JPH034104A - レーザ測長器のための単位変換装置 - Google Patents

レーザ測長器のための単位変換装置

Info

Publication number
JPH034104A
JPH034104A JP1140100A JP14010089A JPH034104A JP H034104 A JPH034104 A JP H034104A JP 1140100 A JP1140100 A JP 1140100A JP 14010089 A JP14010089 A JP 14010089A JP H034104 A JPH034104 A JP H034104A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
distance
pulse
length
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1140100A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0749923B2 (ja
Inventor
Akira Kuwabara
章 桑原
Yasufumi Koyama
康文 小山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP1140100A priority Critical patent/JPH0749923B2/ja
Priority to EP90110371A priority patent/EP0400649B1/en
Priority to US07/531,040 priority patent/US5184313A/en
Priority to DE90110371T priority patent/DE69004860T2/de
Publication of JPH034104A publication Critical patent/JPH034104A/ja
Publication of JPH0749923B2 publication Critical patent/JPH0749923B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02055Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
    • G01B9/0207Error reduction by correction of the measurement signal based on independently determined error sources, e.g. using a reference interferometer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02083Interferometers characterised by particular signal processing and presentation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/028Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
    • G01D3/036Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves
    • G01D3/0365Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves the undesired influence being measured using a separate sensor, which produces an influence related signal

