JPH0335603B2 - - Google Patents
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- JPH0335603B2 JPH0335603B2 JP61134992A JP13499286A JPH0335603B2 JP H0335603 B2 JPH0335603 B2 JP H0335603B2 JP 61134992 A JP61134992 A JP 61134992A JP 13499286 A JP13499286 A JP 13499286A JP H0335603 B2 JPH0335603 B2 JP H0335603B2
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 20
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、所定の距離範囲にある物体を検出
する検出装置であり、物体の有無の検出、物体ま
での距離またはその位置の検出などに利用するの
に適当な検出装置である。
する検出装置であり、物体の有無の検出、物体ま
での距離またはその位置の検出などに利用するの
に適当な検出装置である。
「従来の技術」
物体の有無や距離などを検出する物体検出装置
としては様々な構成のものがあるが、その一例を
第8図に示す。
としては様々な構成のものがあるが、その一例を
第8図に示す。
この図において、1は検出器、2は赤外ダイオ
ードからなる投光器、3,4は赤外線光を受光す
る受光器、5は検出しようとする物体である。
ードからなる投光器、3,4は赤外線光を受光す
る受光器、5は検出しようとする物体である。
この検出器1は、投光器2からパルス変調した
赤外線光を物体5に投射し、受光器3,4が物体
5の反射光を受交し、これら受光器3,4の出力
電圧V1,V2の差電圧から物体距離を判別する構
成となつている。
赤外線光を物体5に投射し、受光器3,4が物体
5の反射光を受交し、これら受光器3,4の出力
電圧V1,V2の差電圧から物体距離を判別する構
成となつている。
具体的には、物体5がA位置にあるときには、
受光器3の出力電圧V1が第8図bに示したよう
にV1aまたはV1bとなつて最大となり、物体5が
c位置にあるときには、受光器4の出力電圧V2
が図示するところのV2aまたはV2bとなつて最大
となる。
受光器3の出力電圧V1が第8図bに示したよう
にV1aまたはV1bとなつて最大となり、物体5が
c位置にあるときには、受光器4の出力電圧V2
が図示するところのV2aまたはV2bとなつて最大
となる。
なお、出力電圧V1a,V2aは物体5が白色の場
合で、出力電圧V1b,V2bはこれが黒色の場合で
ある。
合で、出力電圧V1b,V2bはこれが黒色の場合で
ある。
したがつて、V1≧V2の条件を定めれば、第8
図bの距離位置L2が最大検出距離となり、この
位置L2より左方向(物体位置BからA方向)が
検出領域、この位置L2より右方向(物体位置B
からC方向)が非検出領域となり、所定距離内に
ある物体5を検出することができる。
図bの距離位置L2が最大検出距離となり、この
位置L2より左方向(物体位置BからA方向)が
検出領域、この位置L2より右方向(物体位置B
からC方向)が非検出領域となり、所定距離内に
ある物体5を検出することができる。
「発明が解決しようとする問題点」
上記した検出器1は以下に述べる各点において
開発することが好ましい。
開発することが好ましい。
(1) 距離位置L2を境にして、その内側が検出で
き、外側が検出できない。すなわち、検出のリ
ミツト点が遠点側の一点であるため、物体5の
有無は検出できても、その距離或いは位置につ
いては検出することができない。
き、外側が検出できない。すなわち、検出のリ
ミツト点が遠点側の一点であるため、物体5の
有無は検出できても、その距離或いは位置につ
いては検出することができない。
(2) 一個の投光器2がパルス変調した赤外線光を
発生する構成であるため、パルス変調に伴なう
電圧変動が電源ラインに生じ他の回路に影響を
及ぼす。
発生する構成であるため、パルス変調に伴なう
電圧変動が電源ラインに生じ他の回路に影響を
及ぼす。
この電圧変動の影響を解決するため、投光器
2にダミー抵抗を並列に接続し、投光器2の電
流が遮断される毎にこのダミー抵抗を介して電
流を流すようにすることが考えられるが、抵抗
の発熱、抵抗の大きさなどが問題となつて好ま
しくない。
2にダミー抵抗を並列に接続し、投光器2の電
流が遮断される毎にこのダミー抵抗を介して電
流を流すようにすることが考えられるが、抵抗
の発熱、抵抗の大きさなどが問題となつて好ま
しくない。
