JPH032648A - 印刷配線板のランド検査装置 - Google Patents
印刷配線板のランド検査装置Info
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- JPH032648A JPH032648A JP1138020A JP13802089A JPH032648A JP H032648 A JPH032648 A JP H032648A JP 1138020 A JP1138020 A JP 1138020A JP 13802089 A JP13802089 A JP 13802089A JP H032648 A JPH032648 A JP H032648A
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- circuit
- land
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- pixels
- copper foil
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- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 13
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 16
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 11
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、印刷配線板に作成されるランドの検査装置
についてのものである。
についてのものである。
[従来の技術]
次に、第2図を参照して従来の構成図を説明する。
第2図の1は撮像素子、2は二値化回路、3はシフトレ
ジスタ回路、4は並列読み出し回路、6は測長回路、7
はランド判定回路である。
ジスタ回路、4は並列読み出し回路、6は測長回路、7
はランド判定回路である。
印刷配線板を撮像素子1で読み取り、二値化回路2で銅
箔部分を「1」、基材部分を「0」と二値化して、シフ
トレジスタ回路3に入れる。
箔部分を「1」、基材部分を「0」と二値化して、シフ
トレジスタ回路3に入れる。
次に、第2図のシフトレジスタ回路3と、並列読み出し
回路4の構成図を第3図に示す。
回路4の構成図を第3図に示す。
第3図のシフトレジスタ回路3は、撮像素子1の1回の
水平走査の画素数に相当するビット段数をもつシフトレ
ジスタが33段で構成されている。
水平走査の画素数に相当するビット段数をもつシフトレ
ジスタが33段で構成されている。
二値化回路2から送られてくる二値画像信号は、1段目
のシフ1−レジスタ列31に入る。そして、画像信号の
入力に応じてシフトレジスタ列31.32、・・・・、
63へと順次シフトされる。
のシフ1−レジスタ列31に入る。そして、画像信号の
入力に応じてシフトレジスタ列31.32、・・・・、
63へと順次シフトされる。
各シフトレジスタ列から並列読み出し回路4の各段のシ
フトレジスタヘニ値画像信号が送られる。
フトレジスタヘニ値画像信号が送られる。
並列読み出し回路4を構成するシフトレジスタは、シフ
トレジスタ回路3に対応するように、それぞれ水平に3
3段あり、各段ごとに33個のシフトレジスタを配列し
ている。すなわち、並列読み出し回路4は、33X33
画素を構成している。
トレジスタ回路3に対応するように、それぞれ水平に3
3段あり、各段ごとに33個のシフトレジスタを配列し
ている。すなわち、並列読み出し回路4は、33X33
画素を構成している。
並列読み出し回路4は、第6図に示すように33画素×
33画素の領域のうち、十字の形状になっている部分の
信号を取り出す、第6図の中心画素をC1各腕をU−D
・し・Rとする。第6図では、腕U〜Rはそれぞれ16
画素である。
33画素の領域のうち、十字の形状になっている部分の
信号を取り出す、第6図の中心画素をC1各腕をU−D
・し・Rとする。第6図では、腕U〜Rはそれぞれ16
画素である。
並列読み出し回路4から取り出された腕U〜Rの各情報
と中心Cの情報は、それぞれ第2図の測長回路6A〜6
Dに入る。
と中心Cの情報は、それぞれ第2図の測長回路6A〜6
Dに入る。
rl!If長回路6A〜6Dはメモリで構成されており
、あらかじめ腕U〜Rの情報各16ビツトと、中心Cの
情報1ビツトの合計17ビツトがどのような組合せの場
合に長さがいくらかということを記憶させておく。
、あらかじめ腕U〜Rの情報各16ビツトと、中心Cの
情報1ビツトの合計17ビツトがどのような組合せの場
合に長さがいくらかということを記憶させておく。
測長回路6A〜6Dは、腕U〜Rの各ビットの二値画像
情報と中心Cの情報から、中心Cを出発点として初めて
銀箔から基材に変わる点までの距離を判定する。
情報と中心Cの情報から、中心Cを出発点として初めて
銀箔から基材に変わる点までの距離を判定する。
それぞれの測長結果をUC−DC、LC−RCとする。
測長回路6A〜6Dの出力は、ランド判定回路7へ入る
。ランド判定回路7は、メモリで構成されており、あら
かじめ次の論理式を書き込んでおく。
。ランド判定回路7は、メモリで構成されており、あら
かじめ次の論理式を書き込んでおく。
l UC−De l ≦1・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・(1)L(、−RC
+ ≦1・・・・・・・・・・・・・・−・・−・・
・・・・・・・(2)minD≦ (UC+DC−1)
≦maxDm i n D≦(LC+RC−1>≦
maxDここで、rn i n Dは、ランドの許容最
小径、rn a x Dはランドの許容最大径である。
・・・・・・・・・・・・・・・・(1)L(、−RC
+ ≦1・・・・・・・・・・・・・・−・・−・・
・・・・・・・(2)minD≦ (UC+DC−1)
≦maxDm i n D≦(LC+RC−1>≦
maxDここで、rn i n Dは、ランドの許容最
小径、rn a x Dはランドの許容最大径である。
式(1) 、(2)が両方成り立つときに、十字オペレ
ータがランlりの中心付近にあるとし、ランドの良否を
判定する。
ータがランlりの中心付近にあるとし、ランドの良否を
判定する。
すなわち、式(1)と式(2)が両方とも成り立ち、か
つ式(3)と式(4)の両方が成り立つときに良ランド
とし、式(1)と式(2)の両方ともが成り立ち。
つ式(3)と式(4)の両方が成り立つときに良ランド
とし、式(1)と式(2)の両方ともが成り立ち。
かつ式(3)と式(4)の少なくとも一方が成り立たな
いときに不良ランドとする。
いときに不良ランドとする。
また、式(3)と式(4)のように、UC+DC1、L
C+RC−1と対向する腕の測長値の合計から、各々1
つずつ差し引いているのは、UCにもDCにも、またL
CにもI’ijCにも中心Cの情報が含まれているため
である。
C+RC−1と対向する腕の測長値の合計から、各々1
つずつ差し引いているのは、UCにもDCにも、またL
CにもI’ijCにも中心Cの情報が含まれているため
である。
次に、第7図に示すランドに対して、その良否を判定す
る例を第9図(7) ・(イ]に示す。
る例を第9図(7) ・(イ]に示す。
第7図のランド径は18であり、正常なランドである。
このとき、m1nD=16、rn a x D = 2
0とする。
0とする。
第9図(ア)では、UC=9、DC=16、LC=9、
RC= 10となり、 LIC−DCI =7・・−・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・(5)I LC−RCI = 1・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(6
)であり、式(1)を満足しないので、ランドの良否を
判定しない。
RC= 10となり、 LIC−DCI =7・・−・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・(5)I LC−RCI = 1・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(6
)であり、式(1)を満足しないので、ランドの良否を
判定しない。
第9図(イ)では、UC=12、DC=13、LC=9
、rtc=toとなり、 UC−DC=1・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・(7)LC−RC=1・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・(8)であり、式(1
)を満足するので、ランドの良否を判定する。このとき
、 UC+DC−1=24・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・(9)LC+RC−1= 18・・・・・
−・・・・・・・・・・・・・・−(10)となり、式
(9)は式(3)を満足しないので、不良ランドと判定
される。
、rtc=toとなり、 UC−DC=1・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・(7)LC−RC=1・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・(8)であり、式(1
)を満足するので、ランドの良否を判定する。このとき
、 UC+DC−1=24・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・(9)LC+RC−1= 18・・・・・
−・・・・・・・・・・・・・・−(10)となり、式
(9)は式(3)を満足しないので、不良ランドと判定
される。
[発明が解決しようとする課題]
第7図に示ずようなランドの場合、接続されているパタ
ーンの部分までも測長し、正常なランドなのに不良ラン
ドとしてしまうという問題がある。
ーンの部分までも測長し、正常なランドなのに不良ラン
ドとしてしまうという問題がある。
この発明は、ランドの大きさとパターン幅の違いおよび
アニユラリングとパターンの方向の違いに着目し、従来
の十字オペレータの各腕において、パターン幅より広い
範囲の画像を参照する新十字オペレータにより、ランド
に接続されているパターンの影響を受けないで、ランド
の大きさだけを測長できるようにすることを目的とする
。
アニユラリングとパターンの方向の違いに着目し、従来
の十字オペレータの各腕において、パターン幅より広い
範囲の画像を参照する新十字オペレータにより、ランド
に接続されているパターンの影響を受けないで、ランド
の大きさだけを測長できるようにすることを目的とする
。
[課題を解決するための手段]
この目的を達成するために、この発明の印刷配線板のラ
ンド検査装;;tでは、印刷配線板を読み取る撮像素子
と、撮像素子の出力を二値化する二値化回路と、二値化
回路の出力を入力とするシフトレジスタ回路と、シフ1
−レジスタ回路の出力を入力とし、二次元的に画像情報
を取り出す並列読み出し回路と、λ(q長回路と、測長
回路の出力を入力とするランド判定回路で構成されるラ
ンド検査装置において、並列読み出し回路は、一度に取
り出す領域において、中心から十字の形状に伸びる腕を
配置し、その各腕は互いに平行がっ外側2列の間隔がパ
ターン幅よりも広い3列の画素列がらなり、その画像情
報を出力とし、前記並列読み出し回路の出力を入力とし
、腕の方向と直交する方向に並ぶ3つの画素の二値画像
情報が3つとも銅箔上であるときに、銅箔とし、そうで
ないときに基材とするランド抽出回路を接続し、ランド
抽出回路の出力をaiq長回路に入れる。
ンド検査装;;tでは、印刷配線板を読み取る撮像素子
と、撮像素子の出力を二値化する二値化回路と、二値化
回路の出力を入力とするシフトレジスタ回路と、シフ1
−レジスタ回路の出力を入力とし、二次元的に画像情報
を取り出す並列読み出し回路と、λ(q長回路と、測長
回路の出力を入力とするランド判定回路で構成されるラ
ンド検査装置において、並列読み出し回路は、一度に取
り出す領域において、中心から十字の形状に伸びる腕を
配置し、その各腕は互いに平行がっ外側2列の間隔がパ
ターン幅よりも広い3列の画素列がらなり、その画像情
報を出力とし、前記並列読み出し回路の出力を入力とし
、腕の方向と直交する方向に並ぶ3つの画素の二値画像
情報が3つとも銅箔上であるときに、銅箔とし、そうで
ないときに基材とするランド抽出回路を接続し、ランド
抽出回路の出力をaiq長回路に入れる。
[作用]
次に、この発明の構成図を第1図に示す。
第1図の5はランド抽出回路、その他の部分は第2図と
同じものである。
同じものである。
すなわち、第1図は第2図にランド抽出回路5を加えた
ものである。
ものである。
並列読み出し回路4の信号読み出し画素は、第4図(ア
)に示ずように、IJ−D−L−Rは各3列ずつになっ
ている。U・DとL・Rが交差しているので、それを別
々に示したのが第4図(イ)と第11図(つ)である。
)に示ずように、IJ−D−L−Rは各3列ずつになっ
ている。U・DとL・Rが交差しているので、それを別
々に示したのが第4図(イ)と第11図(つ)である。
U−D・し・11の長さはそれぞれ166画素あり、丁
・■・■の3ダ11で+I′4成されている。またUと
1)の中心にUD−Cがあり、LとRの中心にしrz
−cがある。
・■・■の3ダ11で+I′4成されている。またUと
1)の中心にUD−Cがあり、LとRの中心にしrz
−cがある。
各腕の工・■・■の間隔は、それぞれ2画素ずつ開いて
いる。このとき、あらかじめパターンの幅が3画素程度
になるように、撮像素子1の解像度を決めておく。
いる。このとき、あらかじめパターンの幅が3画素程度
になるように、撮像素子1の解像度を決めておく。
並列読み出し回路4から収り出された腕U〜RとjJD
−C,Lll−Cの情報は、それぞれ第1図のランド抽
出回路5に入る。
−C,Lll−Cの情報は、それぞれ第1図のランド抽
出回路5に入る。
次に、ランド抽出回路5の構成を第5図に示す。
U〜Rの腕とUD−C,LR−Cの腕の情報は、各3列
をANDゲートに入れて、各腕の情報とする。
をANDゲートに入れて、各腕の情報とする。
例えば、腕Uの中心から16番目の画素の情報に)1目
すると、tJ−I−16、U−I−16、U−Ill−
16の3木の信号をANDゲートに入れ、U−16の信
号にしている。同じようにして、U−15〜U−1、t
JD−C,I)−1〜D−16、し−16〜L−1、L
R−CR−1〜R−16の信号が得られる。
すると、tJ−I−16、U−I−16、U−Ill−
16の3木の信号をANDゲートに入れ、U−16の信
号にしている。同じようにして、U−15〜U−1、t
JD−C,I)−1〜D−16、し−16〜L−1、L
R−CR−1〜R−16の信号が得られる。
このとき、銅箔部を[IJ、基材部を「0」としている
ので、3列ともfl」のときだけ銅箔とすることに゛な
る。
ので、3列ともfl」のときだけ銅箔とすることに゛な
る。
ランド抽出回路5の出力は、第1図の測長回路6A〜6
Dに入る。111II長回路6A〜6Dは、メモリで構
成されており、あらかじめ腕U−t〜U16とUD−C
,I)−1〜D−16とUD−C1L−1−、−L−1
6とLR−C,R−1〜R−16とLR−Cの各17ビ
ツトが、どのような組み合せの場合に長さがいくらにな
るかということを記憶させておく。
Dに入る。111II長回路6A〜6Dは、メモリで構
成されており、あらかじめ腕U−t〜U16とUD−C
,I)−1〜D−16とUD−C1L−1−、−L−1
6とLR−C,R−1〜R−16とLR−Cの各17ビ
ツトが、どのような組み合せの場合に長さがいくらにな
るかということを記憶させておく。
測長回路6A〜6Dは、腕U〜Rと中心ピッ1−の二値
画像情報から、中心Cを出発点として初めて銅箔から基
材に変わる点までの距離を判定する。
画像情報から、中心Cを出発点として初めて銅箔から基
材に変わる点までの距離を判定する。
各測長結果をUC・DC−LC−RCとする。
測長回路6八〜6Dの出力は、第1図のランド判定回路
7へ入る。
7へ入る。
ランド判定回路7の判定方法は、従来技術で説明したと
おりである。
おりである。
次に、第7図のランドに対して、その良否を判定する例
を、第8図(7) (()に示す9第7図のランド径は
18であり、正常なランドである。このとき、sn i
n D = 16、maxD20とする。
を、第8図(7) (()に示す9第7図のランド径は
18であり、正常なランドである。このとき、sn i
n D = 16、maxD20とする。
第8図(ア)では、UC=9、DC=9、LC=9、R
C=lOとなり、 tJ(、−DCI =O・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・(11)I LC−rtc l
= 1・・・−・・・・・・・・・・・・・・・−・・
・・(12)であり、式(1)、式(2)とも満足し、
ランドの良否を判定する。このとき UC+DC−1=17・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・(13)LC+RC−1=18・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・(14)となり、式
(3)、式(4)とも満足し、良ランドと判定される。
C=lOとなり、 tJ(、−DCI =O・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・(11)I LC−rtc l
= 1・・・−・・・・・・・・・・・・・・・−・・
・・(12)であり、式(1)、式(2)とも満足し、
ランドの良否を判定する。このとき UC+DC−1=17・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・(13)LC+RC−1=18・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・(14)となり、式
(3)、式(4)とも満足し、良ランドと判定される。
第8図(イ)では、UC=12、DC=6、LC=7、
RC=8となり、 LJC−De l =6・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・(15)LC−4CI = 1・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(1
G)であり、式(15)は式(1)を満足しないので、
ランドの良否を判定しない。
RC=8となり、 LJC−De l =6・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・(15)LC−4CI = 1・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(1
G)であり、式(15)は式(1)を満足しないので、
ランドの良否を判定しない。
[発明の効果]
この発明によれば、並列読み出し回路の読み出し画素を
、十字状にパターン幅より広い幅で、各3列ずつに構成
し、十字状の腕の方向と直交する3つの画素ずべてか、
銅箔の場合のみ3つの画素の中心を銅箔として測長回路
へ入力するため、第7図に示すランドのようにパターン
の接続されているランドでも、パターン部分の影響を受
けないでランドの良否を判定できる。
、十字状にパターン幅より広い幅で、各3列ずつに構成
し、十字状の腕の方向と直交する3つの画素ずべてか、
銅箔の場合のみ3つの画素の中心を銅箔として測長回路
へ入力するため、第7図に示すランドのようにパターン
の接続されているランドでも、パターン部分の影響を受
けないでランドの良否を判定できる。
また、パターンの接続方向は、第7図で示した測具外の
場合でも同様である。
場合でも同様である。
第1図はこの発明の印刷配線板のランド検査装置の構成
図、第2図は従来の構成図、第3図は第2図のシフトレ
ジスタ回路3と、並列読み出し回路4の構成図、第4図
は並列読み出し画素説明図、第5図はランド抽出回路5
の構成図、第6図は従来の並列読み出し画素の説明図、
第7図はランドの外観図、第8図と第9図は第7図のラ
ンド判定説明図である。 ■・・・・・・撮像素子、2・・・・・・二値化回路、
3・・・・・・シフトレジスタ回路、4・・・・・・並
列読み出し回路、5・・・・・・ランド抽出回路、6・
・川・測長回路、7・・・・・・ランド判定回路。 代理人 弁理士 小 俣 欽 同 第 図 纂 図 第 第 図
図、第2図は従来の構成図、第3図は第2図のシフトレ
ジスタ回路3と、並列読み出し回路4の構成図、第4図
は並列読み出し画素説明図、第5図はランド抽出回路5
の構成図、第6図は従来の並列読み出し画素の説明図、
第7図はランドの外観図、第8図と第9図は第7図のラ
ンド判定説明図である。 ■・・・・・・撮像素子、2・・・・・・二値化回路、
3・・・・・・シフトレジスタ回路、4・・・・・・並
列読み出し回路、5・・・・・・ランド抽出回路、6・
・川・測長回路、7・・・・・・ランド判定回路。 代理人 弁理士 小 俣 欽 同 第 図 纂 図 第 第 図
Claims (1)
- 1.印刷配線板を読み取る撮像素子と、撮像素子の出力
を二値化する二値化回路と、二値化回路の出力を入力と
するシフトレジスタ回路と、シフトレジスタ回路の出力
を入力とし、二次元的に画像情報を取り出す並列読み出
し回路と、測長回路と、測長回路の出力を入力とするラ
ンド判定回路で構成されるランド検査装置において、 並列読み出し回路は、一度に取り出す領域 において、中心から十字の形状に伸びる腕を配置し、そ
の各腕は互いに平行かつ外側2列の間隔がパターン幅よ
りも広い3列の画素列からなり、その画像情報を出力と
し、 前記並列読み出し回路の出力を入力とし、 腕の方向と直交する方向に並ぶ3つの画素の二値画像情
報が3つとも銅箔上であるときに、銅箔とし、そうでな
いときに基材とするランド抽出回路を接続し、 ランド抽出回路の出力を測長回路に入れる ことを特徴とする印刷配線板のランド検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1138020A JPH032648A (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 | 印刷配線板のランド検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1138020A JPH032648A (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 | 印刷配線板のランド検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH032648A true JPH032648A (ja) | 1991-01-09 |
Family
ID=15212180
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1138020A Pending JPH032648A (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 | 印刷配線板のランド検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH032648A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5367467A (en) * | 1990-11-27 | 1994-11-22 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Method of and apparatus for inspecting width of wiring line on printed board |
US11267190B2 (en) | 2018-08-01 | 2022-03-08 | Toyota Boshoku Kabushiki Kaisha | Method for producing skin material |
-
1989
- 1989-05-31 JP JP1138020A patent/JPH032648A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5367467A (en) * | 1990-11-27 | 1994-11-22 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Method of and apparatus for inspecting width of wiring line on printed board |
US11267190B2 (en) | 2018-08-01 | 2022-03-08 | Toyota Boshoku Kabushiki Kaisha | Method for producing skin material |
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