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、レーザ測長器から出力される測長パルスを
、メータ単位系などの所定の測長単位系で表現した距離
信号に変換するための単位変換装置に関する。
(従来の技術) 物の長さや距離を測定する装置として、レーザ測長器が
広く用いられている。特に、レーザ光の干渉を利用した
測長器は精密な測定に適しているが、このようなレーザ
測長器から出力される測長信号は、レーザ光の波長λに
依存した基準長λ/N(Nは整数)ごとのパルス信号と
なっているのが普通である。ところが、レーザ測長器の
測定結果を利用する他の機器では、一般にメータ単位系
などが用いられているため、レーザ測長器から出力され
るパルス信号を、メータ単位系などの所定の測長単位系
の信号に変換する必要がある。
このような単位変換の方法としては、基準長λ/Nをメ
ータ単位系で表現した変換係数と、レーザ測長器から出
力される測長パルスの数とを乗じる第1の方法がある。
また、たとえば特開昭55−69004号公報に開示さ
れているように、レーザ測長器から出力される測長パル
スを所定の分周比のレートマルチプライアカウンタで分
周することによってメータ単位系に変換する第2の方法
も知られている。第2の方法では、例えば基準長λ/N
が0.0791μmであり、メートル単位系の単位長さ
を0.1μmと設定した場合には4分周比を7910/
 1G’とすればよい。こうすれば、レートマルチブラ
イアカウンタに測長パルスが10パルス人力されると、
8パルスの信号が出力され、被測定距離が約0.8μm
であることが示される。
(発明が解決しようとする課題) しかし、第1の方法では、単位変換に際して乗算を行な
うので、高精度な測長データを得るために有効桁数を増
加させると演算スピードが遅くなる。従って、被測定距
離が高速で連続的に変化している場合には、その速い変
化に追従してII長データを得るのが困難であるという
問題があった。
また、第2の方法では、近似の精度を上げるためにはレ
ートマルチブライアカウンタ内のカウンタの個数を増加
させる必要があり、その分、コストが高くつくのみでな
く、やはり演算スピードが遅くなるので上記と同様な問
題があった。
(発明の目的) この発明は、従来の技術における上述の課題を解決する
ためになされたものであり、レーザ測長器の測長パルス
を所定の測長単位系の信号に高速で変換することができ
る単位変換装置を得ることを目的とする。
(課題を解決するための手段) 上述の課題を解決するため、この発明では、波長λのレ
ーザ光を使用して被測定距離の増減を基準長λ/N (
Nは整数)ごとの測長パルスとじて出力するレーザ測長
器から前記測長パルスを受取って、これを所定の副長単
位系で表現した距離信号に変換する単位変換装置におい
て、前記基準長λ/NをM桁(Mは整数)のデジタル値
で表わした変換係数データであって、その下位側から(
M+1)桁目の単位データが前記測長単位系の単位長さ
に相当するように規定された変換係数データを記憶する
。記憶手段と、前記測長パルスを受取ることにより、被
測定距離の増加および減少に応じて前記変換係数データ
を前記測長パルスごとに加算および減算し、その演算結
果に基づいて前記距離信号を出力する加減算手段とを備
えている。
そして、前記加減算手段は、前記演算結果によって得ら
れた(M+1)桁へのキャリーおよび(M+1)桁から
のボローに基づいて前記距離信号を出力する。
(作用) 加減算手段は、M桁のデジタル値である変換係数データ
を、レーザ測長器の基準長ごとに加算または減算し、(
M+1)桁へのキャリーまたは(M+1)桁からのボロ
ーに基づいて、単位変換後の信号である距離信号を出力
する。
(実施例) A、装置の構成と動作の概要 第1図は、この発明の一実施例としての単位変換装置を
備えたレーザ測長システムの構成を示すブロック図であ
る。
レーザ測長システムLLは、レーザ発振器1と干渉計2
とレシーバ3と単位変換装置5と反射鏡4aを備えてい
る。このうち、レーザ発振器1と干渉計2とレシーバ3
と反射m4aとは、汎用されるレーザ測長器を構成して
いる。
このレーザ測長システムは、干渉計2と、テーブル4の
前面に設けられた反射鏡4aとの間の距離1を測長する
。このテーブル4は図示しないモータによって駆動され
て、(+Y)〜(−Y)方向に移動する。
レーザ発振器1から出射されたレーザビームLB1は干
渉計2を介して反射1i1t4aに到達し、反射ビーム
LB2となる。そして、レーザビームしB1と反射ビー
ムLB2は、干渉計2から合成ビームLB12としてレ
シーバ3に与えられる。レシーバ3は合成ビームLB1
2が生成する干渉縞を、A相およびB相の2つのスケー
ル信号(1111長パルス信号)S、SBに変換する。
後述するように、このスケール信号S 、S のパルス
数によって^  B 被8−1定距離1を知ることができ、また2つのスケー
ル信号S  、SBの位相のずれ方によって被JI定距
離量が増大しているか減少しているかを知ることができ
る。
単位変換装置5は、これらのスケール信号SA。
S、を受取って、メータ単位系のJIJ長単面単位測定
距M1を表現する距離パルス信号S、を外部に出力する
。この実施例では、被1111定距離夕が0.1μm変
化するたびに、距離パルス信号St、が1パルス出力さ
れる。また、被測定距IlNが増大しているか減少して
