JPH03279811A - エンコーダ - Google Patents

エンコーダ

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JPH03279811A
JPH03279811A JP2081526A JP8152690A JPH03279811A JP H03279811 A JPH03279811 A JP H03279811A JP 2081526 A JP2081526 A JP 2081526A JP 8152690 A JP8152690 A JP 8152690A JP H03279811 A JPH03279811 A JP H03279811A
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grating
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はエンコーダ、特に回折と干渉とを利用したエン
コーダに関するものである。
〔従来の技術〕
従来、この種のエンコーダとして、例えば特開昭61−
309816号公報のものが知られており、具体的には
、第10図に示す如き構成を有している。
レーザーダイオード60から発する可干渉(コヒーレン
ト)光は、集光レンズ61により集光光束を生成し、偏
光ビームスプリッタ−62によりP。
S偏光した2光束に分割される。そして、各偏光光は反
射鏡63a、 63bでそれぞれ反射され、所定の等し
い入射角を持って、透過型の回折格子64に達する。
この回折格子64は、測定方向に沿って所定のピッチを
有し、この測定方向に沿って移動可能に設けられている
ここで、集光レンズ61は、偏光ビームスプリッタ−6
21反射鏡63a、 63bを介した各光束を、回折格
子64上で集光するように構成されている。
さて、所定の等しい入射角を持って回折格子64を交差
した各光束は、この回折格子64によって、この回折格
子64のピッチ方向と直交した方向に回折し、回折角の
変化を補正するためのレンズ65によって平行光束とな
る。
ここで、回折角の変化を補正するためのレンズ65は、
レーザーダイオード60の温度変化による出力光の波長
変動によって、回折角が変化した場合でも、この回折角
の変化による影響をキャンセルするように機能している
。すなわち回折角が変化した際にも、レンズ65は、回
折格子64を所定の2方向を照明する2光束を同一方向
に指向させながら平行光束化を図り、この両平行が常に
重なり合うように構成されている。
その後、レンズ65を介した平行光束は、1/4波長板
66を介することによって円偏光となり、ビームスプリ
ッタ−67により2分割される。そして、分割された各
光束は、偏光板68a、 68bを介して受光素子69
a、 69bにて光電検出され、測定方向における回折
格子64の移動に応じた受光素子69a、 69bの出
力信号に基づいて回折格子44の移動量を、2つの出力
信号の位相差に基づいて移動回折格子の移動方向を検出
することができる。
従って、以上にて述べたエンコーダは、回折角の変化を
補正するだめのレンズ65の配置により、回折角が変化
した際にも、検出器で干渉光が常に検出できるため高精
度な測定が行えるものである。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記の如き従来技術においては、レーザーダイオード6
0の温度変化に伴う波長変動による移動回折格子64の
回折角変化を補正用のレンズ65の配置によって補正し
ている。
しかしながら、この補正用のレンズ65と移動回折格子
64との焦点合わせ、光軸合わせ等の調整が面倒かつ難
しい。
また、この装置は、上述の如く、光源の波長変動に対す
る回折角の変化には有利であるものの、透過型の移動回
折格子64が第8図中の上下方向での変動に対する補正
が不十分である。
すなわち、この変動によって、検出器69a、 69b
上に達する2つの回折光の射出方向が変化すると共に補
正用のレンズ65を介した検出光の集光状態が変化する
ため、検出器69a、 69bの検出面での干渉状態が
大きく変化する。
この結果、検出器で検出される出力信号が不安定となる
恐れがある。
以上の如く、本発明はこれら問題に鑑みてなされたもの
であり、簡単な構成かつ調整が極めて容易で、なおかつ
高精度なエンコーダを安価に提供することを目的として
いる。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は上記の目的を達成するために、所定の周期的な
ピッチの測定用回折格子(6A)が形成されたスケール
(6)と、コヒーレントな平行光束を供給する平行光束
供給手段(1,2)と、該平行光束を第1光束り、と第
2光束り、とに分割し、前記スケール(6)に該第1及
び第2光束を所定の2方向で照射する照明光学手段とを
有する照明系と、前記スケール(6)にて発生する回折
光を受光して光電的に検出する検出系(7,8,9a、
 9b、 10a、 10b、 11)とを備え、 前記照明系と前記検出系とに対して前記スケール(6)
の前記ピッチ方向の相対的な移動量を検出する検出系と
を有するエンコーダにおいて、前記平行光束供給手段−
(1,2)の波長変化に伴う回折角変動及び前記スケー
ル(6)の機械的変動を補正するために前記測定用回折
格子(6A)と平行かつ同方向に等しい周期的なピッチ
を有する補正用回折格子(5A、 5a、 5b、 5
0a、 50b)を前記スケール(6)の照射側と対向
して配置し、 前記照明光学手段(3,4a、 4b、 30.31a
、 31b)は、該補正用回折格子(5A、 5a、 
5b、 50a、 50b)に対して前記第1及び第2
光束Ll、L!を垂直入射させるように構成し、 前記補正用回折格子(5A、 5a’、 5b、 50
a、 50b )を介した前記第1及び第2光束の回折
光LDI、LD、を前記測定用回折格子(6A)に対し
所定の2方向で照明するものである。
また、検出精度の向上を図るためには、前記スケール(
6)と平行な位置に反射部材(40)を配置し、前記照
明光学手段(30,31a、 31b)によって、前記
補正用回折格子(6A)が形成されている面の法線方向
に発生する前記第1及び第2光束の回折光LD。
(m)、L D ! (−m)を前記測定用回折格子(
6A)に再入射させて再回折させる構成を採用すること
が望ましい。
また、照明効率の向上のためには、前記補正用回折格子
は、前記第1光束り、と第2光束り、との各々の通過領
域に互いに逆の回折特性を有するブレーズ型格子(50
a、 50b)で前記補正用回折格子を構成することが
好ましい。
〔作 用〕
本発明は、スケール6上の測定用回折格子6Aと同じピ
ッチを有する補正用回折格子5Aをスケール上の回折格
子の照明側に対向して配置することによって、この測定
用回折格子6Aからの回折光の回折角が光源の波長変化
によって変動する問題とスケール6面の直交方向(法線
方向)にこのスケール6が機械的変動する問題とを解消
できることに着目したものである。
具体的には、第1A図に示す如く、補正用回折格子5に
対して垂直にコリメート光りを照明すると、土m次回折
光が発生する。そして、例えばθヨ方向に発生するm次
回折光L (m)について考えると、スケール上の測定
用回折格子6Aにより、このm次回折光L (m)はθ
□だけ偏向した方向に再回折されて、測定用回折格子6
Aと直交した方向に−m次回先光LDが発生する。
但し、0次回先光を境にして右側のm次回先光を+mm
次回先光し、左側のものを−m次回折光とする。
ここで、照明光束の波長をλ、回折格子5A。
6AのピッチをP、回折光の次数をm(整数)、回折角
をθ、とするとき、 m・λ sinθ1=−(1) の関係が成立する。このとき、m次回先光の回折角はθ
4.−m次回折光の回折角はθ−□となり、両者にはθ
□=−θ−4の関係が成立するが、以下における説明を
簡単にするため、±mm次回先光回折角は共にθ。とじ
て説明する。
さて、温度変化に伴い光源波長λが変動すると、上式(
1)から回折角θ□が変化することが分かる。
第1A図に示す如く、光源波長λが短波長側ヘシフトし
た場合、補正用回折格子5から発生する一m次回先光L
Dの回折角θ□はθ、となって小さくなる。そして、こ
の−m次回折光LDが測定用回折格子6Aにより回折さ
れて生成されるm次回折光L D (m)についての回
折角θ、も、同じようにθ□となって小さくなる。
したがって、測定用回折格子6Aにより再回折するm次
回折光L D (m)は、この測定用回折格子6Aと直
交した方向へ常に射出する。
また、光源波長λが長波長側ヘシフトして、補正用回折
格子5Aによる一m次回先光LDの回折角θ。がθ、と
なって大きくなる場合についても、測定用回折格子6A
によるm次回折光L D (m)の回折角θ7は、θ7
Hとなって大きくなり、このm次回折光L D (m)
は常に測定用回折格子6Aと直交した方向に射出する。
以上の如く、本発明では、常に測定用回折格子6Aと直
交した方向へ検出用の回折光を射出させることができる
ものの、光源の波長変動に応じてスケールを射出する検
出用の回折光L D (m)は横方向にXlだけシフト
する。
しかしながら、ある大きさのコリメート光で補正用回折
格子5Aと測定用回折格子6Aとを照明しているため、
このコリメート光の径に対する検出すべき回折光の横シ
フト量X、は無視できる程小さくなる。
また、第1B図に示す如(、スケール6が上下方向に変
動することによって、補正用回折格子5Aとスケール6
の測定用回折格子6Aとの距離g、所謂ギャップgがΔ
gだけ変動した場合においても、測定用回折格子6Aに
より再回折する一m次回先光L D (m)は、常に測
定用回折格子6Aと直交した方向に射出する。この時も
、波長変動が生じた場合と同様に、スケールの機械的な
変動に応じてスケールを射出する検出用の回折光L D
 (m)は横方向にシフトするが、ある大きさのコリメ
ート光で照明しているため、このコリメート光の径に対
する検出すべき回折光の横シフト量X、は無視できる程
小さくなる。
したがって、本発明は、スケール上の測定用回折格子6
Aと同様なピッチを有する補正用回折格子5Aをこの測
定用回折格子6Aと対向して光源側に配置するだけで、
波長変動による回折角変化とギャップ変動との影響を解
消できるのみならず、調整が極めて簡単で製造上におい
て極めて有利な構成であることが理解できる。
〔実施例〕
第2図は本発明の第1実施例の概略的な構成図を示すも
のであり、この第1図を参照しながら本実施例について
詳述する。
平行平面板のスケール6上には透過領域と遮光領域とが
所定のピッチで交互に形成される振幅格子の測定用回折
格子6Aが設けられており、スケール6は水平方向に移
動可能に設けられている。
このスケール6の上方には照明系、スケール6の下方に
は検出系がそれぞれ設けられている。
まず、照明系について説明すると、光源とじてのレーザ
ーダイオード1から発する可干渉性(コヒーレント)の
光束は、コリメートレンズ2によってコリメート化(平
行光束化)される。そして、偏光ビームスプリッタ−3
によって、例えば透過方向にP偏光(紙面方向に偏光)
と反射方向にS偏光(紙面に直交する方向に偏光)とに
分割される。この2つの偏光した光束(Ll、Lt)は
、反射部材4a、4bによって、平行平面板5上に形成
された回折格子5Aに対し垂直に照明される。
ここで、この回折格子5Aは前記主スケールと同様な振
幅格子で形成されており、レーザーダイオード1の波長
変動に伴う回折角変化及び主スケールの上下方向での機
械的変動を補正するための補正用回折格子として機能す
る。
照明光り、、Ltは、この補正用回折格子5Aによって
回折され、それぞれ各次数の回折光が発生する。すると
、補正用回折格子5Aからの土m次回折光LD、、LD
、がスケール6上の回折格子6Aを入射角θヨの2方向
から照明する。この2つの±m次回折先光D、、LD2
はスケール6の回折格子6Aによって再回折し、この測
定用回折格子6Aの垂直方向に発生する±m次の再回折
光L D l(m)、 L D 1 (−m)が検出系
に向けて同一光路上を進行する。
今、レーザーダイオードlから出力される光束の波長が
変動する場合及び補正用回折格子5Aとスケール6の測
定用回折格子6Aとの間のギャップが変動した場合には
、第1A図及び第1B図に示した如く、スケール6の測
定用回折格子6Aに対し直交した方向に射出して検出系
へ向かう2つの回折光L D l(m)、  L D 
t (−Ill)は射出方向においては全く変化しない
ものの、測定方向においては相反する方向へXl、X2
だけ横シフトする。
しかしながら、検出系へ導かれる2つの回折光はL D
 +(m)、  L D t(−m) 、先に述べたコ
リメートレンズ2によってコリメートされた際に、所定
の大きさの光束径を有することになるため、2つの回折
光の測定方向のシフト量X、 、X2に対して光束径が
十分に大きくなっている。
したがって、両回先光は実質的に重なり合って同−光路
上を進行するため、後述する検出器にて検出される干渉
光の干渉状態は実質的に変化することなく常にS/N比
が高く安定した出力信号を検出することができる。
ここで、レーザーダイオード1から出力される光束の波
長が変動する場合についての一例を考える。
25°の時の光源の光源波長をλを780nmとし、2
5°より±25°変化した時の光源の光源波長変動Δλ
を±6nm 、補正用回折格子5Aとスケールの測定用
回折格子6Aとのギャップgを5mm、回折格子5A及
び6AのピッチPを4μm、コリメート光束の径φを2
器とし、さらに補正用回折格子5Aとスケールの測定用
回折格子6Aで発生する±1次回折光を検出しようとす
るとき、0°から50°までの温度変化に対する光源の
波長変動12nmによる検出光の横シフト量X1は、上
式(1)及び第1A図の関係より求められ、 λ g−tan[sin −’()]=16μmとなる。
従って、光束径φに対するこの横シフト量Xは1器程度
であるため、実質的に検出精度に悪影響を及ぼすことな
く、常にS/N比が高く安定した出力信号を検出できる
また、補正用回折格子5Aとスケール6の測定用回折格
子6Aとの間のギャップが変動した場合についての一例
を考える。
光源波長λを780nmとし、補正用回折格子5Aとス
ケールの測定用回折格子6Aとのギャップgを5mm、
ギャップ変動Δgを100μm、回折格子5A及び6A
のピッチPを4μm、コリメート光束の径を2mmとす
る。そして、さらに補正用回折格子5Aと測定用回折格
子6Aで発生する±1次回折光を検出しようとするとき
、ギャップ変動による検出光の横シフト量X2は、上式
(1)及び第1B図の関係から求められ、 λ X、=Δg−tanfsin −’()]#20μmと
なる。
よって、光束径φに対するこの横シフト量X2も1器程
度であるため、この場合にも、常にS/N比が高く安定
した出力信号を検出できる。
尚、コリメートされる照明光の光束径φは、補正用回折
格子5Aと測定用回折格子6Aとのギャップg、光源の
波長変動範囲、ギャップ変動範囲、各回折格子のピッチ
等により最適な状態に任意に選択することができる。
さて、スケール6を射出して同一光路上を進行する2つ
の回折光L D + (m)、 L D 2 (−m)
は互いに直交方向に偏光しており、1/4波長板7を通
過すると、互いに反対回りの円偏光となる。そして、ビ
ームスプリッタ−8により2つの光路に分割され、各偏
光板9a、9bを通して検出器10a。
10bによって光電検出される。
このとき、例えば光電検出される2つの正弦波状の出力
信号間に90°の位相差をつけて、方向弁別できるよう
に、偏光板9a、9bは調整されて配置されている。
さて、相対的に位相が90°ずれた正弦波状の2つの出
力信号は、例えば第4図に示す如き従来の光電式エンコ
ーダにおいて適用されている手法で信号処理される。
図示の如く、各検出器より得られる各出力信号を増幅さ
せるプリアンプ20と、この各増幅信号をパルス状に整
形する波形整形回路21と、各パルス信号を2値的なパ
ルス信号に変換する方向弁別回路22と、この方向弁別
回路を介したパルス信号を計数する計数回路23と、パ
ルス信号を計数による計測結果を所望の形式で表示させ
る表示部24を設けることによって計測値を得ることが
できる。
以上の構成によって、S/N比が高く安定した出力信号
の検出が実現できる。
尚、本実施例では補正用回折格子5A及び測定用回折格
子6Aとを振幅格子で形成しているが、これを所定のピ
ッチを持つ周期的な凹凸形状の位相格子にて構成しても
良い。
次に第2実施例について説明する。
本実施例では、第2図に示した補正用回折格子5Aの代
わりに第3図に示す如き鋸歯状の形状を有するブレーズ
格子50a、 50bを適用し、回折効率を上げて装置
全体の照明効率を格段に向上させたものである。
尚、本実施例のスケール6上には、所定の周期的なピッ
チPを有する凹凸形状の位相格子で形成された測定用回
折格子6Aが設けられている。
このブレーズ格子50a、 50bは、測定用回折格子
6Aに対して所定の2方向に向けて最も強度の強い回折
光を発生させるために、互いに鋸歯状の歯の向きが反対
となる第1及び第2領域を有している。
このとき、鋸歯状となる格子斜面の角度をδ、最も強い
強度を持つ回折光の回折角θ8、ブレーズ格子50a、
 50bの屈折率をnとするとき、n5inδ=sin
(θ5+δ)′−−−−・(2)の関係が成立する。
従って、ブレーズ格子50a、 50bの斜面の角度δ
は、上式(2)より となる。
ここで、本発明の目的である波長変動及びギャップ変動
に対する補償を達成するには、ブレーズ格子50a、 
50bにより生成される最も強度の強い回折光の回折角
θ8は、測定用回折格子6Aが照明光束を回折させる角
度θ1と等しく、しかもブレーズ格子50a、 50b
のピッチPsもスケール6の回折格子6AのピッチPと
等しく構成される必要がある。
従って、上式(1)より(3)式は、 −・−・−(4) となり、この(4)式をほぼ満足するようにブレーズ格
子50a、 50bを構成することが望ましい。
尚、本実施例では、第3図に示す如く、このブレーズ格
子50a、 50bを同一の平行平面板50上に一体的
に構成したが、このブレーズ格子50a、 50bを同
一平面上に分離して配置しても良い。
次に、本発明の第3実施例について説明する。
第5図は第3実施例の概略的構成を示すものであり、第
2図と同一の機能を持つ部材については同一の符号を付
しである。
本実施例は、第1実施例の透過型の測定用回折格子6A
を反射型とし、この測定用回折格子6Aを反射回折する
検出光を反射鏡11を介して検出系へ導くようにしたも
のである。
尚、本実施例の構成は基本的に第1図と同様であるため
詳細な説明は省略する。
第5図には、補正用回折格子5a、5bが同一平面上に
分離して設けられているが、例えば平行平面板に測定用
回折格子6Aより反射回折する検出光を透過させる透過
領域と、この透過領域を挟んで左右に補正用回折格子5
a、5bとを形成しても良い。
また、補正用回折格子5a、5bの代わりに第1実施例
において詳述した如きブレーズ格子を設けて、照明効率
の向上を図っても良いことは言うまでもない。
次に、本発明の第4実施例について説明する。
第6図は第4実施例の概略的構成を示すものであり、第
2図及び第5図と同一の機能を持つ部材については同一
の符号を付しである。
本実施例では、第3実施例と比べて、光学部材30及び
1/4波長板31a、 31bを設けて照明光と検出光
の光路の引回し及び照明光束の状態を変えるとともに、
スケールと平行に対向して反射部材40を設けることに
よりスケール6の測定用回折格子6Aのピッチ方向の直
交方向(法線方向)に発生する回折光を反射させて測定
用回折格子6Aへ再入射させるようにしたものである。
第6図を参照しながら第4実施例について詳述する。
レーザーダイオードlからの光束はコリメートレンズに
よりコリメートされて、光学部材30に入射する。
この光学部材30は、照明光及び射出光が通過するよう
に上底部の端が切欠られた略台形形状の第1ブロツク3
0a及び第2ブロツク30bとを有し、各ブロックの底
面部同士が接合されている。この接合面は偏光ビームス
ブリット面で形成されており、光学部材30は偏光ビー
ムスプリッタ−として機能する。
さて、コリメートレンズ2からのコリメート光は光学部
材30の偏光ビームスブリット面31Aによって透過方
向にはP偏光(紙面方向に偏光)、反射方向にはS偏光
(紙面方向と直交する方向に偏光)に分離され、光学部
材30の各斜面で反射し、各光束は互いに平行となるよ
うに光学部材30を射出する。
そして、P偏光とS偏光との光束は、1/4波長板31
a、 31bを介することによって互いに反対回りの円
偏光となった後、補正用回折格子5a。
5bによって回折し、±m次の回折光LD、、LD2が
入射角θイで2方向からスケール6上の測定用回折格子
6Aを照明する。この測定用回折格子6Aは回折光LD
、、LD2を反射回折させて、この測定用回折格子6A
の垂直方向に±m次の反射回折光LD+(m)、LDt
(−m)を発生させる。そして、この反射回折光同士は
反射部材40で正反射されて、測定用回折格子6Aに再
入射する。すると、この2つの再入射光は測定用回折格
子6Aによって回折され、±m次の反射回折光LD+(
m、m)、L D t (−m、−m)が再び元の光路
を逆に遡り、補正用回折格子5a、5b、1/4波長板
31a、 31bを通過する。
すると、検出光LD、(m、m)はS偏光状態となる一
方で、検出光L D ! (−m、−m)はP偏光状態
となる。
このため、光学部材30の斜面を反射した2つの光束は
、光学部材30の偏光ビームスブリット面によって検出
系へ向けて同一光路上に導かれる。その後、1/4波長
板7を通過した2つの光束は互いに逆回りの円偏光とな
り、ビームスプリッタ−8によって2つの光束に分割さ
れて、各偏光板9a、9bを介して各検出器10a、 
10bで、例えば相対的に位相が90°ずれた2つの出
力信号が光電検出される。
このように、本実施例においては、反射部材40の配置
によって移動可能なスケールの回折格子6Aに±1次回
折光を各々再回折させているため、このスケールが1ピ
ツチ移動する毎に光電検出された出力信号は8π位相が
ずれることになる。
したがって、第1及び第2実施例で述べた装置と比べて
、2倍の正弦波状の出力信号を得ることができるため、
検出精度を2倍に向上させることができる。
尚、信号処理系については、例えば第4図にて示した如
き構成によってスケールの移動量及び方向を検出するこ
とができる。
以上にて述べた、本実施例の補正用回折格子5a、5b
は分離して配置されているが、平行平面板に反射面を形
成し、この反射面を挟んで左右に回折格子5a、5bを
形成して一体的にしても良い。
また、本実施例においても、第7図に示す如く、補正用
回折格子5a、5bの代わりに互いに逆方向に回折光を
発生させるために反射面41の左右に鋸歯状格子の歯の
向きが反対となるブレーズ格子50a、 50bを設け
て、回折効率の向上を図ることができる。
さて、第8図に示す如く、平行平面板50に形成れてい
る補正用回折格子50a、 50bのピッチ方向と直交
した溝方向においてスケール6が点線で示す状態から実
線で示す状態へθだけ倒れて傾いている場合には、第7
図の示す如き反射面旧は、スケール6の回折格子6Aの
溝方向での入射光及び反射光との方向が等しくなるよう
に構成されることがより望ましい。
これは、例えば、第9A図及び第9B図に示す如く、回
折格子50a、 50bの溝方向を直角ミラーで構成す
ることで達成することができる。
第9A図及び第9B図における(a)は測定方向(格子
のピッチ方向)での補正用の回折格子50a。
50bの断面図であり、(b)は補正用の回折格子50
a。
50bのA−A断面の矢示図である。
第9A図fb)に示す如く、■型溝を有するプロソり状
の部材50cは、このV型溝に反射面41a、 41b
が形成されている。そして、このブロック状の透過部材
50cは、第9A図(a)の如く、回折格子50a、5
0bが形成された平行平面板50の各格子50a。
50bの間に接着されている。
また、第9B図(a)に示す如く、直角プリズム50C
の斜面に反射面41a、 41bが形成されている。
そして、第9B図(b)に示す如く、この反射面41a
41bを有する直角プリズム50cは、透過領域を挟ん
で回折格子50a、 50bが形成された平行平面板5
0の透過領域の上方に接着されている。
このように、第9A図及び第9B図に示した直角ミラー
は極めて簡単に製造できるため、コスト的にも有利であ
る。
尚、本発明の各実施例では、補正用回折格子として、振
幅格子、ブレーズ格子あるいは凹凸形状の位相格子が使
用でき、また、スケール上の回折格子として、振幅格子
あるいは凹凸形状の位相格子が使用できることを示した
このため、これらを任意に組み合わせて使用しても良く
、回折格子として機能するこれ以外のものも適用できる
ことは言うまでもない。
また、本発明の各実施例ではスケール6が移動する例を
示したが、このスケール6を固定して、照明系と検出系
とが一体的に移動するように構成しても良い。
〔発明の効果〕
以上の如(、本発明によれば、補正用回折格子をスケー
ルの回折格子と対向させて配置し、補正用回折格子5A
に対し2つの光束を垂直に照明させるという簡素な構成
を付加するだけで、波長変動による回折角変化及びギャ
ップ変動等が生じた際にも、各検出器では常にS/N比
が高く安定した信頼性の高い検出信号を得られる高性能
なエンコーダを達成できる。
しかも、補正用回折格子を比較的容易に製造でき、これ
をエンコーダに組み込んだ時の調整が極めて容易である
ため、コストの低減が図れ安価に提供することができる
また、補正用回折格子を単に照明光路中に配置している
ため、装置の大型化を招くことなく極めてコンパクトに
構成できる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1A図及び第1B図は本発明の原理を示す図である。 第2図は本発明の第1実施例の概略的な構成を示す図で
ある。第3図は本発明の第2実施例の主要な部分を示す
図である。第4図は本発明の第1実施例の信号処理系の
ブロック図である。 第5図は本発明の第3実施例の概略的な構成を示す図で
ある。第6図は本発明の第4実施例の概略的な構成を示
す図である。第7図は反射面を備えた補正用回折格子の
様子を示す図である。第8図は補正用回折格子の溝方向
にスケールが倒れている様子を示す図である。第9A図
及び第9B図はスケールの倒れを補正するための補正用
格子の構造を示す図である。第10図は従来のエンコー
ダの概略的な構成を示す図である。 〔主要部分の符号の説明〕 ・−・−・−補正用回折格子 5A、 5a、 5b、 50a、 50b6 °゛ス
ケー ルA  測定用回折格子

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)所定の周期的なピッチの測定用回折格子が形成され
    たスケールと、コヒーレントな平行光束を供給する平行
    光束供給手段と、該平行光束を第1光束と第2光束とに
    分割し、前記スケールに該第1及び第2光束を所定の2
    方向で照射する照明光学手段とを有する照明系と、 前記スケールにて発生する回折光を受光して光電的に検
    出する検出系とを備え、 前記照明系と前記検出系とに対して前記スケールの前記
    ピッチ方向の相対的な移動量を検出する検出系とを有す
    るエンコーダにおいて、 前記平行光束供給手段の波長変化に伴う回折角変動及び
    前記スケールの機械的変動を補正するために前記スケー
    ルの測定用回折格子と平行かつ同方向に等しい周期的な
    ピッチを有する補正用回折格子を前記スケールの照射側
    と対向して配置し、前記照明光学手段は、該補正用回折
    格子に対して前記第1及び第2光束を垂直入射させるよ
    うに構成され、 前記補正用回折格子を介した前記第1及び第2光束の回
    折光を前記測定用回折格子に対し所定の2方向で照明す
    ることを特徴とするエンコーダ。 2)前記スケールと平行に対向して反射部材を配置し、
    前記照明光学手段によって前記スケールの格子が形成さ
    れる面の法線方向に発生する前記第1及び第2光束の回
    折光を前記測定用回折格子に再入射させて再回折させる
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のエンコー
    ダ。 3)前記補正用回折格子は、前記第1光束と第2光束と
    の各々の通過領域に互いに逆の回折特性を有するブレー
    ズ型格子で形成されていることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項または第2項記載のエンコーダ。
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