JP2865771B2 - Automatic liquid management device - Google Patents

Automatic liquid management device

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JP2865771B2
JP2865771B2 JP3871390A JP3871390A JP2865771B2 JP 2865771 B2 JP2865771 B2 JP 2865771B2 JP 3871390 A JP3871390 A JP 3871390A JP 3871390 A JP3871390 A JP 3871390A JP 2865771 B2 JP2865771 B2 JP 2865771B2
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deterioration
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Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、吸光度を利用して処理液が劣化したか否
かを判定する自動液管理装置に関するものである。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic liquid management device that uses an absorbance to determine whether a processing liquid has deteriorated.

「従来の技術」 従来より、例えば半導体の製造工程等で用いられる洗
浄液(処理液)は自動、手動を問わず様々な方法で分
析、管理されていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, for example, a cleaning liquid (treatment liquid) used in a semiconductor manufacturing process or the like has been analyzed and managed by various methods regardless of automatic or manual.

具体的には、半導体用シリコンウエハの製造工程で使
用されるレジスト剥離液(処理液)を分析するに際して
は、該レジスト剥離液の成分である硫酸、過酸化水素を
中和滴定、酸化還元滴定したり、前記レジスト剥離液の
吸光度及びその変化を吸光度計により測定することで、
レジスト剥離液の劣化程度を測定していた。
Specifically, when analyzing a resist stripping solution (processing solution) used in a manufacturing process of a silicon wafer for a semiconductor, neutralization titration and oxidation-reduction titration of sulfuric acid and hydrogen peroxide which are components of the resist stripping solution are performed. Or by measuring the absorbance of the resist stripping solution and its change with an absorbance meter,
The degree of deterioration of the resist stripping solution was measured.

なお、レジスト剥離液は、半導体用シリコンウエハ
(被処理物)の上面に積層されたレジスト(ノボラック
樹脂等)により着色され、また、前記レジスト剥離液の
成分である硫酸、過酸化水素により、前記レジストが分
解されることで脱色されるものである。これによって、
レジスト剥離液の吸光度及び吸光度変化を観察した場合
に、レジストが該剥離液中に存在しているか否か、ま
た、該レジストが硫酸、過酸化水素によりにより有効に
分解されているか否かが判定されるものである。
The resist stripping solution is colored by a resist (novolak resin or the like) laminated on the upper surface of the silicon wafer for semiconductor (object to be processed). The resist stripping solution is treated with sulfuric acid and hydrogen peroxide as components of the resist stripping solution. The resist is decolorized by being decomposed. by this,
By observing the absorbance and the change in absorbance of the resist stripping solution, it is determined whether the resist is present in the stripping solution and whether the resist is effectively decomposed by sulfuric acid or hydrogen peroxide. Is what is done.

「発明が解決しようとする課題」 ところで、上記のようなレジスト剥離液の劣化判定法
では、レジスト剥離液の時間あたりの吸光度劣化にのみ
基づき行うものであるが、この吸光度変化が、どのレベ
ルの吸光度において測定されたものかが判らず、これに
よって正確な分析ができないという問題があった。具体
的には、吸光度変化が小さく、これによってレジスト剥
離液が劣化していると判定された場合であっても、この
吸光度変化が低いレベルでなされているものであれば、
このレジスト剥離液は活性な状態であり、この点におい
て新たな判定基準の提供が求められていた。
[Problems to be Solved by the Invention] By the way, in the method for determining the deterioration of the resist stripping solution as described above, the determination is made based only on the absorbance deterioration per unit time of the resist stripping solution. There was a problem that it was not possible to determine whether or not the measurement was made in terms of absorbance, thereby making it impossible to perform an accurate analysis. Specifically, even if it is determined that the change in absorbance is small and thereby the resist stripping solution is deteriorated, as long as the change in absorbance is made at a low level,
This resist stripping solution is in an active state, and in this regard, provision of a new criterion has been demanded.

この発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであっ
て、吸光度の絶対値と、吸光度の時間に対する変化との
二つのパラメータにより、レジスト剥離液の劣化程度を
総合的に判定できる自動液劣化装置の提供を目的とす
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and has two parameters of an absolute value of absorbance and a change of absorbance with respect to time. The purpose is to provide the device.

「課題を解決するための手段」 上記の目的を達成するために、本発明では、処理液の
吸光度を一定時間毎に測定する吸光度測定手段と、前記
吸光度に基づき処理液の劣化程度を分析する分析手段と
を具備し、更に、前記吸光度のピークが予め設定した基
準となる吸光度以上であり、かつ、吸光度のピークから
基準となる吸光度に至るまでの時間が予め設定した基準
となる時間以上である場合に、劣化と判定する劣化判定
機能を前記分析手段に設けるようにしている。
"Means for Solving the Problems" In order to achieve the above object, in the present invention, an absorbance measuring means for measuring the absorbance of the treatment liquid at regular time intervals, and analyzing the degree of deterioration of the treatment liquid based on the absorbance Analysis means, and further, the peak of the absorbance is not less than a preset reference absorbance, and the time from the absorbance peak to the reference absorbance is not less than the preset reference time. In some cases, a deterioration determination function for determining deterioration is provided in the analysis means.

「作用」 この発明によれば、時間に対する吸光度の変化と、吸
光度のピークが、予め設定した基準となる吸光度(絶対
値)以上であるか否かという二つのパラメータにより、
処理液が劣化したか否かを判定するようにしたので、例
えば、レジスト投入後において処理液の吸光度が低いレ
ベルで微小に変化した場合に、処理液が劣化したという
誤りの判定を下すことが防止される。これにより精度の
高い劣化判定を行うことができるという効果が得られ
る。
According to the present invention, the change in absorbance with respect to time and the two parameters of whether or not the absorbance peak is equal to or greater than a predetermined reference absorbance (absolute value) are determined by:
Since it is determined whether or not the processing solution has deteriorated, for example, when the absorbance of the processing solution slightly changes at a low level after the introduction of the resist, it is possible to determine an error that the processing solution has deteriorated. Is prevented. As a result, an effect that a highly accurate deterioration determination can be performed can be obtained.

「実施例」 この発明の一実施例を第1図(A)、第1図(B)〜
第3図を参照して説明する。
Embodiment An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 (A) and 1 (B).
This will be described with reference to FIG.

まず、第1図(A)により自動液管理装置全体の概略
構成を説明すると、図において符号1で示すものは、処
理液が供給される処理液供給経路である。
First, a schematic configuration of the entire automatic liquid management apparatus will be described with reference to FIG. 1 (A). In the figure, reference numeral 1 denotes a processing liquid supply path through which a processing liquid is supplied.

なお、前記処理液としては、半導体用シリコンウエハ
上のレジスト(ノボラック樹脂等)を剥離して溶解する
硫酸、過酸化水素等の成分を含有してなるものが挙げら
れる。
Examples of the treatment liquid include those containing components such as sulfuric acid and hydrogen peroxide that dissolve the resist (eg, novolak resin) on the silicon wafer for semiconductors and dissolve the resist.

前記処理液供給経路1の途中には処理液の流通方向X
に沿って、処理液を冷却する冷却器2、未溶解物等の不
純物を除去するフィルタ3、フォトセル4、六方電磁弁
5が順次設けられている。
In the middle of the processing liquid supply path 1, the processing liquid flow direction X
A cooler 2 for cooling the processing liquid, a filter 3 for removing impurities such as undissolved substances, a photocell 4, and a six-way solenoid valve 5 are provided in this order.

前記フォトセル4は、前記経路1によって送られてき
たレジスト剥離液をセル(図示略)内に導き、該レジス
ト剥離液に一定波長の光線を照射することにより、当該
レジスト剥離液の吸光度を測定するものであって、その
測定結果である吸光度は測定データ(イ)としてデータ
処理装置Mに供給されるようになっている。このデータ
処理装置Mは、第1図(B)で示すように制御手段10
3、入力手段104、出力手段である表示パネル105によっ
て構成されるものである。
The photocell 4 guides the resist stripping solution sent by the path 1 into a cell (not shown), and irradiates the resist stripping solution with a light beam having a certain wavelength to measure the absorbance of the resist stripping solution. The measured absorbance is supplied to the data processor M as measurement data (a). As shown in FIG. 1B, the data processing device M
3. It is constituted by an input means 104 and a display panel 105 which is an output means.

なお、データ処理装置Mの制御手段103による検出デ
ータ(イ)の処理内容については後述する第3図のフロ
ーチャートを参照して詳細に述べる。
The processing of the detection data (a) by the control means 103 of the data processing device M will be described in detail with reference to the flowchart of FIG.

また、前記六方電磁弁5は、(一)通常は実線で示す
ように配置されており、前記処理液をループ10及び経路
6・7を通じて処理槽(図示略)に、経路6・8を通じ
てドレンタンク9にそれぞれ案内する。(二)処理液中
の硫酸、過酸化水素濃度を測定する際に、点線で示す位
置に切り換え、前記実線の位置に配置されている間にル
ープ10に一時貯留された処理液を、純水供給系11(後述
する)を通じて送られた純水により押し出し、反応セル
(後述する)に案内する。
The six-way solenoid valve 5 is (1) normally arranged as shown by a solid line, and the processing liquid is supplied to a processing tank (not shown) through the loop 10 and the paths 6.7 and drained through the paths 6.8. Each is guided to the tank 9. (2) When measuring the concentrations of sulfuric acid and hydrogen peroxide in the treatment liquid, the treatment liquid is switched to the position shown by the dotted line, and the treatment liquid temporarily stored in the loop 10 while being disposed at the position of the solid line is purified water. It is extruded by pure water sent through a supply system 11 (described later) and guided to a reaction cell (described later).

なお、前記ループ10は、その内部に貯留される処理液
の量が予め設定されている、つまり定量のために用いる
ものである。
In the loop 10, the amount of the processing liquid stored in the loop 10 is set in advance, that is, used for quantitative determination.

また、前記経路6〜8の分岐部に設けられたものは、
特に汚れた処理液をドレンタンク9に案内するための三
方電磁弁12、前記経路6の途中に設けられたものはポン
プ13、前記経路8の途中に設けられたものは、処理液の
PHを測定するPH電極14である。
In addition, what is provided at the branch portion of the paths 6 to 8 is as follows:
In particular, a three-way solenoid valve 12 for guiding a dirty processing liquid to the drain tank 9, a pump 13 provided in the middle of the passage 6, a pump 13 provided in the middle of the passage 8,
This is a PH electrode 14 for measuring PH.

また、前記純水供給系11は、純水の供給経路15に沿っ
て設けられた二方電磁弁16、中間トラップ17、ポンプ18
と、分岐した経路19に設けられて、該純水の供給圧力を
一定値以下に保持するリリーフ弁20とにより構成される
ものである。なお、このリリーフ弁20により排出された
純水は、前記ドレンタンク9に案内される。
The pure water supply system 11 includes a two-way solenoid valve 16, an intermediate trap 17, and a pump 18 provided along a pure water supply path 15.
And a relief valve 20 provided in the branch path 19 for maintaining the supply pressure of the pure water at a certain value or less. The pure water discharged by the relief valve 20 is guided to the drain tank 9.

一方、前記ループ10に一時貯留された後、純水により
押し出された処理液は、経路21〜23と該経路21〜23の分
岐部に設けられた三方電磁弁24とにより、反応セル25・
26に選択的に案内される。
On the other hand, after being temporarily stored in the loop 10, the processing liquid pushed out by the pure water is supplied to the reaction cells 25 and 23 by the paths 21 to 23 and the three-way solenoid valve 24 provided at a branch portion of the paths 21 to 23.
You are selectively guided to 26.

また、前記反応セル25・26には、前記経路22・23によ
り供給された処理液に対して、試薬を供給する試薬供給
系27〜29と、前記反応セル25・26内の溶液の酸化還元電
位を測定する酸化還元電極30・31とが設けられている。
Further, the reaction cells 25 and 26 are provided with reagent supply systems 27 to 29 for supplying reagents to the processing liquid supplied through the paths 22 and 23, and the oxidation and reduction of the solution in the reaction cells 25 and 26. Oxidation-reduction electrodes 30 and 31 for measuring a potential are provided.

前記試薬供給系27〜29は、フラスコ27A〜29Aに貯留さ
れた試薬を、滴定ポンプ27B〜29Bにより経路27C〜29Cを
経由させて、前記反応セル25・26に少量ずつ供給するも
のであり、前記酸化還元電極30・31は、試薬を滴下した
場合における処理液の酸化還元電位を検出するものであ
って、この酸化還元電位の変化から処理液の硫酸、過酸
化水素濃度が算出できるようになっている。
The reagent supply system 27 to 29 supplies the reagent stored in the flasks 27A to 29A little by little to the reaction cells 25 and 26 via the paths 27C to 29C by the titration pumps 27B to 29B, The oxidation-reduction electrodes 30 and 31 are for detecting the oxidation-reduction potential of the treatment liquid when the reagent is dropped, and the sulfuric acid and hydrogen peroxide concentrations of the treatment liquid can be calculated from the change in the oxidation-reduction potential. Has become.

つまり、酸化還元電位が飛躍した点を反応の終点とし
て、この反応の終点における試薬の滴下量(この滴下量
を示すデータは、滴定ポンプ27B〜29Bから後述する制御
手段103に出力されている)から、前記処理液の硫酸、
過酸化水素濃度がそれぞれ算出されるようになってい
る。
In other words, the point at which the oxidation-reduction potential jumps is defined as the end point of the reaction, and the amount of the reagent dropped at the end point of the reaction (data indicating the amount of dropping is output from the titration pumps 27B to 29B to the control means 103 described later) From the sulfuric acid of the treatment solution,
Each of the hydrogen peroxide concentrations is calculated.

なお、前記フラスコ27A〜29Aに貯留される試薬として
は、水酸化ナトリウム等のアルカリ標準液、過マンガン
酸カリウム溶液等の酸化還元反応を起こす標準液、硫酸
等の酸性標準液等が適当である。
As the reagent stored in the flasks 27A to 29A, an alkali standard solution such as sodium hydroxide, a standard solution causing an oxidation-reduction reaction such as a potassium permanganate solution, an acid standard solution such as sulfuric acid, and the like are suitable. .

一方、反応セル25・26の下部には、測定が終了する毎
に該反応セル25・26内の処理液を排出するための経路32
〜34が設けられ、これら経路32〜34の途中には、フィル
タ35・36、反応セル25・26からの溶液の排出動作を行う
ための二方電磁弁37・38、排液ポンプ39が順次設けられ
ている。そして、前記経路32〜34を通じて排出された溶
液は、前述したドレンタンク9内に送られるようになっ
ている。
On the other hand, at the lower part of the reaction cells 25 and 26, a path 32 for discharging the processing solution in the reaction cells 25 and 26 every time the measurement is completed.
In the middle of these paths 32 to 34, filters 35 and 36, two-way solenoid valves 37 and 38 for performing an operation of discharging the solution from the reaction cells 25 and 26, and a drain pump 39 are sequentially arranged. Is provided. Then, the solution discharged through the paths 32 to 34 is sent to the above-described drain tank 9.

なお、上記構成において、第1図(A)に符号100で
示す範囲の構成をサンプリング手段とし、符号101で示
す範囲の構成を滴定手段とし、符号102で示す範囲の構
成を排出手段とする。
In the above configuration, the configuration in the range indicated by reference numeral 100 in FIG. 1A is defined as sampling means, the configuration in the range indicated by reference numeral 101 is defined as titration means, and the configuration in the range indicated by reference numeral 102 is defined as discharge means.

次に、第1図(B)に符号103で示す制御手段の制御
内容について、第2図の時間に対する吸光度の変化を示
すグラフ、第3図のフローチャートを参照して説明す
る。
Next, the control content of the control means indicated by reference numeral 103 in FIG. 1B will be described with reference to a graph showing a change in absorbance with respect to time in FIG. 2 and a flowchart in FIG.

第2図に〜で示すように一定量のレジストを時間
をおいて連続して投入した場合に、投入直後、吸光度が
それぞれ上昇するが、やがて処理液の成分である硫酸、
過酸化水素により前記レジストが分解され、これによっ
て吸光度が低下するようになる。しかしながら、この吸
光度の低下の度合いは、処理液の劣化程度により異な
り、この劣化程度を第3図に示すフローチャートにより
判断するものである。
In FIG. 2, when a certain amount of resist is continuously introduced with a certain time interval as shown in FIG. 2, immediately after the introduction, the absorbance increases, but sulfuric acid, which is a component of the processing solution,
The resist is decomposed by hydrogen peroxide, thereby reducing the absorbance. However, the degree of the decrease in the absorbance differs depending on the degree of deterioration of the processing liquid, and the degree of deterioration is determined by the flowchart shown in FIG.

ここで、第2図を参照して、〜で示す各投入につ
いて個別に説明すると、で示す最初のレジスト投入で
は、処理液が十分に活性であり、吸光度及び吸光度の時
間に対する変化量もそれ程大きくないが、・で示す
レジスト投入では、一時的に吸光度も、吸光度の時間に
対する変化量も大きくなる。しかし、前記・では、
レジスト投入から所定時間後に、上昇した吸光度は一定
レベル以下にまで低下しており、処理液は未だ劣化して
いないことが判る。
Here, referring to FIG. 2, each input indicated by is individually described. In the first resist input indicated by, the treatment liquid is sufficiently active, and the absorbance and the change amount of the absorbance with respect to time are not so large. However, when the resist is charged as indicated by the symbol, the absorbance temporarily and the amount of change in the absorbance with respect to time are temporarily increased. However, in the above,
After a predetermined time from the introduction of the resist, the increased absorbance has decreased to a certain level or less, indicating that the treatment liquid has not deteriorated yet.

これに対して、で示すレジストの投入では投入後、
吸光度は上昇するがその後、該吸光度はあまり低下せ
ず、更に、で示すレジスト投入では、投入後に上昇し
た吸光度は全く低下せず、処理液は完全に劣化したこと
を表している。
On the other hand, in the loading of the resist indicated by, after the loading,
Although the absorbance increases, the absorbance does not decrease so much after that, and when the resist is charged, the absorbance that has increased after the addition does not decrease at all, indicating that the processing solution has been completely degraded.

ここで、〜により生じた吸光度のピークの各ピー
ク値をa1〜a5とし、各ピーク値a1〜a5が、予め設定した
基準となる吸光度aoにまでに至る時間をそれぞれt1〜t5
とすると、t2,t3については具体的な数値が決定される
が、t1については、aoを越えていないため基準値aoにま
で達せず、また、t4,t5については吸光度が基準値ao
まで降下せず、よってその値(t1,t4,t5)を検出する
ことができない。
Here, each peak value of the peak of the resulting absorbance by ~ a a 1 ~a 5, each peak value a 1 ~a 5 is, t the time to reach up to the absorbance a o as a reference set in advance respectively 1 ~ T 5
When, although specific values for t 2, t 3 are determined, for t 1, not reach the reference value a o because it does not exceed the a o, also for t 4, t 5 is absorbance does not drop to the reference value a o, therefore it is impossible to detect the value (t 1, t 4, t 5).

なお、前記t2,t3については「t2<t3」の関係にあ
り、投入が・と投入回数が多くなる毎に、劣化が進
みtの値が大きくなる傾向にある。
Note that t 2 and t 3 have a relationship of “t 2 <t 3 ”, and as the number of inputs and the number of inputs increase, the deterioration proceeds and the value of t tends to increase.

以上のような背景に基づく、処理液の劣化判定基準の
設定について以下の(一)・(二)にまとめると、 (一)吸光度のピークanが、予め設定した基準となる吸
光度ao以上であること、 (二)吸光度のピークanから、基準となる吸光度aoに至
るまで時間が、予め設定した基準となる時間to以上であ
ることを条件に劣化と判断するものである。これによっ
て、・に示すレジスト投入後の吸光度変化のパター
ンを想定でき、吸光度の低下時間が一定時間toを越える
ときに、劣化したとみなすものである。
The following (1) and (2) summarize the processing liquid deterioration determination criteria based on the above background. (1) Absorbance peak an is equal to or greater than the predetermined reference absorbance ao it is, from the peak a n of (two) absorbance, time until the absorbance a o as the reference is intended to determine the deteriorated condition that is previously set reference become time t o or more. Thus, the pattern of the change in absorbance after the resist is input can be assumed, and when the decrease time of the absorbance exceeds a certain time t o , it is regarded as deteriorated.

上記劣化判定基準(一)(二)を用いた、処理液の劣
化判定フローを第3図を参照して説明する。なお、この
劣化判定フローは制御手段103の劣化判定機能を表すも
のである。
With reference to FIG. 3, a description will be given of a flow of determining the deterioration of the processing liquid using the above-described deterioration determination criteria (1) and (2). Note that this deterioration determination flow represents the deterioration determination function of the control unit 103.

なお、以下の説明において示すステップNは、第3図
の「SPn」に対応する。
Step N shown in the following description corresponds to “SPn” in FIG.

〈ステップ1〉 開始。<Step 1> Start.

〈ステップ2〉 基準となる吸光度ao、及び吸光度のピークanから前記
吸光度aoに至るまでの時間を基準時間toとして設定す
る。
Set <Step 2> serving as a reference absorbance a o, and the time from the peak a n absorbance up to the absorbance a o as the reference time t o.

〈ステップ3〉 フォトセル4から、吸光度aを示す測定データ(イ)
を一定時間毎に取り込む。
<Step 3> Measurement data indicating absorbance a from photocell 4 (a)
Is taken at regular intervals.

〈ステップ4〉 測定データ(イ)により取り込んだ吸光度aの時間に
対する変化量から、吸光度aのピーク値anが、ステップ
2において設定した、基準となる吸光度ao以上となった
か否かを判定し、YESの場合にステップ5に進み、NOの
場合にステップ3に戻る。
Determined from the variation with time of the captured absorbance a by <Step 4> measurement data (b), the peak value a n of the absorbance a is set in step 2, whether it is a reference made absorbance: a o or Then, in the case of YES, the process proceeds to step 5, and in the case of NO, the process returns to step 3.

〈ステップ5〉 測定データ(イ)により一定時間毎に取り込んだ吸光
度aに基づき、吸光度のピークanから前記基準となる吸
光度aoに至るまでの時間tnを求め、この時間tnが、ステ
ップ2において設定した基準時間to以上となったか否か
を判断し、YESの場合にステップ6に進み、また、NOの
場合にステップ3に戻る。
<Step 5> Based on the absorbance a captured every predetermined time by the measurement data (b), determine the time t n from the peak a n absorbance up to the absorbance a o serving as the reference, the time t n is, it is determined whether a set reference time t o or more in step 2, the process proceeds to step 6 if YES, the addition, the flow returns to step 3 in the case of NO.

〈ステップ6〉 吸光度aのピーク値anが基準となる吸光度ao以上であ
り、かつ、該吸光度のピークanから基準となる吸光度ao
に至るまでの時間tnが基準時間to以上である場合に、劣
化と判定し、次のステップ7に進む。
<Step 6> peak value a n of the absorbance a is not less serving as a reference absorbance a o or more and, the absorbance as a reference from the peak a n of absorbance a o
If the time t n up to is equal to or longer than the reference time t o, it is determined to be deteriorated, and the process proceeds to the next step 7.

〈ステップ7〉 表示パネル105に対して処理液が劣化していることを
示す報知信号(ロ)を出力する。
<Step 7> An information signal (b) indicating that the processing liquid is deteriorated is output to the display panel 105.

〈ステップ8 終了。<Step 8 ends.

以上説明したように、本実施例に示す自動液管理装置
によれば、(一)吸光度aのピーク値anが基準となる吸
光度ao以上か否か、(二)吸光度のピークanから基準と
なる吸光度aoに至るまでの時間tnが基準時間to以上か否
かという二つのパラメータにより、処理液が劣化したか
否かを判定するようにしたので、例えば、レジスト投入
後において処理液の吸光度が低いレベルで微小な変化を
した場合(のレジスト投入の場合)に、処理液が劣化
したという(誤りの)判定を下すことがなく、これによ
り精度の高い劣化判定を行うことができるという効果が
得られる。
As described above, according to the automatic fluid management apparatus in this embodiment, (1) whether the peak value a n of the absorbance a is serving as a reference absorbance a o or more, from the peak a n of (two) absorbance The two parameters of whether or not the time t n to reach the reference absorbance a o is equal to or longer than the reference time t o are used to determine whether or not the processing liquid has deteriorated. In the case where the absorbance of the processing solution changes slightly at a low level (in the case of resist injection), it is not necessary to determine that the processing solution has deteriorated (erroneous), and thus to perform highly accurate deterioration determination. Is obtained.

「発明の効果」 以上詳細に説明したように、本発明によれば、時間に
対する吸光度の変化と、吸光度のピークが、予め設定し
た基準となる吸光度(絶対値)以上であるか否かという
二つのパラメータにより、処理液が劣化したか否かを判
定するようにしたので、精度の高い劣化判定を行うこと
ができるという効果が得られる。
[Effects of the Invention] As described in detail above, according to the present invention, the change in absorbance with respect to time and whether the peak of absorbance is equal to or greater than a preset reference absorbance (absolute value) or not. Since it is determined whether or not the processing liquid has deteriorated based on the two parameters, it is possible to obtain an effect that highly accurate deterioration determination can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図(A)〜第3図は本発明の一実施例を示すもので
あって、第1図(A)は自動液管理装置の全体概略構成
図、第1図(B)は自動液管理装置の制御装置を示す
図、第2図はレジストの投入と時間に対する吸光度の変
化とを示すグラフ、第3図は制御装置の制御内容を示す
フローチャートである。 4……フォトセル(吸光度測定手段) 103……制御手段(分析手段)
1 (A) to 3 show one embodiment of the present invention, wherein FIG. 1 (A) is an overall schematic configuration diagram of an automatic liquid management device, and FIG. 1 (B) is an automatic liquid management device. FIG. 2 is a diagram showing a control device of the management device, FIG. 2 is a graph showing a change in absorbance with respect to the introduction of a resist and time, and FIG. 3 is a flowchart showing control contents of the control device. 4. Photocell (absorbance measuring means) 103 Control means (analyzing means)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】処理液の吸光度を一定時間毎に測定する吸
光度測定手段と、前記吸光度に基づき処理液の劣化程度
を分析する分析手段とを具備してなり、 前記吸光度のピークが予め設定した基準となる吸光度以
上であり、かつ、吸光度のピークから基準となる吸光度
に至るまでの時間が予め設定した基準となる時間以上で
ある場合に劣化と判定する劣化判定機能を前記分析手段
に設けたことを特徴とする自動液管理装置。
1. An apparatus comprising: an absorbance measuring means for measuring the absorbance of a processing solution at regular intervals; and an analyzing means for analyzing a degree of deterioration of the processing solution based on the absorbance, wherein the peak of the absorbance is set in advance. The analysis means is provided with a deterioration determination function for determining deterioration when the time from the absorbance peak to the reference absorbance is equal to or higher than the reference absorbance is equal to or longer than the predetermined reference time. An automatic liquid management device, characterized in that:
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