JPH03285086A - プラズマエッチング用電極板 - Google Patents
プラズマエッチング用電極板Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
エツチング用電極板に関する。
不活性雰囲気中で炭化すると、ガラス状カーボン材料が
得られる。このガラス状カーボン材料はガス不透過性に
優れ、高硬度で、等方性の組織を有する。さらに、この
ガラス状カーボン材料は、一般の炭素材料が有する軽量
、耐熱性、高電気伝導度、耐蝕性、高熱伝導度を有し、
すぐれた機械的強度や潤滑性の特性に加えて、均質の特
性や、摺動的に用いたとき切り粉等の炭素粉末を生じな
い特性をも備えている。
て、ガラス状カーボン材料をプラズマエツチング用電極
板として利用することが検討されている。
の方法で製造されている。
、筆、噴霧、遠心法等により樹脂を薄く塗布してから硬
化させる操作を繰り返すことによって成形した後、焼成
を行う。
成を行い、ガラス状カーボンを得る。
、コークスを粉砕して粉末状のカーボン材料を製造し、
その粉末状のカーボン材料に適宜のバインダーを添加し
て混練し、その混練した材料を成形して成形素体を形成
し、その成形素体を焼成し、更に焼成素体を熱処理によ
って黒鉛化することにより製造されていた。
状カーボンからなるプラズマエツチング用電極板が開示
されている。その製法をのべると、液状のフラン系樹脂
、フェノール系樹脂、又はこれらの混合樹脂、もしくは
、これらに同一種類の硬化性樹脂粉末を添加混合したも
のを平板状に形成してから硬化させて樹脂板をつくり、
ついてその樹脂板を不活性雰囲気下に800℃で焼成炭
化し、さらに必要に応じて3000℃で黒鉛化し、その
あと脱灰高純度処理をする。このようにして製造された
電極板に、直径Q、3mmの貫通孔を数多く2mm等の
間隔で形成する。電極板の厚さは3mmである。電極板
の物理特性は、かさ比重が1.45g/cI113、気
孔率が3%、ショア硬さが75、曲げ強さが58Qkg
f/cnf、弾性率が2430kgf/cnfである。
発成分の散逸等により比較的大きな径(約2μm)の多
数の気孔が発生する。
等によって気孔の大きさや分布が異なる。そのため、気
孔が関与した物性は非常に複雑なものになる。
板を電子顕微鏡で観察すると、第7図に示されているよ
うに、表面に大きな径(約2μm)の開気孔かある。な
お電極板の内部にも大きな径(約2μm)の閉気孔が存
在している。
表面積が増大し、酸化特性と強度が低下する現象が派生
する。
、研磨したとき内部の閉気孔が表面に現れて開気孔とな
り、上記問題点と同様の現象が派生する。
び閉気孔が焼成後の樹脂の積層部分に多数存在する不都
合があり、■の方法は、樹脂粉体を使用するため、粒子
間に粒界が存在し、機械的強度および気孔率等の特性が
通常のガラス状カーボンより劣り、使用中又11洗浄中
にカーボン粒子が脱落し易いという欠点がある。
表面にガラス状カーボン膜や熱分解炭素膜を形成する方
法が提案されているが、被膜自体の機械的強度が弱く、
被膜の剥離の問題点があった。
くれたプラズマエツチング用電極板を提供することであ
る。
チング用電極板にある。
状カーボンからなる厚さ2mm以上の板状体であり、表
面及び内部組織に粒界が実質的に存在せず、最大気孔径
が1μm以下である。
1111以下にし、開気孔率は0.2%以下にし、最大
気孔径は0.5μm以下にする。さらに開気孔率は06
01%、最大気孔径0.1μm以下にするのが最善であ
る。
マエツチング用電極板の一例を示している。電極板10
は全体が円板になっていて、中心の円形の開孔部11に
多数の小さな貫通孔13(第3図)が形成されており、
周辺には一定間隔に8個の大きな貫通孔14が形成され
ている。
としたもので、小径部と大径部からなり、2段形状にな
っている。
体には多数の貫通孔13が密に形成されている。これら
の貫通孔13はエツチングガスを均一に流すことにより
ウエノ\を均一にエツチングすることを目的としたもの
であり、第3図に示されているように、上下左右にわた
って一定間隔毎に配置されており、互いに隣接する3つ
の貫通孔13が正三角形の頂点に位置するようになって
いる。
径は処理ウェハ(図示せず)の直径に対応させて8イン
チに設定されている。
1の直径を10インチにしてもよい。
よりも大きくするのが好ましい。
98個/cm2にするのが好ましい。この図示例におい
ては、直径8インチの開孔部11の中に貫通孔13が1
733個形成されている。各貫通孔13の直径は0.5
〜1mmにするのが好ましい。
1全体で均一な分布になっているが、本発明はその例に
限られない。例えば、配置密度は開孔部11の中心部を
密にし、外周部を疎にしてもよい。
的強度を増大させ、耐用寿命を向上させるためである。
の鋤板下(たとえば5ppm以下)に抑制したガラス状
カーボンからなる。
る。
合させる工程をくり返す。しかるのち、重合させた樹脂
を型に注入して円板状に成形し、ゆっくり昇温させてい
って硬化させる。そのように硬化させた円板の中心部に
直径0.8mmの多数の貫通孔を設ける。
〜1200℃で炭化焼成する。それを表面加工して、さ
らに2000〜2500℃で純化処理する。
料として流動性のある液体状熱硬化性樹脂を使用して作
るのが好ましい。そうすることにより、1μm以上の気
孔を含まず、開気孔率が0.2%以下であるガラス状カ
ーボン材料を得やすくなるからである。
には約0.2μm以下の開気孔がごく少し存在するだけ
である。この例の開気孔率は0.1%である。
、粒界が生じない。骨材そのものを樹脂粉末状とし、成
形後に焼成した場合、粒子間に粒界が存在し易く、機械
的強度および気孔率等の特性が劣化する。
を含まず、通常、ヘリウム、アルゴン、窒素、水素、ハ
ロゲン等の不活性ガスの中の少なくとも一種の気体より
なる雰囲気下、あるいは減圧または真空下、または大気
を遮断した状態の雰囲気)中で緩やかな昇温速度で炭化
焼成する。
好ましい。開気孔率が0.2wt%を超えると、ガラス
状カーボンをプラズマエツチング用の電極板として用い
た場合、電極板がエツチングにより消耗し、閉気孔が露
出し、表面積が大きくなって、エツチングとカーボン粒
子の脱落が加速される。その結果、ライフが短(なる。
イス用シリコンウェハに付着し、ウェハの物理特性を劣
化させる。それにより、歩留が低下する。
エポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ユリア樹脂、
メラミン樹脂、アルキッド樹脂、キシレン樹脂等を挙げ
ることができる。このような樹脂を単独またはブレンド
または変成することによって使用する。その中でも変成
フラン樹脂が良い。
4重量部の爆発限界まで攪拌混合して重合し、1000
〜4000cp (センチボイズ)の粘性を有する流動
性ポリマーを得た。
形型中で直径300 mm、厚み110ll1の円板に
成形し、乾燥器中で1℃/hrの昇温速度で硬化させた
。
1000℃まて昇温しで焼成し、最後に2300℃で純
化処理を行い、ガラス状カーボンとした。
た後に脱泡処理し、それを成形した後に200℃まで緩
やかに昇温しで硬化させた。こうして得られた硬化体を
粉砕し、平均粒径30〜50μmの樹脂粉末を得た。
を脱泡処理した後に直径200 mm。
た。得られた硬化体を窒素雰囲気中で2℃/hの昇温速
度で1000℃まで昇温させて焼成し、最後に2300
℃で純化処理を行い、ガラス状カーボンとした。
ーボンについて、開気孔率、ライフおよびガス放出量を
示す。
置し、CF4、Δr、02の混合ガスを流し、プラズマ
を発生させてシリコンウェハをエツチングした。そのと
き、流した酸化性ガスと発生したプラズマによりガラス
状カーボンもエツチングされ消耗した。ガラス状カーボ
ン電極板の初期厚みを加工して3mmに統一し、残留厚
みが0.8mmとなる時点をライフエンドとした。
たときにガラス状カーボンの表面に吸着していたCO2
、H2、CO等のガスが放出された量を示す。
比較例と比べて酸素含有条件下でライフが格段に向上し
た。
mmになったところでライフエンドとしたが、実際には
比較例のガラス状カーボン電極板には開気孔が多く存在
するため、ガラス状カーボン電極板のエツチングのされ
方が均一ではなく、電子顕微鏡で観察すると、第8図に
示すように著しく凹凸が生じる。そのため、シリコンウ
ェハをエツチングするために発生させるプラズマが不安
定となり、シリコンウェハのエツチング速度がシリコン
ウェハの各部で異なる。それゆえ、実際にはエツチング
用ガラス状カーボン電極板として用いた時のライフは、
表1に示したライフよりもさらに短いものになると思わ
れる。
ング速度のバラツキが規定内に入っているが、今後の大
きな口径のシリコンウェハのエッチンングプロセスを考
えた場合、比較例に生じるエツチング速度のバラツキは
非常に大きな問題になると思われる。
グされると、パーティクルが発生し易い。現在の半導体
産業では集積度が4Mから16Mへと移り、パターンの
エツチングの線幅がサブミクロンへと進んだ。そのため
シリコンウェハの歩留りに一番影響を与えているのは0
.1〜0.3μmのパーティクルである。このようなパ
ーティクルを減少させることがシリコンウェハの歩留り
に大きく寄与することになる。このことから比較例のガ
ラス状カーボンでは使用初期では問題があまり生じない
が、使用時間が経過するに伴い、表面が凹凸状にエツチ
ングされ、それにより表面が荒れ、パーティクルを発生
する。
放出され、発生しているプラズマとともに高純度のシリ
コンウェハが悪影響を受ける。
発明の電極板は、エツチングのされ方が均一で、比較例
のようにエツチング後に大きな凹凸が生じない。
概略図、第2図は第1図の22線に沿った概略断面図、
第3図は第1図の開孔部の一部分を拡大して示した平面
図、第4図は本発明によるプラズマエツチング用電極板
の一例の表面のセラミック組織を1000倍の倍率で示
す電子顕微鏡写真、第5図は本発明のプラズマエツチン
グ用電極板のプラズマエツチング後の表面のセラミック
組織を1000倍の倍率で示す電子顕微鏡写真、第6図
は本発明のプラズマエツチング後の表面のセラミック組
織を15000倍の倍率で示す電子顕微鏡写真、第7図
は従来のプラズマエツチング用電極板の使用前の表面の
セラミック組織を1000倍の倍率で示す電子顕微鏡写
真、第8図は従来のプラズマエツチング用電極板の使用
後の表面のセラミック組織を1000倍の倍率で示す電
子顕微鏡写真である。 10、、、、、電極板 1 1゜ 13゜ 14゜ 開孔部 貫通孔 貫通孔
Claims (1)
- 高純度のガラス状カーボンからなる厚さ2mm以上の
板状体であり、表面及び内部組織に粒界が実質的に存在
せず、最大気孔径が1μm以下であることを特徴とする
プラズマエッチング用電極板。
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- 1990-04-02 JP JP8502890A patent/JPH0814033B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH0814033B2 (ja) | 1996-02-14 |
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