JPH03247761A - スパッタターゲット装置 - Google Patents
スパッタターゲット装置Info
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- JPH03247761A JPH03247761A JP4419390A JP4419390A JPH03247761A JP H03247761 A JPH03247761 A JP H03247761A JP 4419390 A JP4419390 A JP 4419390A JP 4419390 A JP4419390 A JP 4419390A JP H03247761 A JPH03247761 A JP H03247761A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は真空中においてスパッタリングにより被膜形成
を行う際に使用するスパッタターゲット装置に関するも
のである。
を行う際に使用するスパッタターゲット装置に関するも
のである。
[従来の技術]
基板等の対象物の表面に金属被膜を形成する場合の形成
技術の一つとして、スパッリングがある。
技術の一つとして、スパッリングがある。
磁性体のスパッタは透磁率が大きいのでスパッタ速度が
低く、更に基板温度上昇が大であるなどの欠点があった
。それらを解決するために各種のターゲット、例えば、
対向ターゲット(特公昭63−34225) 、GT
<Gap Type)ターゲット(特開昭59−211
211号)、磁極露出型ターゲット等が発明された。
低く、更に基板温度上昇が大であるなどの欠点があった
。それらを解決するために各種のターゲット、例えば、
対向ターゲット(特公昭63−34225) 、GT
<Gap Type)ターゲット(特開昭59−211
211号)、磁極露出型ターゲット等が発明された。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、対向ターゲットにおいては放電に必要な
電圧が高いものであった。プレーナー型マグネトロン方
式であるG 1”ターゲットにおいても高堆積速度を実
現するために大電流を投入するには高い電圧が必要にな
った。更に、ターゲットの使用初期と末期において放電
特性は大きく変化し、たとえ電力を一定にしても電圧が
変動して再現性のある膜形成が望めない。
電圧が高いものであった。プレーナー型マグネトロン方
式であるG 1”ターゲットにおいても高堆積速度を実
現するために大電流を投入するには高い電圧が必要にな
った。更に、ターゲットの使用初期と末期において放電
特性は大きく変化し、たとえ電力を一定にしても電圧が
変動して再現性のある膜形成が望めない。
更に磁気回路の構造上、磁界が不均一で強い磁界領域で
局部的に制限されるのでターゲットの面上においてスパ
ッタされる場所は全ターゲット面積のうち限られた一部
分であって、これらのターゲットにおいて有効使用効率
が30〜40%程度で経済的でない。更に膜厚分布も山
型を示し均一な部分が少なかった。またいずれのターゲ
ットもそのまま連続的に基板を供給するロールコータ−
等1こ利用した場合、結晶性に優れた膜を作!!!づる
ことは困難であった。
局部的に制限されるのでターゲットの面上においてスパ
ッタされる場所は全ターゲット面積のうち限られた一部
分であって、これらのターゲットにおいて有効使用効率
が30〜40%程度で経済的でない。更に膜厚分布も山
型を示し均一な部分が少なかった。またいずれのターゲ
ットもそのまま連続的に基板を供給するロールコータ−
等1こ利用した場合、結晶性に優れた膜を作!!!づる
ことは困難であった。
そのため結晶性に優れた膜を形成するには基板上でのス
パッタ原子回収領域をマスク等を用いて制限し狭める必
