JPH0327553A - 封止型回路素子 - Google Patents
封止型回路素子Info
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- JPH0327553A JPH0327553A JP1162156A JP16215689A JPH0327553A JP H0327553 A JPH0327553 A JP H0327553A JP 1162156 A JP1162156 A JP 1162156A JP 16215689 A JP16215689 A JP 16215689A JP H0327553 A JPH0327553 A JP H0327553A
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- Japan
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- ring
- sealing
- shaped groove
- wiring board
- sealing cap
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- Pending
Links
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 39
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 7
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 238000005476 soldering Methods 0.000 abstract description 5
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 abstract description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/1615—Shape
- H01L2924/16152—Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
Landscapes
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発1リ1は封止型{リ1路索子に係り、特に封止型回
路素子における電子部品封止キャップの封止47,i逍
の改良に関する。
路素子における電子部品封止キャップの封止47,i逍
の改良に関する。
(従来の技術)
配線基板面に、たとえばIC素子を搭載,丈装する一方
、前記搭栽,夷装したIC素子を封止するため、封止キ
ャップの開口端縁を配線基板面に対接させ、封止して成
る封止型回路索了は、各種電子機器類などで広く実川に
供されている。第2図は、捉来の封止型回路素了の{1
v,成例を断面的に示したもので、1は配線基板、2は
前記配線裁板1の所定領域面に搭載,実装された電子部
品、たとえばIC素子である。また、3は前記搭裁,実
装された電子部品2を囲繞するように、予め配線基板面
に環状に形設されたメタライズ部(シルリング)、4は
電子部品封止キャップで、この電子部品封止キャップ4
は、その開口端縁部4aを前記メタライズ部(シールリ
ング)3に対接し、半田付け5などすることによって気
密に封ILシた構成を成している。なお、第2図におい
て、2aは電子部品2と配線基板上の回路パターンとを
電気的に接続するボンディングワイヤである。
、前記搭栽,夷装したIC素子を封止するため、封止キ
ャップの開口端縁を配線基板面に対接させ、封止して成
る封止型回路索了は、各種電子機器類などで広く実川に
供されている。第2図は、捉来の封止型回路素了の{1
v,成例を断面的に示したもので、1は配線基板、2は
前記配線裁板1の所定領域面に搭載,実装された電子部
品、たとえばIC素子である。また、3は前記搭裁,実
装された電子部品2を囲繞するように、予め配線基板面
に環状に形設されたメタライズ部(シルリング)、4は
電子部品封止キャップで、この電子部品封止キャップ4
は、その開口端縁部4aを前記メタライズ部(シールリ
ング)3に対接し、半田付け5などすることによって気
密に封ILシた構成を成している。なお、第2図におい
て、2aは電子部品2と配線基板上の回路パターンとを
電気的に接続するボンディングワイヤである。
(発明が解決しようとする課題)
しかし、上記横成の封止型回路素子の場合には、構或上
乃至製造上次のような不都合かある。
乃至製造上次のような不都合かある。
すなわち、電子部品封止キャップ4の装着,封止に当っ
ては、先ず電子部品封止キャップ4の開口端縁部4aを
、搭裁.丈装された電子部品2を囲縞するように、予め
配線基板面に環状に形設されているメタライズ部(シー
ルリング)3に1立置含E!−し対接させた後、半+1
i {=Iけ5などすることによって気密に封止してい
る。ところで、この電子部品封止キャップ4の開口端縁
部4aとメタライズ部3との位置合せ作業は煩雑である
ばかりでなく、たとえば半田付けなど封IL作業の11
,.′l′、位置ずれを起さないような手段(治具)の
付加や注意を要するなどの問題がある。
ては、先ず電子部品封止キャップ4の開口端縁部4aを
、搭裁.丈装された電子部品2を囲縞するように、予め
配線基板面に環状に形設されているメタライズ部(シー
ルリング)3に1立置含E!−し対接させた後、半+1
i {=Iけ5などすることによって気密に封止してい
る。ところで、この電子部品封止キャップ4の開口端縁
部4aとメタライズ部3との位置合せ作業は煩雑である
ばかりでなく、たとえば半田付けなど封IL作業の11
,.′l′、位置ずれを起さないような手段(治具)の
付加や注意を要するなどの問題がある。
[発明の構成]
(課題を解訣するための手段)
本発明は上記事情に対処してなされたもので、電子部品
を搭載,丈装する配線基板と、前記配線基板に搭載,実
装される電子部品を囲繞するように形設された環状溝と
、前記環状溝内聖面の少なくとも一部をメタライズ化す
る金属層と、前記環状溝に開口端縁が嵌合しかつ気密に
封着される電子部品封止キャップとを具備して成ること
を特徴とする。
を搭載,丈装する配線基板と、前記配線基板に搭載,実
装される電子部品を囲繞するように形設された環状溝と
、前記環状溝内聖面の少なくとも一部をメタライズ化す
る金属層と、前記環状溝に開口端縁が嵌合しかつ気密に
封着される電子部品封止キャップとを具備して成ること
を特徴とする。
(作 川)
上記措或によれば、配線剋板の所定面乃至領域に、この
配線基板に搭裁.実装された電子部品を封止する封止キ
ャップの開川端縁か嵌合する環状の満が形設されている
。このため、封止キャップの装猫,封止に旨っても、位
置決めか容易であるとともに−B、+7的に保持される
ので、半IT+ {”Iけ封ILなど容易となる。しか
も前記封1トキャップの開口端縁か嵌合する環状の溝壁
面の少なくとも一部はメタライズ化してあるため、前記
半111付けなどによる封止で、気密でかつ強固な信頼
性の高い封止措造かりえられる。
配線基板に搭裁.実装された電子部品を封止する封止キ
ャップの開川端縁か嵌合する環状の満が形設されている
。このため、封止キャップの装猫,封止に旨っても、位
置決めか容易であるとともに−B、+7的に保持される
ので、半IT+ {”Iけ封ILなど容易となる。しか
も前記封1トキャップの開口端縁か嵌合する環状の溝壁
面の少なくとも一部はメタライズ化してあるため、前記
半111付けなどによる封止で、気密でかつ強固な信頼
性の高い封止措造かりえられる。
(失施例)
以下第1図を参照して本発明の丈施例を説明する。m
l図は本発明に係る封止型回路素子の構成例を断面的に
示したもので、1は電子部品たとえばIC素子2を搭裁
,実装するセラミック多層型配線J.L.11<である
。しかして、前記多層型配線基板2は、前記搭載,実装
される電子部品1を囲繞する環状溝2bを形設,具価し
ている。この環状溝2bの平面的な形状や断面形状(幅
および深さ)は後述する電子部品封止キャップ4の形状
などによって適宜選択,設定されるが、たとえば深さは
0.5mm程度でよい。また、前記環状溝6内壁面の少
なくとも一部、たとえば底部はメタライズ化6aされて
いる。4は上記の如<イ14威された環状溝6に開口端
縁を嵌合しかつ、たとえば半田付けなどにより気密に装
着,封止された電子部品封11ニキャップ、たとえばメ
タルキャップであり、2aは電子部品と配線基板の所要
回路パターンとを電気的に接続するボンディングワイヤ
である。
l図は本発明に係る封止型回路素子の構成例を断面的に
示したもので、1は電子部品たとえばIC素子2を搭裁
,実装するセラミック多層型配線J.L.11<である
。しかして、前記多層型配線基板2は、前記搭載,実装
される電子部品1を囲繞する環状溝2bを形設,具価し
ている。この環状溝2bの平面的な形状や断面形状(幅
および深さ)は後述する電子部品封止キャップ4の形状
などによって適宜選択,設定されるが、たとえば深さは
0.5mm程度でよい。また、前記環状溝6内壁面の少
なくとも一部、たとえば底部はメタライズ化6aされて
いる。4は上記の如<イ14威された環状溝6に開口端
縁を嵌合しかつ、たとえば半田付けなどにより気密に装
着,封止された電子部品封11ニキャップ、たとえばメ
タルキャップであり、2aは電子部品と配線基板の所要
回路パターンとを電気的に接続するボンディングワイヤ
である。
次に上記構造の封止型回路素子の製逍例の概略を説明す
る。先ず、所冴のセラミック多層型配線基板を製逍する
過捏で、もしくは製造されたセラミック多層配線基板の
所定領域に、たとえば断面U字型の溝を環状に形設する
。次いで上記形設した環状溝内壁面に、たとえばタング
ステンペース1・を塗着し、焼成処理してメタライズ化
する。このセラミック多層配線基板の所定領域に、所要
の5 電子部品を搭裁,実装するとともに、前記環状溝のメタ
ライズ化面上に半田ペース1・を彼着する。
る。先ず、所冴のセラミック多層型配線基板を製逍する
過捏で、もしくは製造されたセラミック多層配線基板の
所定領域に、たとえば断面U字型の溝を環状に形設する
。次いで上記形設した環状溝内壁面に、たとえばタング
ステンペース1・を塗着し、焼成処理してメタライズ化
する。このセラミック多層配線基板の所定領域に、所要
の5 電子部品を搭裁,実装するとともに、前記環状溝のメタ
ライズ化面上に半田ペース1・を彼着する。
一方、予め用意しておいた電子部品封ILキャップの開
口端緑を、前1記半田ペース1・を彼着してある環状溝
に嵌合,装着した後、半R]ベース1・の溶融温度に加
熱することによって所要の封止を達或しr1る。
口端緑を、前1記半田ペース1・を彼着してある環状溝
に嵌合,装着した後、半R]ベース1・の溶融温度に加
熱することによって所要の封止を達或しr1る。
なお、上記例では配線赳板としてセラミック多層配線基
板を用いたか、多層でなくともよく、また樹脂系の配線
払板であってもよい。さらに、電了部品封止キャップの
開口端縁を嵌合する環状溝も断面U字型に限定されず、
たとえば断面多段的(逆凸型など)であってもよい。さ
らにまた、電子部品封止キャップもメタル製に眠られず
セラミック製であってもよい。
板を用いたか、多層でなくともよく、また樹脂系の配線
払板であってもよい。さらに、電了部品封止キャップの
開口端縁を嵌合する環状溝も断面U字型に限定されず、
たとえば断面多段的(逆凸型など)であってもよい。さ
らにまた、電子部品封止キャップもメタル製に眠られず
セラミック製であってもよい。
(発明の効果コ
上記の如く、本発明に係る封止型回路素子は、構成乃至
製逍過程において、電子部品封1[7キャツプの装着,
封止も容易になし得る。つまり、電子部品封ILキャッ
プの位置合せは、配線旦板に予め6 形設してある環状溝との嵌合てなされ、かつこれにより
仮保持された状態で半[11 {=Iけ封ILなと行わ
れるため、信頼性の高い封止機能を保持する。特に、上
記封止部は電了部品封止キャップの開口端縁と配線基板
の環状溝との嵌合,装着構遣を採っているため、装着強
度および気密仕の点で前記信頼性向上に大きく寄1=i
する。
製逍過程において、電子部品封1[7キャツプの装着,
封止も容易になし得る。つまり、電子部品封ILキャッ
プの位置合せは、配線旦板に予め6 形設してある環状溝との嵌合てなされ、かつこれにより
仮保持された状態で半[11 {=Iけ封ILなと行わ
れるため、信頼性の高い封止機能を保持する。特に、上
記封止部は電了部品封止キャップの開口端縁と配線基板
の環状溝との嵌合,装着構遣を採っているため、装着強
度および気密仕の点で前記信頼性向上に大きく寄1=i
する。
第1図は本発明に係る封止型四路索子の禍逍例を示す断
面図、第2図は槌来の封止型回路素子の構遣を示す断向
園である。 1・・・・・・配線基板 2・・・・・電子部兄 2a・・・・・・ボンディングワイヤ 4・・・・・・電子部品封ILキャップ6・・・・・環
状溝
面図、第2図は槌来の封止型回路素子の構遣を示す断向
園である。 1・・・・・・配線基板 2・・・・・電子部兄 2a・・・・・・ボンディングワイヤ 4・・・・・・電子部品封ILキャップ6・・・・・環
状溝
Claims (1)
- 電子部品を搭載、実装する配線基板と、前記配線基板に
搭載、実装される電子部品を囲繞するように形設された
環状溝と、前記環状溝内壁面の少なくとも一部をメタラ
イズ化する金属層と、前記環状溝に開口端縁が嵌合しか
つ気密に封着される電子部品封止キャップとを具備して
成ることを特徴とする封止型回路素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1162156A JPH0327553A (ja) | 1989-06-23 | 1989-06-23 | 封止型回路素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1162156A JPH0327553A (ja) | 1989-06-23 | 1989-06-23 | 封止型回路素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0327553A true JPH0327553A (ja) | 1991-02-05 |
Family
ID=15749102
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1162156A Pending JPH0327553A (ja) | 1989-06-23 | 1989-06-23 | 封止型回路素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0327553A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20170135240A1 (en) * | 2014-06-23 | 2017-05-11 | Epcos Ag | Housing for an Electric Component, and Method for Producing a Housing for an Electric Component |
-
1989
- 1989-06-23 JP JP1162156A patent/JPH0327553A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20170135240A1 (en) * | 2014-06-23 | 2017-05-11 | Epcos Ag | Housing for an Electric Component, and Method for Producing a Housing for an Electric Component |
JP2017525145A (ja) * | 2014-06-23 | 2017-08-31 | エプコス アクチエンゲゼルシャフトEpcos Ag | 電気素子用の筐体および電気素子用の筐体の製造方法 |
US10542630B2 (en) | 2014-06-23 | 2020-01-21 | Tdk Corporation | Housing for an electric component, and method for producing a housing for an electric component |
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