JPH03283026A - 光ピックアップ - Google Patents

光ピックアップ

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Publication number
JPH03283026A
JPH03283026A JP2082432A JP8243290A JPH03283026A JP H03283026 A JPH03283026 A JP H03283026A JP 2082432 A JP2082432 A JP 2082432A JP 8243290 A JP8243290 A JP 8243290A JP H03283026 A JPH03283026 A JP H03283026A
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JP
Japan
Prior art keywords
light
disk
receiving element
optical pickup
light receiving
Prior art date
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Pending
Application number
JP2082432A
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English (en)
Inventor
Toshiki Itoi
俊樹 糸井
Hiroyuki Nakamura
裕行 中村
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、ディスクに光スポットを投影して記録再生を
行なう光ピックアップに関するものである。
従来の技術 光学式ビデオディスクプレーヤ(レーザーディスクプレ
ーヤ等)のディスクの直径は30CMであり、ディスク
が反りやすく、またこの反りによって再生中の情報トラ
ックの隣接するトラックのは号が、再生官号に混入し、
クロストークを発生し、は号のS/Nが劣化する。これ
を軽減するために、ディスクの反りを光学式センサーに
て検出し、常に光ピックアップの光軸がディスクに対し
て垂直となる様、制御をかける必要がある。
以下に従来の光ピックアップについて説明する。
第8図は従来の光ピックアップの外観図を示すものであ
る。3は光学基台、4は対物レンズ、矢印6はディスク
の径方向を示し、1は発光ダイオード、2a、2bは受
光素子である。
第9図は動作を説明するだめの図であり、第9図は反り
検出装置(チルトセンサーと呼ぶ)を上から見た概略図
である。以下その動作について説明する。
第9図において、発光ダイオード1のディスクからの反
射光7はディスクの反りにより、ディスクの径方向5に
移動することになる。8は差動アンプであり、受光素子
2aと2bの差を取ることにより、極性によりディスク
の径方向6の傾き方向(反り)を検出することができる
。この差動アンプ8の出力に応じて第8図における光学
基台3に設けた回転軸6を中心に外部モーターにより光
学基台3を傾斜させる。この制御をかけることによりデ
ィスクの反りに対して、ディスク面と光ピックアップの
光軸の垂直性を保つことができる。
発明が解決しようとする課題 しかしながら上記従来の構成では、ディスクの反りを光
学的に検出するための光源として発光ダイオード1が必
要であり、近年光ピックアップの小型化が進む中で、発
光ダイオードの取り付はスペースが一つの障害となって
いる。さらに発光ダイオード1では良質な平行光束が得
られず、発光デイオードとディスクの距離によりディス
クからの反射光7の径が変化し、制御ループのゲインが
変化するという欠点や、発光ダイオードの光束の傾きに
より反射光7の位置が、ディスクの径方向。
周方向に移動し、制御ループのゲインが足らなくなった
り、差動アンプ8の出力に電気的オフセットを生じると
いう欠点を有していた。
本発明は上記従来の問題点を解決するもので、発光ダイ
オードを不要とし、光ピックアップの小型化を図れ、デ
ィスクの反りに光ピックアップを追従させる制御ループ
のゲイン変動やオフセットの発生のない良質な平行光束
を得ることのできる光ピックアップを提供することを目
的とする。
課題を解決するだめの手段 この目的を達成するために本発明の光ピックアップは、
半導体レーザーの発散光を、それぞれ略々平行光束であ
る第1の光束と第2の光束とに分離し、第1の光束を対
物レンズを透過させることなくディスクに照射し、ディ
スクの径方向に配置した2つのエレメントを有する第1
の受光素子で受光シ、この2つのエレメントの出力の差
をとりディスクの反りを:*出し、第2の光束を対物レ
ンズによりディスク上に集光し、この反射光を第2の受
光素子にて受光し、ディスクに記録された情報を得ると
いう構成を有している。
作  用 この構成によって、ディスクの反りを検出するために必
要な平行光束を得るのに、ディスク上の記録された信号
を読み取る為の構成要素である半導体レーザーとコリメ
ートレンズをそのまま用いているので、従来必要として
いた発光ダイオードを不要とし、この取り付はスペース
が不要となり光ピックアップを小型化することができる
。さらに、ディスクの反りに光ピックアップを追従させ
る制御ループのゲイン変動やオフセットの発生のない良
質な平行光束を得ることができ、ディスクの反りに対し
て光ピックアップの傾きを安定に制御できる。
実施例 以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。
第1図は本発明の第1の実施例における光ピックアップ
の光学系の構成を示す図であり、第2図はその上より見
た図、第4図はその電気回路を示すものである。
第1図、第2図において、13は半導体レーザー19は
その発散光、26はビームスプリッタ−12はコリメー
トレンズ、17はその第1図である平面、18はこの平
面の一部に形成した傾斜面、16はコリメートレンズ1
2の第2面である非球面、21はコリメートレンズ12
の平面17を透過した第2の光束、20はコリメートレ
ンズ12の傾斜面18を透過した第1の光束、11は対
物レンズ、16はディスク、23はディスク周方向を示
し、24はディスクの径方向を示す。22は第1の光束
20がディスク16に反射した反射光、14は第1の受
光素子であり、14a 、 1 abはディスクの径方
向24に配置した受光素子14の2つのエレメント、2
7は第2の光束21のディスクの反射光、26は第2の
受光素子である。
第4図において、30は差動アンプを示す。
以上のように構成された光ピックアップについて、以下
その動作を説明する。
まず、第1図において、半導体レーザー13の発散光1
9はビームスプリッタ25にて反射した後、コリメート
レンズ12にて平行光束になるが、平面17に対して傾
斜面18は傾斜しているため、屈折によシ光束は第1の
光束20と第2の光束21に分離される。第2の光束2
1は対物レンズ11によりディスク15上に収束され、
その反射光27は第2の受光素子26で受光し、デイヌ
クに記録された信号を得る。第1の光束2oはディスク
で反射し、その反射光22を第1の受光素子14にて受
光する。第2図は第1図を上方より見た図でアリ、コリ
メートレンズ12と対物レンズ11とはディスクの周方
向23に中心をずらして配置しておυ、コリメートレン
ズ12に形成した傾斜面18は、対物レンズ11の有効
径外に配置している。この傾斜面18を通過した光束が
ディスクに反射し、この反射光22は第1の受光素子1
4の2つのエレメント14a 、 1abの中央に当た
る。
ディスクの径方向24にデイヌクが反ると反射光22は
ディスクの径方向24に移動することとなる。第4図に
おいて、反射光22がディスク径方向24に移動すると
、第1の受光素子14の2つのニレメン)14a 、 
14b間に光量差が生じる。
この2つのエレメント14a、14bの出力を差動アン
プ3oにて差をとシ、その極性によりディスクの径方向
24の反りを検出することができる。
以上のように本実施例によれば、コリメートメートレン
ズの一方の面を非球面、他方の而を平面に形成し、さら
にこの平面の一部を傾斜面に形成することにより、半導
体レーザーの発散光を2つの平行な光束に分離でき、第
1の光束を対物レンズを透過させることなくディスクに
照射し、この反射光をディスクの径方向に配置した2つ
のエレメントを有する第1の受光素子で受光し、この2
つのエレメントの差をとることによりディスクの反りを
検出するものであり、前記半導体レーザー及び前記コリ
メートレンズはディスク上の信号を読みとるだめの、前
記コリメートレンズの平面を通過する第2の光束を得る
部材と同一であるため、精度が高められており、第1の
光束は平行性1分離角ともに精度のある良質な平行光束
となる。この為、ディスクと光ピックアップの距離が変
化したとしても第1の受光素子に入射する第1の光束の
ディスクからの反射光の光束径や、ディスク径方向の位
置が変化せず、ディスクの反りに合せて光ピックアップ
の光軸の傾きを制御するサーボのゲイン変動やオフセッ
ト発生がなく、安定に制御できる。またディスクの反シ
を検出する光源として、光ピックアップの半導体レーザ
ーを用いるため、従来必要であった発光ダイオードを不
要とし、この取り付はスペースがいらない為、光ピック
アップの小型化を図ることができる。
以下本発明の第2の実施例について図面を参照しながら
説明する。
第3図は本発明の第2の実施例を示す光ピックアップの
光学系の構成を示す図である。13は半導体レーザー、
25はビームスプリッタ、12はコリメートレンズ、1
5はディスク、14は第1の受光素子、26は第2の受
光素子、23はディスクの周方向、19は発散光、2o
は第′1の光束、21は第2の光束で、以上は第1図の
構成と同様なものである。第1図の構成と異なるのは、
コリメートレンズ12に傾斜面18を形成していないこ
とであり、発散光19を第1の光束20と第2の光束2
1に分離する手段として、2つのミラー28.29を設
けた点である。
上記のように構成された光ピックアップについて、以下
その動作を説明する。半導体レーザー13の発散光19
はコリメートレンズ12によす平行光束に形成されるが
、この平行光束中にミラー28を配置することによシ、
対物レンズ11へ入射する第2の光束21と入射しない
第2の光束へ分離する。それ以降の動作は第1の実施例
と同様であシ、第1の光束2oを用いてディスクの反シ
を検出する。
以上のように、コリメートレンズにより形成された平行
光束中にミラーを挿入することにより良質な平行光束を
得ることができ第1の実施例と全く同様な効果を得るこ
とができる。第1の実施例との違いはコリメートレンズ
が球面で構成したレンズでも良いが、逆に2つのミラー
が必要となることである。
以下本発明の第3の実施例について図面を参照しながら
説明する。
第5図は本発明の第3の実施例を示す光ピックアップの
光学系の構成図であり、第6図はそれを左方向から見た
図、第7図は、受光素子のエレメントの配置を示す図で
ある。
第5図、第6図において、13は半導体レーザ19はそ
の発散光、26はビームスプリッタ、12はコリメート
レンズ、21は第2の光束、11は対物レンズ、16は
ディスク、23はディスクの周方向、27は第2の光束
21のディスク16からの反射光、26は第2の受光素
子で、以上は第1図の構成と同様なものである。第1図
の構成と異なるのは、コリメートレンズ12に傾斜面1
7を有さない点と、アパーチャ31を設けた点と、この
アパーチャ31により制限された光束を第1の光束2o
としている点、この第1の光束2oのディスク16から
の反射光22を受光する第1の受光素子14を前記の第
2の受光素子26と同一パッケージ内に納めた点である
上記のように構成された光ピックアップについて、以下
その動作を説明する。半導体レーザ−13ノ発散光19
はビームスプリッタ25にて反射され、コリメートレン
ズ12にて平行光束になる。
対物レンズ11に入射する第2の光束21、これを除く
他の領域の光束を略々円形状の開口部を有するアパーチ
ャ31にて制限し、これを第1の光束20とする。この
第1の光束20はディスク15で反射された後、コリメ
ートレンズ12で収束され、反射光22となシ、ビーム
スプリッタ26を透過して第1の受光素子14に収束す
る。一方、第2の光束21は対物レンズ11にてディス
ク16上に集光され、その反射光はコリメートレンズ1
2にて収束され、反射光27となり、第2の受光素子2
6に収束される。
第7図において、第1の受光素子14の2つのニレメン
)14a、14bと、第2の受光素子温は同一パッケー
ジ32内に収納されており、第2の光束21のディスク
15の反射光27は第2の受光素子26に、第1の光束
2oのデイ7り15の反射光22は、第1の受光素子1
4の2つのニレメン)14a”iたは14bのいずれか
に、それぞれ収束する。ディスク16の径方向の反りに
より、反射光22はディスクの径方向24に移動するこ
とになる。第1の受光素子14の2つのニレメン)14
a、14bの出力の差を差動アンプ3゜にて取ることに
よυ、その極性によシディスク16の径方向の反シ方向
を検出できる。反射光22が第2の受光素子26上を横
切る時、差動アンプ■の出力は0となるが、ディスクの
反シに対する反射光22の移動量は大きく、高感度であ
るため問題はなく、逆にデイヌクの反りに光ピックアッ
プの傾きを追従させる制御ループにおいて不感帯を設け
ることはかえってサーボが安定になる。
以上のように、コリーメートレンズの光軸と対物レンズ
の光軸を平行を保ったまま偏心させ、対物レンズに入射
する第2の光束の有効部外にアパーチャを設けて光束を
制限して第1の光束を得、これを対物レンズを通過させ
ることなくディスクに照射し、その反射光を第2の受光
素子と同一パッケージに収納した第1の受光素子で受光
することにより、第1の実施例と全く同様な効果を得る
ことができる。さらに第1の実施例より優れている点は
、第1の受光素子と第2の受光素子を同一パッケージに
収納することによυコストダウンが図れることと、さら
に光ピックアップの小型化が可能な点である。
なお、第2の実施例においてコリメートレンズ12で形
成された平行光束を略々平行な第1の光束と第2の光束
の分離手段として2つのミラー田。
29を用いたが、このかわりに、プリズムで平行光束の
一部を曲げても良く、光ファイバーにて導光しても良い
発明の効果 以上のように本発明は、半導体レーザーの発散光を、そ
れぞれ略々平行光束である第1の光束と第2の光束とに
分離し、第1の光束を対物レンズを透過させることなく
デイヌクに照射し、ディスクの径方向に配置した2つの
エレメントを有する第1の受光素子で受光し、この2つ
のエレメントの出力の差をとυディスクの反りを検出し
、第2の光束を対物レンズによりディスク上に集光し、
この反射光を第2の受光素子にて受光し、ディスクに記
録された情報を得るという構成をとることによシ、ディ
スクの反υを検出するために必要な平行光束を得るのに
、ディスク上の記録された信号を読み取る為の構成要素
である半導体レーザーとコリメートレンズをそのまま用
いているので、従来必要としていた発光ダイオードを不
要とし、この取り付はスペースが不要となシ光ピックア
ップを小型化することができる。さらにディスクと光ピ
ックアップの距離が変化しても、ディスクの反りの検出
に用いる平行光束のディスクからの反射光は、光束径が
変化せず、かつ、ディスクの径方向の移動もない為、デ
ィスクの反シに光ピックアップを追従させる制御ループ
のゲイン変動やオフセラー変化がなく、制御の安定化が
図れることのできる優れた光ピックアップを実現できる
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例における光ピックアップ
の光学系の構成を示す正面図、第2図はこれを上よシ見
た平面図、第3図は本発明の第2の実施例における光ピ
ックアップの光学系の構成を示す正面図、第4図は第1
と第2の実施例に共通するその電気回路を示すブロック
図、第6図は本発明の第3の実施例における光ピックア
ップの光学系の構成を示す正面図、第6図はこれを左方
より見た側面図、第7図はその受光素子のエレメントの
配置を示す平面図、第8図は従来の光ピンクアップの外
観を示す斜視図、第9図はその反り検出装置を上方より
見た平面図である。 11・・・・・・対物レンズ、12・・・・・・コリメ
ートレンズ、13・・・・・・半導体レーザー、14・
・・・・・第1の受光素子、15・・・・・・ディスク
、16・・・・・・非球面、17・・・・・・平面、1
8・・・・・・傾斜面、19・・・・・・発散光、2゜
・・・・・・第1の光束、21・・・・・・第2の光束
、22・・・・・・反射光、23・・・・・・ディスク
の周方向、24・・・・・・ディスクの径方向、25・
・・・・・ビームスプリッタ、26・・・・・・第2の
受光素子、27・・・・・・反射光、28・・・・・・
ミラー、29・・・・ペラ−13o・・・・・・差動ア
ンプ、31・・・・・・アパーチャ、32・・・・・・
ノ(ツケージ。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)対物レンズと、コリメートレンズと、半導体レー
    ザーと、ディスクの径方向に配置した2つのエレメント
    を有する第1の受光素子と、多数のエレメントを有する
    第2の受光素子とを備え、前記半導体レーザーの発散光
    を前記コリメートレンズに透過させるとともに、分離手
    段によりそれぞれ略々平行光束である第1の光束と第2
    の光束に分離し、第1の光束を前記対物レンズを透過さ
    せることなくディスクに照射し、この反射光を前記第1
    の受光素子で受光し、この第1の受光素子の2つのエレ
    メントの出力の差をとりディスクの反りを検出するとと
    もに、前記第2の光束を前記対物レンズによりディスク
    上に集光し、この反射光を前記第2の受光素子にて光受
    し、ディスクに記録された情報を得ることを特徴とする
    光ピックアップ。
  2. (2)コリメートレンズは、一方の面を非球面、他方の
    面を平面に形成し、さらにこの平面の一部を傾斜面に形
    成し、前記平面を通過する光束を第2の光束、前記傾斜
    面を通過する光束を第1の光束として得ることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の光ピックアップ。
  3. (3)コリメートレンズにより形成された略々平行光束
    中であって対物レンズへ入射する第2の光束外にミラー
    もしくはプリズム、光ファイバーを挿入し、前記平行光
    束より分離した光束を第1の光束として得ることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の光ピックアップ。
  4. (4)コリメートレンズの光軸と対物レンズの光軸とを
    平行を保ったまま偏芯させ、前記対物レンズに入射する
    光束を第2の光束とし、これを除く他の領域の光束をア
    パーチャにて制限し、第1の光束とするとともに、第1
    の受光素子と第2の受光素子を同一パッケージ内に収納
    したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光ピ
    ックアップ。
  5. (5)対物レンズと、半導体レーザーと、ディスクの径
    方向に配置したエレメントを有する第1の受光素子と、
    複数のエレメントを有する第2の受光素子とを備え、前
    記半導体レーザーの発散光を分離手段によりそれぞれ略
    々平行光束である第1の光束と第2の光束に分離し、第
    1の光束を前記対物レンズを透過させることなくディス
    クに照射し、この反射光を前記第1の受光素子で受光し
    、この第1の受光素子のエレメントの出力によってディ
    スクの反りを検出するとともに、前記第2の光束を前記
    対物レンズによりディスク上に集光し、この反射光を前
    記第2の受光素子にて受光し、ディスクに記録された情
    報を得ることを特徴とする光ピックアップ。
JP2082432A 1990-03-29 1990-03-29 光ピックアップ Pending JPH03283026A (ja)

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JP2082432A JPH03283026A (ja) 1990-03-29 1990-03-29 光ピックアップ

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014115422A1 (ja) * 2013-01-24 2014-07-31 株式会社日立製作所 光ピックアップ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014115422A1 (ja) * 2013-01-24 2014-07-31 株式会社日立製作所 光ピックアップ

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