いるかを判別するための移動方向信号Sや−も、単位変
換装置5から外部に出力される。
単位変換装置5は、パルス変換器51と、第ルジスタ5
2と、加減算器53と、第2レジスタ54と、波長補正
器55とを備えている。レシーバ3から出力されたスケ
ール信号S 、S は、八  B 単位変換袋W5のパルス変換器51に入力され、パルス
変換器51は、これらのスケール信号S^。
B8に応じて移動方向信号S+−と、位置クロック信号
Spとを出力する。移動方向信号S+−は、披測定距f
i量が増大する場合にはHレベルとなり、逆に減少する
場合にはLレベルとなる信号である。
また、位置クロック信号S は、スケール信号SA、S
Oによって規定される基準長λ/N(後述する)ごとに
LレベルからHレベルに立上るパルス信号である。
位置クロック信号S がパルス変換器51から第2レジ
スタ54に与えられると、第2レジスタ54はそれ以前
に加減算器53から与えられて保持していた距離パルス
データDt、と加算デ゛−タDs1とを、それぞれ距離
パルス信号S1.と被加算データDs□として出力する
。なお、これらの距離パルスデータDLと加算データD
31は、測長動作の開始時には共に零である。
第2レジスタ54から出力された被加算データDS2が
加減算器53に与えられると、加減算器53において加
算または減算が実行される。このとき移動方向信号S 
がHレベルの場合には、加減今一 算器53は第ルジスタ52から人力された変換係数デー
タDRと、12レジスタ53から与えられた被加算デー
タD3□とを加算する。
なお、変換係数データDRは後述するように、レーザ測
長器の基準長λ/Nをメータ単位系に変換するためのデ
ータであり、予め波長補正器55から第ルジスタ52に
入力されて保持されている。測長動作の開始時では被加
算データD8□は零なので、変換係数データDRの値が
そのまま加算データD81として出力される。なお、後
述するように演算の結果としてキャリー(またはボロー
)が発生した場合には、距離パルスデータD、も出力さ
れる。
加減算器53から出力された加算データD8□と距離パ
ルスデータDLとは、第2レジスタ54に人力されて新
たな保持データとなる。そして、位置クロック信号S 
が第2レジスタ54に人力されると、保持されていた加
算データDslが新たな被加算データD8□として加減
算器53に帰還される。また、保持されていた距離パル
スデータDLが“1“ (Hレベル)の場合には、距離
パルス信号SLが外部に出力される。
B、変換係数データの内容 第ルジスタ52に予め入力される変換係数データD は
、スケール信号S、SBによって識j?       
           A別される基準長λ/Nごとの
距離9の変化を、0.1μmごとの距離パルス信号SL
に変換するために用いられる。
変換係数データDRは以下のように、Mビットの2進数
として正規化されてる。
DR−(λ/N)X2/Δ!    ・・・(1)ここ
で、 λ;レーザ光の波長。
N:整数。(λ/N)は、スケール信号によって識別し
うる基準長を示す。通常は、N−8〜32である。
M:変換係数データDRのビット数。
Δ!=メータ単位系の測長単位。
この実施例では、変換係数データDRは次の値となる。
2 DR−0,833/16X2 10.14 18991
9643B   (10進数)−6547^C14(1
6進数) なお、λ−0.633μm、 N −16,M−32゜
Δ童−0,1μmとした。
第1表は、位置クロック信号S と移動方向信号S と
に応じて、加算データDs1と距離パルス十− データD、が変化する状態を示す表である。なお、距離
パルスデータDLは、加算または減算の結果として、(
M+1)桁へのキャリーまたは(M+1)桁からのボロ
ーが発生すると“1” (Hレベル)となるデータであ
る。
(以下余白) 第1表 第1表に示すように、移動方向信号S7>(Hし十− ベルのときに、位置クロックS が3パルス発生すると
、加算の結果として<M+1)桁へのキャリーが発生す
る。第1表に対応する基準長λ/N(−0,633/ 
1B)は約0.044 mである。また、位置クロック
信号S の1パルスは、基準長λ/Nに対応する。従っ
て、位置クロック信号Spの3パルス分は約0.12μ
mに相当する。このように、位置クロック信号S が3
パルス発生すると、披測定距離夕が測長単位Δ1 (−
0,1μm)変化するので、このとき距離パルスデータ
DLの値が′l”となりそれによって距離パルス信号S
t、が出力される。
なお、位置り、ロック信号S、のパルス数で指示される
実際の距M(約0,12μm)と、JIJ長単位Δ1(
−0,1μm)との誤差は、加算データDst(−2F
D70^3C)として第2レジスタ54に保持され、さ
らにこのデータが被加算データDs2として加減算器5
3に帰還される。そして、この被加算データDs2に基
づいて、さらに加算または減算が行われていくので、実
際の距離と測定単位ごとに出力される距離パルスデータ
DLとの誤差が累積していくことがない。
波長補正器55は、レーザ測長システムLLの環境に応
じてレーザビームLB、LB2の波長λを補正し、さら
に補正した波長λに基づいて変換係数データDRを(1
)式に基づいて算出する。
レーザビームLB、LB2の波長λは例えば次式で求め
られる。
λ−λsns/n 〜λ  (1−Δn/ns)     ・・・(2a)
Δn / n 3〜−10.931 (T−20)0.
359 (P −760) +0.050  (PH−10) −0,015(c−3)lxlo−6 ・・・(2b) ここで、 n:空気の屈折率。
ns:標準計量状1(20℃、 760 Torr)に
おける空気の屈折率。
T:温度(’C)。
P:大気圧(Torr)。
P11’水蒸気分圧(Torr)。
C:CO2濃度(0,01容量%)。
このように、波長補正器55によってレーザビームLB
、LB2の波長λを補正し、これに基づいて変換係数デ
ータD、を第2レジスタ54に適宜人力するようにすれ
ば、例えば室温などが経時的に変化した場合にも、常に
正しい測定結果を得ることができるという利点がある。
C0単位変換装置の動作の詳細 第2図は、単位変換装置5の動作を示すタイミングチャ
ートである。この図は、時刻t1以降において、被11
1+定距離1が一定速度で増大している場合を示してい
る。従って、スケール信号S^。
Soは、それぞれ一定の周期T1で変化するパルス信号
となっている・ スケール信号S 、S は、被測定圧M1の変B 化量に応じて出力される測長パルスであり、スケール信
号s  、s  の1周期Ttが、レーザビー^   
  B ムLB、LB2の波長λの1/4の長さ(λ/! 4)に対応している。また、スケール信号SA。
S は、それぞれ半周期T1/2ごとにHレベルとLレ
ベルとに切換わるパルス信号であり、A相スケール信号
SAとB相スケール信号との位相は1/4周期ずれて出
力される。そして、この位相のずれ方によって被測定距
離1が増大しているか減少しているかが判別される。す
なわち、被測定圧M1が増大している場合には、第2図
のように、A相スケール信号S^がLレベルからHレベ
ルに立上るときに、B相スケール信号SBがLレベルに
維持されている。この場合には、パルス変換器51から
出力される移動方向信号S+−はHレベルとなる。一方
、逆に被測定距離量が減少している場合には、A相スケ
ール信号S^が立上るときに、B相スケール信号がHレ
ベルに維持されており、移動方向信号S−はLレベルと
なる(図示せず)。
パルス変換器51は、人相スケール信号SAとB相スケ
ール信号SBが立上りエツジと立下りエツジをそれぞれ
発生するごとに、位置クロック信号S を発生する。従
って、位置クロック信号S は、スケール信号S  、
S  の1/4周期p          AH T t / 4ごとに出力されるパルス信号となってい
るとともに、基準長λ/Nはλ/16(−λ/4+4)
となっている。
時刻t 以前は、加算データD3、と被加算デーりDs
2の値はともに零である。テーブル4が動き始め、tl
で最初の位置クロック信号Spのパルスがパルス変換器
51から出力されると、第2レジスタ54から被加算デ
ータρ52(−0)が加減算器53に与えられる。そし
て、加算の結果として加算データD8.が加減算器53
から出力される。
このときの加算データD (第2図中のり、)のSt 値は変換係数データDRの値に等しい。そして、この加
算データD  (−D  −DR)が第2レジSt  
     t スタに保持される。
次に、時刻t でB相スケール信号SBが立上す、位置
クロック信号S のパルスが発生すると、データD が
被加算データDS2として第2レジス■ り54から出力され、加減算器53に与えられる。
そして、加算の結果として得られた新たな加算データD
  (D  −2D、)が第2レジスタ54にSt  
   2 保持される。
さらに、時刻t でAItlNスケール信号SA信号S 下り、位置クロック信号S のパルスが発生すると、デ
ータD が被加算データD3□として第2しジスタ54
から出力され、加減算器53に与えられる。このとき、
加算の結果として、第1表に示すように(M+1)桁へ
のキャリーが発生するので、距離パルスデータDtが“
1” (Hレベル)となる。
そして、時刻t でB相スケール信号Soの立下りに応
じて、位置クロック信号S のパルスが発生すると、第
2レジスタ54から距離パルス信号SLが外部に出力さ
れる。
時刻t4以降の動作の説明は省略するが、上記と同様に
、加減算器53において(M+l)桁へのキャリーが発
生するたびに、距離パルス信号St、が出力される。
なお、被測定距離量が減少する場合についての詳しい説
明は省略するが、上記と同様に、加減算器53において
(M+1)桁からのボローが発生するたびに距離パルス
信号SLが出力される。
図示しない外部装置は、単位変換装置5から距離パルス
信号SLと移動方向信号S+−とを受取り、これらの信
号に基づいて被測定距離!の変化をilll長単位Δ!
 (−0,1μm)ごとに知ることができる。
このように、この実施例においては、スケール信号S 
 、SBから距離パルス信号St、への変換^ が、加減算器53における加算または減算のみに基づい
ているので、乗算などを行なう場合に比べて演算スピー
ドがはるかに速いという利点がある。
D、変形例 この発明は上記実施例に限定されるものではなく、たと
えば次のような変形も可能である。
■ 位置クロック信号S のパルスは、A相およびB相
スケール信号S  、Soの174周期^ T1/4ごとに出力されるものとしたが、1周期T1ご
とに出力されるとしてもよく、また1/2周期T1/2
ごとに出力されるものとしてもよい。
これらの変形の場合には、基準長λ/Nがそれぞれλ/
