JPH0333218B2 - - Google Patents
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- JPH0333218B2 JPH0333218B2 JP59221843A JP22184384A JPH0333218B2 JP H0333218 B2 JPH0333218 B2 JP H0333218B2 JP 59221843 A JP59221843 A JP 59221843A JP 22184384 A JP22184384 A JP 22184384A JP H0333218 B2 JPH0333218 B2 JP H0333218B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0011—Sample conditioning
- G01N33/0016—Sample conditioning by regulating a physical variable, e.g. pressure or temperature
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
＜産業上の利用分野＞
本発明はガス分析装置に関する。
＜従来の技術＞
一般に、FID（Flame Ionization Detector、水
素炎イオン検出器）やCLD（Chemical
Luminescence Detector、化学発光検出器）等
の検出器を用いたガス分析装置においては、検出
器に流入するサンプル流量を原理的に一定流量に
高精度で制御することが要求される。そして、こ
のサンプル流量の制御には圧力調整器とキヤピラ
リ（毛細管）とが用いられている。
素炎イオン検出器）やCLD（Chemical
Luminescence Detector、化学発光検出器）等
の検出器を用いたガス分析装置においては、検出
器に流入するサンプル流量を原理的に一定流量に
高精度で制御することが要求される。そして、こ
のサンプル流量の制御には圧力調整器とキヤピラ
リ（毛細管）とが用いられている。
第６図は従来の前記ガス分析装置の構成を概略
的に示すもので、６０は検出器で、サンプルガス
ライン６１、助熱ガスライン（FIDの場合）又は
オゾンガス発生用酸素ライン（CLDの場合）６
２からそれぞれサンプルガス、助熱ガス又はオゾ
ンガスの供給を受けて所定の分析を行なうもので
ある。なお、赤外線ガス分析装置等の場合はライ
イン６２は不要である。
的に示すもので、６０は検出器で、サンプルガス
ライン６１、助熱ガスライン（FIDの場合）又は
オゾンガス発生用酸素ライン（CLDの場合）６
２からそれぞれサンプルガス、助熱ガス又はオゾ
ンガスの供給を受けて所定の分析を行なうもので
ある。なお、赤外線ガス分析装置等の場合はライ
イン６２は不要である。
７０は圧力調整器で、サンプルガスライン６１
から分岐した分岐ライン６３に設けられている。
この圧力調整器７０は、内部がダイヤフラムDP
によつて第１室７１と第２室７２とに区画されて
いる。そして、第１室７１には大気との連通孔７
３が開設されるとともに、ばね座７４を介して圧
力設定用の第１ばねSP1がダイヤフラムDPの第
１室７１側に設けられている。７５は第１ばね
SP1の強さを調節するための調整ねじである。第
２室７２には前記分岐ライン６３が接続されるガ
ス導入口７６、排出ライン６４が接続されるガス
導出口７７及び両口７６，７７に連通する弁口７
８が設けられるとともに、前記ダイヤフラムDP
第２室７２側には前記弁口７８に対して接近離間
自在の弁体７９が設けられている。SP2はダイヤ
フラムDPと弁体７９を連動させるための第２ば
ねである。なお、Ｐはポンプ、Ｃはキヤピラリで
いずれもサンプルガスライン６１上に設けられて
いる。
から分岐した分岐ライン６３に設けられている。
この圧力調整器７０は、内部がダイヤフラムDP
によつて第１室７１と第２室７２とに区画されて
いる。そして、第１室７１には大気との連通孔７
３が開設されるとともに、ばね座７４を介して圧
力設定用の第１ばねSP1がダイヤフラムDPの第
１室７１側に設けられている。７５は第１ばね
SP1の強さを調節するための調整ねじである。第
２室７２には前記分岐ライン６３が接続されるガ
ス導入口７６、排出ライン６４が接続されるガス
導出口７７及び両口７６，７７に連通する弁口７
８が設けられるとともに、前記ダイヤフラムDP
第２室７２側には前記弁口７８に対して接近離間
自在の弁体７９が設けられている。SP2はダイヤ
フラムDPと弁体７９を連動させるための第２ば
ねである。なお、Ｐはポンプ、Ｃはキヤピラリで
いずれもサンプルガスライン６１上に設けられて
いる。
そして、上記構成の圧力調整器７０は、第１室
７１における圧力と第２室７２における圧力のバ
ランスを保持するように、ダイヤフラムDPが変
動し、これによつて弁体７９による弁口７８の開
度を調整する。即ち、図外のサンプルガス源から
ポンプＰを経て供給されるサンプルガスの流量が
設定流量より大きくなり、第２室７２側の圧力が
第１室７１側の圧力より大きくなると、弁口７８
の開度を大きくし、余分のサンプルガスをガス導
出口７７から排出ライン６４へ逃がすことによ
り、第２室７２及びサンプルガスライン６３の圧
力を所定圧に保つように作動する。こうして、検
出器６０には常に所定流量のサンプルガスが流れ
込むようにしている。
７１における圧力と第２室７２における圧力のバ
ランスを保持するように、ダイヤフラムDPが変
動し、これによつて弁体７９による弁口７８の開
度を調整する。即ち、図外のサンプルガス源から
ポンプＰを経て供給されるサンプルガスの流量が
設定流量より大きくなり、第２室７２側の圧力が
第１室７１側の圧力より大きくなると、弁口７８
の開度を大きくし、余分のサンプルガスをガス導
出口７７から排出ライン６４へ逃がすことによ
り、第２室７２及びサンプルガスライン６３の圧
力を所定圧に保つように作動する。こうして、検
出器６０には常に所定流量のサンプルガスが流れ
込むようにしている。
しかしながら、上記ガス分析装置においては、
圧力調整器７０に第１ばねSP1、第２ばねSP2を
用いて圧力調整を行うようにしているから次のよ
うな不都合が生ずる。
圧力調整器７０に第１ばねSP1、第２ばねSP2を
用いて圧力調整を行うようにしているから次のよ
うな不都合が生ずる。
即ち、第１ばねSP1、第２ばねSP2のばね定数
をそれぞれk1、k2、ダイヤフラムDPの受圧部の
面積をＳとし、第１室７１内の圧力がP1、第２
室７２内の圧力をP2のときつり合つているもの
とすると、 P1S＋k1x1＝P2S＋k2x2…… (1) なる式が成り立つ。ここに、x1、x2はそれぞれ第
１ばねSP1、第２ばねSP2の自然長からの圧縮変
位量を示す。即ち、P2は、P2＝P1＋k1x1−k2x2／Ｓ の値に設定されるものとする。
をそれぞれk1、k2、ダイヤフラムDPの受圧部の
面積をＳとし、第１室７１内の圧力がP1、第２
室７２内の圧力をP2のときつり合つているもの
とすると、 P1S＋k1x1＝P2S＋k2x2…… (1) なる式が成り立つ。ここに、x1、x2はそれぞれ第
１ばねSP1、第２ばねSP2の自然長からの圧縮変
位量を示す。即ち、P2は、P2＝P1＋k1x1−k2x2／Ｓ の値に設定されるものとする。
ここで、サンプルガスの流量が増加して、第２
室７２側の圧力がΔP2だけ増大し、これによつて
ダイヤフラムDPが第１室７１側へΔxだけ変位し
て弁口７８の開度が増大して、増加したサンプル
ガス流量を逃がすことによりつり合つたとする
と、 P1S＋k1（x1＋Δx）＝P2＋ΔP2）Ｓ＋k2（x2−
Δx） …(2) なる式が成り立つ。この(2)式に(1)式を代入して整
理すると ΔP2＝（k1＋k2）Δx／Ｓ …(3) が得られる。
室７２側の圧力がΔP2だけ増大し、これによつて
ダイヤフラムDPが第１室７１側へΔxだけ変位し
て弁口７８の開度が増大して、増加したサンプル
ガス流量を逃がすことによりつり合つたとする
と、 P1S＋k1（x1＋Δx）＝P2＋ΔP2）Ｓ＋k2（x2−
Δx） …(2) なる式が成り立つ。この(2)式に(1)式を代入して整
理すると ΔP2＝（k1＋k2）Δx／Ｓ …(3) が得られる。
即ち、弁口７８を開いて増大したサンプルガス
流量を逃がすため、ダイヤフラムDPがΔxだけ変
位して圧力調整をすると、第２室７２側には(3)式
で表わされる圧力変動が生じ誤差となる。この結
果、検出器６０へのサンプルガスの流入量が変動
し、測定値に誤差が生ずる。
流量を逃がすため、ダイヤフラムDPがΔxだけ変
位して圧力調整をすると、第２室７２側には(3)式
で表わされる圧力変動が生じ誤差となる。この結
果、検出器６０へのサンプルガスの流入量が変動
し、測定値に誤差が生ずる。
このように従来のガス分析装置においては、ガ
ス圧力の変動が激しいサンプルガスライン６１に
圧力調整用のばねSP1，SP2を有する圧力調整器
７０を接続しているため、ばねSP1，SP2に起因
する調圧しきれぬ圧力変動があり、この結果、検
出器６０へのサンプルガスの流入量が変動して測
定値に誤差が生じる欠点があつた。このような欠
点は、自動車排ガスの測定等のように、サンプル
点におけるガス圧力の変動の大きいものには致命
的であつた。
ス圧力の変動が激しいサンプルガスライン６１に
圧力調整用のばねSP1，SP2を有する圧力調整器
７０を接続しているため、ばねSP1，SP2に起因
する調圧しきれぬ圧力変動があり、この結果、検
出器６０へのサンプルガスの流入量が変動して測
定値に誤差が生じる欠点があつた。このような欠
点は、自動車排ガスの測定等のように、サンプル
点におけるガス圧力の変動の大きいものには致命
的であつた。
＜発明が解決しようとする問題点＞
本発明は、上述の従来技術の問題点に留意して
なされたもので、その目的はサンプル点において
大きな圧力変化が生じても、常に安定して一定流
量のサンプルガスを検出器へと送りもつて正確な
測定を行なうことができるガス分析装置を提供す
ることにある。
なされたもので、その目的はサンプル点において
大きな圧力変化が生じても、常に安定して一定流
量のサンプルガスを検出器へと送りもつて正確な
測定を行なうことができるガス分析装置を提供す
ることにある。
＜問題点を解決するための手段＞
上記目的を達成するため、本発明においては、
ダイヤフラムによつて第１室と第２室とに区画
し、前記第１室には基準ガス導通口を設け、前記
第２室にはガス導入口及び導出口と、これら両口
に連通する弁口とを設け、前記ダイヤフラムには
前記弁口に対して接近離間自在の弁体を設けて圧
力調整器を構成するとともに、前記第２室にサン
プルガスライン又はサンプルガスラインから分岐
した分岐ラインを接続し、前記基準ガス導通口に
は圧力調整された基準ガスラインを接続して前記
第２室内及びサンプルガスラインの圧力を所定圧
に保持するようにしている。
ダイヤフラムによつて第１室と第２室とに区画
し、前記第１室には基準ガス導通口を設け、前記
第２室にはガス導入口及び導出口と、これら両口
に連通する弁口とを設け、前記ダイヤフラムには
前記弁口に対して接近離間自在の弁体を設けて圧
力調整器を構成するとともに、前記第２室にサン
プルガスライン又はサンプルガスラインから分岐
した分岐ラインを接続し、前記基準ガス導通口に
は圧力調整された基準ガスラインを接続して前記
第２室内及びサンプルガスラインの圧力を所定圧
に保持するようにしている。
このように構成された圧力調整器では、圧力調
整のためのばねを用いていないけれども第２室及
びサンプルガスラインの圧力は一定圧に保持され
る。又、ばねを使用していないので、ばねに起因
する圧力変化を生じず、基準ガスは従来の圧力調
整器で圧力調整されるが、供給源のガス圧に殆ん
ど変化がないので十分な精度を保持できる。
整のためのばねを用いていないけれども第２室及
びサンプルガスラインの圧力は一定圧に保持され
る。又、ばねを使用していないので、ばねに起因
する圧力変化を生じず、基準ガスは従来の圧力調
整器で圧力調整されるが、供給源のガス圧に殆ん
ど変化がないので十分な精度を保持できる。
＜実施例＞
以下、本発明の実施例を図面に基いて説明す
る。
る。
第１図は本発明に係るガス分析装置の概略構成
を示すもので、１０は圧力調整器で、図示する例
では背圧調整器として構成されている。即ち、そ
の内部はダイヤフラムDPによつて第１室１１と
第２室１２とに区画されており、第１室１１には
基準ガス導通口１３が形成されている。この基準
ガス導通口１３は分岐ライン２１を介して基準ガ
スライン２０に接続されている。
を示すもので、１０は圧力調整器で、図示する例
では背圧調整器として構成されている。即ち、そ
の内部はダイヤフラムDPによつて第１室１１と
第２室１２とに区画されており、第１室１１には
基準ガス導通口１３が形成されている。この基準
ガス導通口１３は分岐ライン２１を介して基準ガ
スライン２０に接続されている。
この基準ガスライン２０中には基準ガスの圧力
を一定にするための圧力調整器２２が設けられて
おり、又、圧力調整器２２の上流側には基準ガス
源が設けられている。そして、基準ガスとしては
圧力変動の少ないものたとえば大気や窒素ボンベ
のガスが用いられる。又、後述する検出器４０と
してFIDあるいはCLDを用いる場合は、の助燃ガ
スやオゾン源ガスが比較的圧力変動が少ないこと
から、その助燃ガスラインやオゾン源ガスライン
から分岐したラインを基準ガスラインとして用い
ることができる。この場合は、格別に基準ガス源
を必要としない利点がある。
を一定にするための圧力調整器２２が設けられて
おり、又、圧力調整器２２の上流側には基準ガス
源が設けられている。そして、基準ガスとしては
圧力変動の少ないものたとえば大気や窒素ボンベ
のガスが用いられる。又、後述する検出器４０と
してFIDあるいはCLDを用いる場合は、の助燃ガ
スやオゾン源ガスが比較的圧力変動が少ないこと
から、その助燃ガスラインやオゾン源ガスライン
から分岐したラインを基準ガスラインとして用い
ることができる。この場合は、格別に基準ガス源
を必要としない利点がある。
上述したように、前記基準ガスは、サンプルガ
スとは異なり、そのガス圧力の変動がごく少ない
ものを用いるので、圧力調整器２２として従来一
般に使用されているもの（例えば第６図に示す如
きもの）であつても十分精度よく一定圧に保持で
きる。
スとは異なり、そのガス圧力の変動がごく少ない
ものを用いるので、圧力調整器２２として従来一
般に使用されているもの（例えば第６図に示す如
きもの）であつても十分精度よく一定圧に保持で
きる。
前記第２室１２には、サンプルガス導入口１
４、ガス導出口１５及びこれら両口１４，１５に
連通する弁口１６が形成されるとともに、前記弁
口１６に対して接近離間自在の弁体１７が設けら
れている。この弁体１７はダイヤフラムDPに設
けられた磁石部を有する取付部１８に対して磁気
的に吸着されるべく保持され、ダイヤフラムDP
の平面方向に摺動しうるようになつている。そし
て、サンプルガス導入口１４は分岐ライン３１を
介してサンプルガスライン３０に接続されてい
る。
４、ガス導出口１５及びこれら両口１４，１５に
連通する弁口１６が形成されるとともに、前記弁
口１６に対して接近離間自在の弁体１７が設けら
れている。この弁体１７はダイヤフラムDPに設
けられた磁石部を有する取付部１８に対して磁気
的に吸着されるべく保持され、ダイヤフラムDP
の平面方向に摺動しうるようになつている。そし
て、サンプルガス導入口１４は分岐ライン３１を
介してサンプルガスライン３０に接続されてい
る。
４０はFID又はCLD等の検出器で、サンプルガ
スライン３０を介してサンプルガスが供給され
る。Ｐはポンプでその上流側にはサンプルガス源
が設けられている。尚、Ｃはキヤピラリ、３２は
ガス導出口１５に接続される排出ラインである。
スライン３０を介してサンプルガスが供給され
る。Ｐはポンプでその上流側にはサンプルガス源
が設けられている。尚、Ｃはキヤピラリ、３２は
ガス導出口１５に接続される排出ラインである。
次に、上述のように構成したガス分析装置の作
動を説明する。まず、圧力調整器２２によつて基
準ガスライン２０を所定のガス圧力に設定し、所
定圧（例えばP1）に設定された基準ガスを圧力
調整器１０の第１室１１内に導入する。そして、
サンプルガス導入口１４を経て第２室１２内にサ
ンプルガスを流入させる。ここでサンプルガスの
圧力が前記基準ガスの圧力P1より大きい場合、
ダイヤフラムDPは第１室１１側へ変位し、これ
によつて弁体１７は弁口１６から離間し、弁口１
６の開度が大きくなり、第２室１２側からサンプ
ルガスがガス導出口１５を経て排出ライン３２側
へ逃げ、第１室１１と第２室１２の両圧力が等し
くなる位置でダイヤフラムDPは安定する。
動を説明する。まず、圧力調整器２２によつて基
準ガスライン２０を所定のガス圧力に設定し、所
定圧（例えばP1）に設定された基準ガスを圧力
調整器１０の第１室１１内に導入する。そして、
サンプルガス導入口１４を経て第２室１２内にサ
ンプルガスを流入させる。ここでサンプルガスの
圧力が前記基準ガスの圧力P1より大きい場合、
ダイヤフラムDPは第１室１１側へ変位し、これ
によつて弁体１７は弁口１６から離間し、弁口１
６の開度が大きくなり、第２室１２側からサンプ
ルガスがガス導出口１５を経て排出ライン３２側
へ逃げ、第１室１１と第２室１２の両圧力が等し
くなる位置でダイヤフラムDPは安定する。
今、サンプルガス源からのガス流量が増大する
と、サンプルガス導入口１４を経て第２室１２に
導入されたサンプルガスがダイヤフラムDPを第
１室１１側に変位させ、弁口１６の開度が大きく
なり、第２室１２の圧力が第１室の圧力P1と等
しくなつた状態でつり合う。すなわち、ダイヤフ
ラムDPは例えばΔxだけ第１室１１側へ変位して
ダイヤフラムDPに加わる力はつり合うが、第６
図に示す圧力調整器７０のように圧力調整用のば
ねSP1，SP2を用いてないから、つり合つている
力はダイヤフラムDPが変位する前と同じで、ダ
イヤフラムDPの第１室１１側に加わつているの
は基準圧だけであるので、第２室１２側の圧力に
何ら変動が生じないのである。従つて、検出器４
０へのサンプルガスライン３０の圧力は一定値に
保持され、該検出器４０へサンプルガス流量は精
度よく一定値に保持される。
と、サンプルガス導入口１４を経て第２室１２に
導入されたサンプルガスがダイヤフラムDPを第
１室１１側に変位させ、弁口１６の開度が大きく
なり、第２室１２の圧力が第１室の圧力P1と等
しくなつた状態でつり合う。すなわち、ダイヤフ
ラムDPは例えばΔxだけ第１室１１側へ変位して
ダイヤフラムDPに加わる力はつり合うが、第６
図に示す圧力調整器７０のように圧力調整用のば
ねSP1，SP2を用いてないから、つり合つている
力はダイヤフラムDPが変位する前と同じで、ダ
イヤフラムDPの第１室１１側に加わつているの
は基準圧だけであるので、第２室１２側の圧力に
何ら変動が生じないのである。従つて、検出器４
０へのサンプルガスライン３０の圧力は一定値に
保持され、該検出器４０へサンプルガス流量は精
度よく一定値に保持される。
又、ダイヤフラムDPと弁体１７が一体として
構成されていると弁体１７と弁口１６の中心が一
致せず、正確に弁口１６の開度を制御することが
むずかしいが、本実施例では、弁体１７はダイヤ
フラムDPの取付部１８にマグネツトカツプリン
グされ、ダイヤフラムDPの平面方向に移動しう
るので、該弁体１７の中心線と弁口１６の中心線
とが常に一致するので、弁体１７は弁口１６の開
度を正確に制御することができる。
構成されていると弁体１７と弁口１６の中心が一
致せず、正確に弁口１６の開度を制御することが
むずかしいが、本実施例では、弁体１７はダイヤ
フラムDPの取付部１８にマグネツトカツプリン
グされ、ダイヤフラムDPの平面方向に移動しう
るので、該弁体１７の中心線と弁口１６の中心線
とが常に一致するので、弁体１７は弁口１６の開
度を正確に制御することができる。
上述の実施例においては、サンプルガスライン
３０の圧力調整用の圧力調整器１０の第１室１１
側の圧力設定を行なうのに、他の圧力調整器２２
によつて圧力調整された基準ガスライン２０から
分岐した分岐ライン２１を第１室１１の基準ガス
導通口１３に接続したものであり、サンプルガス
ライン３０側の圧力調整器１０と基準ガスライン
２０側の圧力調整器２２とは別体であるが、本発
明は必らずしもこれに限られるものではなく、第
２図に示すように、一体構としてもよい。即ち、
圧力調整器１０の第１室１１と第６図に示す従来
の圧力調整器７０の第２室７２との間を連通路
（基準ガス導通口）１９を介して接続するととも
に、該第２室７２に基準ガス導出口７７′を検出
器４０に対して接続するようにしたものである。
なお、７９′は弁口７８の開度を調整する弁体で、
ダイヤフラムDPに取付けられている。又、第２
図に示す実施例では基準ガスライン２０のキヤピ
ラリＣも圧力調整器に対し一体化しているが、こ
れを別体としてもよい。
３０の圧力調整用の圧力調整器１０の第１室１１
側の圧力設定を行なうのに、他の圧力調整器２２
によつて圧力調整された基準ガスライン２０から
分岐した分岐ライン２１を第１室１１の基準ガス
導通口１３に接続したものであり、サンプルガス
ライン３０側の圧力調整器１０と基準ガスライン
２０側の圧力調整器２２とは別体であるが、本発
明は必らずしもこれに限られるものではなく、第
２図に示すように、一体構としてもよい。即ち、
圧力調整器１０の第１室１１と第６図に示す従来
の圧力調整器７０の第２室７２との間を連通路
（基準ガス導通口）１９を介して接続するととも
に、該第２室７２に基準ガス導出口７７′を検出
器４０に対して接続するようにしたものである。
なお、７９′は弁口７８の開度を調整する弁体で、
ダイヤフラムDPに取付けられている。又、第２
図に示す実施例では基準ガスライン２０のキヤピ
ラリＣも圧力調整器に対し一体化しているが、こ
れを別体としてもよい。
このように一体構造に構成した場合、配管部分
を少なくすることができ、それだけこの種ガス分
析装置の構成を簡略かつ小型化できる。
を少なくすることができ、それだけこの種ガス分
析装置の構成を簡略かつ小型化できる。
上記第１図、第２図に示す実施例では圧力調整
器１０は所謂背圧調整器（B.P.R、Back
Pressure Regulator）として構成されているが、
これを第３図に示すように、差圧調整器（D.P.R.
Differential Pressure Regulator）として構成
してもよい。第３図において圧力調整器１０′の
サンプルガス導入口１４はサンプルガスライン３
０に直接接続されている。又、弁口１６の開度は
第１図に示すものと異なり、サンプルガス源から
供給されるサンプルガスの流量が増大すると、小
さくなるようにされている。また、検出器４０の
出口側の圧力（通常大気圧）は基準ガスライン２
０の圧力調整器２２にフイードバツクされるよう
に構成されている。（第３図中破線参照） 第４図は本発明の更に他の実施例を示すもの
で、同図に示すものが第１図乃至第３図に図示し
たものと大きく相異するところは、ポンプＰを検
出器４０の下流側に設け、サンプルガス、基準ガ
スを吸引するようにしたものである。なお、Ｆは
フイルタ、Ｃはキヤピラリである。
器１０は所謂背圧調整器（B.P.R、Back
Pressure Regulator）として構成されているが、
これを第３図に示すように、差圧調整器（D.P.R.
Differential Pressure Regulator）として構成
してもよい。第３図において圧力調整器１０′の
サンプルガス導入口１４はサンプルガスライン３
０に直接接続されている。又、弁口１６の開度は
第１図に示すものと異なり、サンプルガス源から
供給されるサンプルガスの流量が増大すると、小
さくなるようにされている。また、検出器４０の
出口側の圧力（通常大気圧）は基準ガスライン２
０の圧力調整器２２にフイードバツクされるよう
に構成されている。（第３図中破線参照） 第４図は本発明の更に他の実施例を示すもの
で、同図に示すものが第１図乃至第３図に図示し
たものと大きく相異するところは、ポンプＰを検
出器４０の下流側に設け、サンプルガス、基準ガ
スを吸引するようにしたものである。なお、Ｆは
フイルタ、Ｃはキヤピラリである。
第５図は、ダイヤフラムDPに対して弁体１７
を取付ける他の実施態様を示すもので、上下方向
に押圧力を有する例えばクリツプ状のばね５０に
よつて、ダイヤフラムDP側の取付部５１に弁体
１７を取付けている。このようにした場合も弁体
１７はダイヤフラムDPの平面方向に移動するこ
とができる。
を取付ける他の実施態様を示すもので、上下方向
に押圧力を有する例えばクリツプ状のばね５０に
よつて、ダイヤフラムDP側の取付部５１に弁体
１７を取付けている。このようにした場合も弁体
１７はダイヤフラムDPの平面方向に移動するこ
とができる。
＜発明の効果＞
以上詳述したように、本発明においては、ダイ
ヤフラムによつて第１室と第２室とに区画し、前
記第１室には基準ガス導通口を設け、前記第２室
にはガス導入口及び導出口と、これら両口に連通
する弁口とを設け、前記ダイヤフラムには前記弁
口に対して接近離間自在の弁体を設けて圧力調整
器を構成するとともに、前記第２室にサンプルガ
スライン又はサンプルガスラインから分岐した分
岐ラインを接続し、前記基準ガス導通口には圧力
調整された基準ガスラインを接続しているので、
サンプルガス源から供給されるサンプルガスの圧
力が急激に上昇しても検出器に供給されるサンプ
ルガス流量は一定に保持され、検出器において正
確な分析を行なうことができる。
ヤフラムによつて第１室と第２室とに区画し、前
記第１室には基準ガス導通口を設け、前記第２室
にはガス導入口及び導出口と、これら両口に連通
する弁口とを設け、前記ダイヤフラムには前記弁
口に対して接近離間自在の弁体を設けて圧力調整
器を構成するとともに、前記第２室にサンプルガ
スライン又はサンプルガスラインから分岐した分
岐ラインを接続し、前記基準ガス導通口には圧力
調整された基準ガスラインを接続しているので、
サンプルガス源から供給されるサンプルガスの圧
力が急激に上昇しても検出器に供給されるサンプ
ルガス流量は一定に保持され、検出器において正
確な分析を行なうことができる。
特に、本発明は自動車排ガスの測定等のように
サンプル点におけるガス圧力の変動の大きい場合
に大なる効果を奏する。
サンプル点におけるガス圧力の変動の大きい場合
に大なる効果を奏する。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図、第２
図乃至第４図は夫々本発明の他の実施例を示す構
成図、第５図は弁体のダイヤフラムへの取付状態
を示す断面図、第６図は従来装置を示す構成図で
ある。 １０，１０′…圧力調整器、１１…第１室、１
２…第２室、１３，１９…基準ガス導通口、１４
…サンプルガス導入口、１５…サンプルガス導出
口、１６…弁口、１７，１７′…弁体、２０…基
準ガスライン、３０…サンプルガスライン、３１
…サンプルガスラインから分岐した分岐ライン、
DP…ダイヤフラム。
図乃至第４図は夫々本発明の他の実施例を示す構
成図、第５図は弁体のダイヤフラムへの取付状態
を示す断面図、第６図は従来装置を示す構成図で
ある。 １０，１０′…圧力調整器、１１…第１室、１
２…第２室、１３，１９…基準ガス導通口、１４
…サンプルガス導入口、１５…サンプルガス導出
口、１６…弁口、１７，１７′…弁体、２０…基
準ガスライン、３０…サンプルガスライン、３１
…サンプルガスラインから分岐した分岐ライン、
DP…ダイヤフラム。
Claims (1)
- １ ダイヤフラムによつて第１室と第２室とに区
画し、前記第１室には基準ガス導通口を設け、前
記第２室にはガス導入口及び導出口と、これら両
口に連通する弁口とを設け、前記ダイヤフラムに
は前記弁口に対して接近離間自在の弁体を設けて
圧力調整器を構成するとともに、前記第２室にサ
ンプルガスライン又はサンプルガスラインから分
岐した分岐ラインを接続し、前記基準ガス導通口
には圧力調整された基準ガスラインを接続して前
記第２室内及びサンプルガスラインの圧力を所定
圧に保持するようにしたことを特徴とするガス分
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59221843A JPS6199857A (ja) | 1984-10-22 | 1984-10-22 | ガス分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59221843A JPS6199857A (ja) | 1984-10-22 | 1984-10-22 | ガス分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6199857A JPS6199857A (ja) | 1986-05-17 |
| JPH0333218B2 true JPH0333218B2 (ja) | 1991-05-16 |
Family
ID=16773058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59221843A Granted JPS6199857A (ja) | 1984-10-22 | 1984-10-22 | ガス分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6199857A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007101281A (ja) * | 2005-10-03 | 2007-04-19 | Shimadzu Corp | Ｔｖｏｃ測定装置 |
| GB2540365B (en) | 2015-07-14 | 2019-12-11 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Control of gas flow |
-
1984
- 1984-10-22 JP JP59221843A patent/JPS6199857A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6199857A (ja) | 1986-05-17 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |