JPH033574Y2 - - Google Patents

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JPH033574Y2
JPH033574Y2 JP16786286U JP16786286U JPH033574Y2 JP H033574 Y2 JPH033574 Y2 JP H033574Y2 JP 16786286 U JP16786286 U JP 16786286U JP 16786286 U JP16786286 U JP 16786286U JP H033574 Y2 JPH033574 Y2 JP H033574Y2
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substrate holder
holder
chamber
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Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案はガラス基板等の表面に金属或いは絶縁
物の薄膜を形成する高周波スパツタ装置に関す
る。
(従来の技術) 陽極側に基板を、陰極側にターゲツトを配設
し、両電極間に高周波電圧を印加することで基板
表面にターゲツトを構成する材料からなる薄膜を
形成するようにした高周波スパツタ装置が従来か
ら使用されている。
この高周波スパツタ装置の構造は第3図に示す
ように、アースされたチヤンバー100内に同じ
くアースされた基板ホルダー101を配置し、こ
の基板ホルダー101に基板102を保持し、ま
た高周波電源103に接続されたバツキングプレ
ート104を絶縁材を介してチヤンバー100内
に臨ませ、このバツキングプレート104にター
ゲツト押え105によつてターゲツト106を固
定している。
そして、前記バツキングプレート104、ター
ゲツト押え105及びターゲツト106にてカソ
ードが構成され、このカソードに高周波が印加さ
れるのであるが、バツキングプレート104及び
ターゲツト押え105における放電を防ぐため、
カソードシールド107にてバツキングプレート
104の周縁及びターゲツト押え105を覆つて
いる。
(考案が解決しようとする問題点) 上述した高周波スパツタ装置にあつてはチヤン
バー内の浮遊容量が大きく、電極表面の僅かな変
化により本来的に同電位であるべき基板ホルダー
101とカソードシールド107との電位が変化
し、異常放電が発生しやすい。
特にターゲツト106を絶縁物とした場合や基
板ホルダー101を移動可能とした場合には上記
の不利が顕著となる。即ち、絶縁物をターゲツト
とした場合には、基板102以外つまり基板ホル
ダー101やカソードシールド107に絶縁壁が
形成され、電極面積が変化して基板ホルダー10
1とカソードシールド107との電位が変化し、
また基板ホルダー101を移動可能とした場合に
は、通常基板ホルダー101はチヤンバー100
に接触することで間接的にアースされているが、
移動時にこのアースが不安定となり、カソードシ
ールドとの間に電位差が生じ異常放電が発生す
る。
(問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決すべく本考案は高周波スパツ
タ装置の基板ホルダーとカソードシールドとを導
電部材を介して直接接続するようにした。
(作用) 基板ホルダーとカソードシールドとを常に同電
位となるようにしたため、チヤンバー内の浮遊容
量が減少し、異常放電がなくなる。
(実施例) 以下に本考案の実施例を添付図面に基いて説明
する。
第1図は本考案に係る高周波スパツタ装置の基
本概念を説明した構成図であり、金属製チヤンバ
ー1はアースされ、その一部にはスパツタガス導
入口2及び排気口3が形成されている。そしてチ
ヤンバー1内には金属製の基板ホルダー4が設け
られており、この基板ホルダー4にはガラス板、
半導体ウエハー等の基板5が保持されている。
尚、基板ホルダー4は図示しない支持機構によつ
てチヤンバー1に支持されている。
一方チヤンバー1底部には開口6が形成され、
この開口6には絶縁体7を介して高周波電源8と
容量性結合をしたバツキングプレート9が臨み、
このバツキングプレート9上にはターゲツト10
がターゲツト押え11にて保持されている。ここ
でターゲツト10としては例えばITO(インジウ
ム・スズ・オキサイド)或いはSiO2等の絶縁物
とする。
また前記開口6のチヤンバー1内側部分にはカ
ソードシールド12を取付け、このカソードシー
ルド12にてバツキングプレート9の周縁部及び
ターゲツト押え11を覆うことでパツキングプレ
ート9及びターゲツト押え11における異常放電
を阻止し、材料放射をターゲツト10に限定して
いる。尚、カソードシールド12とバツキングプ
レート9又はターゲツト押え11との間隔は陰極
降下部よりも小さく設定されている。更にカソー
ドシールド12と前記基板ホルダー4とは導電部
材13にて電気的に直接接続されている。
以上において、チヤンバー内を減圧してスパツ
タガスを導入し、高周波電圧を印加すると、チヤ
ンバー1内で放電が生じ、スパツタガスの正イオ
ンがターゲツト10に衝突し、この衝突によつて
ターゲツト10の構成分子を叩き出し、叩き出さ
れた分子が基板5表面に薄膜状に付着する。
第2図は基板ホルダー4を移動可能とした具体
例の要部拡大図であり、前記導電部材13をカソ
ードシールド12に固着されたブラケツト14と
このブラケツト14に固着された板ばね15にて
構成し、基板ホルダー4は図中矢印方向に移動す
るものとし、この基板ホルダー4には所定位置つ
まり基板5がターゲツト10上に対向する位置ま
で移動した際に前記板ばね15に接触する導電バ
ー16を取付けている。そして、導電バー16及
び板バネ15の先端は互いに反対方向に湾曲し、
導電バー16と板バネ15とがひつかかることな
く確実に接触するようにしている。
また、バツキングプレート9下方にはプラズマ
収束用磁界発生コイル17を配置し、基板5とタ
ーゲツト10との間の空間におけるプラズマ密度
(放電密度)を大とし、効率よくスパツタリング
を施すようにしている。
尚、図示例にあつては基板5を水平状態で搬送
する装置について説明したが、本考案に係るスパ
ツタ装置は基板5を垂直状態で搬送する場合にも
同様に適用できる。
(考案の効果) 以上に説明した如く本考案によれば、高周波ス
パツタ装置の陽極となる基板ホルダー及びカソー
ドシールドを導電部材にて電気的に直接接続した
ため、電極間に高周波電圧を印加した際、常に基
板ホルダーとカソードシールドとが同電位とな
り、その結果、チヤンバー内の浮遊容量が減少
し、異常放電が抑制され、安定したスパツタリン
グが行える。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係る高周波スパツタ装置の概
略構成図、第2図は基板ホルダーを移動可能とし
た高周波スパツタ装置の要部拡大図、第3図は従
来の高周波スパツタ装置の概略図である。 尚、図面中1はチヤンバー、4は基板ホルダ
ー、5は基板、8は高周波電源、9はバツキング
プレート、10はターゲツト、11はターゲツト
押え、12はカソードシールド、13は導電部材
である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 基板ホルダーに保持された基板とバツキングプ
    レートにターゲツト押えによつて保持されたター
    ゲツトとをチヤンバー内にて対向配置せしめると
    ともに、ターゲツト押えをカソードシールドで覆
    うようにした高周波スパツタ装置において、前記
    カソードシールドと基板ホルダーとは導電部材を
    介して電気的に直接接続されていることを特徴と
    する高周波スパツタ装置。
JP16786286U 1986-10-31 1986-10-31 Expired JPH033574Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16786286U JPH033574Y2 (ja) 1986-10-31 1986-10-31

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JP16786286U JPH033574Y2 (ja) 1986-10-31 1986-10-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6373356U JPS6373356U (ja) 1988-05-16
JPH033574Y2 true JPH033574Y2 (ja) 1991-01-30

Family

ID=31100195

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JP16786286U Expired JPH033574Y2 (ja) 1986-10-31 1986-10-31

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JPS6373356U (ja) 1988-05-16

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