4およびス/8となる。
但し、上記実施例のようにスケール信号S^。
SBの立上りエツジおよび立下りエツジのすべてに対応
して位置クロック信号S のパルスを出力するようにす
れば、測定精度が向上するという利点がある。
なお、第2図の例では、被AP1定距M1が一定速度で
増大するものとしたので、スケール信号S^。
S も一定の周期T1で変化している。しかし、被a?
1定距N1は任意の速度および方向(増大または減少)
で変化してもよいことは言うまでもない。
この場合においても、スケール信号S 、S は  C 一定長さλ/4ごとに周期的に変化する信号となり、単
位変換装置!5によってスケール信号S^。
S が距離パルス信号Stに正しく変換される。
■ レーザーpj長器から単位変換装置5へ人力される
11−1長パルスは、上記のようなスケール信号SA、
SBに限らず、被測定圧MEの変化に応じて与えられる
アップパルスとダウンパルスの組合せであってもよい。
すなわち、単位変換装置5へ人力されるApl長パルス
は、被測定距離の増減を基準長λ/Nごとに表わすパル
スであればよい。
■ 変換係数データDRは、一般に、n進数のデジタル
値として表わすことができる。このとき、変換係数デー
タDRは、(1)式のかわりに次式で与えられる値を有
するM桁のn進数として正規化される。
0     ・・・(3) D R−(λ/N)Xn  /Δp (−発明の効果) 以下説明したように、この発明によれば、M桁のデジタ
ル値である変換係数データをレーザ測長器の基準長ごと
に加算または減算し、(M+1)格へのキャリーまたは
(M+1)桁からのボローに基づいて、単位変換後の信
号である距離信号を出力する。従って、乗算などのスピ
ードの遅い演算を行う必要がないので、レーザ測長器の
測長パルスの単位変換を高速で行うことができ、構成部
品のコストを低減できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
141図は、この発明の実施例としての単位変換装置を
組込んだレーザ測長システムの構成を示すブロック図、 第2図は実施例の動作を示すタイミングチャートである
。 5・・・単位変換装置、sA、sB・・・スケール信号
、St、・・・距離パルス信号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)波長λのレーザ光を使用して被測定距離の増減を
    基準長λ/N(Nは整数)ごとの測長パルスとして出力
    するレーザ測長器から、前記測長パルスを受取って、こ
    れを所定の測長単位系で表現した距離信号に変換する単
    位変換装置であって、前記基準長λ/NをM桁(Mは整
    数)のデジタル値で表わした変換係数データであって、
    その下位側から(M+1)桁目の単位データが前記測長
    単位系の単位長さに相当するように規定された変換係数
    データを記憶する記憶手段と、 前記測長パルスを受取ることにより、前記被測定距離の
    増加および減少にそれぞれ応じて前記変換係数データを
    前記測長パルスごとに加算および減算し、その演算結果
    に基づいて前記距離信号を出力する加減算手段とを備え
    ており、 前記加減算手段は、前記演算結果によって得られた(M
    +1)桁へのキャリーおよび(M+1)桁からのボロー
    に基づいて前記距離信号を出力することを特徴とするレ
    ーザ測長器のための単位変換装置。
JP1140100A 1989-05-31 1989-05-31 レーザ測長器のための単位変換装置 Expired - Lifetime JPH0749923B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1140100A JPH0749923B2 (ja) 1989-05-31 1989-05-31 レーザ測長器のための単位変換装置
EP90110371A EP0400649B1 (en) 1989-05-31 1990-05-31 Unit conversion device for laser interferometic measuring machine
US07/531,040 US5184313A (en) 1989-05-31 1990-05-31 Conversion device for laser interferometic measuring apparatus
DE90110371T DE69004860T2 (de) 1989-05-31 1990-05-31 Vorrichtung zur Umrechnung von Einheiten für eine interferometrische Messmaschine mit Laser.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1140100A JPH0749923B2 (ja) 1989-05-31 1989-05-31 レーザ測長器のための単位変換装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH034104A true JPH034104A (ja) 1991-01-10
JPH0749923B2 JPH0749923B2 (ja) 1995-05-31