要があった。そのためにスパッタ粒子の回収効率の低下
が余儀なくされた。
パッタ原子回収領域をマスク等を用いて制限し狭める必
要があった。そのためにスパッタ粒子の回収効率の低下
が余儀なくされた。
また本発明者らは、従来のGTターゲッ1〜におけるス
パッタ成膜においては、例えばパーマロイ成膜時に結晶
性の優れた緻密な膜を形成できる低スパツタガス圧では
高電力を投入することができず、また高いスパッタガス
圧においては高電力を投入すると抗磁力が高くなってし
まい軟磁性体の特徴が失われてしまうことを見出した。
パッタ成膜においては、例えばパーマロイ成膜時に結晶
性の優れた緻密な膜を形成できる低スパツタガス圧では
高電力を投入することができず、また高いスパッタガス
圧においては高電力を投入すると抗磁力が高くなってし
まい軟磁性体の特徴が失われてしまうことを見出した。
更に、GTターゲッ[−にギャップを形成するためにか
かるコスト、プレーナー型マグネトロンスパヅタタゲッ
トに特徴的な低い使用効率を有するなどの経済的に問題
があることを見出した。
かるコスト、プレーナー型マグネトロンスパヅタタゲッ
トに特徴的な低い使用効率を有するなどの経済的に問題
があることを見出した。
一方、対向ターゲットにおいては円形ターゲットではス
パッタ粒子の飛散する方向が360°全方向である。ま
た角形ターゲットにおいても二方向に飛散するために回
収効率の点で無駄が多いことを見出した。
パッタ粒子の飛散する方向が360°全方向である。ま
た角形ターゲットにおいても二方向に飛散するために回
収効率の点で無駄が多いことを見出した。
この発明は上記の如き事情に鑑みてなされたものであっ
て、低いスパッタガス圧及び低い電圧を同時に満たす条
件においても大電力投入のスパッタが可能であり、高品
質の被膜や磁気記録媒体などを高速で作製できかつター
ゲットより叩き出された原子のほとんどが基板に回収さ
れる構造なのでスパッタ材料の回収効率が著しく高いな
ど経済的にも優れたターゲットを提供することを目的と
するものである。
て、低いスパッタガス圧及び低い電圧を同時に満たす条
件においても大電力投入のスパッタが可能であり、高品
質の被膜や磁気記録媒体などを高速で作製できかつター
ゲットより叩き出された原子のほとんどが基板に回収さ
れる構造なのでスパッタ材料の回収効率が著しく高いな
ど経済的にも優れたターゲットを提供することを目的と
するものである。
[課題を解決するための手段]
この目的に対応して、この発明のスパッタターゲット装
置は、成膜すべき対象物に先端部分で対向して配置され
るスパッタターゲット装置であって、少なくとも、第1
のターゲット材と、前記第1のターゲット材の側面を間
隔をおいて囲んでいる第2のターゲット材と、前記第1
のターゲット材と第2のターゲット材の後端部の間に位
置する第3のターゲット材と、前記第1のターゲット材
と第2のターグツ1〜材と第3のターグツ1〜材を固定
しでいる裏打材と、前記第2のターグツl−材の外側に
位置するシールド材と、前記シールド材の外側に位置す
る第1の磁石と、前記第1のターゲット材の後端面に対
向して位置する第2の磁石とを備え、かつ、前記第1の
磁石から前記第2のターゲット材及び前記第1のターゲ
ット材を通って前記第2の磁石に向かつてに磁束が流れ
る磁気回路が構成され、前記第1の磁石及び前記第2の
磁石の向ぎは、第1の磁石の内側の極性と前記第2の磁
石の前記第1のターゲット材に向く側の極性が反対する
ように配置したものであることを特徴としでいる。
置は、成膜すべき対象物に先端部分で対向して配置され
るスパッタターゲット装置であって、少なくとも、第1
のターゲット材と、前記第1のターゲット材の側面を間
隔をおいて囲んでいる第2のターゲット材と、前記第1
のターゲット材と第2のターゲット材の後端部の間に位
置する第3のターゲット材と、前記第1のターゲット材
と第2のターグツ1〜材と第3のターグツ1〜材を固定
しでいる裏打材と、前記第2のターグツl−材の外側に
位置するシールド材と、前記シールド材の外側に位置す
る第1の磁石と、前記第1のターゲット材の後端面に対
向して位置する第2の磁石とを備え、かつ、前記第1の
磁石から前記第2のターゲット材及び前記第1のターゲ
ット材を通って前記第2の磁石に向かつてに磁束が流れ
る磁気回路が構成され、前記第1の磁石及び前記第2の
磁石の向ぎは、第1の磁石の内側の極性と前記第2の磁
石の前記第1のターゲット材に向く側の極性が反対する
ように配置したものであることを特徴としでいる。
[作用コ
陰極と陽極の間に直流または交流電源装置21により電
圧を印加し、放電を発生さゼスパツタを行う。電子は第
1のターゲット材と第2のターゲット材との間でマグネ
トロン運動を起す。すなわち、電子はターゲット内で螺
旋運動を描きながら運動するため陰極面近くの電子密度
が高くなる。更に、この電子はターゲットの外に出ず内
側でのみターゲット材1のまわりに一周しているため偏
らない均一なプラズマが発生し陰極面近くでの電子密度
を高めることができる。
圧を印加し、放電を発生さゼスパツタを行う。電子は第
1のターゲット材と第2のターゲット材との間でマグネ
トロン運動を起す。すなわち、電子はターゲット内で螺
旋運動を描きながら運動するため陰極面近くの電子密度
が高くなる。更に、この電子はターゲットの外に出ず内
側でのみターゲット材1のまわりに一周しているため偏
らない均一なプラズマが発生し陰極面近くでの電子密度
を高めることができる。
[実施例]
以下この発明の詳細を一実施例を示す図面について説明
する。
する。
第1図は本発明のスパッタ装置の一実施例の断面図であ
る。第1図においで、1はスパッタ装置であり、スパッ
タ装置1は真空容器2を備えている。真空容器2は排気
装置3によって排気管4を通って排気される。5はスパ
ッタガスを導入する給気管である。成膜の対象物である
基板フィルム6はセンターロール7に設置し巻取りロー
ル8でフィルムの巻き出し及び巻ぎ取りを行う。ターゲ
ット装置11は基板フィルム6に対してターゲット面が
垂直になるように設置した。基板フィルム6の温度調整
は、センターロール7の加熱及び水冷ににって行う。
る。第1図においで、1はスパッタ装置であり、スパッ
タ装置1は真空容器2を備えている。真空容器2は排気
装置3によって排気管4を通って排気される。5はスパ
ッタガスを導入する給気管である。成膜の対象物である
基板フィルム6はセンターロール7に設置し巻取りロー
ル8でフィルムの巻き出し及び巻ぎ取りを行う。ターゲ
ット装置11は基板フィルム6に対してターゲット面が
垂直になるように設置した。基板フィルム6の温度調整
は、センターロール7の加熱及び水冷ににって行う。
ターゲット装置11はターゲット材12及びターゲット
材14を備えている。ターゲット材12は基板フィルム
6に対してターゲット面が垂直になるように設置し、後
端面である底面も同じターゲット材13で構成した。
材14を備えている。ターゲット材12は基板フィルム
6に対してターゲット面が垂直になるように設置し、後
端面である底面も同じターゲット材13で構成した。
第2図、第3図及び第4図にしめすように、タゲット材
12の先後両端面を除いて側面のターゲット面の周囲に
ターゲット材12と間隙を置いて対向ざぜてターゲット
材14を配置しである。そのターゲット材12.13.
14の厚さはその透磁率及びスパッタ率によって最適厚
がある。
12の先後両端面を除いて側面のターゲット面の周囲に
ターゲット材12と間隙を置いて対向ざぜてターゲット
材14を配置しである。そのターゲット材12.13.
