JPH03242536A - Automatic liquid managing apparatus - Google Patents

Automatic liquid managing apparatus

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JPH03242536A
JPH03242536A JP3871390A JP3871390A JPH03242536A JP H03242536 A JPH03242536 A JP H03242536A JP 3871390 A JP3871390 A JP 3871390A JP 3871390 A JP3871390 A JP 3871390A JP H03242536 A JPH03242536 A JP H03242536A
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absorbance
time
treating liquid
peak
reference value
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Satoshi Takaiwa
聡 高岩
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Tokico Ltd
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Abstract

PURPOSE:To achieve a highly accurate judgment of deterioration by judging that a treating liquid is aged when a peak value of absorbance of the treating liquid measured at a fixed time interval exceeds a reference value and when time exceeds a reference value until the absorbance reaches a reference value from a peak. CONSTITUTION:A treating liquid supplied from a supply system 1, for example, contains sulfuric acid and hydrogenperoxide is cooled with a cooler 2 to remove impurities undissolved with a filter 3 and to measure absorbance with a photo cell 4 and sent to a six-way valve 5. When a fixed amount of an object to be treated, for example, a resist to be generated in a production process of a silicon wafter for a semiconductor is fed into the treating liquid continuously at a time interval, the absorbance immediately after the feeding rises sharply but it lowers in time with the deposition of the resist in the sulfuric acid and hydrogenperoxide. It is judged that the treating liquid is aged when a peak value of the absorbance exceeds a specified threshold while time exceeds a reference value until the absorbance falls below the threshold.

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上のf:ll用分野−j この発明は、吸光度を利用して処理液が劣化したか否か
を判定する自動液管理装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION "Industrial field-j" This invention relates to an automatic liquid management device that uses absorbance to determine whether or not a processing liquid has deteriorated.

「従来の技術」 従来より、例えば半導体の製造工程等で用いS乙る洗浄
液(処理液)は自動、手動を問わず様々な方法で分析、
管理されていた。
``Prior art'' Traditionally, cleaning liquids (processing liquids) used in semiconductor manufacturing processes, for example, have been analyzed and analyzed using various methods, both automatic and manual.
It was managed.

具体的には、半導体中ソリコンウェハの製造工程で使用
さ乙るレノスト剥離液(処理液)を分析するに際しては
、該レジスト剥離液の成分である硫酸、過酸化水素を中
和滴定、酸化還元滴定したり、前記レジスト剥離液の吸
光度及びその変化を吸光度計により測定することで、レ
ジスト剥離液の劣化程度を測定していf二。
Specifically, when analyzing the Lennost stripping solution (processing solution) used in the manufacturing process of semiconductor medium silicon wafers, we conduct neutralization titration and redox titration of sulfuric acid and hydrogen peroxide, which are the components of the resist stripping solution. Alternatively, the degree of deterioration of the resist stripping solution is measured by measuring the absorbance of the resist stripping solution and its change using an absorbance meter.f2.

なお、レジスト剥離液は、半導体用シリコンウェハ(被
処理物)の上面に積層されたレジスト(ノボラック樹脂
等)により着色され、また、前記レジスト剥離波の成分
である硫酸、過酸化水素により、前記レジストか分解さ
れることで脱色さ乙るらのである。これによって、レジ
スト詐jM液の吸光度及び吸光度変化を観察しR場合に
、レノストが該剥離液中に存在しているか否か、また、
該レノストが硫酸、過酸化水素によりにより有効に分解
されているか否かか判定されるものである。
The resist stripping solution is colored by the resist (novolac resin, etc.) laminated on the top surface of the semiconductor silicon wafer (workpiece), and is colored by the resist stripping liquid, which is colored by the resist (novolac resin, etc.) that is layered on the top surface of the semiconductor silicon wafer (workpiece), and is also colored by the resist stripping liquid, which is colored by the resist (novolac resin, etc.) that is layered on the top surface of the semiconductor silicon wafer (workpiece). The color is removed by decomposing the resist. By this, when observing the absorbance and absorbance change of the resist stripping solution, it is possible to determine whether or not Renost is present in the stripping solution.
It is determined whether or not the renost has been effectively decomposed by sulfuric acid and hydrogen peroxide.

「発明か解決しようとする課題 ところで、上記のようなレノスト剥離液の劣化判定法で
は、レノスト剥離液の時間あたりの吸光度変化にのみ基
つき行うものであるが、この吸光度変化か、とDレヘル
の吸光度において測定されf二らのかがII :)−1
’、これによって正確な分析かできGいという問題があ
りfコ。具体的には、吸光度変化か小さく、これによっ
てレノスト剥離液が劣化していると判定さ乙た場合であ
っても、この吸光度変化η□低いレヘルでなされている
ものであれば、こみレノスト剥離液は活性な状聾てあり
、この1.1にお(ビご新f二を判定基準の提供か求め
られていf二。
``Problem to be Solved by the Invention By the way, the above-mentioned method for determining the deterioration of the Lennost stripping solution is based only on the change in absorbance over time of the Lennost stripping solution. measured at the absorbance of f2:)-1
'This poses the problem of not being able to perform accurate analysis. Specifically, even if the change in absorbance is small and it is determined that the Lennost stripping solution has deteriorated, if this absorbance change η□ was done at a low level, the Lennost stripping solution will be removed. The liquid is in an active state, and in this 1.1 (the new f2 is required to provide a criterion for f2).

二J)f、 II、[] ;よ、上記J)π情に鑑みて
声されfこちのて;)へて、II) 、;■吹5つ絶ン
)値と、吸)L度の時間に対−a−る変化と::)+−
:−フ、)パラメータにより、レノスト4(す離洸、)
ぢ化程文を総1′−i的に判定てきろ自動液劣化装、’
n 、、)提供を目的と゛する。
2J) f, II, [] ;Yo, above J)πIn view of the circumstances, I am speaking fKochinote;) Hete, II) ,; Changes with respect to time::)+-
:-F,) By parameter, Renost 4 (Surikou,)
Automatic liquid deterioration device, judge the total 1'-i process.
n,,) for the purpose of providing.

課題を解1央4−る几め、、′)手段 り記、)f−1O’Jを達「戊とるために、本発明で:
よ、処理液の吸光度を一定時間毎に測定する吸光度測定
手段と、前記吸光度に基づき処理液の劣化程度を分析す
る分析手段とを具備し、更に、前記吸光度のピークが予
め設定しに基準となるI及光度以上であり、かつ、吸光
度のピークかS基準となる吸光度に至るまで時間か予め
設定した基準となる時間以上である場合に、劣化と判定
する劣化判定機能を前記分析手段に設けるようにしてい
る。
In order to solve the problem, the present invention:
The apparatus is equipped with an absorbance measuring means for measuring the absorbance of the treatment liquid at regular intervals, and an analysis means for analyzing the degree of deterioration of the treatment liquid based on the absorbance. The analysis means is provided with a deterioration determination function that determines the deterioration when the luminous intensity is greater than or equal to I and the time taken to reach the absorbance peak or the S reference absorbance is longer than a preset reference time. That's what I do.

作用」 この発明によれ:i、時間に対する吸光度の変化と、吸
光度のピークが、予め設定した基準となる吸光度(絶対
値)以上であるか否かという二つのパラメータにより、
処理液が劣化したか否かを判定するようにしたので、例
え:f、レノスト投入後におし)て処理液7つ吸光度が
低いレヘルて微小に変化し!こ場合に、処理液か劣化し
fこという誤りの判定を下tこと乃・防止さべる。こZ
−により精度の高い劣化判定を行うことかできるという
効果か得ら乙る。
According to this invention: i. Based on two parameters: the change in absorbance over time and whether the peak of absorbance is greater than or equal to a preset reference absorbance (absolute value),
Since we decided to judge whether the processing solution has deteriorated or not, for example: f, after adding lenost, the absorbance of the processing solution 7 changes slightly! In this case, it is necessary to make an erroneous judgment that the processing liquid has deteriorated and to prevent it. KoZ
- The effect is that it is possible to perform a highly accurate deterioration judgment.

一実施例 この発明の一実施例を第1図(A)、第1図(B)〜第
3図を参照して説明する。
One Embodiment One embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1(A) and FIG. 1(B) to FIG. 3.

ま4゛、第1図(Δ)により自動液管理装置全体の概略
構成を説明すると、図において符号lて示すものは、処
理液が供給される処理液供給経路である。
4. The general structure of the entire automatic liquid management apparatus will be explained with reference to FIG.

なお、前記処理液としては、半導体用シリコンウェハ上
のレジスト(ノホラソク樹脂等)を剥離して溶解する硫
酸、過酸化水素等の成分を含有してなるものか挙げられ
る。
The treatment liquid may include one containing components such as sulfuric acid and hydrogen peroxide that peel off and dissolve the resist (such as Nohorasoku resin) on the semiconductor silicon wafer.

前記処理液供給経路lの途中には処理液の流通方向Xに
沿って、処理液を冷却する冷却器2、未溶解物等の不純
物を除去するフィルタ3、フォトセル4、六方11磁弁
5か順次設けられている。
In the middle of the processing liquid supply path 1, along the flow direction X of the processing liquid, there are a cooler 2 for cooling the processing liquid, a filter 3 for removing impurities such as undissolved substances, a photocell 4, and a hexagonal 11-magnetic valve 5. They are set up sequentially.

前記フ埼トセル4は、前記経路1によって送られてきた
レノスト剥離液をセル(図示時)内に導き、該レノスト
剥離液に一定波長の光線を照射4−ることにより、当該
レノスト剥離液の吸光度を測定するものであって、その
測定結果である吸光度は測定データ(イ)としてデータ
処理装置Mに供給されるようにtっ;いる。このデータ
処理装置Mは、第1図(B)で示すように制御手段10
3、入力4段+04、出力手段である表示パネル105
によって構成されるものである。
The Fusaito cell 4 guides the Lennost stripping solution sent through the path 1 into the cell (as shown) and irradiates the Lennost stripping solution with a light beam of a certain wavelength, thereby removing the Lennost stripping solution. It measures the absorbance, and the absorbance that is the measurement result is supplied to the data processing device M as measurement data (a). This data processing device M includes a control means 10 as shown in FIG. 1(B).
3. 4 input stages +04, display panel 105 as output means
It is composed of

なお、データ処理装置Mの制御手段103による検出デ
ータ(イ)の処理内容については後述する第3図のフロ
ーチャートを参、照して詳細に述べる。
The details of the processing of the detected data (a) by the control means 103 of the data processing device M will be described in detail with reference to the flowchart of FIG. 3, which will be described later.

また、前記六方電磁弁5は、(−)通常は実線で示すよ
うに配置されており、前記処理液をループIO及び経路
6・7を通して処理槽(図示時)に、経路6・8を通し
てドレンタンク9にそ乙ぞれ案内する、(ニ)処理液中
の硫酸、過酸化水素濃度を測定する際に、点線で示す位
置に切り換え、前記X線、″)位置に配置されている間
にループ10に一時貯留されfコ処理液を、純水供給系
II(後述する)を通して送ろれ几純水により押し出し
、反応セル(後述する)に案内する。
Further, the six-way solenoid valve 5 (-) is normally arranged as shown by the solid line, and the processing liquid is passed through the loop IO and paths 6 and 7 to the processing tank (as shown), and is drained through the paths 6 and 8. (d) When measuring the concentration of sulfuric acid and hydrogen peroxide in the processing liquid, switch to the position shown by the dotted line, and while the X-ray is placed at the The fco-processing liquid temporarily stored in the loop 10 is pushed out with purified water through a pure water supply system II (described later) and guided to a reaction cell (described later).

なお、前記ループ10:よ、そこつ内部に貯留される処
理液の量か予め設定さnている、つまり定量のf二のに
用いるら二)である。
It should be noted that the amount of the processing liquid stored inside the loop 10 is preset, that is, the amount used for quantitative determination f2).

まf−1,17j記経路6〜8の分岐部に設けられたも
のは、特に汚れた処理液をドレンタンク9に案内するf
こめ二′)三方電磁弁I2、前記経路6の途中に1没r
f嵩z−、7二らのjまポンプj3、前記経路8の途中
に設けらしf二ものは、処理液のP Hを測定するPH
電極I4である。
Those provided at the branching parts of routes 6 to 8 in f-1 and 17j are f-1, which guide particularly dirty processing liquid to the drain tank 9.
2') Three-way solenoid valve I2, one immersion in the middle of the path 6
The pump j3, which is installed in the middle of the above-mentioned path 8, is a PH pump for measuring the PH of the processing liquid.
This is electrode I4.

まf二、前記純水供給系11は、純水の供給経路15に
沿って設けられた三方電磁弁16、中間トラ、lブj7
、ポンプ18と、分岐した経路19に設は占乙て、該純
水の供給圧力を一定値以下に保持するリリーフ弁20と
により構成されるらのである。ナj3、こ、)リリーフ
弁20により排出されf二純水は、前記ドレンタンク9
に案内される。
Second, the pure water supply system 11 includes a three-way solenoid valve 16, an intermediate tiger, and a lubricant provided along the pure water supply path 15.
, a pump 18, and a relief valve 20 installed in a branched path 19 to maintain the supply pressure of the pure water below a certain value. The pure water discharged by the relief valve 20 is transferred to the drain tank 9.
will be guided to.

5、rrlj記・レープjOに一時貯留されIコ後、純
欠により押し出c ’!−b j二処理液は、経路21
〜23と該経路21〜23こつ分岐部に設計:0)l−
、j:三方電磁弁21とにより、反応セル25・26に
選択的に案内される、 まj二、61j記反LCセル25・26には、前記経路
22・23によζ)供給されfこ処理液に対して、試薬
を供給する試薬供給系27〜29と、前記反応セル25
・26内の溶液の酸化還元電位を測定する酸化還元電極
30・31とが設は与れている。
5. rrlj record: After being temporarily stored in rape jO, it was pushed out due to pure lack c'! -bj second treatment liquid is route 21
~23 and the route 21~23 designed at the branch: 0) l-
, j: selectively guided to the reaction cells 25 and 26 by the three-way solenoid valve 21; Reagent supply systems 27 to 29 that supply reagents to this treatment liquid, and the reaction cell 25
- Redox electrodes 30 and 31 are provided to measure the redox potential of the solution in 26.

前記試薬供給系27〜29は、フラスコ27A〜29A
に貯留され几試薬を、滴定ポンプ27B〜29Bにより
経路27C〜29Cを経由させて、前記反応セル25・
26に少量ずつ供給するものであり、前記酸化還元電極
30・31は、試薬を滴下しf二場合におけろ処理液の
酸化還元電位を検出するものであって、この酸化還元電
位の変化から処理液の硫酸、過酸化水素濃度が算出てき
るようになっている。
The reagent supply systems 27 to 29 include flasks 27A to 29A.
The reagent stored in the reaction cells 25 and 25 is passed through routes 27C to 29C by titration pumps 27B to 29B.
The oxidation-reduction electrodes 30 and 31 are used to detect the oxidation-reduction potential of the filtrate treated liquid when the reagent is dripped, and the redox electrodes 30 and 31 are used to detect the oxidation-reduction potential of the filtrate treated liquid when the reagent is dripped. The sulfuric acid and hydrogen peroxide concentrations of the treatment liquid can now be calculated.

つまり、酸化還元電位か飛躍した点を反応の終点として
、この反応の終点における試薬の滴下量(この滴下量を
示すデータは、滴定ポンプ27B〜29Bから後述する
制御手段+03にjおりされている)かS、前記処理液
の硫酸、過酸化水素濃度がそれぞれ算出されるようにな
っている。
In other words, the point at which the oxidation-reduction potential jumps is the end point of the reaction, and the amount of reagent dripped at the end point of the reaction (data indicating this amount of drip is sent from the titration pumps 27B to 29B to the control means +03 described later). ) or S, the sulfuric acid and hydrogen peroxide concentrations of the treatment liquid are calculated, respectively.

なお、前記フラスコ27 A〜29□八に貯留される試
薬としては、水酸化ナトリウム等のアルカリ標準液、過
マンガン酸カリウム溶戒等の酸化還元反応を起こす標準
液、硫酸等の酸性標準液等が適当である。
The reagents stored in flasks 27A to 29□8 include alkaline standard solutions such as sodium hydroxide, standard solutions that cause redox reactions such as potassium permanganate, and acidic standard solutions such as sulfuric acid. is appropriate.

一方、反応セル25・26の下部には、測定が終了する
毎に該反応セル25・26内の処理液を排出するための
経路32〜34が設けられ、これら経路32〜34の途
中には、フィルタ35・36、反応セル25・26から
の溶液の排出動作を行うための三方電磁弁37・38、
排液ポンプ39が順次設けられている。そして、前記経
路32〜34を通じて排出された溶液は、前述したドレ
ンタンク9内に送られるようになっている。
On the other hand, in the lower part of the reaction cells 25 and 26, paths 32 to 34 are provided for discharging the processing liquid in the reaction cells 25 and 26 each time a measurement is completed. , filters 35 and 36, three-way solenoid valves 37 and 38 for discharging the solution from the reaction cells 25 and 26,
A drain pump 39 is sequentially provided. The solution discharged through the paths 32 to 34 is sent into the drain tank 9 described above.

なお、に記構成において、第1図(A)に符号100で
示す範囲の構成をサンプリング手段とし、符号+01で
示す範囲の構成を滴定手段とし、符号102で示す範囲
の構成を排出手段とする。
In addition, in the configuration described above, the configuration in the range shown by the reference numeral 100 in FIG. .

次に、第1図(B)に符号103て示す制御手段の制御
内容について、第2図の時間に対する吸光度の変化を示
すグラフ、第3図のフローチャートを参μqして説明す
る。
Next, the control contents of the control means shown by the reference numeral 103 in FIG. 1(B) will be explained with reference to the graph showing the change in absorbance with respect to time in FIG. 2 and the flowchart in FIG. 3.

第2図にの〜■て示すようJこ一定量のレノストを時間
をおいて連続して投入した場合に、投入直後、吸光度が
それぞれ上昇するが、やがて処理液の成分である硫酸、
過酸化水素により前記レノストが分解され、こ乙によっ
て吸光度が低下するようになる。しかしながら、この吸
光度の低下の度合は、処理液の劣化程度により異なり、
この劣化程度を第3図に示すフローチャートにより判断
するものである。
As shown in Figure 2, when a certain amount of Renosto is continuously added after a certain period of time, the absorbance increases immediately after the addition, but eventually the sulfuric acid, which is a component of the treatment solution,
The hydrogen peroxide decomposes the renost, and the absorbance decreases due to the heat. However, the degree of decrease in absorbance varies depending on the degree of deterioration of the processing solution.
The degree of this deterioration is determined using the flowchart shown in FIG.

ここで、第2図を参照して、$〜■て示す各投入につい
て個別?こ説明すると、■で示す最yJJのレジスト投
入では、処理液か十分に活性であり、吸定度及グ吸七度
の時間に対する変化Nもそれ程大きくないか、■・■で
示すレノスト投入て:よ、時的に吸光度し、吸光度の時
間に対する変化量ら大きくなる。しかし、前S己■・■
で1よ、レジスト投入から所定時間後に、上界した吸光
度は一定しヘル以下にまで低下しており、処理液は未f
コ劣化していCいことか判る。
Here, with reference to Figure 2, how about each input indicated by $~■? To explain this, it can be concluded that the processing solution is sufficiently active when the resist is charged at maximum yJJ as shown by :Yo, absorbance changes over time, and the amount of change in absorbance over time becomes larger. However, the former S self■・■
1. After a predetermined period of time after resist injection, the upper absorbance becomes constant and decreases to below Hertz, and the processing solution is
I can tell that it has deteriorated and is bad.

こ乙に対して、■て示すレノストの投入て:よ投人後、
吸光間は上昇するがその後、該吸光度はあまり低下せず
、更に、■て示すレノスト投入では、投入後に上昇しf
二吸光度は全く低下せず、処理液;よ完全に劣化り、た
ことを表している。
Against Kootsu, Rennost's pitch shown as ■: After pitching,
Although the absorbance increases during the absorption period, the absorbance does not decrease much after that.Furthermore, in the case of renost injection shown by ■, it increases after the addition and f
The absorbance did not decrease at all, indicating that the treated solution had completely deteriorated.

ここで、の〜りにより生じた吸光度のピークの各ピーク
値をa1〜a、とし、各ピーク値a1〜a5か、予め設
定した基準となる吸光度a。にまでに至る時間をそれぞ
れt、〜t5とすると、1..1゜については具体的な
数値が決定されるが、1.については、aoを越えてい
ないため基準値a。にまて達せず、まfこ、t+、ts
については吸光度が基準値a。にまて降下せず、よって
その値([t4.t5)を検出することかできない。
Here, the peak values of the absorbance peaks caused by the sagging are a1 to a, and each peak value a1 to a5 is the absorbance a, which is a preset standard. Assuming that the times until t and t5 are respectively, 1. .. A specific value will be determined for 1°, but 1. The standard value is a because it does not exceed ao. I couldn't reach it, and I couldn't reach it, t+, ts
The absorbance is the reference value a. Therefore, the value ([t4.t5) cannot be detected.

なお、n’J 3己tt、t3rこついてjニーt、<
t、jの関係にあり、投入かぁ・○と投入回数が多くべ
ろ毎に、劣化か進みLの値か大きくなる傾向にあ/85 以−ヒ・)よ;lt背景に基つく、処理液の劣化判定2
H準iD a dについて以下3(−)・(ニ)にまと
めると、 (−)吸光度のピークanが、予め設定した基準となる
吸光度a。以上であること、 (ニ)吸光度のピークanから、基準となる吸光度a0
に至るまで時間が、予め設定した基準となる時間t。以
上であることを条件に劣化と判断するものである。これ
によって、■・■に示すレノスト投入後の吸光度変化の
パターンを想定でき、吸光度の低下時間が一定時間t。
In addition, n'J 3self tt, t3r stuck j knee t, <
There is a relationship between t and j, and as the number of inputs increases and the number of inputs increases, the value of L tends to increase due to deterioration. Deterioration judgment 2
H quasi iD a d is summarized in 3(-) and (d) below: (-) The absorbance peak an is the absorbance a that is the preset standard. (d) From the absorbance peak an, the reference absorbance a0
The time it takes to reach t is a preset standard. Deterioration is determined based on the above conditions. As a result, it is possible to assume the pattern of absorbance change after adding lenost shown in ■ and ■, and the absorbance decrease time is a certain time t.

を越えるときに、劣化したとみなすものである。It is considered to have deteriorated when it exceeds this limit.

上記劣化判定基i1%(−)(ニ)を用いた、処理液の
劣化判定フローを第3図を参照して説明する。なお、こ
の劣化判定フローは制御手段103の劣化判定機能を表
すものである。
A flow for determining the deterioration of the processing liquid using the deterioration determination criteria i1% (-) (d) will be described with reference to FIG. 3. Note that this deterioration determination flow represents the deterioration determination function of the control means 103.

なお、以下の説明において示すステップXは、第3図の
rsPnjに対応する。
Note that step X shown in the following explanation corresponds to rsPnj in FIG. 3.

〈ステップl〉 開始。<Step l> start.

〈ステップ2〉 基準となる吸光度a。、及び吸光度のピークanから前
記吸光度a。に至るまでの時間を基準時間t0として設
定する。
<Step 2> Standard absorbance a. , and the absorbance a from the absorbance peak an. The time up to this point is set as the reference time t0.

〈ステップ3〉 フォトセル4から、吸光度aを示す測定データ(イ)を
一定時間毎に取り込む。
<Step 3> Measurement data (a) indicating absorbance a is taken in from the photocell 4 at regular intervals.

〈ステップ4〉 測定データ(イ)により取り込んだ吸光度aの時間に対
する変化量から、吸光度aのピーク値aゎが、ステップ
2において設定した、基準となる吸光度a0以上となっ
たか否かを判定し、YESの場合にステップ5に進み、
Noの場合にステップ3に戻る。
<Step 4> Based on the amount of change in absorbance a with respect to time acquired from the measurement data (a), determine whether the peak value a of absorbance a has become equal to or higher than the reference absorbance a0 set in step 2. , if YES, proceed to step 5;
If no, return to step 3.

〈ステップ5〉 測定データ(イ)により一定時間毎に取り込んだ吸光度
aに基つき、吸光度のピークa。から前記基準となる吸
光度a。に至るまでの時間tnを求め、この時間し、か
、ステップ2に↓5いて設定した基準時間t。以上とな
っfこか否かを判断し、YESの場合にステシブ6に進
み、また、Noの場合にステップ3に戻る。
<Step 5> Based on the absorbance a taken at fixed time intervals according to the measurement data (a), the absorbance peak a is determined. From the reference absorbance a. Find the time tn until reaching , and use this time or the reference time t set in step 2 ↓5. It is determined whether or not the above is satisfied. If YES, the process proceeds to step 6; if NO, the process returns to step 3.

〈ステップ6〉 吸光iaのピーク値a。が基準となる吸光度a。<Step 6> Peak value a of absorption ia. is the standard absorbance a.

以上であり、かつ、該吸光度のピークa7か占基準とな
る吸光度1lLoに至るまでの時間tnが基準時間t。
In addition, the time tn until the absorbance peak a7 reaches the absorbance 11Lo, which is the reference time, is the reference time t.

以上である場合に、劣化と判定し、次のステップ7に進
む。
If this is the case, it is determined that the condition has deteriorated, and the process proceeds to the next step 7.

くステップ7〉 表示パネル105に対して処理液か劣化していることを
示す報知信号(ロ)を出力する。
Step 7> A notification signal (b) indicating that the processing liquid has deteriorated is output to the display panel 105.

〈ステップ8 終了。<Step 8 end.

以上説明したように、本実施例に示す自動液管理装置に
よれば、(−)吸光度aのピーク値anが基準となる吸
光1a。以上か否か、(ニ)吸光度のピークanかS基
準となる吸光度a。に至るまでの時間tnが基準時間t
。以上か否かという二つのパラメータにより、処理液が
劣化したか否かを判定するようにしたので、例えば、レ
ノスト投入後において処理液の吸光度が低いレベルで微
小な変化をした場合(■のレジスト投入の場合)に、処
理液が劣化したとLlう(誤りの)判定を下すことがな
く、これによりMUの高い劣化判定を行うことかできる
という効果が得シ)イする。
As explained above, according to the automatic liquid management device shown in this embodiment, the peak value an of the (-) absorbance a is used as the reference absorbance 1a. (d) Absorbance peak an or S standard absorbance a. The time tn until reaching t is the reference time t
. We decided to judge whether or not the processing liquid has deteriorated based on two parameters: In the case of injection), there is no (erroneous) determination that the processing liquid has deteriorated, and this has the advantage that a high MU deterioration determination can be made.

発明の効果」 以上詳細Iこ説明しfコように、本発明によれば、時間
に対する吸光度の変化と、吸光度のピークか、予め設定
した基準となる吸光度(絶対値)以上であるか否かとい
う二つのパラメータにより、処理液か劣化したか否かを
判定するようにしたので、精度の高い劣化判定を行うこ
とかできるという効果が得与れる。
Effects of the Invention As explained in detail above, according to the present invention, changes in absorbance with respect to time and whether the absorbance is at its peak or greater than a preset reference absorbance (absolute value) can be determined. Since it is determined whether or not the processing liquid has deteriorated based on these two parameters, it is possible to perform a highly accurate deterioration determination.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(A)〜第3図は本発明の一実施例を示すもので
あって、第1図(A)は自動液管理装置の全体概略構成
図、第1図(B)は自動液管理装置の制御装置を示す図
、第2図はレジストの投入と時間にχ・すする吸光5文
の変化とを示すグラフ、第3図は制御装置の制御内容を
示すフローチャートである。 ・1 ・・フォトセル(吸光!測定手段)103  ・
制御手段(分析手段)
1(A) to 3 show one embodiment of the present invention, FIG. 1(A) is an overall schematic configuration diagram of an automatic liquid management device, and FIG. 1(B) is an automatic liquid management device. A diagram showing the control device of the management device, FIG. 2 is a graph showing the change in absorbance of χ·sip over time when resist is applied, and FIG. 3 is a flowchart showing the control contents of the control device.・1 ・Photocell (light absorption! measurement means) 103 ・
Control means (analysis means)

Claims (1)

【特許請求の範囲】 処理液の吸光度を一定時間毎に測定する吸光度測定手段
と、前記吸光度に基づき処理液の劣化程度を分析する分
析手段とを具備してなり、 前記吸光度のピークが予め設定した基準となる吸光度以
上であり、かつ、吸光度のピークから基準となる吸光度
に至るまで時間が予め設定した基準となる時間以上であ
る場合に劣化と判定する劣化判定機能を前記分析手段に
設けたことを特徴とする自動液管理装置。
[Scope of Claims] The apparatus comprises an absorbance measuring means for measuring the absorbance of the treatment liquid at regular time intervals, and an analysis means for analyzing the degree of deterioration of the treatment liquid based on the absorbance, wherein the peak of the absorbance is set in advance. The analysis means is provided with a deterioration determination function that determines deterioration when the absorbance is equal to or greater than a preset reference absorbance and the time from the absorbance peak to the reference absorbance is equal to or longer than a preset reference time. An automatic liquid management device characterized by:
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0646358U (en) * 1992-11-30 1994-06-24 佳英 柴野 Cleaning equipment
WO1996029598A1 (en) * 1995-03-17 1996-09-26 Hitachi, Ltd. Waste water control system
US6055995A (en) * 1997-04-04 2000-05-02 Nec Corporation Semiconductor manufacture apparatus
JP2007183262A (en) * 2005-12-29 2007-07-19 Ditest Fahrzeugdiagnose Gmbh Exhaust gas inspection method for diesel engine, and exhaust gas inspecting device

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