JPH05164554A - 光学式検出装置 - Google Patents
光学式検出装置Info
- Publication number
- JPH05164554A JPH05164554A JP3333585A JP33358591A JPH05164554A JP H05164554 A JPH05164554 A JP H05164554A JP 3333585 A JP3333585 A JP 3333585A JP 33358591 A JP33358591 A JP 33358591A JP H05164554 A JPH05164554 A JP H05164554A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light receiving
- output
- receiving element
- optical system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 論理出力が可能な光学式検出器を提供する。
【構成】 発光素子と、駆動回路と、発光素子から出射
された光を被検出物体に投射する投光光学系と、反射光
をその入射方向に応じて異なる位置に集光する受光光学
系と、反射光の集光位置に配設された複数の受光面を有
する受光素子と、この受光素子の出力信号を処理する信
号処理回路と、駆動回路と信号処理回路との動作タイミ
ングを同期させる同期手段とを備える。測定すべき入射
パルス光の集光位置の偏位は、複数の受光面からの出力
の変化となって現れ、コンパレータで基準レベルと比較
される。したがって、コンパレータからの電気パルス出
力より、上記の集光位置の偏位に対応する論理出力を得
ることができる。
された光を被検出物体に投射する投光光学系と、反射光
をその入射方向に応じて異なる位置に集光する受光光学
系と、反射光の集光位置に配設された複数の受光面を有
する受光素子と、この受光素子の出力信号を処理する信
号処理回路と、駆動回路と信号処理回路との動作タイミ
ングを同期させる同期手段とを備える。測定すべき入射
パルス光の集光位置の偏位は、複数の受光面からの出力
の変化となって現れ、コンパレータで基準レベルと比較
される。したがって、コンパレータからの電気パルス出
力より、上記の集光位置の偏位に対応する論理出力を得
ることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光によって物体の位置や
傾き、物体までの距離などを検出する光学式検出装置に
関するものである。
傾き、物体までの距離などを検出する光学式検出装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】物体までの距離測定をする装置として、
図１０のような三角測量方式の測距システムが知られて
いる。すなわち、発光ダイオード（ＬＥＤ）などの発光
素子１からのパルス光は、投光レンズ２により細いビー
ムとされ、被測定物体３ａ，３ｂに投射される。被測定
物体３ａ，３ｂからの反射光は受光レンズ４によって半
導体光入射位置検出素子（ＰＳＤ）などの受光素子５に
集光される。
図１０のような三角測量方式の測距システムが知られて
いる。すなわち、発光ダイオード（ＬＥＤ）などの発光
素子１からのパルス光は、投光レンズ２により細いビー
ムとされ、被測定物体３ａ，３ｂに投射される。被測定
物体３ａ，３ｂからの反射光は受光レンズ４によって半
導体光入射位置検出素子（ＰＳＤ）などの受光素子５に
集光される。
【０００３】ここで、受光素子５における光スポットの
位置は被測定物体３ａ，３ｂまでの距離に応じて異なる
ので、受光素子５の一対の信号出力を処理することで、
距離測定をすることが可能になる。そして、受光素子５
としてＰＳＤの代わりに、複数の受光面を有する分割型
のフォトダイオードを用いることもできる。
位置は被測定物体３ａ，３ｂまでの距離に応じて異なる
ので、受光素子５の一対の信号出力を処理することで、
距離測定をすることが可能になる。そして、受光素子５
としてＰＳＤの代わりに、複数の受光面を有する分割型
のフォトダイオードを用いることもできる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のシステ
ムにおいては、距離に応じたレベルの出力を得ることは
できるが、距離の遠、近などを示す論理出力を得ること
はできない。すなわち、光の強度を検出し、その強、弱
に応じた論理出力を得る装置はすでに実用化されている
が、光束の移動を検知し、その位置的な偏位に応じた論
理出力を得る装置は実用化されておらず、その実用化が
望まれているのである。
ムにおいては、距離に応じたレベルの出力を得ることは
できるが、距離の遠、近などを示す論理出力を得ること
はできない。すなわち、光の強度を検出し、その強、弱
に応じた論理出力を得る装置はすでに実用化されている
が、光束の移動を検知し、その位置的な偏位に応じた論
理出力を得る装置は実用化されておらず、その実用化が
望まれているのである。
【０００５】本発明は、かかる従来技術の問題点を解決
することを課題としている。
することを課題としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光学式検出
装置は、発光素子およびこの発光素子からのパルス光を
被測定物に向けて投射する光学系を有する投光光学系
と、発光素子をパルス点灯駆動する駆動手段とを望まし
くは備え、受光素子および被測定物からの反射パルス光
を受光素子に集光する光学系を有する受光光学系と、受
光素子の出力信号を処理して反射パルス光の集光位置に
応じた検出信号を出力する信号処理手段とを備える光学
式検出装置において、受光素子は反射パルス光の集光位
置の偏位する方向に並置された複数の独立した受光面を
有して構成され、処理手段は、複数の受光面からの出力
信号のパルス成分の差分を求める差動手段と、この差動
手段の出力レベルを所定の基準レベルと比較するコンパ
レータと、このコンパレータから出力された電気パルス
出力にもとづき検出信号を出力する信号処理手段とを有
し、望ましくは駆動手段の動作タイミングと信号処理手
段による信号処理タイミングを同期させる同期手段を更
に備えることを特徴とする。
装置は、発光素子およびこの発光素子からのパルス光を
被測定物に向けて投射する光学系を有する投光光学系
と、発光素子をパルス点灯駆動する駆動手段とを望まし
くは備え、受光素子および被測定物からの反射パルス光
を受光素子に集光する光学系を有する受光光学系と、受
光素子の出力信号を処理して反射パルス光の集光位置に
応じた検出信号を出力する信号処理手段とを備える光学
式検出装置において、受光素子は反射パルス光の集光位
置の偏位する方向に並置された複数の独立した受光面を
有して構成され、処理手段は、複数の受光面からの出力
信号のパルス成分の差分を求める差動手段と、この差動
手段の出力レベルを所定の基準レベルと比較するコンパ
レータと、このコンパレータから出力された電気パルス
出力にもとづき検出信号を出力する信号処理手段とを有
し、望ましくは駆動手段の動作タイミングと信号処理手
段による信号処理タイミングを同期させる同期手段を更
に備えることを特徴とする。
【０００７】
【作用】本発明に係る光学式検出装置では、測定すべき
入射パルス光の集光位置の偏位は、複数の受光面からの
出力の変化となって現れ、コンパレータで基準レベルと
比較される。したがって、コンパレータからの電気パル
ス出力より、上記の集光位置の偏位に対応する論理出力
を得ることができる。
入射パルス光の集光位置の偏位は、複数の受光面からの
出力の変化となって現れ、コンパレータで基準レベルと
比較される。したがって、コンパレータからの電気パル
ス出力より、上記の集光位置の偏位に対応する論理出力
を得ることができる。
【０００８】
【実施例】以下、添付図面により本発明の実施例を詳細
に説明する。
に説明する。
【０００９】図１は上記実施例に係る光学式物体検出装
置の回路構成を示している。図示の通り、この実施例で
は、パルス光を投射する発光素子１と、被測定物からの
反射光を受光するホトダイオードなどの受光素子５（受
光面５Ａ，５Ｂ）と、検出信号処理および発光駆動をす
る回路部９から距離測定装置が構成される。プリアンプ
９１Ａ，９１Ｂはそれぞれ２分割ホトダイオードの受光
面５Ａ，５Ｂの光電流出力を増幅し、直流阻止コンデン
サＣA ，ＣB を介して交流（パルス）成分のみ差動増幅
器９２に与える。差動増幅器９２の差分出力（パルス出
力）はコンパレータ９３で基準レベルＶREF と比較さ
れ、信号処理回路９４に与えられる。
置の回路構成を示している。図示の通り、この実施例で
は、パルス光を投射する発光素子１と、被測定物からの
反射光を受光するホトダイオードなどの受光素子５（受
光面５Ａ，５Ｂ）と、検出信号処理および発光駆動をす
る回路部９から距離測定装置が構成される。プリアンプ
９１Ａ，９１Ｂはそれぞれ２分割ホトダイオードの受光
面５Ａ，５Ｂの光電流出力を増幅し、直流阻止コンデン
サＣA ，ＣB を介して交流（パルス）成分のみ差動増幅
器９２に与える。差動増幅器９２の差分出力（パルス出
力）はコンパレータ９３で基準レベルＶREF と比較さ
れ、信号処理回路９４に与えられる。
【００１０】一方、発振回路９５からの一定周波数のク
ロックパルスはタイミング発生回路９６に与えられ、信
号処理回路９４およびドライバ９８（出力はＶPL）に与
えられるドライブパルスが発生される。なお、被測定物
（図示せず）までの遠、近を示す出力ＶOUT は、信号処
理回路９４からの論理出力にもとづき、出力回路９７か
ら外部に出力される。
ロックパルスはタイミング発生回路９６に与えられ、信
号処理回路９４およびドライバ９８（出力はＶPL）に与
えられるドライブパルスが発生される。なお、被測定物
（図示せず）までの遠、近を示す出力ＶOUT は、信号処
理回路９４からの論理出力にもとづき、出力回路９７か
ら外部に出力される。
【００１１】上記回路構成によれば、被測定物が遠方の
ときは、例えば受光素子の受光面５Ａの出力が受光面５
Ｂの出力よりも大となり、被測定物が近いときはその逆
となる。図２は、この様子を斜視図にて示している。図
１０で説明したような三角測量方式では、被測定物まで
の距離によって反射光の集光位置が図２のように偏位
し、したがって受光素子チップ５０における２分割ホト
ダイオードの受光面５Ａ，５Ｂからの光電流出力が異な
る。
ときは、例えば受光素子の受光面５Ａの出力が受光面５
Ｂの出力よりも大となり、被測定物が近いときはその逆
となる。図２は、この様子を斜視図にて示している。図
１０で説明したような三角測量方式では、被測定物まで
の距離によって反射光の集光位置が図２のように偏位
し、したがって受光素子チップ５０における２分割ホト
ダイオードの受光面５Ａ，５Ｂからの光電流出力が異な
る。
【００１２】このため、発光素子１の点灯タイミング
が、発振器９５からのクロックパルスにより一定になっ
ているとすると、差動増幅器９２への入力レベルＶA ，
ＶB は図３のようになる。すなわち、被測定物が遠、
近、遠へと移動すると、入力レベルＶA は高、低、高レ
ベルへ変化し、入力レベルＶB はその逆に変化する。
が、発振器９５からのクロックパルスにより一定になっ
ているとすると、差動増幅器９２への入力レベルＶA ，
ＶB は図３のようになる。すなわち、被測定物が遠、
近、遠へと移動すると、入力レベルＶA は高、低、高レ
ベルへ変化し、入力レベルＶB はその逆に変化する。
【００１３】したがって、差動増幅器９２からは被測定
物までの距離に応じた差分パルス信号ＶC が出力され、
このため、コンパレータ９３に対しては、被測定物まで
の距離の遠、近に応じて振幅の異なるパルス信号が与え
られる（例えば、近いときのみ近さに応じた振幅のパル
スが与えられるか、又は遠いときのみ遠さに応じた振幅
のパルスが与えられるか、のいずれか一方となる）。そ
の後、これが、コンパレータ９３で基準レベルＶREF と
比較される。このため、コンパレータ９３からは一定振
幅の遠、または近を示すパルス出力がされる。信号処理
回路９４はタイミング発生回路９６からのドライブパル
スに同期した連続した複数回（回数は内部回路で決め得
る）のコンパレータ９３からのパルスを判別し、被測定
物までの遠、近を示す論理信号出力ＶOUT ´を出力回路
９７に与える。なお、論理出力が“０”から“１”に変
るタイミングは、図３では連続した３回のコンパレータ
出力に対応しているため、３パルス分だけ遅れている
が、これは具体的には５００μｓｅｃ程度である。
物までの距離に応じた差分パルス信号ＶC が出力され、
このため、コンパレータ９３に対しては、被測定物まで
の距離の遠、近に応じて振幅の異なるパルス信号が与え
られる（例えば、近いときのみ近さに応じた振幅のパル
スが与えられるか、又は遠いときのみ遠さに応じた振幅
のパルスが与えられるか、のいずれか一方となる）。そ
の後、これが、コンパレータ９３で基準レベルＶREF と
比較される。このため、コンパレータ９３からは一定振
幅の遠、または近を示すパルス出力がされる。信号処理
回路９４はタイミング発生回路９６からのドライブパル
スに同期した連続した複数回（回数は内部回路で決め得
る）のコンパレータ９３からのパルスを判別し、被測定
物までの遠、近を示す論理信号出力ＶOUT ´を出力回路
９７に与える。なお、論理出力が“０”から“１”に変
るタイミングは、図３では連続した３回のコンパレータ
出力に対応しているため、３パルス分だけ遅れている
が、これは具体的には５００μｓｅｃ程度である。
【００１４】図４（ａ）は上記実施例に適用される受光
素子チップ５０における受光面の２分割態様を示すが、
同図（ｂ）のように３分割したものを、三角測量方式に
よる距離測定システムに用いてもよい。また、同図
（ｃ）のものは、例えばチルトセンサのような傾斜検出
系に用いられる。いずれの場合も、受光面５Ａ、５Ｂ、
５Ｃから独立して光電流を出力できる。
素子チップ５０における受光面の２分割態様を示すが、
同図（ｂ）のように３分割したものを、三角測量方式に
よる距離測定システムに用いてもよい。また、同図
（ｃ）のものは、例えばチルトセンサのような傾斜検出
系に用いられる。いずれの場合も、受光面５Ａ、５Ｂ、
５Ｃから独立して光電流を出力できる。
【００１５】図５は３分割の場合の回路構成図である。
受光面５Ａ、５Ｂ、５Ｃからの出力は、それぞれプリア
ンプ９１Ａ，Ｂ，Ｃにより個々に増幅される。そして、
それらによる出力ＶA ，ＶB については、ＶAとＶB の
差分が差動増幅器９２１で求められ、ＶA ，ＶB の加算
結果の反転値とＶC の反転値の差分が差動増幅器９２２
で求められ、それぞれコンパレータ９３１とコンパレー
タ９３２で基準電圧ＶREF と比較される。そして、信号
処理回路９４１，９４２で論理出力が求められ、出力回
路９７１，９７２を経て外部に出力される。
受光面５Ａ、５Ｂ、５Ｃからの出力は、それぞれプリア
ンプ９１Ａ，Ｂ，Ｃにより個々に増幅される。そして、
それらによる出力ＶA ，ＶB については、ＶAとＶB の
差分が差動増幅器９２１で求められ、ＶA ，ＶB の加算
結果の反転値とＶC の反転値の差分が差動増幅器９２２
で求められ、それぞれコンパレータ９３１とコンパレー
タ９３２で基準電圧ＶREF と比較される。そして、信号
処理回路９４１，９４２で論理出力が求められ、出力回
路９７１，９７２を経て外部に出力される。
【００１６】図５の回路構成において、受光部が図６
（ａ）のようになっているときは、出力ＶOUT1，ＶOUT2
は図６（ｂ）のようになる。したがって、遠近を３段階
で見分けることができ、例えば精密な近接スイッチとし
て応用できる。
（ａ）のようになっているときは、出力ＶOUT1，ＶOUT2
は図６（ｂ）のようになる。したがって、遠近を３段階
で見分けることができ、例えば精密な近接スイッチとし
て応用できる。
【００１７】上記のような本発明の光学式検出装置は、
実用に際してモジュール化するのに適している。図７は
実施例に係る光学式物体検出モジュールの断面図であ
る。図示の通り、ベース板６１にはキャップ６２が取り
付けられて単一のパッケージ６０が構成される。ベース
板６１の上面には発光素子１を含む発光素子チップ１０
と、受光素子５を含む受光素子チップ５０がマウントさ
れ、ベース板６１に貫通して設けられた外部リードピン
７１にワイヤ７２でボンディングされている。ベース板
６１の開口とリードピン７１の間にはスペーサ６３が介
在され、電気的な絶縁が図られている。
実用に際してモジュール化するのに適している。図７は
実施例に係る光学式物体検出モジュールの断面図であ
る。図示の通り、ベース板６１にはキャップ６２が取り
付けられて単一のパッケージ６０が構成される。ベース
板６１の上面には発光素子１を含む発光素子チップ１０
と、受光素子５を含む受光素子チップ５０がマウントさ
れ、ベース板６１に貫通して設けられた外部リードピン
７１にワイヤ７２でボンディングされている。ベース板
６１の開口とリードピン７１の間にはスペーサ６３が介
在され、電気的な絶縁が図られている。
【００１８】キャップ６２の頭部には投光および受光用
の窓が形成され、ここに投受光板６４が貼り付けられて
いる。そして、投受光板６４はレンズ状に加工され、投
光レンズ２と受光レンズ４が構成されている。なお、受
光素子チップ５０には受光素子５の出力信号を処理する
回路が形成され、発光素子１の駆動回路とこれらの同期
をとる回路は、発光素子チップ１０または受光素子チッ
プ５０、あるいは図示しない別のチップに形成されてい
る。これにより、前述の同期検知とディジタル積分が実
行され、有効な信号周期と検知回数が判定される。
の窓が形成され、ここに投受光板６４が貼り付けられて
いる。そして、投受光板６４はレンズ状に加工され、投
光レンズ２と受光レンズ４が構成されている。なお、受
光素子チップ５０には受光素子５の出力信号を処理する
回路が形成され、発光素子１の駆動回路とこれらの同期
をとる回路は、発光素子チップ１０または受光素子チッ
プ５０、あるいは図示しない別のチップに形成されてい
る。これにより、前述の同期検知とディジタル積分が実
行され、有効な信号周期と検知回数が判定される。
【００１９】上記の構成によれば、距離測定のシステム
が単一のモジュールとして構成されるので、使用する機
器への取り付けや調整が容易であり、また取り扱いも簡
便となる。そして、発光素子１からのパルス光は投光レ
ンズ２で細いビームとされ、投射される。そして、反射
光は受光レンズ４によって受光素子チップ５０の受光素
子５に集光され、検出される。ここで、受光面は２以上
の面あるいはストライプとして形成され、背景光が存在
しても同一受光量となるのでノイズとならない。
が単一のモジュールとして構成されるので、使用する機
器への取り付けや調整が容易であり、また取り扱いも簡
便となる。そして、発光素子１からのパルス光は投光レ
ンズ２で細いビームとされ、投射される。そして、反射
光は受光レンズ４によって受光素子チップ５０の受光素
子５に集光され、検出される。ここで、受光面は２以上
の面あるいはストライプとして形成され、背景光が存在
しても同一受光量となるのでノイズとならない。
【００２０】図８は別の実施例に係るモジュールの断面
図である。この場合には、リードフレーム７４に発光素
子チップ１０と受光素子チップ５０がマウントされ、リ
ードフレーム７４の外部リードと発光素子チップ１０お
よび受光素子チップ５０は、ワイヤ７２によってボンデ
ィングされている。そして、樹脂のモールド成形により
ワンパッケージ化されている。ここで、なお、投光レン
ズ２と受光レンズ４はこのモールド樹脂６５を一部突出
成形することで形成されている。
図である。この場合には、リードフレーム７４に発光素
子チップ１０と受光素子チップ５０がマウントされ、リ
ードフレーム７４の外部リードと発光素子チップ１０お
よび受光素子チップ５０は、ワイヤ７２によってボンデ
ィングされている。そして、樹脂のモールド成形により
ワンパッケージ化されている。ここで、なお、投光レン
ズ２と受光レンズ４はこのモールド樹脂６５を一部突出
成形することで形成されている。
【００２１】図９はさらに別の実施例に係るモジュール
の斜視図である。この場合には、発光素子チップ１０を
樹脂モールド成形した発光素子パッケージ１１と、受光
素子チップ５０を樹脂モールド成形した受光素子パッケ
ージ５１が、単一のパッケージ６０に収容されて一体化
されている。そして、投光レンズ２と受光レンズ４はパ
ッケージ６０の上面の、発光素子チップ１０と受光素子
チップ５０に対応する位置に設けられている。なお、開
口６６はボルト、ナットなどにより、パッケージ６０を
機器（図示しない）に装着するためのものである。な
お、投光あるいは受光光学系のレンズに代えて、スリッ
トやピンホールを用いてもよい。
の斜視図である。この場合には、発光素子チップ１０を
樹脂モールド成形した発光素子パッケージ１１と、受光
素子チップ５０を樹脂モールド成形した受光素子パッケ
ージ５１が、単一のパッケージ６０に収容されて一体化
されている。そして、投光レンズ２と受光レンズ４はパ
ッケージ６０の上面の、発光素子チップ１０と受光素子
チップ５０に対応する位置に設けられている。なお、開
口６６はボルト、ナットなどにより、パッケージ６０を
機器（図示しない）に装着するためのものである。な
お、投光あるいは受光光学系のレンズに代えて、スリッ
トやピンホールを用いてもよい。
【００２２】
【発明の効果】以上の通り、本発明の光学式検出装置に
よれば、測定すべき入射パルス光の集光位置の偏位は、
複数の受光面からの出力の変化となって現れ、コンパレ
ータで基準レベルと比較される。したがって、コンパレ
ータからの電気パルス出力より、上記の集光位置の偏位
に対応する論理出力を得ることができる。また、本発明
の光学式検出装置をモジュールにすれば、発光系と受光
系が単一のパッケージに組み付けられてモジュール化さ
れるので、光学系の調整が不要となり、小型化をなし得
る。また、このモジュールにタイミング同期用の同期手
段も組み付け得るので、雑音の影響を受けにくい距離測
定などが可能になる。このため、ＯＡ機器、家電製品、
車両、医療機、工作機械などにおいて、例えば近接スイ
ッチとして応用することが可能になる。
よれば、測定すべき入射パルス光の集光位置の偏位は、
複数の受光面からの出力の変化となって現れ、コンパレ
ータで基準レベルと比較される。したがって、コンパレ
ータからの電気パルス出力より、上記の集光位置の偏位
に対応する論理出力を得ることができる。また、本発明
の光学式検出装置をモジュールにすれば、発光系と受光
系が単一のパッケージに組み付けられてモジュール化さ
れるので、光学系の調整が不要となり、小型化をなし得
る。また、このモジュールにタイミング同期用の同期手
段も組み付け得るので、雑音の影響を受けにくい距離測
定などが可能になる。このため、ＯＡ機器、家電製品、
車両、医療機、工作機械などにおいて、例えば近接スイ
ッチとして応用することが可能になる。
【図１】実施例に係る光学式検出装置の回路構成図であ
る。
る。
【図２】図１における反射光の受光系を示す斜視図であ
る。
る。
【図３】図１の実施例の動作を示すタイミング図であ
る。
る。
【図４】受光素子の例を示す斜視図である。
【図５】別の実施例に係る光学式検出装置の回路構成図
である。
である。
【図６】図５の実施例における論理出力の説明図であ
る。
る。
【図７】モジュール化した第１の例の説明図である。
【図８】モジュール化した第２の例の説明図である。
【図９】モジュール化した第３の例の説明図である。
【図１０】従来例の光学式検出システムの構成図であ
る。
る。
１…発光素子、１０…発光素子チップ、２…投光レン
ズ、３…被測定物体、４…受光レンズ、５…受光素子、
５０…受光素子チップ、６０…パッケージ、６１…ベー
ス板、６２…キャップ、６３…スペーサ、６４…投光
板、７１…リードピン、７２…ワイヤ、７４…リードフ
レーム、９１Ａ，Ｂ…プリアンプ、９２，９２１，９２
２…差動増幅器、９３，９３１，９３２…コンパレー
タ、９４，９４１，９４２…信号処理回路、９５…発振
回路、９６…タイミング発生回路。
ズ、３…被測定物体、４…受光レンズ、５…受光素子、
５０…受光素子チップ、６０…パッケージ、６１…ベー
ス板、６２…キャップ、６３…スペーサ、６４…投光
板、７１…リードピン、７２…ワイヤ、７４…リードフ
レーム、９１Ａ，Ｂ…プリアンプ、９２，９２１，９２
２…差動増幅器、９３，９３１，９３２…コンパレー
タ、９４，９４１，９４２…信号処理回路、９５…発振
回路、９６…タイミング発生回路。
Claims (2)
- 【請求項１】 受光素子および被測定物からのパルス光
を前記受光素子に集光する光学系を有する受光光学系
と、前記受光素子の出力信号を処理して前記パルス光の
集光位置に応じた検出信号を出力する処理手段とを備え
る光学式検出装置において、 前記受光素子は前記パルス光の集光位置の偏位する方向
に並置された複数の独立した受光面を有して構成され、 前記処理手段は、前記複数の受光面からの出力信号のパ
ルス成分の差分を求める差動手段と、この差動手段の出
力レベルを所定の基準レベルと比較するコンパレータ
と、このコンパレータから出力された電気パルス出力に
もとづき前記検出信号を出力する信号処理手段とを有し
ていることを特徴とする光学式検出装置。 - 【請求項２】 発光素子およびこの発光素子からのパル
ス光を被測定物に向けて投射する光学系を有する投光光
学系と、受光素子および前記被測定物からの反射パルス
光を前記受光素子に集光する光学系を有する受光光学系
と、前記発光素子をパルス点灯駆動する駆動手段と、前
記受光素子の出力信号を処理して前記反射パルス光の集
光位置に応じた検出信号を出力する処理手段とを備える
光学式検出装置において、 前記受光素子は前記反射パルス光の集光位置の偏位する
方向に並置された複数の独立した受光面を有して構成さ
れ、 前記処理手段は、前記複数の受光面からの出力信号のパ
ルス成分の差分を求める差動手段と、この差動手段の出
力レベルを所定の基準レベルと比較するコンパレータ
と、このコンパレータから出力された電気パルス出力に
もとづき前記検出信号を出力する信号処理手段とを有
し、 前記駆動手段の動作タイミングと前記信号処理手段によ
る信号処理タイミングを同期させる同期手段を更に備え
ることを特徴とする光学式検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3333585A JPH05164554A (ja) | 1991-12-17 | 1991-12-17 | 光学式検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3333585A JPH05164554A (ja) | 1991-12-17 | 1991-12-17 | 光学式検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05164554A true JPH05164554A (ja) | 1993-06-29 |
Family
ID=18267693
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3333585A Pending JPH05164554A (ja) | 1991-12-17 | 1991-12-17 | 光学式検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05164554A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002048533A (ja) * | 2000-08-04 | 2002-02-15 | Nissan Motor Co Ltd | 距離測定装置 |
| JP2004117161A (ja) * | 2002-09-26 | 2004-04-15 | Sharp Corp | 光学式変位センサ |
| JP2021167528A (ja) * | 2020-04-10 | 2021-10-21 | Ｓａｎｅｉ株式会社 | 水栓制御装置及びそれを用いた自動水栓 |
-
1991
- 1991-12-17 JP JP3333585A patent/JPH05164554A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002048533A (ja) * | 2000-08-04 | 2002-02-15 | Nissan Motor Co Ltd | 距離測定装置 |
| JP2004117161A (ja) * | 2002-09-26 | 2004-04-15 | Sharp Corp | 光学式変位センサ |
| US7193731B2 (en) | 2002-09-26 | 2007-03-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical displacement sensor |
| JP2021167528A (ja) * | 2020-04-10 | 2021-10-21 | Ｓａｎｅｉ株式会社 | 水栓制御装置及びそれを用いた自動水栓 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7630062B2 (en) | Distance measuring apparatus | |
| JP2014029317A (ja) | レーザレーダ装置 | |
| US20200318965A1 (en) | Position-sensitive optoelectronic detector arrangement, and laser beam receiver using same | |
| JP2019090793A (ja) | 距離測定型光電センサ及び距離測定方法 | |
| US7176443B2 (en) | Optoelectronic sensor and process for detection of an object in a monitored area | |
| JPS60158309A (ja) | 距離検出装置 | |
| JPH05164554A (ja) | 光学式検出装置 | |
| JPH04339209A (ja) | 距離検出装置 | |
| JPH05164553A (ja) | 光学式検出装置 | |
| JP3399775B2 (ja) | 光学式検出装置 | |
| JPH07248374A (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH09210673A (ja) | 受光位置検出回路及びこれを用いた距離検出装置 | |
| JP2004037461A (ja) | 光学距離測定デバイス | |
| JP3270176B2 (ja) | 三角測距式光電センサ | |
| JPH07270535A (ja) | 光電センサ，レーザ測距装置およびレーザ測距装置を搭載した車両 | |
| JPH0537230Y2 (ja) | ||
| JPH0688726A (ja) | 測距センサ | |
| JP3159828B2 (ja) | 光電センサ | |
| JPH0545926Y2 (ja) | ||
| US4586806A (en) | Camera range finder | |
| JPH06160523A (ja) | 測距装置 | |
| JPH06241785A (ja) | 三角測距式光電センサ | |
| KR950007866B1 (ko) | 적외선측거방식을 이용한 비디오카메라의 자동초점조절장치 및 그 방법 | |
| JPH0415884B2 (ja) | ||
| JPH06104460A (ja) | 光検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |