JPH0338933Y2 - - Google Patents

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JPH0338933Y2
JPH0338933Y2 JP1983166804U JP16680483U JPH0338933Y2 JP H0338933 Y2 JPH0338933 Y2 JP H0338933Y2 JP 1983166804 U JP1983166804 U JP 1983166804U JP 16680483 U JP16680483 U JP 16680483U JP H0338933 Y2 JPH0338933 Y2 JP H0338933Y2
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JP
Japan
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deflection
electrode
deflectron
image pickup
pickup tube
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JP1983166804U
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Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の技術分野〕 この考案は、偏向電力を低減し、周辺部解像度
を向上した撮像管に関する。
〔考案の技術的背景とその問題点〕
従来、静電偏向・電磁集束型の撮像管は第1図
に示すように構成され、有底筒状の真空外囲器6
の開口端には、内面に透明導電膜2、光導電膜3
を順次積層して形成した面板1が、インジウム金
属14を介して気密封着されている。この場合、
真空外囲器6及び面板1は透明ガラス材などの透
光性材料からなつている。又、透明導電膜2は
SnO2あるいはInO3等の単体又は混合体よりなり、
光導電膜3はSb2S3,CdSe等を主成分としてい
る。そして上記面板1を軸方向に貫通して信号取
出しピン5が埋設され、一端は上記透明導電膜2
に達している。
更に上記真空外囲器6内には、電子銃が配設さ
れている。即ち、上記光導電膜3側から順次所定
間隔をおいて、網状電極7、デフレクトロン偏向
電極8、第2グリツド電極9、第1グリツド電極
10、カソード11、ヒータ12が同軸的に配列
されている。尚、水平、垂直偏向用の櫛形デフレ
クトロン偏向電極8は、図示のように真空外囲器
6の側壁内面に被着形成されている。又、網状電
極7は支持リング4を介して上記インジウム金属
14と導通しており、このインジウム金属14の
外周には非磁性体からなる金属リング13が圧接
され、インジウム金属14と共に網状電極7のリ
ード電極15となつている。又、真空外囲器6の
他端つまりステム部には、上記電子銃の各電極に
それぞれ信号、電圧を供給する複数の端子16が
貫通植設されている。更にステム部の中央には、
真空外囲器6内を10-6〜10-7Torrの高真空度に
排気する排気部17が設けられている。又、真空
外囲器6の外側には、カソード11から放射され
た電子ビーム18を集束させるコイルアツセンブ
リ19が配設されている。
そして動作時には、ヒータ12により加熱され
たカソード11から発生する電子ビーム18は、
第1グリツド電極10によりビーム量を制御さ
れ、第2グリツド電極9によつてビーム形状を整
形され、更にデフレクトロン偏向電極8により偏
向され、真空外囲器6の外側に設けられたコイル
アツセンブリ19により集束されて、光導電膜3
上を走査する。
ところで上記デフレクトロン偏向電極8を詳細
に示すと第2図及び第3図のように形成され、D
はデフレクトロン偏向電極8の直径、λはデフレ
クトロン偏向電極8の周期、gはデフレクトロン
偏向電極8間の間隙を表わし、現在の加工技術で
は、この間隙gは0.1〜0.3mmである。そして、第
2図に示す櫛型の4つの電極が第3図に示すよう
に互いに入り組んで垂直偏向電極8a,8b及び
水平偏向電極8c,8dを形成している。
従つて、周辺の近くを通る電子ビーム18は、
垂直偏向電極8a,8b及び水平偏向電極8c,
8dのそのもの自体の電界の影響を交互に受けて
歪んだ電子ビームとなり、解像度劣化を起こす。
これを避けるために、真空外囲器6の径を大きく
して、デフレクトロン偏向電極8の直径Dを大き
くすることも考えられるが、小形化のためには相
入れない。
〔考案の目的〕
この考案の目的は、偏向電力を低減し、周辺部
解像度を向上した静電偏向・電磁集束型の撮像管
を提供することである。
〔考案の概要〕
この考案は、デフレクトロン偏向電極の直径を
D、走査領域対角長をLとした場合、デフレクト
