JPH0337530A - 放射温度計 - Google Patents
放射温度計Info
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- JPH0337530A JPH0337530A JP1172486A JP17248689A JPH0337530A JP H0337530 A JPH0337530 A JP H0337530A JP 1172486 A JP1172486 A JP 1172486A JP 17248689 A JP17248689 A JP 17248689A JP H0337530 A JPH0337530 A JP H0337530A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は、低温から高温に至る広範囲の測温を高精度で
おこなうことができる放射温度計に関する。
おこなうことができる放射温度計に関する。
〔従来の技術]
放射温度計は、被測温体から発生する放射をレンズある
いは凹面鏡などで集光するための集光系と、集光した放
射を検出素子に受け、これを電気信号に変換するための
変換系とからなり、これを感温筒内に収納配設して構成
されている。
いは凹面鏡などで集光するための集光系と、集光した放
射を検出素子に受け、これを電気信号に変換するための
変換系とからなり、これを感温筒内に収納配設して構成
されている。
このような従来機構の放射温度計により例えば0−10
00°Cの低温域から高温域までの測温をおこなおうと
する場合には、検出素子として用いる低温検知用の赤外
線センサーを1000°C近辺まで延長して使用しなけ
ればならないため、高温域における測温の精度ならびに
安定度が著しく減退する結果が生じる。したがって、現
状では低温用と高温用の2種類の放射温度計を用いて広
範囲の測温をカバーする方策が採られている。
00°Cの低温域から高温域までの測温をおこなおうと
する場合には、検出素子として用いる低温検知用の赤外
線センサーを1000°C近辺まで延長して使用しなけ
ればならないため、高温域における測温の精度ならびに
安定度が著しく減退する結果が生じる。したがって、現
状では低温用と高温用の2種類の放射温度計を用いて広
範囲の測温をカバーする方策が採られている。
ところが、2種類の放射温度計を使用することは、取付
はスペースの確保、測定視野合わせの煩雄性、保守およ
びコストの問題など不都合な面が多い。
はスペースの確保、測定視野合わせの煩雄性、保守およ
びコストの問題など不都合な面が多い。
本発明はこれら従来技術の問題点を解消するためになさ
れたもので、低温から高温までの温度を高精度で安定度
よく測定できる機構の放射温度計を提供することを目的
としている。
れたもので、低温から高温までの温度を高精度で安定度
よく測定できる機構の放射温度計を提供することを目的
としている。
上記の目的を達成するための本発明による放射温度計は
、被測温体から発生する放射をレンズもしくは凹面鏡に
より集光するための集光系と、集光した放射を検出素子
に受けて電気信号に変換する機構において、集光系から
の光路に赤外フィルターを介設し、前記赤外フィルター
を透過集光する位置に第1の検出素子としての赤外線セ
ンサーを、また前記赤外フィルターにより反射集光する
位置に第2の検出素子としての赤外線センサーを各配設
してなることを構成上の特徴とする。
、被測温体から発生する放射をレンズもしくは凹面鏡に
より集光するための集光系と、集光した放射を検出素子
に受けて電気信号に変換する機構において、集光系から
の光路に赤外フィルターを介設し、前記赤外フィルター
を透過集光する位置に第1の検出素子としての赤外線セ
ンサーを、また前記赤外フィルターにより反射集光する
位置に第2の検出素子としての赤外線センサーを各配設
してなることを構成上の特徴とする。
本発明に適用する赤外フィルターとしては、例えば長波
長を透過し短波長を反射するような波長選択(バンドパ
ス)性能に優れるものが好適で、この赤外フィルターを
用いることにより検出素子として配設した低温検知用お
よび高温検知用の各赤外線センサーに対する放射を合理
的に分配することができる。
長を透過し短波長を反射するような波長選択(バンドパ
