JPH03248070A - 超電導磁界分布測定装置 - Google Patents

超電導磁界分布測定装置

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JPH03248070A
JPH03248070A JP2046370A JP4637090A JPH03248070A JP H03248070 A JPH03248070 A JP H03248070A JP 2046370 A JP2046370 A JP 2046370A JP 4637090 A JP4637090 A JP 4637090A JP H03248070 A JPH03248070 A JP H03248070A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 調 本発明は、粒界e弱結合をもった超電導体の磁気抵抗素
子を複数個配置して磁界分布とその変化を測定する装置
の構成に関するものである。
〈従来の技術〉 従来、簡単な磁界の検出や測定には磁気抵抗効果を利用
する磁気抵抗素子が一般的に使用されていた。この磁気
抵抗素子に使用されたのは、電子移動度が特に高い半導
体のInSb、InAs等で形状効果を用いたもの、又
は、強磁性体金属のFe−Ni+ Co−Ni合金等で
配向効果を用いたものなどがある。また、最近は酸化物
超電導体の粒界の弱結合を用いた高感度の磁気抵抗効果
によって微弱な磁界の検出や測定を行なう方法も開発さ
れている。
以上の他、特に微弱な磁界の検出にはジョセフソン効果
を利用した5QUIDが用いられていたが、これはNb
系の素子が用いられていたので、液体Heによる冷却が
必要であった。
以上のような磁気測定素子で、磁界の分布、及び、その
磁界の経時変化を測定する装置では、前記の測定素子を
磁界分布の測定に必要になる平面等の位置に多数配置し
ていた。
〈発明が解決しようとする課題〉 上記で説明した磁界分布の変化を測定する方法では個々
の磁気測定素子の外形が大き(なり、かつ、その素子毎
に電流供給用と電圧測定用のリード線を設ける必要があ
ることから、その測定素子を高密度に配置することが困
難で、磁界分布の検出分解能を高くできない、更に、個
4の素子毎に検出回路を接続するので装置の小型化と低
価格化などに問題があった。
本発明は、従来の磁気測定素子による磁界分布測定装置
がもつ課題を解消し、酸化物超電導体の粒界の弱結合を
利用した磁気抵抗素子の特性を利用して、高密度の配置
を可能にし、検出回路を簡易化した磁界分布測定装置を
提供することを目的としている。
〈課題を解消するための手段〉 本発明では酸化物超電導の粒界の弱結合を利用した感度
のよい超電導磁気抵抗素子を用いるが、その作製は非磁
性の平板状基板上に粒界に弱結合をもつ酸化物超電導体
膜を形成し、その超電導膜から所定の数を配置したミア
ンダ状の磁気抵抗素子と、それらの素子を直列に接続す
る配線を形成する。この直列接続の磁気抵抗素子回路の
両端にバイアス電流印加用の1対の電流電極と、その直
列接続した複数の磁気抵抗素子で抵抗を発生したときは
、それによる電圧を検出するための一対の電圧電極を設
けである。更に、以上の各磁気抵抗素子に対して個別に
、かつ、時分割でバイアス磁界を印加するバイアス磁界
印加装置を設けてあり、そのバイアス磁界印加装置によ
るバイアス磁界臼mと同期させて磁気抵抗素子の発生電
圧を測定することにより、時分割によって測定する磁界
の分布と、その時間的変化を測定するものであり、以上
の構成と測定方法から小型で高密度の磁界分布測定と、
計測の簡易化を図ることができる。
〈作 用〉 本発明の磁界分布測定装置に用いるため配置した酸化物
超電導体の粒界の弱結合を利用する超電磁気抵抗素子は
、その素子に印加するバイアス電流の大きさによシ、そ
の素子に抵抗を発生させるしきい値磁界の大きさを大幅
に変更できる特性がある。本発明は、前記の超電導磁気
抵抗素子の特性を利用するもので、時分割で印加するバ
イアス磁界を選択した磁気抵抗素子以外はしきい値磁界
以下の磁界強度にしておき、そのバイアス磁界印加で抵
抗を発生した磁気抵抗素子で位置を発生した抵抗からそ
の位置の磁界の強さ測定する測定を順次行なうことで、
磁界の分布を測定する磁界分布測定装置である。
