JPH034241U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH034241U JPH034241U JP1989065131U JP6513189U JPH034241U JP H034241 U JPH034241 U JP H034241U JP 1989065131 U JP1989065131 U JP 1989065131U JP 6513189 U JP6513189 U JP 6513189U JP H034241 U JPH034241 U JP H034241U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pressure
- semiconductor chip
- pipe section
- pressure chambers
- bonding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0051—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in ohmic resistance
- G01L9/0052—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in ohmic resistance of piezoresistive elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/02—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning
- G01L9/04—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of resistance-strain gauges
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Description
第1図はこの考案の一実施例による圧力センサ
の構造を示す断面図、第2図は同上実施例の第1
図の直角方向の断面図、第3図は同上実施例にお
ける制御部の電気回路図、第4図は同上実施例に
おける接着剤厚みとダイヤフラム厚みとの比対歪
みによる誤出力低減率の関係を示す特性図である
。 1……圧力センサ、2,3……ケース、4,5
……半導体チツプ、4a,5a……ダイヤフラム
、9……接着剤、21……第1の圧力室、22…
…第2の圧力室、23……第3の圧力室、24…
…第4の圧力室、25,26……導圧管部、10
1……第1のブリツジ回路、102……第2のブ
リツジ回路、103……第1の差動増幅回路、1
04……第2の差動増幅回路、105……第3の
差動増幅回路。なお、図中、同一符号は同一、又
は相当部分を示す。
の構造を示す断面図、第2図は同上実施例の第1
図の直角方向の断面図、第3図は同上実施例にお
ける制御部の電気回路図、第4図は同上実施例に
おける接着剤厚みとダイヤフラム厚みとの比対歪
みによる誤出力低減率の関係を示す特性図である
。 1……圧力センサ、2,3……ケース、4,5
……半導体チツプ、4a,5a……ダイヤフラム
、9……接着剤、21……第1の圧力室、22…
…第2の圧力室、23……第3の圧力室、24…
…第4の圧力室、25,26……導圧管部、10
1……第1のブリツジ回路、102……第2のブ
リツジ回路、103……第1の差動増幅回路、1
04……第2の差動増幅回路、105……第3の
差動増幅回路。なお、図中、同一符号は同一、又
は相当部分を示す。
Claims (1)
- ケースに形成された第1の導圧管部に連通する
第1および第4の圧力室と、上記ケースに形成さ
れた第2の導圧管部に連通する第2および第3の
圧力室と、上記第1の圧力室と上記第2の圧力室
の隔壁および上記第3と第4の圧力室の隔壁とな
るようにそれぞれ半導体チツプに配設され同一形
状ならびに同一電気的特性を有する第1、第2の
ダイヤフラムと、上記半導体チツプを基板に接合
する柔軟性を有する接着剤と、上記第1、第2の
ダイヤフラム上に形成され上記第1、第2のダイ
ヤフラムが上記第1、第2の導圧管部に生じる差
圧によつて応動するとき、互いに同値で逆位相の
信号を出力する第1、第2のブリツジ回路と、こ
の第1、第2のブリツジ回路の信号出力をそれぞ
れ差動増幅する第1および第2の差動増幅器とを
備えた圧力センサ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989065131U JPH034241U (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | |
| KR2019900007437U KR930007902Y1 (ko) | 1989-06-02 | 1990-05-30 | 압력 감지기 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989065131U JPH034241U (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH034241U true JPH034241U (ja) | 1991-01-17 |
Family
ID=13278014
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989065131U Pending JPH034241U (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH034241U (ja) |
| KR (1) | KR930007902Y1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009526647A (ja) * | 2006-02-15 | 2009-07-23 | ボールドウィン・フィルターズ・インコーポレーテッド | 溝付きフィルタ装置 |
-
1989
- 1989-06-02 JP JP1989065131U patent/JPH034241U/ja active Pending
-
1990
- 1990-05-30 KR KR2019900007437U patent/KR930007902Y1/ko not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009526647A (ja) * | 2006-02-15 | 2009-07-23 | ボールドウィン・フィルターズ・インコーポレーテッド | 溝付きフィルタ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR910001184U (ko) | 1991-01-24 |
| KR930007902Y1 (ko) | 1993-11-24 |