ロン偏向電極の電極周期λを (D−L)/0.8〜(D−L)/1.5 の範囲に設定した静電偏向・電磁集束型の撮像管
である。
〔考案の実施例〕
上記従来の問題点を改善するためには、デフレ
クトロン偏向電極8の周期λを細かくして垂直偏
向電極8a,8b及び水平偏向電極8c,8dの
そのもの自体の電界の電子ビーム18に対する影
響を少なくしてやることが有効となる。
ところが第4図に示す特性曲線図の解像度(実
線)及び偏向電力(破線)から明らかなように、
デフレクトロン偏向電極8の周期λを余り細かく
しすぎると、デフレクトロン偏向電極8間の間隙
gが有限であることなどから、逆に解像度劣化を
生じる。又、垂直偏向電極8a,8bと水平偏向
電極8c,8dとの隣接する距離が長くなるた
め、静電結合容量によるいわゆるクロストークが
多くなり、ひいては偏向電力の損失が多くなつて
しまう。
そこで、考案者が種々の実験の結果、デフレク
トロン偏向電極8の周期λは、下記の実験式の範
囲に入つているときに、最も解像度、特に周辺部
解像度がよく、他の特性面例えば偏向電力等につ
いても効率よくできることが判つた。
実験式は λ=(D−L)/x で表わすことができ、第4図から明らかなよう
に、xの好ましい範囲Aはx=0.8〜1.5であり、
さらに最も好ましい範囲Bはx=1.0〜1.4であ
る。ここで、λはデフレクトロン偏向電極8の周
期、Dはデフレクトロン偏向電極8の直径、Lは
撮像管の走査領域Sの対角長である。例えば1/2
吋サイズの撮像管を考えると、Lは8.25mm、Dは
11.8mmであるから、デフレクトロン偏向電極8の
周期λを好ましくは2.37〜4.44mmの間に、最も好
ましくは2.54〜3.55mmの間に設計すればよいこと
になる。
このように、この考案における静電偏向・電磁
集束型の撮像管では、デフレクトロン偏向電極8
の周期λが (D−L)/0.8〜(D−L)/1.5 の範囲に設定されている。
尚、この考案の撮像管は、上記以外は第1図の
撮像管と同様構成ゆえ、詳細な説明を省略する。
〔考案の効果〕
この考案によれば、デフレクトロン偏向電極8
の周期λを (D−L)/0.8〜(D−L)/1.5 の範囲に設定しているので、解像度特に周辺解像
度が著しく向上し、更に偏向電力が低減した。
尚、上記実施例ではいわゆるストレート型のデ
フレクトロン偏向電極8について説明してきた
が、ひねりを加えたいわゆるツイスト型のデフレ
クトロンについても上記と同様効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来及びこの考案の一実施例を説明す
るために用いる静電偏向・電磁集束型の撮像管を
示す断面図、第2図及び第3図は第1図の撮像管
に用いられているデフレクトロン偏向電極を示す
一部切欠正面図と断面図、第4図はデフレクトロ
ン偏向電極における周期と解像度、偏向電力との
関係を示す特性曲線図である。 1……面板、2……透明導電膜、3……光導電
膜、6……真空外囲器、7……網状電極、8……
デフレクトロン偏向電極、9……第2グリツド電
極、10……第1グリツド電極、11……カソー
ド、12……ヒータ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 有底筒状の真空外囲器の開口端に、内面に透明
    導電膜と光導電膜を順次形成した面板を気密封着
    し、更に上記真空外囲器内に上記光導電膜側から
    順次所定間隔をおいて、網状電極、デフレクトロ
    ン偏向電極、第2グリツド電極、第1グリツド電
    極、カソード、ヒータを同軸的に配設してなる静
    電偏向・電磁集束型の撮像管において、 上記デフレクトロン偏向電極の直径をD、撮像
    管の走査領域対角長をLとした場合、上記デフレ
    クトロン偏向電極の周期λを (D−L)/0.8〜(D−L)/1.5 の範囲に設定したことを特徴とする撮像管。
JP16680483U 1983-10-27 1983-10-27 撮像管 Granted JPS6074458U (ja)

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JP16680483U JPS6074458U (ja) 1983-10-27 1983-10-27 撮像管

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JPS6074458U JPS6074458U (ja) 1985-05-25
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JPS6074458U (ja) 1985-05-25

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