(3) 周囲光がノイズとして受光器3または4のい
ずれかに入射することによつて誤動作の検出と
なることがある。
ずれかに入射することによつて誤動作の検出と
なることがある。
(4) 移動する物体を検出する場合に、検出器1の
取り付けに制限を受ける。例えば、第8図aに
おいて、物体が上から下に向かつて移動すると
きには検出することができないため、検出器1
の取り付け位置が物体の移動方向によつて定め
られることになつて不便である。
取り付けに制限を受ける。例えば、第8図aに
おいて、物体が上から下に向かつて移動すると
きには検出することができないため、検出器1
の取り付け位置が物体の移動方向によつて定め
られることになつて不便である。
「問題点を解決するための手段」
本発明は上記したところの問題点を解決するこ
とを目的とする。
とを目的とする。
しかして、本発明では、検出物体を異なる照射
角で交互に照射する第1の光源と第2の光源とを
含み、第1の光源の照射角に比べ第2の光源の照
射角を大きくして各々の光軸を交叉させるように
して検出物体の反射光が第1、第2の光源の照射
角にしたがつて変化するようにした投光器と、上
記検出物体の反斜面に対してほぼ直交する方向に
配置し、上記照射光軸の交叉点の側方を通る検出
物体の反射光を受光々軸として受光する受光器
と、第1の光源と第2の光源の照射による照射角
にしたがつた反射光を上記受光器の出力信号から
比較し、第1の光源の照射時の出力信号と第2の
光源の照射時の出力信号の大小より検出物体の位
置または距離を判断する信号処理回路とからなる
ことを特徴とする物体検出装置を提案する。
角で交互に照射する第1の光源と第2の光源とを
含み、第1の光源の照射角に比べ第2の光源の照
射角を大きくして各々の光軸を交叉させるように
して検出物体の反射光が第1、第2の光源の照射
角にしたがつて変化するようにした投光器と、上
記検出物体の反斜面に対してほぼ直交する方向に
配置し、上記照射光軸の交叉点の側方を通る検出
物体の反射光を受光々軸として受光する受光器
と、第1の光源と第2の光源の照射による照射角
にしたがつた反射光を上記受光器の出力信号から
比較し、第1の光源の照射時の出力信号と第2の
光源の照射時の出力信号の大小より検出物体の位
置または距離を判断する信号処理回路とからなる
ことを特徴とする物体検出装置を提案する。
本発明では、物体が狭い検出範囲にあるときの
み検出されるので、物体の有無にかぎらず、物体
の位置またはその距離についても大体に検出する
ことができ、また、投光器は2つの光源を交互に
照射させる構成であり、照射光のパルス変調によ
つて発生する電圧変動の影響がなく、その上、受
光器が一個であるので、周囲光によるノイズによ
つて誤動作となることがなく、物体の移動方向に
よつて装置の取り付け位置が制限されることもな
い。
み検出されるので、物体の有無にかぎらず、物体
の位置またはその距離についても大体に検出する
ことができ、また、投光器は2つの光源を交互に
照射させる構成であり、照射光のパルス変調によ
つて発生する電圧変動の影響がなく、その上、受
光器が一個であるので、周囲光によるノイズによ
つて誤動作となることがなく、物体の移動方向に
よつて装置の取り付け位置が制限されることもな
い。
「実施例」
次に、本発明の実施例について図面に沿つて説
明する。
明する。
第1図は本発明の基本構成を示す説明図で、1
1は第1光源、12は第2光源であり、これらは
交互に発光させる発光ダイオードなどの発光素子
で、第1光源11が光軸11Lを、第2光源12
が光軸12Lを有する投光器を形成している。
1は第1光源、12は第2光源であり、これらは
交互に発光させる発光ダイオードなどの発光素子
で、第1光源11が光軸11Lを、第2光源12
が光軸12Lを有する投光器を形成している。
13はフオト・トランジスタなどからなる受光
器で、これは受光軸13Lを有している。
器で、これは受光軸13Lを有している。
なお、上記した光軸11L,12L及び受光軸
13Lは光が最も強く機能する光の主軸を意味す
る。上記受光軸13Lはy軸に沿うように、ま
た、そのx軸には基線Gを合わせて各々設定して
あつて、これらx、y座標に対して、 上記光軸11Lが、y=a1x+b1 上記光軸12Lが、y=−a2x+b2 の方程式にしたがつて設定されている。
13Lは光が最も強く機能する光の主軸を意味す
る。上記受光軸13Lはy軸に沿うように、ま
た、そのx軸には基線Gを合わせて各々設定して
あつて、これらx、y座標に対して、 上記光軸11Lが、y=a1x+b1 上記光軸12Lが、y=−a2x+b2 の方程式にしたがつて設定されている。
ただし、a1<a2、b1<b2である。
なお、受光軸13Lは上記より明らかであるよ
