JPH03251726A - 電子天びん - Google Patents

電子天びん

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JPH03251726A
JPH03251726A JP5022790A JP5022790A JPH03251726A JP H03251726 A JPH03251726 A JP H03251726A JP 5022790 A JP5022790 A JP 5022790A JP 5022790 A JP5022790 A JP 5022790A JP H03251726 A JPH03251726 A JP H03251726A
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JP
Japan
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sensitivity
time
sensitivity calibration
calibration
correction
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JP5022790A
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Takeshi Sato
毅 佐藤
Takeshi Kamisaka
健 上坂
Kunio Shimauchi
邦夫 島内
Kazuo Nishibayashi
西林 一夫
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は自動感度校正機能を有する電子天びんに関する
〈従来の技術〉 自動感度校正機能を持つ電子天びんでは、従来、例えば
前回の感度校正時点カー、ら、一定時間が経過するか、
あるいは一定の温度変化が生じた場合に、直ちに感度校
正指令を発して感度校正動作を開始するよう構成されて
いる。この感度校正は、通常、質量既知の内蔵分銅を荷
重感応部に自動的に負荷して、そのときの荷重検出出力
と分銅質量値とから感度係数を算出して更新することに
よって行われる。
〈発明が解決しようとする課題〉 以上のような従来の感度校正機能付きの電子天びんでは
、例えば測定中あるいは測定開始直前に感度校正指令が
発生すると、測定者は感度校正動作が終了するまで待つ
必要があり、測定の中断や時間的ロスを余儀無くされる
という問題がある。
本発明はこの点に鑑みてなされたもので、測定者に感度
校正が行われることを前もって予告することができ、も
って測定作業を合理的に進めることのできる電子天びん
の提供を目的としている。
く課題を解決するための手段〉 上記の目的を達成するため、本発明では、感度校正指令
の発生によって計時動作を開始するタイマを設け、感度
校正動作は指令の発生後、このタイマの設定時間の経過
後に実行するように構成するとともに、タイマの計時動
作に呼応して、感度校正動作の開始までの時間に係る情
報を報知する報知手段を設けている。
〈作用〉 感度校正指令の発生によって直ちに感度校正動作を実行
するのではなく、タイマの設定時間、例えば数分程度の
時間だけ遅らせて感度校正動作を開始する。そして、そ
の間、タイマの計時に合わせて感度校正動作の開始まで
の時間情報を報知することで、測定者は実際の感度校正
動作開始の所定時間前に、その開始時刻に係る情報を知
ることができる。
〈実施例〉 第1図は本発明実施例のシステム構成を示すブロック図
である。
荷重検出機構1は、皿11およびそれに係合する電磁力
発生装置等の荷重センサ12等から構成されており、皿
11に作用する力または内蔵分銅2を負荷したときに、
対応する電気信号を発生し、その出力信号は増幅器3、
スイッチ8およびAD変換器4を介して制御部5に採り
込まれる。
荷重センサ12に近接して温度センサ7が配設されてお
り、この温度センサ7の出力もスイッチ8およびA−D
変換器4を介して制御部5に採り込まれる。すなわち、
スイッチ8は所定のタイミングで切り換わり、何回かに
一度の割合で温度データを制御部5に採取するように構
成されていてる。
内蔵分銅2は、レバー61とそのレバー61を傾斜させ
るためのカム62、およびそのカム62を回動させるた
めのモータ63等によって構成された分銅加除機構6に
より、荷重検出機構1に対して負荷もしくは、離脱させ
ることができる。
制御部5はマイクロコンピュータを主体として構成され
ており、CPU51.後述するプログラムが書き込まれ
たROM52.荷重検出機構1からのデジタル変換デー
タを刻々と記憶するエリアやワークエリアが設定された
RAM53.スパン係数等を記憶するための不揮発性R
AM54.および外部機器との信号授受のための入出力
ポート55を備えている。
入出力ポート55には、前記したA−D変換器4のほか
、計量値を表示するための表示部9と、分銅加除機構6
のモータ63を駆動するドライバ64が接続されている
表示部9には、デジタル表示器9a以外に、惑・度校正
開始時刻に係る情報を報知するためのランプ9b、およ
び感度校正実行を報知するための“A。
CAL”ランプ9cが設けられている。
第2図はROM52に書き込まれたプログラムの内容を
示すフローチャートで、以下、この図を参照しつつ作用
を述べる。
荷重データを採取して計量値を決定して表示する公知の
測定ルーチンにおいて、前回の感度校正時点からの経過
時間が所定の時間例えば、3.5時間に達するか、ある
いは、温度データの変化量が前回の感度校正時点から所
定温度、例えば0゜5°Cに達したときに、感度校正指
令が発生する。
感度校正指令が発生すると感度校正ルーチンがスタート
するが、この感度校正ルーチンでは、まず、タイマを2
分にセットすると同時に計時を開始し、この2分間が経
過した時点で実際に感度校正動作を実行する。
そして、その2分間を4つの時間領域に区分し、感度校
正開始前2〜1分の間はランプ9bを0゜5秒間隔で点
滅させ、1分〜30秒の間は同じく0.3秒間隔で、更
に30秒〜lOの間は0. 1秒間隔で点滅させる。や
がて感度校正開始10秒前に達すると、今度は“A、 
CAL”ランプ9cを点灯する。
以上のようなランプ表示により、測定者は感度校正が実
行される前に感度校正開始時刻を予測でき、突然の感度
校正の開始によって測定を中断したり、その感度校正が
終了するまで無為に待つという無駄が省ける。
ここで、この実施例では、電磁力発生装置等の荷重セン
サ12の温度変化が例えば0.5℃等の規定の変化量に
なった時点、ないしは前回の校正時から例えば3.5時
間等の規定の時間が経過した時点から、感度校正を実行
するまでの間に2分間の遅延が生ずることになるが、こ
の2分間は0゜5℃ないしは3.5時間に対して無視し
得る程度の時間で、天びんの精度には影響はない。
なお、感度校正開始までの時間の報知の手段としては、
上記の例のほか、ランプ等の特定の表示体の点滅速度を
、開始時刻が近づくにつれて連続的に早めていく方法、
あるいは開始までの時間をデジタル値で表示する方法、
円グラフないしは棒グラフでその時間をアナログ表示す
る方法、更には、ランプ等の表示手段に代えてブザーの
断続音を次第に早めていく方法等を採用することができ
る。
また、感度校正解除キーを入出力ポート55に接続し、
そのキーを押すことによって、自動感度校正の実行を禁
止するように構成すれば、自動感度校正開始までの時間
に係る情報の報知に基づき、測定を続けたい場合には必
要に応じて感度校正を回避するような使用も可能となる
。この場合、測定終了時点で感度校正の実行を指令する
ことが好ましい。
更にまた、上記した実施例では、感度校正開始2分前か
ら報知を開始したが、この時間は任意であることは勿論
である。
また、温度センサ7からのデータにより、自動感度校正
を行うべき温度差が生ずる時刻を予測し、その予測時刻
を報知するように構成することも可能である。
〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によれば、自動感度校正を
実行する前所定時間から、どれだけ後に感度校正が実行
されるのかについての情報を報知することができるので
、測定者は前もってその旨を知りつつ測定作業を行うこ
とができ、従来のように測定中に突然感度校正が実行さ
れて測定を中断したり、あるいは感度校正終了までの間
、無駄な時間を費やす等の不合理が解消される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の構成を示すブロック図、第2図
はそのROM52に書き込まれたプログラムの内容を示
すフローチャートである。 1・・・・荷重検出機構 2・・・・内蔵分銅 5・・・・制御部 6・・・・分銅加除機構 7・・・・温度センサ 9・・・・表示部 9b・・・・ランプ 12・・・・荷重センサ 第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. あらかじめ設定された条件が満たされたときに、自動的
    に指令を発して感度校正動作を行うよう構成された天び
    んにおいて、上記指令の発生により計時を開始するタイ
    マを設け、そのタイマの設定時間の経過後に感度校正動
    作を実行するよう構成するとともに、上記タイマの計時
    動作に呼応して感度校正動作の開始までの時間に係る情
    報を報知する報知手段を設けたことを特徴とする電子天
    びん。
JP2050227A 1990-02-28 1990-02-28 電子天びん Expired - Lifetime JPH0654259B2 (ja)

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JPH03251726A true JPH03251726A (ja) 1991-11-11
JPH0654259B2 JPH0654259B2 (ja) 1994-07-20

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013185975A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置

Cited By (1)

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JP2013185975A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置

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JPH0654259B2 (ja) 1994-07-20

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