JPH033127A - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
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- JPH033127A JPH033127A JP1136003A JP13600389A JPH033127A JP H033127 A JPH033127 A JP H033127A JP 1136003 A JP1136003 A JP 1136003A JP 13600389 A JP13600389 A JP 13600389A JP H033127 A JPH033127 A JP H033127A
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- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 claims abstract description 23
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 8
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims abstract 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
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- 206010073261 Ovarian theca cell tumour Diseases 0.000 abstract description 3
- 208000001644 thecoma Diseases 0.000 abstract description 3
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- 206010041662 Splinter Diseases 0.000 description 1
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- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、非点収差を発生させる検出レンズ系を備えた
光学ヘッドに係り、特にコマ収差を少なくするのに好適
な光学ヘッドに関する。
光学ヘッドに係り、特にコマ収差を少なくするのに好適
な光学ヘッドに関する。
従来、非点収差法によるフォーカス誤差検出においては
、例えば特開昭50−99561号公報に記載のように
、光学的情報記録媒体からの反射光束中に、円柱面を有
する円柱レンズを配置し、前記光学的情報記録媒体から
の反射光に非点収差を生じせしめ、光検出器により反射
光の集束形状を検出してフォーカス誤差信号を得るよう
にじていた。また、特開昭58−143443号公報に
記載のように、光学的情報記録媒体からの反射光束中に
、透明な平行平板を光軸に対して傾斜させて配置し、そ
の反射光束に非点収差を発生させ、フォーカス誤差信号
を得るようにしていた。
、例えば特開昭50−99561号公報に記載のように
、光学的情報記録媒体からの反射光束中に、円柱面を有
する円柱レンズを配置し、前記光学的情報記録媒体から
の反射光に非点収差を生じせしめ、光検出器により反射
光の集束形状を検出してフォーカス誤差信号を得るよう
にじていた。また、特開昭58−143443号公報に
記載のように、光学的情報記録媒体からの反射光束中に
、透明な平行平板を光軸に対して傾斜させて配置し、そ
の反射光束に非点収差を発生させ、フォーカス誤差信号
を得るようにしていた。
しかし、上記従来技術において、非点収差を発生させる
ために円柱面を有するレンズを使用する場合にはコスト
高になるという問題があった。これに対して、透明平行
平板を用いて非点収差を発生ぎせれば低コストになるが
、この場合、コマ収差が発生し、光学ヘッドから出力さ
れるフォーカス誤差信号が劣化するという欠点があった
。
ために円柱面を有するレンズを使用する場合にはコスト
高になるという問題があった。これに対して、透明平行
平板を用いて非点収差を発生ぎせれば低コストになるが
、この場合、コマ収差が発生し、光学ヘッドから出力さ
れるフォーカス誤差信号が劣化するという欠点があった
。
本発明の目的は、従来必要であった非点収差発生用の光
学部品を別途設けることなく、上記欠点を解決すること
のできる光学ヘッドを提供することにある。
学部品を別途設けることなく、上記欠点を解決すること
のできる光学ヘッドを提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は焦点距離が正のレ
ンズと焦点距離が負のレンズを互いに光軸に対して逆方
向に傾斜させて検出レンズ系を構成し、この検出レンズ
系を光学的情報記録媒体で反射された反射平行光束中に
配置することにより達成される。
ンズと焦点距離が負のレンズを互いに光軸に対して逆方
向に傾斜させて検出レンズ系を構成し、この検出レンズ
系を光学的情報記録媒体で反射された反射平行光束中に
配置することにより達成される。
また、上記目的を達成するために0本発明は焦点距離が
負のレンズを光軸に対して傾斜させて配置して成る検出
レンズ系を備える。
負のレンズを光軸に対して傾斜させて配置して成る検出
レンズ系を備える。
今般、発明者らは種々のレンズを傾斜させ非点収差とコ
マ収差の発生状態を検討した結果、平行光中に焦点距離
が正のレンズ、例えば、平凸レンズを光軸に対して傾斜
させても、透明平行平板や焦点距離が負のレンズである
凹レンズと同様に、非点収差やコマ収差が発生すること
が判明した。
マ収差の発生状態を検討した結果、平行光中に焦点距離
が正のレンズ、例えば、平凸レンズを光軸に対して傾斜
させても、透明平行平板や焦点距離が負のレンズである
凹レンズと同様に、非点収差やコマ収差が発生すること
が判明した。
ところで、光検出器上のスポット形状が、最適なフォー
カスの状態時にほぼ円形、デフォーカス時にほぼ楕円形
となる。完全な円形、楕円形とならないのは、コマ収差
のためである。
カスの状態時にほぼ円形、デフォーカス時にほぼ楕円形
となる。完全な円形、楕円形とならないのは、コマ収差
のためである。
そこで、このコマ収差を補正するために、焦点距離が負
のレンズである平凸レンズを、光軸に対して傾斜角 θ
、だけ傾斜させた集魚距離が正のレンズである平凸レン
ズと逆方向に、傾斜角 θ2だけ傾斜させることにより
、コマ収差を補正すること力硬来る。つまり、前述した
2つのレンズが互いにそのコマ収差を補正しあうわけで
ある。
のレンズである平凸レンズを、光軸に対して傾斜角 θ
、だけ傾斜させた集魚距離が正のレンズである平凸レン
ズと逆方向に、傾斜角 θ2だけ傾斜させることにより
、コマ収差を補正すること力硬来る。つまり、前述した
2つのレンズが互いにそのコマ収差を補正しあうわけで
ある。
また、焦点距離が負のレンズを光軸に対して傾斜させて
成る検出レンズ系は、光学系の他の部分のコマ収差を補
正する。
成る検出レンズ系は、光学系の他の部分のコマ収差を補
正する。
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。
。
第1図は本発明による光学ヘッドの第1の実施例を示す
斜視図である。
斜視図である。
第1図において、直線偏光光源である半導体レーザ素子
1から発射された発散光束2は、コリメータレンズ3に
より平−行光束4となる。平行光束4は、ビームスプリ
ッタ5の反射面5aを反射し、さらにミラー6で反射さ
れた後、対物レンズ7により集光されて、磁気光学的情
報記録媒体であるディスク8の情報記録面8a上に照射
される。
1から発射された発散光束2は、コリメータレンズ3に
より平−行光束4となる。平行光束4は、ビームスプリ
ッタ5の反射面5aを反射し、さらにミラー6で反射さ
れた後、対物レンズ7により集光されて、磁気光学的情
報記録媒体であるディスク8の情報記録面8a上に照射
される。
ディスク8からの反射光束9は、対物レンズ7により再
び平行光束1oに変換され、ミラー6で反射され、ビー
ムスプリッタ5を透過する。透過後の平行光束11は、
検出レンズである焦点距離が正のレンズと焦点距離が負
のレンズ13に入射し収束光束14となる。ここで、収
束光束14はレンズ12,13によって非点収差が与え
られている。
び平行光束1oに変換され、ミラー6で反射され、ビー
ムスプリッタ5を透過する。透過後の平行光束11は、
検出レンズである焦点距離が正のレンズと焦点距離が負
のレンズ13に入射し収束光束14となる。ここで、収
束光束14はレンズ12,13によって非点収差が与え
られている。
これについて第2図を用いて詳細に説明する。
平行光束11中に焦点距離が正のレンズである平凸レン
ズ12が光軸100に対して、傾斜角θ、たけ傾斜して
配置されている。このことにより平凸レンズ12を透過
した収束光束14aには、非点収差とコマ収差が生じる
。さらに、収束光束14aは、平凸レンズ12とは逆方
向に光軸100に対して傾斜角θ2だけ傾斜して配置さ
れている焦点距離が負のレンズである平凹レンズ13を
透過する。
ズ12が光軸100に対して、傾斜角θ、たけ傾斜して
配置されている。このことにより平凸レンズ12を透過
した収束光束14aには、非点収差とコマ収差が生じる
。さらに、収束光束14aは、平凸レンズ12とは逆方
向に光軸100に対して傾斜角θ2だけ傾斜して配置さ
れている焦点距離が負のレンズである平凹レンズ13を
透過する。
そして平凸レンズ12で生じたコマ収差が補正された収
束光束14となる。非点収差が与えられた収束光束14
は、検光子である偏光ビームスプリッタ15に入射し、
偏光分離された後光検出器16に入射する。
束光束14となる。非点収差が与えられた収束光束14
は、検光子である偏光ビームスプリッタ15に入射し、
偏光分離された後光検出器16に入射する。
なお、本実施例では、検出レンズである平凸レンズ12
と平凹レンズ13を光軸に対して傾斜角度θ8.θ2だ
け傾斜させ、さらに光軸まわりに45゜回転された状態
(図示せず)に配置した構成をとっている。
と平凹レンズ13を光軸に対して傾斜角度θ8.θ2だ
け傾斜させ、さらに光軸まわりに45゜回転された状態
(図示せず)に配置した構成をとっている。
次に、偏光ビームスプリッタ15の構成例を第3図に示
す。
す。
第3図に示すように、平行四辺形プリズム15bの片端
(図の右側)には、P偏光(紙面に平行な振動方向の偏
光)を透過し、S偏光(紙面に垂直な振動方向の偏光)
を反射する偏光膜15aが設けられている。そして、こ
の偏光膜15aを平行四辺形プリズム15bと同じ屈折
率の透明な平行平板15cがはさんでいる。
(図の右側)には、P偏光(紙面に平行な振動方向の偏
光)を透過し、S偏光(紙面に垂直な振動方向の偏光)
を反射する偏光膜15aが設けられている。そして、こ
の偏光膜15aを平行四辺形プリズム15bと同じ屈折
率の透明な平行平板15cがはさんでいる。
収束光束14は、平行四辺形プリズム15bの上側より
偏光膜15aに入射する。偏光膜15aを透過したP偏
光14pは、透明平行平板15cの裏側平面15dで反
射して再び偏光膜15aを透過し、その後に平行四辺形
プリズム15b中を左側に進行し、さらに全反射面15
eで全反射し、そして平行四辺形プリズム15bを下側
に向かって進行して光検出器16に入射する。
偏光膜15aに入射する。偏光膜15aを透過したP偏
光14pは、透明平行平板15cの裏側平面15dで反
射して再び偏光膜15aを透過し、その後に平行四辺形
プリズム15b中を左側に進行し、さらに全反射面15
eで全反射し、そして平行四辺形プリズム15bを下側
に向かって進行して光検出器16に入射する。
一方、偏光膜15aで反射されたS偏光14sも、P偏
光14Pと同じ方向に進行し、光検出器16に入射する
。
光14Pと同じ方向に進行し、光検出器16に入射する
。
光検出器16は、第4図に示すように、S偏光14bを
受光する受光領域16aと、P偏光14pを受光する4
分割受光領域16b、16c、16d。
受光する受光領域16aと、P偏光14pを受光する4
分割受光領域16b、16c、16d。
16eを含み、かつ各受光領域16a〜16eが同一平
面上に一体化して形成された5分割受光素子である。
面上に一体化して形成された5分割受光素子である。
ここで、第1図乃至第3図に記載された透明な平行平板
15cの厚さを t□とすると、分離されるP偏光14
pとS偏光14sの間隔dは、d= J−t。
15cの厚さを t□とすると、分離されるP偏光14
pとS偏光14sの間隔dは、d= J−t。
となる。
受光領域L6b、16dの出力信号18と受光領域16
c、16eの出力信号17とは、加算器19により加算
されて、信号?0として加算器19から出力される。受
光領域16aの出力信号21力信号17と出力信号18
とは、減算器24により減算されて、減算器24からフ
ォーカス誤差信号25とルで出力される。さらに、信号
20と受光領域16aの出力信号21とは、加算器26
により加算されて、加算器26から和信号27として出
力される。
c、16eの出力信号17とは、加算器19により加算
されて、信号?0として加算器19から出力される。受
光領域16aの出力信号21力信号17と出力信号18
とは、減算器24により減算されて、減算器24からフ
ォーカス誤差信号25とルで出力される。さらに、信号
20と受光領域16aの出力信号21とは、加算器26
により加算されて、加算器26から和信号27として出
力される。
ここで、和信号27からはトラッキング誤差信号等が検
出されるが、本発明の主旨とは直接関係ないので、その
説明は省略する。
出されるが、本発明の主旨とは直接関係ないので、その
説明は省略する。
ここで、第1図に示すように偏光ビームスプリッタ15
と光検出器16とを収束光束14の光軸まわりに45度
回転して配置した。これにより、光学系を小形に保った
まま、検光子に入射する偏光方向を45度回転すること
が出来る。このため1/2波長板等の旋光子は不要とな
る。
と光検出器16とを収束光束14の光軸まわりに45度
回転して配置した。これにより、光学系を小形に保った
まま、検光子に入射する偏光方向を45度回転すること
が出来る。このため1/2波長板等の旋光子は不要とな
る。
次に、本発明の光学ヘッドの第2の実施例を第5図によ
り説明する。
り説明する。
第5図において、直線偏光光源である半導体レーザ素子
1から発射された発散光束2は、コリメータレンズ3に
より平行光束4となる。平行光束4は、ビームスプリン
タ5の反射面5aを反射し。
1から発射された発散光束2は、コリメータレンズ3に
より平行光束4となる。平行光束4は、ビームスプリン
タ5の反射面5aを反射し。
さらにミラー6で反射された後、対物レンズ7により集
光されて、磁気光学的情報記録媒体であるディスク8の
情報記録面8a上に照射される。
光されて、磁気光学的情報記録媒体であるディスク8の
情報記録面8a上に照射される。
ディスク8からの反射光束9は、対物レンズ7により再
び平行光束10に変換され、ミラー6で反射され、ビー
ムスプリッタ5を透過する。透過後の平行光束11は、
検出レンズである焦点距離が正のレンズ12と焦点距離
が負のレンズ13に入射し収束光束14となる。ここで
、収束光束14はレンズ12.13によって非点収差が
与えられている。非点収差が与えら九た収束光束14は
、検光子である偏光ビームスプリッタ33に入射する。
び平行光束10に変換され、ミラー6で反射され、ビー
ムスプリッタ5を透過する。透過後の平行光束11は、
検出レンズである焦点距離が正のレンズ12と焦点距離
が負のレンズ13に入射し収束光束14となる。ここで
、収束光束14はレンズ12.13によって非点収差が
与えられている。非点収差が与えら九た収束光束14は
、検光子である偏光ビームスプリッタ33に入射する。
偏光ビームスプリッタ33に入射した収束光束14は、
P偏光14pとS偏光14sに偏光分離された後、光検
出器16に入射する。
P偏光14pとS偏光14sに偏光分離された後、光検
出器16に入射する。
ここで、第6図を用いて非点収差発生について詳細に説
明する。
明する。
第6図は、第5図で示した光学ヘッドのビームスプリッ
タ5以後の光学系である。
タ5以後の光学系である。
ビームスプリッタ5を透過した平行光束11中に焦点距
離が正のレンズである平凸レンズ12が、光軸100に
対して傾斜せずに配置されている。
離が正のレンズである平凸レンズ12が、光軸100に
対して傾斜せずに配置されている。
このことにより平凸レンズ12を透過した収束光束14
aには非点収差とコマ収差は生じない、そして、収束光
束14aは光軸100に対して傾斜角θ2だけ傾斜して
いる平凹レンズ13を透過し。
aには非点収差とコマ収差は生じない、そして、収束光
束14aは光軸100に対して傾斜角θ2だけ傾斜して
いる平凹レンズ13を透過し。
非点収差とコマ収差とが与えられた収束光束14bとな
る。収束光束14bは、偏光ビームスプリッタ33の平
行四辺形プリズム33bの左側より偏光膜33aに入射
する。
る。収束光束14bは、偏光ビームスプリッタ33の平
行四辺形プリズム33bの左側より偏光膜33aに入射
する。
偏光膜33aを透過した収束光束であるP偏光14pは
、プリズム33bの屈折率n工と等しい屈折率n1であ
る透明平行平板33cの裏側平面33dで反射して再度
偏光膜33aを透過後、平行四辺形プリズム33b中を
下側に進行し、反射防止膜33e、プリズム33bの屈
折率n工と異なる屈折率n3である透明平行平板33f
を透過し、全反射Bfi 33 gで全反射し、透明平
行平板33fの右側に向かって進行し、再び反射防止膜
33eを透過し、平行四辺形プリズム33bを進行する
。このとき平凹レンズ13で生じたコマ収差が補正され
た収束光束14pとなる。
、プリズム33bの屈折率n工と等しい屈折率n1であ
る透明平行平板33cの裏側平面33dで反射して再度
偏光膜33aを透過後、平行四辺形プリズム33b中を
下側に進行し、反射防止膜33e、プリズム33bの屈
折率n工と異なる屈折率n3である透明平行平板33f
を透過し、全反射Bfi 33 gで全反射し、透明平
行平板33fの右側に向かって進行し、再び反射防止膜
33eを透過し、平行四辺形プリズム33bを進行する
。このとき平凹レンズ13で生じたコマ収差が補正され
た収束光束14pとなる。
一方、偏光膜33aで反射された収束光束であるS偏光
14sも、P偏光14pと同じ方向に進行し、透明平行
平板33fを通過することで、P偏光14pと同様、平
凹レンズ13で生じたコマ収差が補正された収束光束1
4gとなる。そして、非点収差が与えられた収束光束1
4pと収束光束14gは光検出器にそれぞれ入射する。
14sも、P偏光14pと同じ方向に進行し、透明平行
平板33fを通過することで、P偏光14pと同様、平
凹レンズ13で生じたコマ収差が補正された収束光束1
4gとなる。そして、非点収差が与えられた収束光束1
4pと収束光束14gは光検出器にそれぞれ入射する。
光検出器に入射した後の信号処理については、第1の実
施例と同じなので省略する。
施例と同じなので省略する。
以上、本実施例によれば、光学的情報記録媒体で発射さ
れた反射光に非点収差を生じさせることができ、かつコ
マ収差を少なくすることができるので、光検出器により
反射光を検出してフォーカス誤差信号を得ることが出来
る。
れた反射光に非点収差を生じさせることができ、かつコ
マ収差を少なくすることができるので、光検出器により
反射光を検出してフォーカス誤差信号を得ることが出来
る。
なお、上記した実施例では、平凸レンズ、平凹レンズを
用いて説明したが凸レンズ、凹レンズでも良い。平凸レ
ンズ、平凹レンズはその製作と精度の点で利点がある。
用いて説明したが凸レンズ、凹レンズでも良い。平凸レ
ンズ、平凹レンズはその製作と精度の点で利点がある。
また、検出系だけに設ける場合について説明したが、レ
ーザ照射系に用いても効果がある。
ーザ照射系に用いても効果がある。
本発明によれば、非点収差発生用の光学部品を使用する
ことなく、焦点距離が正のレンズと焦点距離が負のレン
ズを互いに光軸に対して逆方向に傾斜させて検出レンズ
系を構成し、この検出レンズ系を光学的情報記録媒体で
反射された平行光束中に配置することにより、反射光束
に非点収差を与えることが出来る。これにより部品点数
が削減して低価格化、小形化され、かつ、コマ収差を少
なくすることのできる光学ヘッドを提供できる。
ことなく、焦点距離が正のレンズと焦点距離が負のレン
ズを互いに光軸に対して逆方向に傾斜させて検出レンズ
系を構成し、この検出レンズ系を光学的情報記録媒体で
反射された平行光束中に配置することにより、反射光束
に非点収差を与えることが出来る。これにより部品点数
が削減して低価格化、小形化され、かつ、コマ収差を少
なくすることのできる光学ヘッドを提供できる。
また、焦点距離が負のレンズを光軸に対して傾斜させて
配置して成る検出レンズ系を術えるので、コマ収差を少
なくすることのできる光学ヘッドを提供できる。
配置して成る検出レンズ系を術えるので、コマ収差を少
なくすることのできる光学ヘッドを提供できる。
第1図は本発明の光学ヘッドの第1の実施例を示す斜視
図、第2図は本発明の詳細な説明するための模式図、第
3図は第1の実施例の光学ヘッドの偏光ビームスプリッ
タの動作を説明するための模式図、第4図は光検出器の
動作を説明するための模式図、第5図は本発明の光学ヘ
ッドの第2の実施例を示す斜視図、第6図は本発明の光
学ヘッドの第2の実施例を示す側面図である。 1・・・半導体レーザ素子、 7・・・対物レンズ、8
・・・ディスク、 12.13・・・検出レンズ、 15・・・偏光ビームスプリッタ、 50・・・透明平行平板、 16・・・光検出器、 29・・・1/4波長板。 男2区 /2 5 n、/3−;$ナレンス。 第bi /4S−5煽九 発4区 久朗斗村斗祇 56口 第g口
図、第2図は本発明の詳細な説明するための模式図、第
3図は第1の実施例の光学ヘッドの偏光ビームスプリッ
タの動作を説明するための模式図、第4図は光検出器の
動作を説明するための模式図、第5図は本発明の光学ヘ
ッドの第2の実施例を示す斜視図、第6図は本発明の光
学ヘッドの第2の実施例を示す側面図である。 1・・・半導体レーザ素子、 7・・・対物レンズ、8
・・・ディスク、 12.13・・・検出レンズ、 15・・・偏光ビームスプリッタ、 50・・・透明平行平板、 16・・・光検出器、 29・・・1/4波長板。 男2区 /2 5 n、/3−;$ナレンス。 第bi /4S−5煽九 発4区 久朗斗村斗祇 56口 第g口
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、半導体レーザ素子と、 該半導体レーザ素子から発射されたレーザの光束を集光
して光学的情報記録媒体の情報記録面上に導くための対
物レンズと、 該情報記録面からの反射光束を検出する光検出器とを備
える光学ヘッドにおいて、 焦点距離が正のレンズと焦点距離が負のレンズとを互い
に光軸に対して逆方向に傾斜させて成る検出レンズ系を
備え、 該検出レンズ系は前記光学的情報記録媒体で反射された
反射平行光中に配置されることを特徴とする光学ヘッド
。 2、半導体レーザ素子と、 該半導体レーザ素子から発射されたレーザの光束を集光
して磁気光学的情報記録媒体の情報記録面上に導くため
の対物レンズと、 光の強弱を検出する検出器と、 平行四辺形プリズムと、該平行四辺形プリズムの第1の
傾斜面に設けられ前記情報記録面からの反射光束を検出
するためのP偏光(またはS偏光)を透過しS偏光(ま
たはP偏光)を反射する偏光膜と、該偏光膜に接して設
けられ前記平行四辺形プリズムと同じ屈折率を有する透
明平行平板と、前記平行四辺形プリズムの第2の傾斜面
に接して設けられ前記平行四辺形プリズムと異なる屈折
率を有するとともに全反射面を有する透明平行平板とを
一体に設けられた偏光ビームスプリッタの機能を有する
検光子とを備え、 該検光子が前記磁気光学的情報記録媒体で反射された反
射収束光中に光軸まわりに45度回転して配置される光
学ヘッドにおいて、 焦点距離が負のレンズを光軸に対して傾斜させて配置し
て成る検出レンズ系を備え、 該検出レンズ系は前記光学的情報記録媒体で反射された
反射光に非点収差を生じせしめ、前記光検出器は前記検
出レンズ系を介して前記反射光を検出することを特徴と
する光学ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1136003A JPH033127A (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1136003A JPH033127A (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 | 光学ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH033127A true JPH033127A (ja) | 1991-01-09 |
Family
ID=15164919
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1136003A Pending JPH033127A (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH033127A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6167018A (en) * | 1997-10-06 | 2000-12-26 | Fujitsu Limited | Optical information storage apparatus having cylindrical lens for eliminating astigmatism generated by polarization beam splitter and newly generating astigmatism |
JP2002357781A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-12-13 | Three D Syst Inc | 光スポットの電子制御 |
-
1989
- 1989-05-31 JP JP1136003A patent/JPH033127A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6167018A (en) * | 1997-10-06 | 2000-12-26 | Fujitsu Limited | Optical information storage apparatus having cylindrical lens for eliminating astigmatism generated by polarization beam splitter and newly generating astigmatism |
JP2002357781A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-12-13 | Three D Syst Inc | 光スポットの電子制御 |
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