うに、x=0の方程式にしたがつている。
うに、x=0の方程式にしたがつている。
上記した基本構成において、平面的な物体が基
線Gに平行に置かれた場合を想定すると、第1光
源11と第2光源12から交互に投光される照射
光が物体に反射されて受光器13に入射し、受光
器13には第1、第2光源11,12の照射光に
したがつた光電変換電流が流れる。
線Gに平行に置かれた場合を想定すると、第1光
源11と第2光源12から交互に投光される照射
光が物体に反射されて受光器13に入射し、受光
器13には第1、第2光源11,12の照射光に
したがつた光電変換電流が流れる。
さて、第1光源11と第2光源12との照射光
の分布状態について考えてみる。第2図は第1光
源11の照射光を基線Gと平行に切断した状態を
示す説明図であり、この図より分かるように、光
の分布状態は光軸11Lから離れるほど強さが減
衰する。なお、この図において、14は光の強さ
を、15は光の分布状態を簡略的に示したもので
ある。上記の光の強さの減衰は第2光源12につ
いても同様である。
の分布状態について考えてみる。第2図は第1光
源11の照射光を基線Gと平行に切断した状態を
示す説明図であり、この図より分かるように、光
の分布状態は光軸11Lから離れるほど強さが減
衰する。なお、この図において、14は光の強さ
を、15は光の分布状態を簡略的に示したもので
ある。上記の光の強さの減衰は第2光源12につ
いても同様である。
このことから、第1光源11、第2光源12の
照射光の明るさは、光軸11L,12Lからの遠
近によつて判断することができるから、次に、こ
の遠近による判断にしたがつて本発明の検出手段
について説明する。
照射光の明るさは、光軸11L,12Lからの遠
近によつて判断することができるから、次に、こ
の遠近による判断にしたがつて本発明の検出手段
について説明する。
先ず、光軸11Lと12Lの交点をx2、y2と
し、基線Gと平行に置かれた物体がこの交点上に
ある場合に、第1光源11の投光による受光軸1
3Lに及ぼす物体反射光11LAと、第2光源1
2の投光による受光軸13Lに及ぼす物体反射光
12LAとが同一となるように、これら第1、第
2光源の照射光の強さを定める。つまり、物体が
上記した位置にあるときには、受光器13が第1
光源11を照射させたときと、第2光源12を照
射させたときとで同一の光量を受光するように設
定する。このように設定するため、第1光源11
の照射光は第2光源12の照射光に比べて大きく
定めてある。
し、基線Gと平行に置かれた物体がこの交点上に
ある場合に、第1光源11の投光による受光軸1
3Lに及ぼす物体反射光11LAと、第2光源1
2の投光による受光軸13Lに及ぼす物体反射光
12LAとが同一となるように、これら第1、第
2光源の照射光の強さを定める。つまり、物体が
上記した位置にあるときには、受光器13が第1
光源11を照射させたときと、第2光源12を照
射させたときとで同一の光量を受光するように設
定する。このように設定するため、第1光源11
の照射光は第2光源12の照射光に比べて大きく
定めてある。
上記のように条件設定すると、第7図に示した
反射光特性より分かる如く、x0=0として物体が
(x0、y2)に置かれた場合の他に、(x0、y1)に置
かれた場合に11LA=12LAとなる。
反射光特性より分かる如く、x0=0として物体が
(x0、y2)に置かれた場合の他に、(x0、y1)に置
かれた場合に11LA=12LAとなる。
なお、点線11L′は受光軸13Lを対称軸とし
て画いたもので、交点(x1、y1)は光軸12Lと
の交点である。基線Gに平行な物体がこの交点
(x1、y1)上にあるときには、受光軸13Lに対
する光軸11Lと光軸12Lとの距離が等しく、
光軸11Lと光軸12Lによる物体反射光11
LAと12LAが等しくなる。
て画いたもので、交点(x1、y1)は光軸12Lと
の交点である。基線Gに平行な物体がこの交点
(x1、y1)上にあるときには、受光軸13Lに対
する光軸11Lと光軸12Lとの距離が等しく、
光軸11Lと光軸12Lによる物体反射光11
LAと12LAが等しくなる。
また、物体位置がy≦y1、x=0となる場合に
は、光軸12Lは光軸11Lより受光軸13L寄
りとなるから、11LA≦12LAとなり、また、物体
位置がy≧y2となるときも同様の理由により、
11LA≦12LAとなる。
は、光軸12Lは光軸11Lより受光軸13L寄
りとなるから、11LA≦12LAとなり、また、物体
位置がy≧y2となるときも同様の理由により、
11LA≦12LAとなる。
物体位置がy1<y<y2の場合には、上記とは逆
に、光軸11LAが光軸12Lに比べて受光軸1
3L寄りとなるため、11LA>12LAとなる。した