Family

ID=15260944

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1140100A Expired - Lifetime JPH0749923B2 (ja) 1989-05-31 1989-05-31 レーザ測長器のための単位変換装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5184313A (ja)
EP (1) EP0400649B1 (ja)
JP (1) JPH0749923B2 (ja)
DE (1) DE69004860T2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6687013B2 (en) * 2000-03-28 2004-02-03 Hitachi, Ltd. Laser interferometer displacement measuring system, exposure apparatus, and electron beam lithography apparatus
IL161300A0 (en) * 2001-10-31 2004-09-27 Bristol Myers Squibb Co Methods of screening for toxicity of test compounds

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS626116A (ja) * 1985-07-03 1987-01-13 Koito Mfg Co Ltd 積算計
JPH01118702A (ja) * 1987-10-30 1989-05-11 Showa Electric Wire & Cable Co Ltd 測長装置の計測値処理方法およびその回路

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3573805A (en) * 1968-02-29 1971-04-06 Gen Electric Conversion apparatus for converting nonstandard pulse count to standard measurement count
JPS5569004A (en) * 1978-11-18 1980-05-24 Toshiba Corp Measuring unit of amount of movement
FR2468099A1 (fr) * 1979-10-17 1981-04-30 Anvar Procede et appareil d'interferometrie laser a deux longueurs d'ondes
US4583856A (en) * 1983-06-27 1986-04-22 Gca Corporation Resolution system for interferometer
US4643577A (en) * 1983-07-15 1987-02-17 Wero Ohg Roth & Co. Length measuring apparatus based on the dual laser beam interferometer principle
US4803646A (en) * 1984-10-01 1989-02-07 Ford Motor Company Electronic odometer
KR900002117B1 (ko) * 1985-03-28 1990-04-02 시부야 고오교오 가부시끼가이샤 레이저 광선을 이용한 거리측정방법과 장치
DE3532768A1 (de) * 1985-09-13 1987-03-19 Bosch Gmbh Robert Schaltungsanordnung zur addition, speicherung und wiedergabe elektrischer zaehlimpulse
US4879732A (en) * 1986-09-22 1989-11-07 Zbigniew Dorosz Odometer with distance traveled and distance remaining displays
JPS63292002A (ja) * 1987-05-25 1988-11-29 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> レ−ザ測長装置
DE3737435A1 (de) * 1987-11-04 1989-05-24 Duerrwaechter E Dr Doduco Verfahren zum bestimmen der drehwinkelstellung einer drehbahr gelagerten elektrischen wicklung
US4989222A (en) * 1989-05-22 1991-01-29 Stemco Inc. Electronic hubodometer

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS626116A (ja) * 1985-07-03 1987-01-13 Koito Mfg Co Ltd 積算計
JPH01118702A (ja) * 1987-10-30 1989-05-11 Showa Electric Wire & Cable Co Ltd 測長装置の計測値処理方法およびその回路

Also Published As

Publication number Publication date
EP0400649A3 (en) 1992-06-03
EP0400649A2 (en) 1990-12-05
US5184313A (en) 1993-02-02
JPH0749923B2 (ja) 1995-05-31
EP0400649B1 (en) 1993-12-01
DE69004860D1 (de) 1994-01-13
DE69004860T2 (de) 1994-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920010183B1 (ko) Rom테이블을 갖춘 역수연산회로
JP2940559B2 (ja) 変位検出装置
JPS5851307B2 (ja) ハケイハツセイソウチ
JPH034104A (ja) レーザ測長器のための単位変換装置
EP0478785B1 (en) Apparatus for measuring wavelength of light by high precision detection of interference fringe
US7966158B2 (en) Measurement apparatus
KR101037001B1 (ko) 트래핑 자이로의 비동기 오차 보상 방법
JPS5842890B2 (ja) デイジタル微分解析機
SU608178A1 (ru) Функциональный преобразователь
US20240264288A1 (en) Time-of-flight ranging system and time-of-flight ranging method
SU922760A2 (ru) Цифровой функциональный преобразователь
SU968767A2 (ru) Устройство измерени фазы
JP2516071Y2 (ja) 楽音波形発生装置
JPH02298872A (ja) 位相計測回路
SU813473A1 (ru) Устройство дл определени сред-НЕгО зНАчЕНи НЕСТАциОНАРНОгОСлучАйНОгО пРОцЕССА
JPH05274116A (ja) 浮動小数点演算装置
SU980264A1 (ru) Устройство ввода поправок в шкалу времени
SU734749A1 (ru) Вычислительное устройство дл определени дробных долей и целого числа полос интерференци
SU788029A1 (ru) Фазосдвигающее устройство
SU651317A1 (ru) Цифровой интерпол тор
SU864299A2 (ru) Умножитель частоты
SU1656511A1 (ru) Цифровой генератор функций
SU1228286A1 (ru) Функциональный преобразователь частота - код
SU822347A1 (ru) Вычислительный преобразовательНАпР жЕНи B КОд
SU744597A1 (ru) Цифровой функциональный преобразователь