ス)性能に優れるものが好適で、この赤外フィルターを
用いることにより検出素子として配設した低温検知用お
よび高温検知用の各赤外線センサーに対する放射を合理
的に分配することができる。
本発明の機構によれば、入射した放射はレンズもしくは
凹面鏡を介して集光されながら光路に設置された赤外フ
ィルターに至り、該赤外線フィルターを透過した放射は
その透過波長を検知するための第1検出素子となる赤外
線センサーに入り、同時に赤外フィルターで反射された
放射はその反射波長を検知するための第2検出素子とな
る赤外線センサーに入る。各赤外線センサーで受けた放
射は電気的に合成された信号に変換される。
凹面鏡を介して集光されながら光路に設置された赤外フ
ィルターに至り、該赤外線フィルターを透過した放射は
その透過波長を検知するための第1検出素子となる赤外
線センサーに入り、同時に赤外フィルターで反射された
放射はその反射波長を検知するための第2検出素子とな
る赤外線センサーに入る。各赤外線センサーで受けた放
射は電気的に合成された信号に変換される。
このように広範囲の放射波長を選別分配し、それぞれを
専用の赤外線センサーで検知することによって常に高精
度、高安定度の測温か可能となる。
専用の赤外線センサーで検知することによって常に高精
度、高安定度の測温か可能となる。
(実施例〕
以下、本発明を集光系に凹面鏡を用いた図示の実施例に
基づいて説明する。
基づいて説明する。
図において、1は被測温体からの放射を集光するための
凹面鏡、2は凹面鏡lからの集光光路に光軸と直角に介
設された赤外フィルター、3は赤外フィルター2を透過
集光する位置に設置された第1の検出素子としての赤外
線センサー、モして4は赤外フィルター2により反射集
光する位置に設置された第2の検出素子としての赤外線
センサーである。
凹面鏡、2は凹面鏡lからの集光光路に光軸と直角に介
設された赤外フィルター、3は赤外フィルター2を透過
集光する位置に設置された第1の検出素子としての赤外
線センサー、モして4は赤外フィルター2により反射集
光する位置に設置された第2の検出素子としての赤外線
センサーである。
赤外フィルター2としては、Stヘースの片面に8〜1
5μmの波長域を透過するロングパスフィルターを蒸着
形成したものを用い、入光側にSiベース面を向けた状
態に支持具により介設されている。第1の検出素子とな
る赤外線センサー3には低温検知用のサーモバイルを使
用し、第2の検出素子となる赤外線センサー4には高温
検知用のSiセンサーを用いた。
5μmの波長域を透過するロングパスフィルターを蒸着
形成したものを用い、入光側にSiベース面を向けた状
態に支持具により介設されている。第1の検出素子とな
る赤外線センサー3には低温検知用のサーモバイルを使
用し、第2の検出素子となる赤外線センサー4には高温
検知用のSiセンサーを用いた。
上記の機構を有する放射温度計を被測温体に向けてセッ
トすると、それから放射されるエネルギーは入射光5と
なって凹面鏡1に当たる。凹面鏡1で反射された入射光
5は集光しながら赤外フィルクー2に至り、このうち8
〜15μmの長波長光は透過して第1の赤外線センサー
3であるサーモパイルに入射する(入射率50%)。他
方、赤外フィルター2で反射された0、6〜1.2μm
の短波長光は第2の赤外線センサー4であるSiセンサ
ーに入射される(入射率40%)。
トすると、それから放射されるエネルギーは入射光5と
なって凹面鏡1に当たる。凹面鏡1で反射された入射光
5は集光しながら赤外フィルクー2に至り、このうち8
〜15μmの長波長光は透過して第1の赤外線センサー
3であるサーモパイルに入射する(入射率50%)。他
方、赤外フィルター2で反射された0、6〜1.2μm
の短波長光は第2の赤外線センサー4であるSiセンサ
ーに入射される(入射率40%)。
したがって、0〜1ooo’cの温度範囲を測温するケ
ースでは、0〜450°Cは第1の赤外線センサー3.
450〜1000°Cは第2の赤外線センサー4によっ
てそれぞれ計測されることになるが、高温検知側のセン
サーは選択された範囲の短波長のみを受光するから長波
長域を検知する低温側の測定の妨げになることはない。
ースでは、0〜450°Cは第1の赤外線センサー3.
450〜1000°Cは第2の赤外線センサー4によっ
てそれぞれ計測されることになるが、高温検知側のセン
サーは選択された範囲の短波長のみを受光するから長波
長域を検知する低温側の測定の妨げになることはない。
第1の赤外線センサー3および第2の赤外線センサー4
から出力された信号は電気的に合成され、リニアライザ
ー等により温度に対応する信号に変換される。
から出力された信号は電気的に合成され、リニアライザ
ー等により温度に対応する信号に変換される。
この例の放射温度計を低温から高温まで使用した場合の
測温精度は±0.3〜±0.5%(1000’C)であ
り、従来の低温用赤外線センサー(サーモバイル)で高
温まで測温した場合の精度±0.7〜±1%(1000
°C)に比べて優れた精度と安定度を与えることが認め
られた。
測温精度は±0.3〜±0.5%(1000’C)であ
り、従来の低温用赤外線センサー(サーモバイル)で高
温まで測温した場合の精度±0.7〜±1%(1000
°C)に比べて優れた精度と安定度を与えることが認め
られた。
〔発明の効果]
以上のとおり、本発明によれば単一の放射温度計で低温
から高温に至る広い温度域を高精度かつ安定性よく測定
することが可能となる。したがって、従来のような低温
用赤外線センサーを延長使用することに伴う精度低下、
2種類の放射温度計を使用する場合の不都合面などを全
て解消することができるから、極めて実用性に優れる測
温機器として床机な用途分野に適用することができる。
から高温に至る広い温度域を高精度かつ安定性よく測定
することが可能となる。したがって、従来のような低温
用赤外線センサーを延長使用することに伴う精度低下、
2種類の放射温度計を使用する場合の不都合面などを全
て解消することができるから、極めて実用性に優れる測
温機器として床机な用途分野に適用することができる。
図は本発明による放射温度計の実施例を示した機構説明
図である。 1・・・凹面鏡 2・・・赤外フィルター3・
・・第1の検出素子としての赤外線センサー4・・・第
2の検出素子としての赤外線センサー5・・・入射光
図である。 1・・・凹面鏡 2・・・赤外フィルター3・
・・第1の検出素子としての赤外線センサー4・・・第
2の検出素子としての赤外線センサー5・・・入射光
Claims (1)
- 1、被測温体から発生する放射をレンズもしくは凹面鏡
により集光するための集光系と、集光した放射を検出素
子に受けて電気信号に変換する機構において、集光系か
らの光路に赤外フィルター(2)を介設し、前記赤外フ
ィルター(2)を透過集光する位置に第1の検出素子と
しての赤外線センサー(3)を、また前記赤外フィルタ
ー(2)により反射集光する位置に第2の検出素子とし
ての赤外線センサー(4)を各配設してなることを特徴
とする放射温度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1172486A JPH0337530A (ja) | 1989-07-04 | 1989-07-04 | 放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1172486A JPH0337530A (ja) | 1989-07-04 | 1989-07-04 | 放射温度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0337530A true JPH0337530A (ja) | 1991-02-18 |
JPH0585014B2 JPH0585014B2 (ja) | 1993-12-06 |
Family
ID=15942879
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1172486A Granted JPH0337530A (ja) | 1989-07-04 | 1989-07-04 | 放射温度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0337530A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04122336U (ja) * | 1991-04-20 | 1992-11-02 | 株式会社堀場製作所 | 放射温度計 |
JP2010179309A (ja) * | 2009-02-03 | 2010-08-19 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010179308A (ja) * | 2009-02-03 | 2010-08-19 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214439A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214440A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214442A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214444A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214443A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214441A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53163184U (ja) * | 1977-05-27 | 1978-12-20 |
-
1989
- 1989-07-04 JP JP1172486A patent/JPH0337530A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53163184U (ja) * | 1977-05-27 | 1978-12-20 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04122336U (ja) * | 1991-04-20 | 1992-11-02 | 株式会社堀場製作所 | 放射温度計 |
JP2010179309A (ja) * | 2009-02-03 | 2010-08-19 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010179308A (ja) * | 2009-02-03 | 2010-08-19 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214439A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214440A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214442A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214444A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214443A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
JP2010214441A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Jfe Steel Corp | 厚鋼板の材質保証設備 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0585014B2 (ja) | 1993-12-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |