JPH0329130A - 光学式情報記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野］ 本発明は、消去可能な光学式情報記録媒体に関する． ［従来の技術］ 従来、書き換え可能な高密度記録媒体としては種々の提
案がなされているが，その中でも高分子液晶材料を用い
た光学式情報記録媒体は、メモリー保存安定性，環境安
定性の点で特に優れていることか知られている．その光
学式情報記録媒体において，高分子液晶の液晶状態と等
方状態、あるいは配向状態と非配向状態の光学的性質の
差を利用して記録状態と消去状態を識別する方法の例と
して，特開昭５９−．：１５９８９号公報，特開昭６１
−１６０８４７号公報等をあげることができる．［発明
が解決しようとする課題］ 上記の様な光学式情報記録媒体にレーザー光により微小
スポットを高密度に形成し，高速で安定な読み出しを行
うためには，グルーブ付きの基板を使用し，グルーブ上
に記録層を形成することが好ましい． 基板上にグルーブを形處する方法としては、例えば射出
成形法および２Ｐ法が挙げられる．射出成形法では、プ
ラスチック系基板にグルーブを射出成形の際に転写し，
また２Ｐ法では，ガラス又はプラスチック系基板の上に
紫外線硬化樹脂を塗布し、その上にグルーブ付原盤を接
触して紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化せしめて
グルーブを転写する方法であるが、いずれにしてもブラ
スチック系基板および紫外線硬化樹脂の屈折率と記録層
として用いられている高分子液晶の屈折率とかあまり差
かないために（１．４〜１．６程度）、反射光か弱くな
り、再生光かグルーブを横切るときにできる回折光の分
布のかたよりか検出できなくなり、正確なトラッキンク
を行うことができない問題点かあった．また、反射光量
が極端に少ないので安定したフ才一カシングも行えない
という問題点もあった。

本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもの
であり、基板のグルーブ上に金属の薄膜および高屈折率
の誘電体薄膜等の下引き層を設けることにより，トラッ
キングはずれがなく、かつ安定したフォーカスの得られ
る光学式情報記録媒体を提供することを目的とするもの
である．［課題を解決するための手段］ 即ち、本発明は、トラッキング用グルーブが形成されて
いる基板上に高分子液晶層からなる記録層を有する光学
式情報記録媒体において、前記基板と記録層の間に下引
き層を設け，記録層側あるいは基板側からの入射光に対
する反射率か５〜９０％に設定されていることを特徴と
する光学式情報記録媒体である． 以下、本発明を詳細に説明する。

本発明の光学式情報記録媒体は、グルーブが形威されて
いる基板のグルーブと記録層の間に下引き層を設け、基
板と下引き居をあわせた層の反射率を高め、その反射率
を５％〜９０％、好ましくは７％〜７０％の間に設定す
ることにより、再生光かグルーブを横切るときの回折光
のかたよりを検出できるようにしたものであり、同時に
安定したフォーカシングも可能となったものである．第
１図は本発明の光学式情報記録媒体の基本構成を示す説
明図である。同図において、本発明の光学式情報記録媒
体は、トラッキング川グルーブ２か形戊されている基板
ｌのグルーブ２の上に、下引き層３を設け，その下引き
層３の上に高分子液晶層からなる記録層４を設けてなる
ものである． 本発明に用いることのできる下引き層の種類としては、
第１の例として、金，アルミニウム，銅，クロム等の金
属の薄膜を挙げることかできる。このような金属薄膜の
厚さとしては，記録再生光を基板側から入射させる場合
，ｌＯ〜１０００入、好ましくは５０〜２００大の範囲
にあることが望ましい。特に、金属薄膜の厚さか増すと
光透過率が減少し，記録の際の入射エネルギーが有効に
使われなくなり感度が減少する。また，１．シに記録再
生光を記録層側から入射させる場合、金属の全反射膜と
すれば良い． 下引き層として使用できるものの第２の例としては、火
板よりも屈折率の大きな誘電体を挙げることかてきる。

具体的には，硫化亜鉛（ＺｎＳ）　，二酸化チタン（Ｔ
ｉＯｚ）等が挙げられるが，特にこれらに限定されるわ
けではなく，屈折率が１．６以上のもの、特に好ましく
は１．７以上のものであれば良い。これらの高屈折率の
誘電体の膜厚としては、記録波長がλで与えられる場合
、ｌ／４人となっていることか最も好ましい． 本発明において用いられる基板は、ガラスまたは種々の
プラスチック系、具体的にはボリカーボネート，ポリメ
チルメタクリレート，ポリエチレンテレフタレート、ボ
リアミト等の樹脂から成形された基板か好ましい。

また、記録層には高分子液晶層か用いられる。

記録層に用いることのできる高分子液晶としては、具体
的には以下の構造のものを用いることができるが、これ
らに限定されるわけではない。

Ｒ　：　ＯＣＩ１，　　， １｛　：　ＯＣ．ｌｌ７ Ｒ　　：　　ＣＮ （８） （ＩＯ） （１１） Ｍｅ また、記録層にはレーザー記録を行なう際に、液晶相形
成温度範囲、等方相転移温度、ガラス転移点等を調整す
るために高分子液晶同士を適当に混合した系を用いても
よいし、また相溶性の良い低分子液晶を混合した系を用
いてもよい．また，高分子液晶層にはレーザー光吸収色
素を混合することが好ましい．用いることのできる色素
は特に制限はないが，混合する高分子液晶との相溶性は
考慮しなければならない．さらに、記録層の環境安定性
を高めるために，紫外線吸収剤，＃化防止剤等を含有さ
せても良い． 第１図に示した光学式情報記録媒体は基木構或を表わす
ものであるが，必要に応して記録層の上に適当な保護膜
あるいは光反射層を設けても長いし、また下引き層と記
録層の間に配向制御層を設けても良い． 第１図において，記録光および再生光は基板側から入射
させても、または記録層側から入射させても問題なく使
用することかでき、その入射方法は層構成、記録・再生
システムの違いによって使いわければ良い． 以上の高分子液晶を用いた光学式情報記録媒体の記録モ
ードとしては、以下に示すような記録モートが可能てあ
る。即ち、光非散乱状態と光散乱状態の間でコトラスト
をとる方法てある。（＋）のモードを用いた場合、初期
状態はどちらでもよいが、光散乱状態を初期状態とした
方か記録速度を考えると有利である。（２）のモードて
は、初期状態を光非散乱状態とした方が記録速度が速く
なるので好ましい。

［実施例］ 以下、実施例によりさらに詳細に本発明を説明する。

実施例１ 直径１：ｌＯ＋ｓｓ　，厚さ１．２０のガラス製ディス
クに２Ｐ法によりスパイラル状に、巾０．６μ−、深さ
ＩＪ．０８ｐｍ、ピッチ１．６　％■のグルーブを形成
した後、下引き層としてＡｕを１００入の厚さに電子ビ
ーム蒸着した。次に、下記の構造式（ｌ２）で表わされ
る高分子液晶に、下記の構造式（ｌ３）で表わされる色
素（入ｗａｘ　＝　８３０ｎ■）を高分子液晶に対する
重量百分率でｌｗｔ％混合した組成物をシクロヘキサノ
ンに２０ｗｔ％の割合で溶解させ、この溶液なＡｕ薄膜
上にスピナー塗布した．塗布条件は３０００ｒｐｍ，　
３０ｓｅｃである．その後、１２０゜Ｃで１時間減圧乾
燥し，さらに室温まで徐冷することにより、高分子液晶
ポリトメイン状態を有し、記録層の厚みが１．３μ麿の
光学式情報記録媒体（光ディスクＡ）を得た．構造式（
１２） 構造式（１３） ０ 光ディスクＡのトラッキングエラーシグナルを第２図に
示すような光学系（レーザーの波長８３０ｎｍ）を用い
て、プッシュブル法により検出したところ、第３図に示
すように安定したトラッキングエラーシグナルが得られ
，トラッキングはずれはおこらないことか確認された．
なお、第３図は光ディスクＡをトラック方向と垂直にス
キャンした時のトラッキングエラー信号出力を表わすグ
ラフである． また、基板側からの入射光に対する反射率は２０％てあ
った． 比較例ｌ Ａｕを１００人の厚さに形威する工程を除いた以外は、
実施例ｌと同じ工程により作製した光ディスクＢのトラ
ッキングエラーな、第２図の光学系を用いプッシュプル
法により検出することを試みたが、その結果は第４図に
示す様にトラックはずれが検出てきないことが確認され
た．なお、ｗＩＪ４図は光ディスクＢをトラック方向と
垂直にスキャンした時のトラッキングエラー信号出力を
表わすグラフである。

また，２ｉｉ板側からの入射光に対する反射率はｌＯ％
であった。

実施例２および比較例２ 厚さ０．７ａｍのカートサイズのポリメチノレメタクリ
レート基板上に２Ｐ法により、巾　１．　５ｇｍ．深さ
０．０８μ−、ピッチ５一厘のグルーブを形成した後、
このクルーブ上に下引き層としてＡｉ）を５０大の厚さ
に電子ビーム蒸着した。つぎに、実施例ｌで用いたのも
のと同し高分子液晶組成物をシクロヘキサノンに溶解し
て１０ｗｔ％の濃度になるように調整し、実施例ｌと同
し条件でスピナー塗布し乾燥させた後、室温まで徐冷す
ることにより厚さ０．６井１の液晶ポリトメインを得た
。さらに、保護層として基板と同じサイズと厚みのポリ
メチルメタクリレート板の周辺部にホットメルト接着剤
を塗布し、１２０℃で圧着した後、再び室温まて徐冷し
て光カードＣを作製した． 比較例２として、Ａｊ）を蒸着する工程を除いた以外す
べて上記と同しプロセスで光カートＤを作製した． 光カートＣとＤのトラッキングエラー信号を第２図と同
様の方法で検出すると，各々第３図、第４図の様になり
、光カートＣては安定したトラツキンクか可能であるか
，光カートＤではトラッキングはできないことが確認さ
れた． また、光カードＣとＤの基板側からの入射光に対する反
射率は各々１８％と９％であった。

実施例３ 実施例ｌで用いたのと同しグルーブ付ガラス製ディスク
に硫化亜鉛を膜厚か２１００入となる様に蒸着した。こ
れに実施例ｌと同し工程で同じ高分子液晶組成物を塗布
し、膜厚が１．３μ一の記録層を形成した．さらに、記
録層の上にＡｊ）を３０００入の厚さに電子ビーム蒸着
して光ディスクを得た．（光ディスクＥ） この光ディスクＥを第２図に示す記録再生系を用いて記
録および再生を行なった．記録再生光がグルーブを横切
るときのトラッキングエラーシグナルを見ると第３図に
示すものと同様の出力曲線が得られ、トラックはずれは
起こらなかった． また，光ディスクＡ，Ｂ，Ｅでピックアップヘッドを上
下させてフォーカスエラーシグナルを比べると、光ディ
スクＡ，Ｅでは第５図に示す結果が得られ，安定したフ
ォーカスが可能であるのに対し，光ディスクＢでは第６
図に示す結果が得られ、フ才一カシング不可能であった
。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によれば、基板のグルーブ
上に金属の薄膜または高屈折率の誘電体薄膜等の下引き
層を設けから、その上に高分子液晶層からなる記録層を
形成することにより、トラッキングはずれがなく、かつ
安定したフォーカスが得られる光学式情報記録媒体を得
ることかできた．

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の光学式情報記録媒体の基本構成を示す
説明図、第２図は記録再生光学系を表わす説明図，第３
図は光ディスクＡ．光カートＣをトラック方向と垂直に
スキャンした時のトラッキングエラー信号出力を表わす
グラフ、第４図は光ディスクＢと光カードＤをトラック
方向と垂直にスキャンした時のトラッキングエラー信号
出力を表わすグラフ、第５図は光ディスクＡ，Ｈのフォ
ーカスエラーシグナルを表わすグラフおよび第６図は光
ディスクＢのフォーカスエラーシグナルを表わすグラフ
である． ｌ・・・基板 ２・・・グルーブ ３・・・下引き層 ４・・・記録層 ５・・・光学式情報記録媒体 ６・・・レーザー ７〜１１・・・レンズ ｌ２・・・偏光ビームスプリッター ｌ３・・・月波長板 ｌ４・・・４分割フォトダイオード 第１図 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　トラッキング用グルーブが形成されている基板上に高
   分子液晶層からなる記録層を有する光学式情報記録媒体
   において、前記基板と記録層の間に下引き層を設け、記
   録層側あるいは基板側からの入射光に対する反射率が５
   〜９０％に設定されていることを特徴とする光学式情報
   記録媒体。