DE4333225C2 - Meßanordnung zum hochauflösenden Vermessen von magnetischen Körpern - Google Patents
Meßanordnung zum hochauflösenden Vermessen von magnetischen KörpernInfo
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/10—Plotting field distribution ; Measuring field distribution
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Meßanordnung zum hochauflösenden Vermes
sen von magnetischen Körpern sowie auf ein Verfahren zur Herstellung und Ver
wendung der Meßanordnung.
Grundsätzlich sind Verfahren zur Messung von Magnetfeldern unter Verwendung
von Spulen bekannt. Dazu werden z. B. drahtgewickelte Spulen verwendet. So sind
beispielsweise Verfahren bekannt, die unter Verwendung mehrerer Spulen einen
dazwischen eingebrachten Supraleiter vermessen. Auch Anordnungen, die mit nur
einer Spule Induktivitätsveränderungen anzeigen, gehören zum Stand der Technik.
Nachteilig bei allen vorhergenannten Meßvorrichtungen und -verfahren ist, daß sie
eine nur schwache Ortsauflösung der zu vermessenden Magnetfelder zulassen und
schwierig handzuhaben sind. Dies ist in der Geometrie der Meßanordnung und den
verwendeten Bauteilen begründet.
In der europäischen Patentanmeldung 0 444 873 A2 wird ein Apparat zur Auswer
tung der magnetischen Feldverteilung beschrieben. Auf einem Substrat aus nicht
magnetischen Material ist eine Vielzahl magnetoresistiver Elemente angeordnet.
Diese sind aus einem supraleitenden Material hergestellt. Durch sequentielles An
legen eines Wechselstromes kann an jedem Ort der schachbrettartig angeordneten
Elemente die Übergangsfeldstärke zum normal leitenden Zustand bestimmt werden
und damit die zu messende Feldstärke an diesem Ort.
Aus der deutschen Offenlegungsschrift DE 36 26 328 A1 ist eine Vorrichtung zur
potentialgetrennten Meßwerterfassung von Wechselströmen bekannt, bei der im
Kraftfeldbereich eines stromdurchflossenen Leiters in einer Leiterbahnschleife,
welche sich auf einer isolierenden Substratfläche befindet, ein Strom eingeprägt,
der direkt auf eine Schaltungsanordnung einwirkt, wobei eine dem zu messenden
Strom im Leiter proportionale Spannung entsteht.
Die deutsche Offenlegungsschrift DE 33 24 208 A1 handelt von einem supraleiten
den Gradiometerspulensystem für eine Vorrichtung zur mehrkanaligen Messung
schwacher, sich ändernder Magnetfelder. Die Vorrichtung enthält in jedem Kanal
neben mindestens einer Detektionsspule und mindestens einer Kompensationsspu
le ein supraleitendes Quanten-Ieterferenz-Element (SQUID) sowie entsprechende
supraleitende Verknüpfungsglieder zwischen den Bauteilen und eine elektronische
Einrichtung zur Auswertung. Es ist vorgesehen, daß zumindest die Gradiometer
spulen und ihre gegenseitigen Verknüpfungsglieder als planare Dünnfilmstrukturen
auf einem gemeinsamen starren Trägerkörper aufgebracht sind, wobei die Kom
pensationsspulen zu einer Referenzspulenanordnung zusammengefaßt sind. Um
diese sind die einzelnen Detektionsspulen angeordnet und die Kompensationsspu
len der Referenzspulenanordnung werden aus einzelnen sich umschließenden, in
einer Ebene liegenden Schleife gebildet.
Der Erfindung liegt demgemäß die Aufgabe zugrunde, eine Meßanordnung zu
schaffen, die einfach in der Anwendung ist und gleichzeitig eine hohe Auflösung
der zu vermessenden Bauteile zuläßt, sowie ein Verfahren zur Herstellung und die
Verwendung der Meßanordnung anzugeben. Diese Aufgabe wird für die Meß
anordnung durch die im Anspruch 1 aufgeführten Merkmale, für das Verfahren
durch die im Anspruch 4 und hinsichtlich der Verwendung durch die in den Ansprü
chen 5 und 6 angegebenen Merkmale gelöst. Weiterbildungen der Erfindung sind
in den Unteransprüchen enthalten.
Die besonderen Vorteile der Erfindung werden dadurch erreicht, daß eine Meßvor
richtung geschaffen wird, die das Mehrspulenverfahren aufgreift. Die Spulenschich
ten werden in einem Verfahren der Photolithographietechnik auf einem Träger er
zeugt.
Mit diesen Meßanordnungen und -vorrichtungen können u. a. Supraleiter
einfach und mit hoher Auflösung auf Homogenität bzw. Inomogenitäten
untersucht werden. Die Proben können auch auf weitere magnetische
Eigenschaften, wie z. B. die Permeabilität als Funktion der Feldstärke etc.,
untersucht werden.
Die Erfindung wird im folgenden anhand bevorzugter Ausführungsbeispiele
beschrieben.
Es zeigen:
Fig. 1 den prinzipiellen Aufbau und
Fig. 2 ein Beispiel zur Packung von Spulen
zur flächigen Vermessung von Proben.
Die Erfindung besteht in einer Meßvorrichtung und -anordnung, in der
Spulen auf einem Träger aufgebracht sind. Der Träger besteht vorzugsweise aus
Silizium. Andere Materialien wie z. B. dotiertes Silizium oder Isolatoren
können anwendungsspezifisch gemäß ihrer Eigenschaften, z. B. mechanische oder
thermische Eigenschaften, alternativ zu den Siliziumträgern verwendet
werden.
Gemäß der Erfindung befinden sich die Spulenpaare als Schichten auf
dem Träger. Sie setzten sich aus Erregerspulen 31 und Detektorspulen 32
zusammen. Sie bestehen aus leitenden Materialien, wie sie üblicherweise aus
der Halbleiter-, Supraleiter- oder Elektrotechnik für photolithographische
Verfahren oder Aufdampfen, Sputtern u.ä. bekannt sind. Auch Aufkleben
auf Träger stellt eine Alternative dar. Die Spulenmaterialien werden nach
ihren elektrischen, magnetischen und verfahrenstechnischen Eigenschaften
ausgewählt und können u. a. reine Metalle, Legierungen, Supraleiter oder
Halbleiter umfassen.
Die Spulen werden in einem bevorzugten Verfahren mit Hilfe der
Photolithographietechnik erzeugt. Man stellt die Schichtdicke der Spulen auf
unter 100 µm, vorzugsweise unter 30 µm, vorzugsweise auf etwa 5 µm ein.
Durch das beschriebene Produktionsverfahren ist eine außergewöhnlich
geringe Schwankung in den Schichtdicken möglich. Das wiederum
ermöglicht es, daß die Proben sehr nahe an die Meßanordnung
herangebracht werden können.
Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß den so
aufgebauten, hochempfindlichen Meßanordnungen die zu vermessenden
Proben problemlos der dem Träger gegenüberliegenden Seite der
Meßanordnung gegenübergestellt werden können. Dies ist besonders dann
der Fall, wenn die zu untersuchenden Proben auf einem größeren Träger
aufgebracht sind, so z. B. supraleitende Schichten auf einem
Trägersubstrat.
In einer weiteren bevorzugten Ausführung ist die Meßvorrichtung mit einer
Schutzschicht überzogen. Die Schutzschicht
kann durch die dafür üblichen Verfahren erzeugt werden, so z. B. durch
Aufkleben, Bedampfen, Auflaminieren etc. Die Schutzschicht kann
oberflächlich mit einer Haftschicht versehen werden. Bei der Messung kann
davon ausgegangen werden, daß jede Meßspule den gleichen Abstand vom
Meßobjekt aufweist. Eine Schaltvorrichtung sorgt dafür, daß die Meßspulen
der Reihe nach ein- und ausgeschaltet werden, um die Meßfläche
abzutasten.
Fig. 1 zeigt die
konzentrische Anordnung der Sende- und Empfängerspule. Dabei weisen die
Leiterbahnen der Spulen 31 und 32 Anschlüsse 31a und 32a, sowie eine
gemeinsame Erde 33 auf.
Fig. 2 zeigt eine Packung von Spulen zum großflächigen Vermessen von
Proben. Des weiteren ist ein Anschluß-Layout der Spulen deutlich zu
erkennen. Die Anschlüsse gehen zu den vorzugsweise elektronischen
Umschaltern und zum Sender bzw. Empfänger. Die Gesamtgestaltung des
Spulenaufbaus der Meßeinrichtung wird den jeweiligen Anforderungen
an gepaßt.
Ein weiterer erfindungsgemäßer Vorteil der Meßanordnungen liegt darin,
daß keine umständlichen Justiervorgänge nötig sind. Mit der Produktion
ist die räumliche Beziehung der Spulenpaare 31, 32 zueinander sowie der
verschiedenen Spulenpaare untereinander festgelegt. Damit ist nur eine
einmalige Eichung nötig, da die Bauteile in ihren geometrischen
Beziehungen festliegen.
Die beschriebenen Meßanordnungen lassen auf extrem einfache Weise
außerordentlich exakte und hochauflösende Messungen zu, insbesondere für
die Ortsauflösung der zu vermessenden Proben. Die Dimensionierung der
Spulen läßt sich stark variieren und die einzelnen Spulenpaare können
dicht gepackt werden. Je nach gewünschter Empfindlichkeit und
Ortsauflösung können die Spulen in ihrer Dimensionierung und der Anzahl
ihrer Windungen gewählt werden.
Es wurden in den Experimenten verschiedene Dimensionierungen erprobt.
Bei Versuchen mit einer Ortsauflösung von 5 mm hatten die Spulen einen
Durchmesser von etwa 4 mm und wiesen einen Abstand von ca. 5.5 mm
gegeneinander auf. Die Breite der Leiterbahnen der Spulen war etwa 100 µm.
Für die Messungen wurde ein Lock-in-Verstärker mit 100 kHz
verwendet. In den Versuchen wurden gute Ergebnisse erzielt, die eine
weitere Steigerung der Ortsauflösung bei einer Verminderung der Größe der
Bauteile erwarten läßt.
Claims (6)
1. Meßanordnung zum hochauflösenden Vermessen von magnetischen Körpern,
welche Spulen aufweist, die auf einen Träger schichtförmig aufgebracht sind,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Spulen als Sendespulen und Empfängerspulen in einer Schicht angeordnet sind,
und aus diesen jeweils ein Spulenpaar dadurch gebildet wird, daß eine Sende- und
eine Empfängerspule ineinander verschlungen sind.
2. Meßanordnung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Trägermaterial für die Spulen ein Substrat aus Silizium oder
einer Siliziumverbindung ist.
3. Meßanordnung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Trägermaterial aus einer Kunststoffolie besteht.
4. Verfahren zur Herstellung einer Meßanordnung zum hochaufgelöstem Ver
messen von Magnetfeldern nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet
daß die Meßanordnung im Verfahren der Photolithographie erzeugt wird.
5. Verwendung einer Meßanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet
daß die zum ortsaufgelösten Vermessen von Proben mit beliebig geformter
Oberfläche verwendet wird.
6. Verwendung einer Meßanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet
daß sie zum hoch ortsauflösenden Vermessen von Supraleitern auf Homo
genität oder auf Inhomogenitäten verwendet wird.
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DE19934333225 DE4333225C2 (de) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | Meßanordnung zum hochauflösenden Vermessen von magnetischen Körpern |
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DE19934333225 Expired - Fee Related DE4333225C2 (de) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | Meßanordnung zum hochauflösenden Vermessen von magnetischen Körpern |
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- 1993-09-30 DE DE19934333225 patent/DE4333225C2/de not_active Expired - Fee Related
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