がつて、11LA>12LAを検出条件とすれば、物体
がy1<y<y2の位置にあることが判定できる。
に、光軸11LAが光軸12Lに比べて受光軸1
3L寄りとなるため、11LA>12LAとなる。した
がつて、11LA>12LAを検出条件とすれば、物体
がy1<y<y2の位置にあることが判定できる。
なお、上記説明では交点(x2、y2)を正の領域
に定めたが、この交点は(−x2、y2)としてもよ
く、この場合、y≦y1、y≧y2の条件が反対とな
るが、y1<y<y2の位置として同様に物体が検出
される。
に定めたが、この交点は(−x2、y2)としてもよ
く、この場合、y≦y1、y≧y2の条件が反対とな
るが、y1<y<y2の位置として同様に物体が検出
される。
第3図は本発明の第1実施例を示す電気回路の
ブロツク図で、第1光源11、第2光源12及び
受光器13は第1図に示した基本構成にしたがつ
て配置されている。
ブロツク図で、第1光源11、第2光源12及び
受光器13は第1図に示した基本構成にしたがつ
て配置されている。
また、この図において、16はクロツクパルス
PTを入力し、このパルスPTのローレベルで第1
状態、ハイレベルで第2状態となる切換スイツチ
で、第1状態では第1光源11を給電し、第2状
態では第2光源12を給電する。
PTを入力し、このパルスPTのローレベルで第1
状態、ハイレベルで第2状態となる切換スイツチ
で、第1状態では第1光源11を給電し、第2状
態では第2光源12を給電する。
17はクロツクパルスPTを入力して動作する
信号分配器で、このパルスPTのローレベルで、
第1光源11の照射光にもとずく受光器13の出
力信号を積分器18に供給し、上記パルスPTの
ハイレベルで、第2光源12の照射光にもとずく
受光器13の出力信号を積分器19に供給する。
信号分配器で、このパルスPTのローレベルで、
第1光源11の照射光にもとずく受光器13の出
力信号を積分器18に供給し、上記パルスPTの
ハイレベルで、第2光源12の照射光にもとずく
受光器13の出力信号を積分器19に供給する。
20は積分器18の積分電圧18Eと、積分器
19の積分電圧19Eとを比較し、18E>19Eの
とき出力“1”、18E≦19Eのとき出力“0”とな
るコンパレータである。
19の積分電圧19Eとを比較し、18E>19Eの
とき出力“1”、18E≦19Eのとき出力“0”とな
るコンパレータである。
なお、上記した切換スイツチ16、信号分配器
17はトランジスタ回路、または論理回路などの
公知の手段で構成し、積分器18,19はコンデ
ンサやカウンタなどを用いる。
17はトランジスタ回路、または論理回路などの
公知の手段で構成し、積分器18,19はコンデ
ンサやカウンタなどを用いる。
上記実施例では、切換スイツチ16がクロツク
パルスPTを入力することで、第1光源11と第
2光源12とが交互に発光し、また、信号分配器
17が受光器13の出力信号を積分器18または
19に分配する。
パルスPTを入力することで、第1光源11と第
2光源12とが交互に発光し、また、信号分配器
17が受光器13の出力信号を積分器18または
19に分配する。
そこで、第1図において説明したように、物体
がy1<y<y2の範囲に位置していれば、物体反射
光11LA(第1光源11の照射による受光軸13
L上の物体反射光)と、物体反射光12LA(第2
光源12の照射による受光軸13L上の物体反射
光)との関係が、11LA>12LAとなることによ
り、積分電圧が18E>19Eとなつてコンパレータ
出力が“1”となる。
がy1<y<y2の範囲に位置していれば、物体反射
光11LA(第1光源11の照射による受光軸13
L上の物体反射光)と、物体反射光12LA(第2
光源12の照射による受光軸13L上の物体反射
光)との関係が、11LA>12LAとなることによ
り、積分電圧が18E>19Eとなつてコンパレータ
出力が“1”となる。
反面、物体がy1≧y、y2≦yの範囲に位置して
いる場合には、既に説明したところから分かる通
り、11LA≦12LAとなるため、18E≦19Eとなり、
コンパレータ出力“0”となる。
いる場合には、既に説明したところから分かる通
り、11LA≦12LAとなるため、18E≦19Eとなり、
コンパレータ出力“0”となる。
このように、コンパレータ20の出力状態か
ら、物体位置がy1<y<y2の範囲にあることが判
知し得る。
ら、物体位置がy1<y<y2の範囲にあることが判
知し得る。
また、周囲光(外光)があれば、受光器13が
第1、第2光源の照射光と共に周囲光を受光とす
るが、積分器18,19の積分電圧が同じように
増加するからコンパレータ20によつて相殺さ
れ、周囲光による影響がない。物体の反射率が違
う場合には積分器18,19の積分電圧が同じよ
うに増減することになるため、上記と同様な理由
により検出精度が低下しない。
第1、第2光源の照射光と共に周囲光を受光とす
るが、積分器18,19の積分電圧が同じように
増加するからコンパレータ20によつて相殺さ
れ、周囲光による影響がない。物体の反射率が違
う場合には積分器18,19の積分電圧が同じよ
うに増減することになるため、上記と同様な理由
により検出精度が低下しない。
第4図は本発明の第2実施例を示す電気回路の
ブロツク図である。
ブロツク図である。
この実施例は、第1実施例の信号分配器17、
積分器18,19及びコンパレータ20に換え
て、微分回路21、フリツプフロツプ22を使用
し、受光器13の出力信号の位相より物体位置を
検出する構成となつている。
積分器18,19及びコンパレータ20に換え
て、微分回路21、フリツプフロツプ22を使用
し、受光器13の出力信号の位相より物体位置を
検出する構成となつている。
上記微分回路21は受光器13の出力信号(パ
ルス信号)から直流バイアス分を取り除く回路で
あり、上記フリツプフロツプ22は受光器13の
出力信号を微分回路21を介してD端子に、クロ
ツクパルスPTをC端子に各々入力し、クロツク
パルスPTの立ち上がり時にD端子に入力する出
力信号状態をQ端子に出力するDタイプフリツプ
フロツプである。
ルス信号)から直流バイアス分を取り除く回路で
あり、上記フリツプフロツプ22は受光器13の
出力信号を微分回路21を介してD端子に、クロ
ツクパルスPTをC端子に各々入力し、クロツク
パルスPTの立ち上がり時にD端子に入力する出
力信号状態をQ端子に出力するDタイプフリツプ
フロツプである。
第5図は受光器13の出力信号パルスを示すタ
イムチヤートを示し、第5図aは物体がy2<y
(例えば、y=b2)に位置しているときの出力信
号パルスP1、第5図bは物体がy1<y<y2(例え
ば、y=b1)に位置しているときの出力信号パル
スP2、第3図cは物体がy1>yに位置していると
きの出力信号パルスP3、第5図dはクロツクパ
ルスPTを各々示している。
イムチヤートを示し、第5図aは物体がy2<y
(例えば、y=b2)に位置しているときの出力信
号パルスP1、第5図bは物体がy1<y<y2(例え
ば、y=b1)に位置しているときの出力信号パル
スP2、第3図cは物体がy1>yに位置していると
きの出力信号パルスP3、第5図dはクロツクパ
ルスPTを各々示している。
物体位置がy2<yの範囲では、上記したよう
に、11LA<12LAより、受光器13に対してはク
ロツクパルスPTのハイレベル時に発光する第2
光源12の照射光が大きく作用し、その結果、第
5図aの出力信号パルスP1はクロツクパルスPT
と同相となる。
に、11LA<12LAより、受光器13に対してはク
ロツクパルスPTのハイレベル時に発光する第2
光源12の照射光が大きく作用し、その結果、第
5図aの出力信号パルスP1はクロツクパルスPT
と同相となる。
物体位置がy1<y<y2の範囲では、11LA>
12LAより、受光器13に対してはクロツクパル
スPTのローレベル時に発光する第1光源11の
照射光が大きく作用するため、出力信号パルス
P2が第5図bに示すように、クロツクパルスPT
に対して逆位相となる。
12LAより、受光器13に対してはクロツクパル
スPTのローレベル時に発光する第1光源11の
照射光が大きく作用するため、出力信号パルス
P2が第5図bに示すように、クロツクパルスPT
に対して逆位相となる。
物体位置がy1>yの範囲では、11LA<12LAよ
り、第5図aと同様にクロツクパルスPTと同相
の第5図cの出力信号パルスP3となる。
り、第5図aと同様にクロツクパルスPTと同相
の第5図cの出力信号パルスP3となる。
第5図では説明の便宜上、クロツクパルスPT
の立ち上がりに対して、出力信号パルスP2の立
ち下がりを一致させて画いたが、実際には、第1
光源11の発光、物体の反射、受光器13の受
光、微分回路21の動作を伴い、フリツプフロツ
プ22に入力される出力信号パルスP2には位相
遅れが生じる。
の立ち上がりに対して、出力信号パルスP2の立
ち下がりを一致させて画いたが、実際には、第1
光源11の発光、物体の反射、受光器13の受
光、微分回路21の動作を伴い、フリツプフロツ
プ22に入力される出力信号パルスP2には位相
遅れが生じる。
第6図はクロツクパルスPTに対する出力信号
パルスP2の位相遅れの関係を示す。なお、この
図は時間軸を引き延ばして示してある。フリツプ
フロツプ22はクロツクパルスPTの立ち上がり
時のD端子の入力信号がQ端子に出力して保持す
るから、出力信号パルスP2のハイレベルの状態
が“1”出力としてQ端子に発生し、この出力状
態より、物体がy1<y<y2の範囲内に位置してい
ることが分かる。
パルスP2の位相遅れの関係を示す。なお、この
図は時間軸を引き延ばして示してある。フリツプ
フロツプ22はクロツクパルスPTの立ち上がり
時のD端子の入力信号がQ端子に出力して保持す
るから、出力信号パルスP2のハイレベルの状態
が“1”出力としてQ端子に発生し、この出力状
態より、物体がy1<y<y2の範囲内に位置してい
ることが分かる。
本実施例の場合、周囲光、物体の反射率の違い
は出力信号パルスの位相には関係しないから、周
囲光や物体の反射率による影響がない。
は出力信号パルスの位相には関係しないから、周
囲光や物体の反射率による影響がない。
なお、本発明は、第1光源、第2光源として赤
外ダイオードを使用し、受光器13には赤外線透
過フイルタを設けることによつて赤外線エネルギ
ーを利用した物体検出装置として構成し得る。
外ダイオードを使用し、受光器13には赤外線透
過フイルタを設けることによつて赤外線エネルギ
ーを利用した物体検出装置として構成し得る。
「発明の効果」
上記した通り、本発明に係る物体検出装置は、
物体が狭い検出範囲にあるときのみ検出されるの
で、物体の有無にかぎらず、物体の位置または物
体までの距離についても大体に検出することがで
きる。
物体が狭い検出範囲にあるときのみ検出されるの
で、物体の有無にかぎらず、物体の位置または物
体までの距離についても大体に検出することがで
きる。
また、投光器については第1、第2光源を交互
に照射させる構成としたので、これら光源を並列
に接続して交互に電流に流すようにすることで、
電源電流が断続せず、照射光のパルス変調に伴な
う電圧変動の影響を防止し得る。
に照射させる構成としたので、これら光源を並列
に接続して交互に電流に流すようにすることで、
電源電流が断続せず、照射光のパルス変調に伴な
う電圧変動の影響を防止し得る。
さらに、受光器を一個としたことから、周囲光
が第1、第2光源の照射光に同じように作用し、
この周囲光による影響がなく、移動する物体を検
出する場合に、その移動方向によつて検出装置の
取り付け位置が制限されることがない。
が第1、第2光源の照射光に同じように作用し、
この周囲光による影響がなく、移動する物体を検
出する場合に、その移動方向によつて検出装置の
取り付け位置が制限されることがない。
第1図及び第2図は本発明の基本構成を説明す
るための説明図、第3図は本発明の第1実施例を
示す電気回路のブロツク図、第4図は本発明の第
2実施例を示す電気回路のブロツク図、第5図は
受光器の出力信号パルスを示すタイムチヤート、
第6図は物体の検出信号としての出力信号パルス
とクロツクパルスとの拡大部分図、第7図は物体
位置と物体反射光特性との関係を示す図、第8図
aは従来例として示した物体検出装置の簡略図、
第8図bは受光器の出力特性と検出状態を示す図
である。 11……第1光源、12……第2光源、13…
…受光器、16……切換スイツチ、17……信号
分配器、18,19……積分器、20……コンパ
レータ、21……微分回路、22……フリツプフ
ロツプ。
るための説明図、第3図は本発明の第1実施例を
示す電気回路のブロツク図、第4図は本発明の第
2実施例を示す電気回路のブロツク図、第5図は
受光器の出力信号パルスを示すタイムチヤート、
第6図は物体の検出信号としての出力信号パルス
とクロツクパルスとの拡大部分図、第7図は物体
位置と物体反射光特性との関係を示す図、第8図
aは従来例として示した物体検出装置の簡略図、
第8図bは受光器の出力特性と検出状態を示す図
である。 11……第1光源、12……第2光源、13…
…受光器、16……切換スイツチ、17……信号
分配器、18,19……積分器、20……コンパ
レータ、21……微分回路、22……フリツプフ
ロツプ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 検出物体を異なる照射角で交互に照射する第
1の光源と第2の光源とを含み、第1の光源の照
射角に比べ第2の光源の照射角を大きくして各々
の光軸を交叉させるようにして検出物体の反射光
が第1、第2の光源の照射角にしたがつて変化す
るようにした投光器と、上記検出物体の反射面に
対してほぼ直交する方向に配置し、上記照射光軸
の交叉点の側方を通る検出物体の反射光を受光々
軸として受光する受光器と、第1の光源と第2の
光源の照射による照射角にしたがつた反射光を上
記受光器の出力信号から比較し、第1の光源の照
射時の出力信号と第2の光源の照射時の出力信号
の大小より検出物体の位置または距離を判断する
信号処理回路とからなることを特徴とする物体検
出装置。 2 上記第1、第2の光源が赤外ダイオードなど
の赤外線エネルギー発生源、上記受光器が赤外線
エネルギーを受けて電気変換する変換器からなる
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の物
体検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61134992A JPS62291508A (ja) | 1986-06-12 | 1986-06-12 | 物体検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61134992A JPS62291508A (ja) | 1986-06-12 | 1986-06-12 | 物体検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62291508A JPS62291508A (ja) | 1987-12-18 |
JPH0335603B2 true JPH0335603B2 (ja) | 1991-05-28 |
Family
ID=15141405
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61134992A Granted JPS62291508A (ja) | 1986-06-12 | 1986-06-12 | 物体検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62291508A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4745969B2 (ja) * | 2003-10-08 | 2011-08-10 | メハレス ジステムス ゲーエムベーハー | 差分光信号を検出および/または評価するための方法 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5131754A (en) * | 1989-09-21 | 1992-07-21 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | Method of and device for detecting position of body |
US20080013158A1 (en) * | 2006-06-30 | 2008-01-17 | Shires Mark R | Perspective switching optical device for 3D semiconductor inspection |
JP5589547B2 (ja) * | 2010-05-13 | 2014-09-17 | セイコーエプソン株式会社 | 光学式検出装置、表示装置及び電子機器 |
JP5533408B2 (ja) * | 2010-08-04 | 2014-06-25 | セイコーエプソン株式会社 | 光学式位置検出装置および位置検出機能付き機器 |
JP5533407B2 (ja) * | 2010-08-04 | 2014-06-25 | セイコーエプソン株式会社 | 光学式位置検出装置および位置検出機能付き機器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5697821A (en) * | 1980-01-08 | 1981-08-06 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | Optical distance sensor |
-
1986
- 1986-06-12 JP JP61134992A patent/JPS62291508A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5697821A (en) * | 1980-01-08 | 1981-08-06 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | Optical distance sensor |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4745969B2 (ja) * | 2003-10-08 | 2011-08-10 | メハレス ジステムス ゲーエムベーハー | 差分光信号を検出および/または評価するための方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62291508A (ja) | 1987-12-18 |
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