〈実施例〉 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図に示したのは、本発明の超電導磁界分布測定装置
の一実施例の概要構成を示したもので、第1図(a)は
その平面図を、又、第1図(b)は検出部のみの断面図
である。
この第1図に示した検出部の構成について説明する。こ
の検出部は、80X80fl”の非磁性基板1上に微小
な酸化物超電導体粒子から形成され、その粒界が極めて
薄い絶縁膜を介するかポイント状に結合した弱結合にな
った超電導膜を形成した。
この形成した酸化物超電導膜はドライエツチング法によ
って、ミアンダ状の磁気抵抗素子15とそれらの素子1
5を直列に接続した配線パターン2を形成する。更に形
成した配線パターン2の両端部にチタン(Ti)蒸着に
より、それぞれ電流電極8a、8bと電圧電極4a、4
bを形成することで2次元に超電導磁気抵抗素子15を
配置し。
かつ、全て直列接続した磁界分布検出部を形成している
以上の検出部の他に、本実施例では第1図(a)に示し
たように、電流電極3a、8bに素子15のバイアス電
流を印加する定電流電源6を接続し、電圧電極4a、4
bに各素子15が発生する電圧を測定する電圧計が接続
されている。
更に、前記基板1の裏面には、その表面に形成した各磁
気抵抗素子15に個別に時分割でバイアス磁界を印加で
きる2層構造にした薄膜コイIv5a、5bが形成され
ている。この薄膜コイル5aと5bは、それぞれ別の層
で直交する方向にコイルを直列接続しており、その各層
では共通電価と選択した端子間で直列コイル5に電流を
流す構成になっている。(コイル電流の電源の図示は省
略している。) 第2図は、第1図で説明した超電導膜2の作製の1例を
ヌプレーパイロリシス法による作製装置の概要図で示し
たものである。作製した超電導体はY−Ba−Cu−0
系であシ原料のY(NO3)s・6H20,Ba(NO
3)2 及びCu(No3)z8H20の元素の組成比
を(Y Ba2 Cu3)になるよう秤量したものの水
溶液8をヌプレーガン10の容器9に入れ、パイプ11
から圧縮空気によって噴霧12にしている。この噴霧1
2は、ヒーター13で約600℃に加熱した基板14に
吹きつけられそこで熱分解されてセラミック膜になるこ
とを示している。実施例で作製したセラミック膜は膜厚
を約10μmにし、空気中での熱処理を行って超電導膜
にした。
なお、実施例ではY系の酸化物超電導体を用いたが、本
発明はこれに限定するものでなく他のBi系、 Tl系
又はその一部を置換した組成の超電導体を用いてもよい
。又、成膜もヌプレーパイロリシス法でなく、スパッタ
リング法やCVD法などを用いてもよく、更に超電導膜
の膜厚も1から10μmの間にして良好な特性が得られ
ている。
以上で作製した超電導膜は一般に用いられるドライエツ
チング法によって、第1図に示したようなミアンダ状の
超電導磁気抵抗素子15と接続配線2を形成した。
作製された磁気抵抗素子15のバイアス電流1ゑ と印加磁界の強を変えたときその素子がもつ抵抗との関
係の1例を示したのが第3図である。
この第3図で示した超電導磁気抵抗素子15の特性は、
バイアス電流■が小さいときは一定の印加磁界の強さに
なるまで超電導状態を保ち、しきい値磁界以上になると
磁界の強さの増加と共に急速に抵抗が増大している、又
、バイアス電流がしきい負電流以上のときは、素子15
は印加磁界が零のときから一定の抵抗をもち、印加磁界
の増mと共に急速に抵抗が増大することが分る。
続いて第4図に示したのが、第1図に示した素子15に
個別のバイアス磁界を印加する2層構成方向に接続する
配線をもち、第4図(b)は第2層の縦方向に接続する
コイル部と、コイルを横方向に接続するための配線が形
成されている。この第1層と第2層のコイルの接続部以
外に絶縁膜を界して積層することで、@1図に示したバ
イアス磁界印加用のコイルを形成することができる。
実施例に於ては、次のようにして第4図のコイルを形成
した。先ず、基板1の裏面にスパッタリングでAI薄膜
を形成し、ウェットエツチングで第4図(a)のパター
ンを形成する。形成したANパターンの上にスパッタリ
ングで5i02薄膜を形成し、この薄膜に第1層と第2
層のAI薄膜パターンを接続するためのスルーホールを
ウェットエツチングで形成し、最後に再度、スパッタリ
ングでAI薄膜を形成し、2層目の第4図(b)の形状
のパターンを形成することで、コイルが作製される。
なお、以上で説明した2層のAI薄膜パターンによるコ
イル形成部を拡大して示したのが第5図である。作製し
たコイA/は2ターン型でコイル形成部とその間隔は1
00μmにし、コイルの径は16fiにした。この実施
例では2層のコイルを完全な同心円の配置にするとスル
ーホールの接続部で2層のコイルが短絡して、目的のコ
イルを2層では形成できないので、2つのコイル17a
と17bの中心点をずらしている。第5図では点線で示
した第1層のコイル17bと第2J&lの配線16bが
スルーホールを通して接続され、5i02絶縁薄膜を介
した実線で示した第2層のコイル17aと第1層の配線
16aがスルーホールを通して接続されている。これら
のコイル17a。
17bの中心からのずれは300μmにした。
以上のように作製したコイルを第6図に示したように第
1層のコイルを19a1第2層のコイルを19bで表わ
して、これらのコイルによるバイアス磁界発生の1実施
例を説明する。第6図の18はコイルへの電流スイッチ
21の切り替え信号発生器で、第1層コイル19aと第
2層コイル19bの各端子と2つの同期したバイアス交
流電流源20a、20bの間に接続されたスイッチ群2
1a21bのオン−オフ制御信号を発生している。
このバイアス磁界の印加は、第1層のコイル19a右か
ら選択した直列に接続したコイルの1列と、第2層コイ
ル19bの1列にバイアス電流を流して、その交点のコ
イル部で所定のバイアス磁界が印加できるよう設定され
ている。従って、その交点以外でもバイアス電流が流れ
るコイルは、バイアス磁界の半分の強さの磁界が発生す
る。しかし、本発明の実施例では、超電導磁気抵抗素子
のバイアス電流を調整することで、しきい値以下の強さ
の磁界を印加しても超電導磁気抵抗素子が抵抗をもたな
い特性を利用して所定の磁界分布の測定を行っており、
その例を第7図で示している。
前記、第3図で説明したように超電導磁気抵抗素子15
の印加磁界に対する素子抵抗の特性曲線は、その素子1
5に流したバイアス電流の大きさによシ大幅に変えるこ
とができる。この特性を利用し、本実施例では超電導磁
気抵抗素子15のバイアス電流を2.5mAにして第7
図(a)に示した特性にした。このときのしきい値磁界
の強さは10mgaussであった。この第7図(a)
の特性の素子15を、第1図の中心部のコイルの位置に
設置し外部磁場測定のための実験を行った。先ず第1層
のコイIV 19 aの中央の直列接続コイルに1kH
zでピーク値が50mAの交流電流を流すと、その電流
を流したコイルで7.5 m gauss (ピーク値
)の磁界が発生した。続いて第2層のコイル19bの中
央の直列コイルに前の第1層のコイルと同じ位相と強さ
の磁界が発生するように、交流電流を流すと、中心の位
置のコイルでは15 m gauss(ピーク値)の磁
界が発生し、他の電流が流れるコイルでtjニア、 5
 m gauss (ピーク値)の磁界を発生した。
以上の条件で、外部磁界を零としたときの各位置の磁気
抵抗素子15に印加されるバイアス磁界と、その素子の
出力電圧の関係を第7図に示した。
すなわち第7図(a)では、中央部の素子のみ波形CB
)で示した強さのバイアス磁界が印加され、しきい値磁
界以上の磁界が印加されるときがあるが、中央部以外で
はバイアス磁界はしきい値磁界以下の(A)の磁界にな
る。従って、各素子15が抵抗をもつことによる出力波
形は第7図(b)に示したよりに、中央部以外の素子は
全く出力のない(A)のようになシ、中央部素子15の
みピーク磁界近辺で出力電圧を発生するCB)の出力波
形になる。
次に、外部磁界として、sg7図(a)の横軸に示した
A、B、C,D及びE点の強さの外部磁界が印加される
と、その点が動作点になフ、それぞれの外部磁界の強さ
と方向に対応して、第8図の(a)。
(b)、 (C)、 (d)及び(e)の出力波形が素
子15の電圧端子4a、4bに発生する。なお、第8図
の(1)にバイアス磁界の波形を示したが、出力波形と
比較すると、出力は増幅器等による遅れから信号の位相
がわずかにずれていた。この第8図に示した(a)。
(b)、 (C) 、 (d)及び(e)の変化量をロ
ックインアンプに入力して、そのときのロックインアン
プからの出力と外部磁界として印加した直流磁界との関
連を第9図に示した。この図から本測定の装置の条件設
定では微小な0.1 gauss迄の範囲内で非常によ
い直線になっており、この範囲では精度のよい外部磁界
の測定が可能なことを示している。
以上は、実施例の中央部の素子15に交流バイアス磁界
を印加して測定する例で説明したが、この測定を12J
シ替え信号器の信号によシ各磁気抵抗素子15に順次シ
ーケンシャルに交流バイアス磁界を印加することで、そ
れぞれの素子15による位置の外部磁界を時分割で測定
できるので、2次元の磁界分布の測定ができる。更に、
超電導素子の高速応答性(ピコ秒オーダー)の特性を生
かして、外部磁界の変化に対応できる速度で切り替える
ことにより、外部磁界分布の時間的変化の測定も可能に
なる。
以上は、本発明を実施例によって説明したが、本発明は
実施例によって限定されるものでなく、検出部の超電導
磁気抵抗素子の磁気抵抗特性、印加バイアス電流値等と
検出部の基板の大きさと、前記磁気抵抗素子の個数やそ
の配置等は目的に応じて父えることができる。又、バイ
アス磁界印加の薄膜コイルのターン数やコイル径も適宜
変更可能で、その形状も円形のみでなく正方形や多角形
にすることもでき、このコイルに流してバイアス磁界を
発生させる電流の値や周波数も目的に応じて変更できる
と共に、このコイルに直流を重複させて流すことによシ
直流バイアス磁界の印加を行なうこともできる。その他
、本発明の効果を利用した磁気分布測定に測定目的に応
じた変更を行なうこともできる。
〈発明の効果〉 本発明は酸化物超電導体の粒界効果を利用した高感度の
磁気抵抗素子の特性を生かして、構成が簡単な磁界分布
測定装置を構成できると共に、超電導磁気抵抗素子がも
つ数Hz程度で最大になる固有の低周波ノイズの影響を
避けて微弱な磁界分布の高分解能な測定を可能にした。
従って、本発明の磁界分布測定装置からの出力信号をコ
ンピュータなどで高速処理することにより、磁界発生源
の位置を求め、かつ、その状態の分析を行なうこともで
きるので、医療や非破壊検査などで多くの分野に活用が
可能になった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の磁界分布測定装置の概要構成
図、第2図はスプレーパイロリシスによる酸化物膜作製
方法を説明する図、第3図は本発明で使用する超電導磁
気抵抗素子の印加磁界に対する特性図、第4図は実施例
の薄膜コイルの構成図、第5図は実施例の2層構造の薄
膜コイルと配線の形状図、第6図は交流バイアス磁界発
生の実施例の構成図、第7図は本発明の実施例の磁気抵
抗素子による磁界の検出方法を示す図、第8図は実施例
の磁界の強さによる測定装置からの出力の夏化を示す図
、第9図は本発明の装置の出力をロックインアンプに入
力したときの外部磁界の強さに対する出力特性図である
。 1.14・・・基板、 2・・・超電導膜、 3・・・
電流電極、 4・・・電圧電圧、 5.19・・・薄膜
コイル、 6・・・定電流電源、 7・・・電圧計、 
15・・・磁気抵抗素子、  18・・・切り替え信号
発生器、20・・・交流電流電源、  21・・・スイ
ッチ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、非磁性の絶縁体基板上に配置した弱結合粒界をもつ
    超電導体の磁気抵抗素子を直列に接続した両端に、それ
    ぞれバイアス電流電極と電圧検出用の電圧電極を設けた
    検出部と、前記磁気抵抗素子にそれぞれ個別に順次時分
    割でバイアス磁界を印加するバイアス磁界印加手段とを
    設けたこと特徴とする超電導磁界分布測定装置。
JP2046370A 1990-02-26 1990-02-26 超電導磁界分布測定装置 Expired - Lifetime JPH07113664B2 (ja)

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EP91301531A EP0444873B1 (en) 1990-02-26 1991-02-26 Apparatus for measuring distribution of magnetic field

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