14の厚さはその透磁率及びスパッタ率によって最適厚
がある。
磁気回路はターゲット材14のまわりに設置した永久磁
石15と中央のターゲット材11の裏側の永久磁石16
で構成する。永久磁石15からタゲット材14及びター
ゲット材12を通って永久磁石16に向かって磁束が流
れる磁気回路が構成され、永久磁石15及び永久磁石1
6の向きは、永久磁石15の内側の極性(例えばN極)
が永久磁石16のターゲット材12に向く側の極性(例
えばS極)と反対となるように配置しである。
石15と中央のターゲット材11の裏側の永久磁石16
で構成する。永久磁石15からタゲット材14及びター
ゲット材12を通って永久磁石16に向かって磁束が流
れる磁気回路が構成され、永久磁石15及び永久磁石1
6の向きは、永久磁石15の内側の極性(例えばN極)
が永久磁石16のターゲット材12に向く側の極性(例
えばS極)と反対となるように配置しである。
このように設置することでターグツ1〜材14から垂直
に出た磁束は中央のターゲット材12またはターゲット
材12の裏側に設置した永久磁石16に向かって流れる
。ターゲットの水冷は非磁性材料からなるバッキングプ
レート19を有するダクト17に水を流して水冷する。
に出た磁束は中央のターゲット材12またはターゲット
材12の裏側に設置した永久磁石16に向かって流れる
。ターゲットの水冷は非磁性材料からなるバッキングプ
レート19を有するダクト17に水を流して水冷する。
パッキンクプレト19はターゲット材12.13.14
を固定する裏打材として機能し、かつダクト17の構成
材の一部分として配置されている。シールド板18は電
界分布をターゲット装置11の内部のスパッタ領域に制
限しかつ放電の回り込みを防ぐためのシールド板である
。陰極と陽極の間に直流または交流電源装置21により
電圧を印加し、放電を発生さぜスパッタを行う。
を固定する裏打材として機能し、かつダクト17の構成
材の一部分として配置されている。シールド板18は電
界分布をターゲット装置11の内部のスパッタ領域に制
限しかつ放電の回り込みを防ぐためのシールド板である
。陰極と陽極の間に直流または交流電源装置21により
電圧を印加し、放電を発生さぜスパッタを行う。
次にこのように構成されたスパッタターゲット装置を使
用してスパッタリングを行う場合の操作は次の通りであ
る。
用してスパッタリングを行う場合の操作は次の通りであ
る。
まず、 あらかじめ真空容器2内を排気管4に接続され
た排気装置3によってI X 10−6Torr以下に
排気させる。次いで給気管5よりスパッタガスを導入し
真空容器2内の圧力を10−4〜2 X 102Tor
rと設定する。陰極と陽極の間に直流または交流電源装
置21により電圧を印加し、放電を発生させスパッタを
行う。
た排気装置3によってI X 10−6Torr以下に
排気させる。次いで給気管5よりスパッタガスを導入し
真空容器2内の圧力を10−4〜2 X 102Tor
rと設定する。陰極と陽極の間に直流または交流電源装
置21により電圧を印加し、放電を発生させスパッタを
行う。
電子はターゲット材12とターゲット材14の間でマグ
ネトロン運動を起す。すなわち、電子はターゲット内で
螺旋運動を描きながら運動するため陰極面近くの電子密
度が高くなる。更に、この電子はターゲットの外に出ず
内側でのみターゲット材12のまわりに一周しているた
め偏らない均一なプラズマが発生し陰極面近くでの電子
密度を高めることができる。
ネトロン運動を起す。すなわち、電子はターゲット内で
螺旋運動を描きながら運動するため陰極面近くの電子密
度が高くなる。更に、この電子はターゲットの外に出ず
内側でのみターゲット材12のまわりに一周しているた
め偏らない均一なプラズマが発生し陰極面近くでの電子
密度を高めることができる。
本ターゲットは電子が効率良く閉じ込められ、濃密なプ
ラズマを発生する。そのためにその放電電圧電流特性は
低い電圧で広範囲の放電電流が投入できるマグネトロン
放電である。例えばパーマロイ等の軟磁性体のスパッタ
において、電子衝撃による熱やターゲット材から発生す
る輻射熱の影響を受けないためにその軟磁気特性を失う
ことのない低温スパッタによる薄膜形成が可能となった
。
ラズマを発生する。そのためにその放電電圧電流特性は
低い電圧で広範囲の放電電流が投入できるマグネトロン
放電である。例えばパーマロイ等の軟磁性体のスパッタ
において、電子衝撃による熱やターゲット材から発生す
る輻射熱の影響を受けないためにその軟磁気特性を失う
ことのない低温スパッタによる薄膜形成が可能となった
。
0
更にターゲット面近くのプラズマ密度が高くなり、ター
ゲット面に衝突するスパッタガスのイオン数が増し、ス
パッタされる原子の数も増大する。これにより高堆積速
度が実現された。このスパッタされた原子は基板に対し
垂直方向からのみ飛散し、ターゲットと対向した基板に
無駄なく全て付着する。
ゲット面に衝突するスパッタガスのイオン数が増し、ス
パッタされる原子の数も増大する。これにより高堆積速
度が実現された。このスパッタされた原子は基板に対し
垂直方向からのみ飛散し、ターゲットと対向した基板に
無駄なく全て付着する。
[実験例]
次に実際にターゲット月にパーマロイを用いた実験例を
示す。ターゲット内の磁力を測定したところおよそ50
0 0eの均一な磁束が流れていた。放電電圧電流特性
はスパッタガス圧2〜20m Torrと広い範囲で約
350V付近でマグネトロン放電が起きて高い電流を投
入することが可能となった。
示す。ターゲット内の磁力を測定したところおよそ50
0 0eの均一な磁束が流れていた。放電電圧電流特性
はスパッタガス圧2〜20m Torrと広い範囲で約
350V付近でマグネトロン放電が起きて高い電流を投
入することが可能となった。
一方、第5図及び第6図に示すように膜厚分布はターゲ
ット幅188間に対して140mの広い範囲で均一な膜
厚分布が得られた(GTツタ−ットにおいてはターゲッ
ト幅188all+に対して40#1 であった)。更に基板フィルム方向でも均一な部分が広
がった。
ット幅188間に対して140mの広い範囲で均一な膜
厚分布が得られた(GTツタ−ットにおいてはターゲッ
ト幅188all+に対して40#1 であった)。更に基板フィルム方向でも均一な部分が広
がった。
高電力(3KW)を投入してスパッタを行ったところ作
製されたパーマロイ薄膜の抗磁力はGTタグッ1へでは
得られない軟磁気特性の特徴である低い値(10e)以
下であった。
製されたパーマロイ薄膜の抗磁力はGTタグッ1へでは
得られない軟磁気特性の特徴である低い値(10e)以
下であった。
[発明の効果コ
本発明により、次のような効果が確認された。
(1)、磁場を強くすれば低い電圧値で高電力を投入す
ることができる。その結果、放電インピーダンスを小ざ
くすることができターゲットの発熱が少なく電力(スパ
ッタに寄与する)効率が大きくできる。
ることができる。その結果、放電インピーダンスを小ざ
くすることができターゲットの発熱が少なく電力(スパ
ッタに寄与する)効率が大きくできる。
(2)、磁気回路の工夫のため放電プラズマはターゲッ
ト内部でのみ強くかつ均一に発生し、基板への電子衝撃
が極めて少なく基板がスパッタ中に加熱されることが1
1い。更に、ターゲットを基板に対して垂直に設置し一
〇いるため輻射熱も受けに2 くい。その結果、低温スパッタが可能となった。
ト内部でのみ強くかつ均一に発生し、基板への電子衝撃
が極めて少なく基板がスパッタ中に加熱されることが1
1い。更に、ターゲットを基板に対して垂直に設置し一
〇いるため輻射熱も受けに2 くい。その結果、低温スパッタが可能となった。
(3)、高速の膜堆積を目的として高電力を投入しても
その電圧は低いのでターゲットも高温にならない。その
点でも高電力の低温スパッタが促進されかつ電力の損失
が少ない。
その電圧は低いのでターゲットも高温にならない。その
点でも高電力の低温スパッタが促進されかつ電力の損失
が少ない。
(4)、低スパツタガス圧においてb高電ノ〕が投入(
高速スパッタ)できるようになったので高速で堆積させ
ても緻密で結晶性のよい膜が出来る。
高速スパッタ)できるようになったので高速で堆積させ
ても緻密で結晶性のよい膜が出来る。
(5)、スパッタされた膜はターゲット幅方向において
均一となった。更に基板走行方向の膜厚分布も切れがよ
くなりマスクをする必要がなくなった。
均一となった。更に基板走行方向の膜厚分布も切れがよ
くなりマスクをする必要がなくなった。
(6)、垂直に配設したターゲットの構造のため飛び出
したスパッタ粒子は基板面のみで回収されるため回収効
率が100%近くなりターゲット材の利用効率も著しく
高い。更に、スパッタされた粒子は基板以外のチャンバ
ー内部ないし治具等に付着しないためにチャンバーの汚
染も防ぐことができる効果がある。
したスパッタ粒子は基板面のみで回収されるため回収効
率が100%近くなりターゲット材の利用効率も著しく
高い。更に、スパッタされた粒子は基板以外のチャンバ
ー内部ないし治具等に付着しないためにチャンバーの汚
染も防ぐことができる効果がある。
(7)、垂直に立てたターゲット面はほぼ均一に3
スパッタされる。また底板はスパッタされるものよりも
壁面から堆積する粒子が多いためにスパッタエッチが進
行しない。このようなことからターゲット材の使用効率
も従来よりも著しく高い。
壁面から堆積する粒子が多いためにスパッタエッチが進
行しない。このようなことからターゲット材の使用効率
も従来よりも著しく高い。
(8)0本ターゲットの垂直部分はエツチングされC薄
くなっても磁気回路構成上磁場の状態はほとんど変化し
ないので放電電圧電流特性の変化を抑えることができ、
使用開始よりターゲット消耗末期まで再現性のある膜が
製作可能である。
くなっても磁気回路構成上磁場の状態はほとんど変化し
ないので放電電圧電流特性の変化を抑えることができ、
使用開始よりターゲット消耗末期まで再現性のある膜が
製作可能である。
(9)、成膜された膜は基板フィルムとの付着力も従来
のターゲットで作製したものよりはるかに(2倍以上)
強い。その結果、二層膜媒体に1ノだとぎも耐久性があ
り1ヘライホ[」ジーの点でも改善がみられた。
のターゲットで作製したものよりはるかに(2倍以上)
強い。その結果、二層膜媒体に1ノだとぎも耐久性があ
り1ヘライホ[」ジーの点でも改善がみられた。
このように、本発明によれば膜厚分布の改善、高電力時
における低温スパッタの実現及びターゲットの有効利用
が同時に実現できる。
における低温スパッタの実現及びターゲットの有効利用
が同時に実現できる。
また、この発明のスパッタリングターゲット装置によれ
ば、高堆積速度かつターゲットから飛散するスパッタ原
子の被膜形成する基板への回収効率4 を著しく高くすることができる。
ば、高堆積速度かつターゲットから飛散するスパッタ原
子の被膜形成する基板への回収効率4 を著しく高くすることができる。
こうして本発明は低いガス圧及び低い電圧を同時に満た
す条件においても大電力投入のスパッタが可能なため高
品質の被膜や磁気記録媒体などを高速で作製できかつタ
ーゲットより叩き出された原子のほとんどが基板に回収
される構造なのでスパッタ材料の回収効率が高いなど経
済的にも優れたターゲットを得ることができる。
す条件においても大電力投入のスパッタが可能なため高
品質の被膜や磁気記録媒体などを高速で作製できかつタ
ーゲットより叩き出された原子のほとんどが基板に回収
される構造なのでスパッタ材料の回収効率が高いなど経
済的にも優れたターゲットを得ることができる。
第1図は本発明のスパッタ装置の縦断面説明図、第2図
はスパッタターゲット装置の構成説明図、第3図は第2
図におけるA−A断面図、第4図は第2図に示すスパッ
タターゲット装置の斜視破断説明図、第5図は膜厚分布
を示すグラフ、及び第6図は膜厚分布を示すグラフであ
る。 1・・・スパッタ装置 6・・・基板フィルム11・
・・ターグツ1へ装置 12,13.14・・・タゲ
ット材 5
はスパッタターゲット装置の構成説明図、第3図は第2
図におけるA−A断面図、第4図は第2図に示すスパッ
タターゲット装置の斜視破断説明図、第5図は膜厚分布
を示すグラフ、及び第6図は膜厚分布を示すグラフであ
る。 1・・・スパッタ装置 6・・・基板フィルム11・
・・ターグツ1へ装置 12,13.14・・・タゲ
ット材 5
Claims (1)
- 成膜すべき対象物に先端部分で対向して配置されるスパ
ッタターゲット装置であって、少なくとも、第1のター
ゲット材と、前記第1のターゲット材の側面を間隔をお
いて囲んでいる第2のターゲット材と、前記第1のター
ゲット材と第2のターゲット材の後端部の間に位置する
第3のターゲット材と、前記第1のターゲット材と第2
のターゲット材と第3のターゲット材を固定している裏
打材と、前記第2のターゲット材の外側に位置するシー
ルド材と、前記シールド材の外側に位置する第1の磁石
と、前記第1のターゲット材の後端面に対向して位置す
る第2の磁石とを備え、かつ、前記第1の磁石から前記
第2のターゲット材及び前記第1のターゲット材を通つ
て前記第2の磁石に向かってに磁束が流れる磁気回路が
構成され、前記第1の磁石及び前記第2の磁石の向きは
、第1の磁石の内側の極性と前記第2の磁石の前記第1
のターゲット材に向く側の極性が反対するように配置し
たものであることを特徴とするスパッタターゲット装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4419390A JPH03247761A (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | スパッタターゲット装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4419390A JPH03247761A (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | スパッタターゲット装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03247761A true JPH03247761A (ja) | 1991-11-05 |
Family
ID=12684736
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4419390A Pending JPH03247761A (ja) | 1990-02-23 | 1990-02-23 | スパッタターゲット装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03247761A (ja) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60194072A (ja) * | 1984-02-06 | 1985-10-02 | ポ−ル ア−ル.フオアニ−ル | 十字電磁界ダイオ−ド・スパツタリング・タ−ゲツト集成体 |
JPS60234970A (ja) * | 1984-04-19 | 1985-11-21 | バルツエルス・アクチエンゲゼルシヤフト | カソードスパツタによる基板被覆装置 |
JPS61201773A (ja) * | 1985-03-04 | 1986-09-06 | Showa Denko Kk | スパツタリング方法及びその装置 |
JPS6277460A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-09 | Tokuda Seisakusho Ltd | 放電電極 |
JPS62149868A (ja) * | 1985-12-23 | 1987-07-03 | Tdk Corp | 強磁性体の高速スパツタリング方法 |
-
1990
- 1990-02-23 JP JP4419390A patent/JPH03247761A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60194072A (ja) * | 1984-02-06 | 1985-10-02 | ポ−ル ア−ル.フオアニ−ル | 十字電磁界ダイオ−ド・スパツタリング・タ−ゲツト集成体 |
JPS60234970A (ja) * | 1984-04-19 | 1985-11-21 | バルツエルス・アクチエンゲゼルシヤフト | カソードスパツタによる基板被覆装置 |
JPS61201773A (ja) * | 1985-03-04 | 1986-09-06 | Showa Denko Kk | スパツタリング方法及びその装置 |
JPS6277460A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-09 | Tokuda Seisakusho Ltd | 放電電極 |
JPS62149868A (ja) * | 1985-12-23 | 1987-07-03 | Tdk Corp | 強磁性体の高速スパツタリング方法 |
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