をδ0とすると、Ｎ回サンプリングす
ることにより得られる測定値の標準偏差値δは、 δ＝δ0／√Ｎ となる。
一方、エンドミル１の回転数の上限は、光学式
外径測定器４のスキヤン速度によつて決定され
る。ここで光学式外径測定器４のスキヤン速度を
ts、エンドミル１の外径をＤ（mm）とすると、測
定誤差が1μ以下であるエンドミル回転数の上限
速度Ｍは、 Ｍ（rpm）＝１／6tscos（Ｄ−0.001／Ｄ） となる。
外径測定器４のスキヤン速度によつて決定され
る。ここで光学式外径測定器４のスキヤン速度を
ts、エンドミル１の外径をＤ（mm）とすると、測
定誤差が1μ以下であるエンドミル回転数の上限
速度Ｍは、 Ｍ（rpm）＝１／6tscos（Ｄ−0.001／Ｄ） となる。
上記２つの基本式に、
Γ外径測定器の測定精度（標準偏差）：
δ0＝2μ
Γエンドミル外径： Ｄ＝10mmφ
Γ外径測定器のスキヤン速度：Ts＝2msec
Γサンプリングのための回転角： 5゜
という条件数値を代入して算出すると、1μ以下
のエンドミル外径測定精度を得るためには、 Γサンプリング回転Ｎは、４回 Γエンドミルの回転数Ｍは、67.5rpm を条件として測定することが必要とされ、このと
きの測定に要する時間は、僅かに0.05secである。
のエンドミル外径測定精度を得るためには、 Γサンプリング回転Ｎは、４回 Γエンドミルの回転数Ｍは、67.5rpm を条件として測定することが必要とされ、このと
きの測定に要する時間は、僅かに0.05secである。
本発明に係るエンドミルの外径測定方法は以上
のように、非接触型の光学式外径測定器によつて
正転状態にあるエンドミルの切刃部の外径を測定
し、この外径測定器が最大測定値を検出したとき
エンドミルを逆転させて測定し、更に最大測定値
を検出したとき再び正転させて測定するといつた
動作を所定のサンプリング回数だけ連続的に繰り
返し行なうものである。それ故、外径測定時にお
けるエンドミルの損傷を回避し得るばかりか、被
測定物としてのエンドミルは測定部の最大径付近
で正転と逆転を交互に連続的に繰り返し行なう結
果、極く短時間に多数のサンプリング測定を行な
つてエンドミルの外径を高精度に測定し得るとい
う優れた効果を奏するものである。
のように、非接触型の光学式外径測定器によつて
正転状態にあるエンドミルの切刃部の外径を測定
し、この外径測定器が最大測定値を検出したとき
エンドミルを逆転させて測定し、更に最大測定値
を検出したとき再び正転させて測定するといつた
動作を所定のサンプリング回数だけ連続的に繰り
返し行なうものである。それ故、外径測定時にお
けるエンドミルの損傷を回避し得るばかりか、被
測定物としてのエンドミルは測定部の最大径付近
で正転と逆転を交互に連続的に繰り返し行なう結
果、極く短時間に多数のサンプリング測定を行な
つてエンドミルの外径を高精度に測定し得るとい
う優れた効果を奏するものである。
例示すれば、２枚刃エンドミルを測定する場
合、従来の測定方法である一定方向にのみエンド
ミルを回転させて測定すると、エンドミルが１回
転すなわち360゜だけ回転する間に２点の外径を測
定できるが、本発明の測定方法によればこの２枚
刃エンドミルを同じ回転速度で5゜の角度間で正逆
転を行わせて測定すると、同じ２点の外径を測定
するのに、測定時間を１／36に短縮することが可
能となる。
合、従来の測定方法である一定方向にのみエンド
ミルを回転させて測定すると、エンドミルが１回
転すなわち360゜だけ回転する間に２点の外径を測
定できるが、本発明の測定方法によればこの２枚
刃エンドミルを同じ回転速度で5゜の角度間で正逆
転を行わせて測定すると、同じ２点の外径を測定
するのに、測定時間を１／36に短縮することが可
能となる。
図は本発明で使用される装置の概略構成を示す
ブロツク図である。 １はエンドミル、３はパルスモータ、４は光学
式外径測定器、５はマイクロコンピユータであ
る。
ブロツク図である。 １はエンドミル、３はパルスモータ、４は光学
式外径測定器、５はマイクロコンピユータであ
る。
Claims (1)
- １ 非接触型の光学式外径測定器により正転状態
にあるエンドミルの切刃部の外径を測定し、この
外径測定器が最大測定値を検出したときエンドミ
ルを逆転させて測定し、更に最大側定値を検出し
たとき再び正転させて測定するといつた動作を所
定のサンプリング回数だけ連続的に繰り返し行な
い、上記測定値の平均値をエンドミルの外径とし
て求めることを特徴とするエンドミルの外径測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP303485A JPS61161405A (ja) | 1985-01-10 | 1985-01-10 | エンドミルの外径測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP303485A JPS61161405A (ja) | 1985-01-10 | 1985-01-10 | エンドミルの外径測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61161405A JPS61161405A (ja) | 1986-07-22 |
| JPH0346047B2 true JPH0346047B2 (ja) | 1991-07-15 |
Family
ID=11546027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP303485A Granted JPS61161405A (ja) | 1985-01-10 | 1985-01-10 | エンドミルの外径測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61161405A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5428449A (en) * | 1993-06-17 | 1995-06-27 | Ivaco Rolling Mills Limited Partnership | Cross-sectional area measuring machine |
-
1985
- 1985-01-10 JP JP303485A patent/JPS61161405A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61161405A (ja) | 1986-07-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |